TW201241531A - Display panel and testing method thereof - Google Patents

Description

201241531 iuiuu67TW 37454twf.doc/n 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種顯示面板及其測試方法。 【先前技術】 一般來說，液晶顯示面板是由彩色濾光基板（c〇1〇r Filter ’ C/F)、薄膜電晶體陣列基板（thin mm加也恤 ^ray)以及配置於此兩基板間的液晶層所構成。特別是， 薄膜電晶體陣列基板又可分為主純與周邊線路區，其中 主動區内配置有多個晝素陣列，而周邊線路區内則是配置 有引線、多個接塾（bonding pad)以及測試電晶體等等元 件。 在薄膜電晶體陣列基板的製程中，通常會對基板上的 旦素陣列進行電性檢測，以判斷晝素陣列可否正常運作。 特別是’當於對晝輯列進行檢測時，若發現有亮線 缺陷或暗線缺陷時，-般_輯±述線缺賴在的掃描 線進行檢測。此檢測方法即是在所述掃描線輸人特定訊 號’並且在所述掃描線之末端接收輸出訊號。藉由輸出訊 號的分析，才能判斷造成線缺陷之問題所在。 目刚在掃描線之末端量測輪出訊號方法是以探針 probe)直接接觸掃描線之末端，以接收輸出訊號。為了 要=針能夠接卿描線之末端，通常需要對位於掃描線 ^末端上方的麵基板進行破驗的洞，以使掃描 線之末端絲出來。而此種方法不但增加了職程序的複 4 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n 雜度以及耗費許多測試時間，而且裂片戳洞的準確 成功率也不夠高。 【發明内容】 本發明提供一種顯示面板及其測試方法，當發現顯示 面板具有線缺陷而需對對應的掃描線進行檢測時，其可以 不需要對基板進行裂片戳洞之處理，即可以量測到掃描線 之輸出訊號。 ^ 本發明提出-種顯示面板，此顯示面板具有顯示區以 及非顯示區，且顯示面板包括第—基板、第二基板以及位 於第一基板與第二基板之間的顯示介質。此外，顯示面板 更包括多條資料線、多條掃描線、多個畫素單元、至少一 測忒線以及至少一測試接墊。掃描線以及資料線位於第一 基板上之顯示區中。晝素單元位於第一基板上之顯示區 中，且每一晝素單元與其中一條資料線以及其中一條掃描 線電性連接。測試線位於第一基板上之非顯示區中，其中 測，線與掃描線交越，且測試線與掃描線彼此電性絕緣。 測式接塾位於第一基板上之非顯示區中且與測試線電性連 接。 本發明提出一種顯示面板的測試方法，此方法包括提 $如上所述之顯不面板。其中顯示面板之其中—掃描線具 線缺陷。接著，在具有線缺陷之掃猶與測試線之交越 地進行融接程序，以使測試線與掃描線電性連接。之後， 對所述掃描線輪入測試訊號，並且從測試接墊量測輸出訊 201241531 rt.uiuiuu67TW 37454twf.doc/n 基於上述’因本發明在非顯示區中設置了測 測試接塾，且職線與掃描線交越設置。當發現此 板^其中-掃描線具有線缺陷時，可以直接在測試線與 述掃描線之交越處進行融接，以使測試線與所述掃描^ 性連接。之後，在上述掃描線輸入測試訊號之後，此測 訊號可經掃描線以及測試線而被傳遞到測試接墊，因此由 測試接墊便可直接量測到輸出訊號。換言之，本發明之顯 示面板以及測試方法不需要進行要對基板進行裂片戳洞之 處理，即可以量測到掃描線之輸出訊號。 為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特 舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。 【實施方式】 圖1是根據本發明之實施例之顯示面板的上視示意 圖。圖2是圖1沿著剖面線，的剖面示意圖。請同時參 照圖1及圖2 ’本實施例之顯示面板具有顯示區A以及非 顯示區B ’且顯示面板包括第一基板1〇〇、第二基板2〇〇 以及位於第一基板1〇〇與第二基板200之間的顯示介質 300。此外，顯示面板更包括多條資料線DL1〜DLn、多條 掃描線SL1〜SLn、多個晝素單元P、至少一測試線TL以 及至少一測試接墊TP。 第一基板100與第二基板200彼此相對設置，且第一 基板100與第二基板200可皆為透光基板，或是其中之一 6 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n 為透光基板且另-為不透光基板。第—基板i〇〇與第二基 板200之材質可選自玻璃、石英、有機聚合物、或是不透 光/反射材料(例如：導電材料、金屬、晶圓、喊、或其 它可適用的材料）、或是其它可適用的材料。一般來說，為 了將第-基板湖與第二基板接合在—起，並於第一 基板100與第二基板200之間形成容納空間，一般會在第 基板100與第二基板200之間的非顯示區B中設置密封 膠400，其又可稱為框膠。 此外’根據本實施例，第二基板2〇〇位於第一基板1〇〇 的上方，且第二基板200的面積小於第一基板1〇〇的面積。 因此，當第一基板1〇〇與第二基板2〇〇接合在一起之後， 第一基板100不會完全被第二基板2〇〇所覆蓋。換言之， 第-基板100之非顯示區B有局部區域會被暴露出來，而 不會被第二基板200覆蓋住。在圖丨之實施例中，位於第 一基板100之上側以及左側之非顯示區B並未被第二基板 200覆蓋，但本發明不限於此。 顯示介質300位於第一基板1〇〇與第二基板2⑼之 間。更詳細而吕，顯示介質300位於第一基板、第二 基板200以及密封膠400所定義出的容納空間内。顯示介 質300包括液晶分子、電泳顯示介質、有機電致發光顯示 介質、電濕潤顯示介質或是其它可適用的介質。 知·ί田線SL1〜SLn以及資料線DL1〜DLn位於第一基 板100上之顯示區A中。根據本實施例，掃描線SL1〜SLn 以及Ϊ料線DL1〜DLn彼此交越(cross over)設置，且掃描線 201241531 /\u i υ i uu67TW 37454twf.doc/n SLl〜SLn以及資料線DLl〜DLn之間夾有絕緣層。換言 之’掃描線SL1〜SLn的延伸方向以及資料線DL1〜DLn 的延伸方向不平行，較佳的是，掃描線SL1〜SLn的延伸 方向以及資料線DL1〜DLn的延伸方向垂直。另外，掃描 線SL1〜SLn以及資料線DL1〜DLn屬於不同的膜層。基於 導電性的考量’掃描線SL1〜SLn以及資料線DL1〜DLn 一般是使用金屬材料。然，本發明不限於此，根據其他實 施例，掃描線SL1〜SLn以及資料線DL1〜DLn也可以使用 其他導電材料。例如：合金、金屬材料的氮化物、金屬材 料的氧化物、金屬材料的氮氧化物、或其它合適的材料）、 或是金屬材料與其它導材料的堆疊層。 畫素單元P位於第一基板100上之顯示區A中，且每 一晝素單元p與其中一條資料線DL1〜DLn以及其中一條 掃描線SL1〜SLn電性連接。根據本實施例，每一晝素單 元P包括開關元件T以及晝素電極PE。每一開關元件τ 與對應的一條掃描線SL1〜SLn以及對應的一條資料線 DL1〜DLn電性連接，且畫素電極pE與開關元件τ電性連 接。上述之開關元件τ可為底部閘極型薄膜電晶體或是頂 閘極型溥膜電晶體，其包括閘極、通道、源極以及汲極。 測試線TL位於第一基板1〇〇上之非顯示區Β中。特 另J疋，測5式線TL與掃描線SL1〜SLn交越設置，且測試 線TL與掃描線SL1〜SLn彼此電性絕緣。換言之，測試 線TL與掃描線SL1〜SLn之間夾有絕緣層1〇2。另外，在 測試線TL上方可進一步覆蓋一層絕緣層104。由於掃描線 8 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n SL1〜SLn與測試線TL交越設置’且掃描線SL1〜SLn與 測試線TL彼此電性絕緣，因此掃描線su〜SLn與測試 線TL是位於不同的膜層。根據本實施例，測試線T]L是位 於掃描線SL1〜SLn之上方，且兩者之間夾有絕緣層1〇2。 然，本發明不限於此。根據其他實施例，測試線 TL也可 以位於掃描線SL1〜SLn之下方，且兩者之間夾有一層絕 緣層。 在本貫施例中’因測試線TL主要是用來傳遞訊號之 用，因此測試線TL上可不需設置薄膜電晶體等等開關元 件。因此，本實施例在顯示面板之非顯示區B中設計測試 線TL並不會姑用太多的空間，也不會增加製程複雜度。 測試接墊TP位於第一基板1〇〇上之非顯示區B中， 且測試接塾TP與測試線Tl電性連接。更詳細而言，測試 ，墊TP是位於第-純1〇〇上且未被第二基板所覆 蓋之區域。為了配合測試線TL所設置的位置，本實施例 =測試触TP是設置於第—基板丨⑻之上_非顯示㈣ 中。 根據本實施例，所述顯示面板更包括至 件，其可包括閘極驅動元件GD以及源極驅動元件犯動間 極驅動元件GD以及源極驅動元件SD位於第一基板⑽ 示區B *，且閘極驅動元件㈤與掃描線犯〜心 電連接，源極驅動元件SD與資料、線DL1〜DLn電性連 而言，問極驅動元件GD以及源極驅動元件SD 疋狄置在第-基板⑽之非顯示區B中。掃描線㈤〜❿ 201241531 auiuiuu67TW 37454twf.doc/n 與資料線DLl〜DLn分別從顯示區a延伸至非顯示區b而 各自與閘極驅動元件GD以及源極驅動元件SD電性連 接。因此，閘極驅動元件GD以及源極驅動元件SD之驅 動訊號可透過掃描線SL1〜SLn與資料線DL1〜DLn而傳遞 到顯示區A之各畫素單元p中，以驅動晝素單元p。 在本實施例中，驅動元件是以設置於顯示區A之兩側 邊的閘極驅動元件GD以及源極驅動元件SD為例來說 明。然，本發明不限於此。根據其他實施例，驅動元件也 可以僅設置於顯示區A之其中一側邊，或是顯示區A之其 中三個側邊，或是顯示區A之四周。 在圖1以及圖2之實施例中，此顯示面板還包括共用 電壓線CL以及共用電壓接墊cp，其用以提供顯示面板内 <共用電壓之用。舉例來說，第一基板1〇〇之畫素結構p 中的儲存電容器之其中一電極(例如是下電極)會被施予共 用電壓：第二基板200上之電極層也會被施予共用電壓。 而上述之共用電壓訊號可透過共用電壓接墊cp輸入，並 趣由共用電壓線CL而傳遞至上述之電極(儲存電容器之電 极以及第二基板上之電極層）。共用電壓線位於第一基 技100之非顯示區B中且與測試線TL相鄰設置。如圖1 所示，共用電壓線CL與測試線TL平行設置。另外，共用 電壓接墊CP位於第一基板1〇〇之非顯示區B中，且共用 電壓接墊CP與共用電壓線CL電性連接。在此，共用電壓 趄墊CP也是位於第一基板100上且未被第二基板2〇〇所 覆蓋之區域。類似地，為了配合共用電壓線所設置的 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n 位置’本實施例之共用電壓接墊CP是設置於第一基板100 之上側的非顯示區B中。 根據本實施例’測試線TL與共用電壓線CL電性連 接。使測試線TL與共用電壓線CL電性連接之方法例如可 在測試線TL與共用電壓線CL之間設置橋接線BI^倘若 測試線TL與共用電壓線CL是位於同一膜層，那麼橋接線 BL之兩端可直接與測試線TL以及共用電壓線連接， 以使測試線TL與共用電壓線CL電性連接。倘若測試線 TL與共用電壓線CL是位於不同膜層，那麼可進—步在橋 ，線BL之兩端设置接觸窗結構’以使測試線與共 壓線CL電性連接。 Φ承上所述，由於本實施例之測試線TLj與共用電壓線 絕绦。性連接，且測試線TL與掃描線31^〜SLn之間電性 言之。，因^，此時剛試線TL與共用電壓線共電位。換 f用電壓線CL被施予制電壓(ν—，那麼 、、 也具有共用電壓(Vcom)。 列的示面板製作完成之後，都會進行一系 面板之其二二2序。於進行電性檢測程序時，掌發現顯示 異常的掃打綠線具有線缺陷時，通常需要再進一步對 示區出現異堂進行'別試。上述之線缺陷指的顯示面板之顯 暗線缺陷^的線影像’其可能是亮線缺陷、淡線缺陷或 線因為'〔通常，所述線缺陷可能起因於對應的掃描 其中一掃=或疋其他因素而有異常。而當發現顯示面板之 T田線具有線缺陷時，所要進行的測試方法如下。 11 201241531

67TW 37454twf.d〇c/n 圖3是圖1之顯示面板的測試示意圖。圖4是圖3沿 著剖面線1-1，的剖面示意圖。請參照圖3及圖4,當發現顯 示面板之其中一條掃描線(以掃描線SL2為例)所在之處具 有線缺陷時，首先在掃描線SL2與測試線TL之交越處進 行融接程序’所述交越處也就是融接區W1，以使測試線 TL與掃描線SL2電性連接。根據本實施例，所述融接程 序可採用雷射融接程序或是其他合適的融接程序。 另外，可從切斷區Cl、C2切斷測試線TL·及橋接線 BL，以使測試線τχ與共用電壓線cl電性絕緣。上述從 切斷區Cl、C2切斷測試線TL以及橋接線bl之方法可採 用雷射切斷程序或是其他合適的切斷程序。 此時，由於測試線TL與共用電壓線cl之間已經藉 由切斷程相彼此·絕緣，因此測試線TL不再具有共 用電壓號。另外，因為掃描線su與測試線tl已經藉 由融接程序雜此紐連接，因崎描線su之訊號可傳 遞到測試線TL。 接著，對掃描線SL2輸入測試訊號。在此，因掃描; =疋電性連接至閘極驅動元件gd，因此本實施例是 =極驅動元件GD施予測試訊號至掃描線m。之後 雜_掃描線SL2而傳遞到測試線几， =線E傳遞到測試接墊τρ。因此，從測試接墊ί 輸出訊號。而透過所述輸出訊號娜 析’便可進-步分析造成掃描線 12 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n 值得一提的是，由於測試接墊TP是位於第一基板100 上，且未被第二基板200所覆蓋。因此，本實施例可直接 使用探針接觸測試接墊TP即可量測到輸出訊號。換言之， 本實施例不需要對顯示面板之任一基板進行裂片戳洞等等 破壞性處理。 在上述之實施例(如圖1至圖4所示）中，測試線TL 疋與共用電壓線CL電性連接，因此當於掃描線sl2與測 试線TL之交越處進行融接以使測試線TL與掃描線SL2 電性連接之後，需進一步切斷測試線TL及橋接線BL，以 使測試線TL與共用電壓線Cl電性絕緣。之後，才對掃描 線SL2輸入測試訊號’並從從測試接墊τρ量測對應的輸 出訊號。然而’根據其他實施例，倘若測試線TL是獨立 的測試線路’也就是測試線TL不與共用電壓線CL電性連 接。那麼當於掃描線SL2與測試線TL之交越處進行融接 程序以使測試線TL與掃描線SL2電性連接之後，則可省 略上述切斷測試線的步驟。也就是，於進行融接程序之後， 即可直接對掃描線SL2輸入測試訊號，並從測試接墊TP 量測對應的輸出訊號。 圖5是根據本發明之另一實施例之顯示面板的上視示 意圖。圖6是圖5沿著剖面線π-ΙΓ的剖面示意圖。請參照 圖5及圖6 ’本實施例與上述圖1及圖2之實施例相似， 因此相同的元件以相同的符號表示，且不再重複贅述。本 實施例與圖1及圖2之實施例不相同之處在於’用來傳遞 測试號的測試線可以利用顯示面板上既有的修補線 13 37454twf.doc/n 201241531

“一“一67TW (rescue line)來作為測試線。或者是，本實施例之測試線也 可以同時作為修補線之用。一般來說，當顯示面板之檢測 程序發現線路或是元件有缺陷時，都會利用修補的方式來 修補缺陷，以提高產品良率。 根據本實施例，在第一基板100之非顯示區B中所設 置的測試線TL1、TL2可以同時作為資料線之修補線之 用。為了能夠使測試線TU、TL2可以同時作為資料線之 修補線之用，本實施例之測試線TL1、TL2與資料線DU 〜DLn交越。換言之，當後續有特定資料線產生缺陷時， 便可透過測試線TL1、TL2來取代有缺陷的資料線。本實 施例是以兩條測試線TL1、TL2為例來說明，但本發明不 限測試線之數目。類似地，測試線TL1、TL2可為單純的 導線結構，其可不需設置薄膜電晶體等等開關元件。 因此’在本實施例中，是將上述測試線TL1、TL2做 進一步的設計。換言之，除了使測試線TL1、TL2與資料 線DL1〜DLn交越，以期能夠作為缺陷資料線之修補線之 外，更使測試線TL1、TL2與掃描線SL1〜SLn交越，以 使其能夠作為傳遞掃描線訊號之測試線。 更詳細來說，本實施例之測試線TL1包括第一部份 L1以及第二部分L2 ’且測試線TL2包括第一部份L3以 及第二部分L4。測試線TL1、TL2之第一部份LI、L3與 掃描線SL1〜SLn交越、與掃描線SL1〜SLn電性絕緣並 且與測試接墊TP1、TP2電性連接。測試線TU、TL2之 第二部份L2、L4與資料線DL1〜DLn交越且與資料線DL1 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/, 一心、電^絕緣。根據本實施例，測試線TL1、TL2之第 Θ番:η、U之延伸方向與掃描 >線SU〜S；U之延伸方 試線TL1、TL2之第二部份$ 向與資^線DL1〜DLn之延伸方向垂直。 ^ 显#倘^顯717面板之檢測結果顯示資料線DL1〜DLn皆益 不需進行修補，那麼測試線TL卜TU便皆; 訊號之測試線。倘若顯示面板之檢測結果 捕了那^ t需進彳了修補’並採用了測試線几1來進行修 tu爽彳要對掃描線進行職時，則是採用測試線 L2來作為傳遞掃描線訊號之測試線。 、· 也本貫;^例之顯示面板也 =用電壓接塾cp，以提供顯示面板内共用 =例! 與測試線㈣彼此

:。由於測試線TU、TU 之訊號 類似地，當發現顯示面板之其 =:下：缺陷或暗線缺陷等等)時，所要= 著剖==;的，意圖。圖8是圖7沿 顯示面板之苴二Ϊ圖7及圖8，當發現 具有線缺陷時，首SU為例)所在之處 丁自无在挪^田線SL2與測試線TLi之第一部 15 201241531 37454tw£doc/n 1 VX w67T\\^ 程序可採SL2電性連接。根據本實施例，所述融接 ，用雷射融接程序或是其他合適的融接程序。 區C3切_=^ C3娜_ TL1 °上述從切斷 他合適的切斷程序㈣tr細雷射切斷程序或是其 已經葬序時，因為掃描線SL2與測試線TL1 號可；=此電性連接’因此掃描線SL2之訊 SL2 ί = 1掃描線SU輸入測試訊號。在此，因掃描線 由咖味元件GD，Μ本實施例是藉 動凡件GD施予測試訊號至掃福線sl2。之後， :線SL2會將所述測試訊號傳遞到測試線孔1，並從 測，線TL1傳遞到測試接塾τρ。因此，從測試接塾τρ便 二篁摘對應的輸出訊就。而透過所述輸出訊號與測試訊 陷=^分析’便可進—步分析造成掃描線犯產生線缺 根據另-實施例，也可省略從切斷區C3切斷測試線 TL1之步驟。由於測試線TU在融接程序之前並未斑其他 導線有電性連接關係，因此在融接之後也可省略從切斷 區C3切斷測δ式線tli之步驟，而直接對掃描線sL2輸入 測試訊號，並且從測試接墊τρ量測輸出訊號。 另外’本實施例是採用測試線TL1作為傳遞掃描線 SL2之測試訊號之測試線^，根據其他實施例，也可利 用測試線TL2作為傳遞掃描線SL2之測試訊號之測試線。 201241531 AU1010067TW 37454twf.doc/n 綜上所述，因本發明在非顯示區中設置了測試線以及 測S式接墊，且測试線與掃描線交越設置。當發現此顯示面 板之其中一掃描線具有線缺陷時，可以直接在測試線與所 述掃描線之交越處進行融接，以使測試線與所述掃描線電 性連接。於所述掃描線輸入測試訊號之後，測試訊號可經 掃描線以及測試線而傳遞到測試接墊，因此由測試接墊便 可直接量測到輸出訊號。換言之，本發明之顯示面板以及 測試方法不需要進行要對基板進行裂片戳洞之處理，即可 以量測到掃描線之輸出訊號。 雖然本發明已以實施例揭露如上’然其並非用以限定 本Ίχ明’任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離 本發明之精神和範圍内，當可作些許之更動與潤飾，故本 發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1是根據本發明之實施例之顯示面板的上視示意 圖。 圖2是圖1沿著剖面線1-1，的剖面示意圖。 ® 3疋圖1之顯示面板的測試示意圖。 圖4是圖3沿著剖面線Ι-Γ的剖面示意圖。 圖5是根據本發明之實施例之顯示面板的上視示意 圖。 圖6是圖5沿著剖面線ΙΙ-ΙΓ的剖面示意圖。 圖7是圖5之顯示面板的測試示意圖。 37454twf.doc/n 201241531

1 U 1 w67TW 圖8是圖7沿著剖面線ΙΙ-ΙΓ的剖面示意圖。 【主要元件符號說明】 100 :第一基板 102、104 :絕緣層 200 :第二基板 300 :顯示介質 400 :密封膠 A .顯不區 B:非顯示區 SL1〜SLn :掃描線 DL1〜DLn :資料線 P:晝素單元 T:主動元件 PE :晝素電極 TL、TU、TL2 :測試線 TP、TP卜TP2 :測試接墊 U、L3 :第一部份 L2、L4 :第二部分 CL :共用電壓線 CP :共用電壓接墊 BL :橋接線 GD、SD :驅動元件

Wl、W2 :融接區 C1〜C3 :切斷區

Claims (1)

1. 201241531 auiuiuu67TW 37454twf.doc/n 七、申請專利範圍： 1. 一種顯示面板，其包括一顯示區以及一非顯示區， 該顯示面板包括： 一第一基板、一第二基板以及位於該第一基板與該第 二基板之間的一顯示介質； 多條資料線以及多條掃描線，位於該第一基板上之該 顯示區中； 多個晝素單元，位於該第一基板上之該顯示區中，且 每一晝素單元與其中一條資料線以及其中一條掃描線電性 連接； 至少一測試線，位於該第一基板上之該非顯示區中， 其中該些掃描線與該至少一測試線交越(cross over)，且該 些掃描線與該至少一測試線彼此電性絕緣；以及 至少一測試接墊，位於該第一基板上之該非顯示區 中，且該至少一測試接墊與該至少一測試線電性連接。 2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，更包括： 一共用電壓線，位於該第一基板之該非顯示區中且與 該至少一測試線相鄰設置；以及 一共用電壓接墊，位於該第一基板之該非顯示區中且 與該共用電壓線電性連接， 其中該至少一測試線與該共用電壓線電性連接。 3. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板，其中該至 少一測試線包括一第一部份以及一第二部分，該測試線之 該第一部份與該些掃描線交越、與該些掃描線電性絕緣且 19 37454twf.doc/n 201241531 i-VW A V Λ VX/67TW 與該測試接墊電性連接，該測試線之該第二部份與該些資 料線交越且與該些資料線電性絕緣。 4.如申請專利範圍第3項所述之顯示面板，更包括： 一共用電壓線，位於該第一基板之該非顯示區中且與 該至少一測試線相鄰設置；以及 一共用電壓接墊，位於該第一基板之該非顯示區中且 與該共用電壓線電性連接。 5. 如申請專利制第1項所述之顯示面板，其中該至 少-測試接墊位於該第—基板上，且未被該第二基板覆蓋。 6. 如申請專利顧第丨項所述 少一驅航件，位於該第-基板之該_示區中更1= 知描線以及該些資料線與該至少―驅動元件電性連接。 7. 一種顯示面板的測試方法，包括： 提供一顯示面板，其包括： 二 第基板、一第一基板以及位於該第一基板與 該第二基板之間的一顯示介質； ^ 多條資料線以及多條掃描線，位於該第一基板上 之該顯示區中； =固畫素單元’位於該第一基板上之該顯示區 1電=^素單元與其中—條資料線叹其中一條掃描 φ盆φΪΓ—職線’錄料—基板·之該非顯示丨 I二、線與該至少一測試線交越(議一) 且桃㈣線與該至少一測試線彼此電性絕緣·以及 20 201241531 AU1UIUU67TW 37454twf.doc/n 至少一測試接墊，位於該第一基板上之該非顯示 區中’且該至少一測試接墊與該至少一測試線電性連接， 其中該顯示面板之其中一條掃描線具有一線缺陷； 在所述具有該線缺陷之掃描線與該測試線之一交越 處進行一融接程序，以使該測試接線與該掃描線電性連 接；以及 對所述具有該線缺陷之掃描線輸入一測試訊號，並且 從該測試接塾量測一輸出訊號。 8·如申請專利範圍第7項所述之顯示面板的測試方 法，其中該融接程序包括一雷射融接程序。 9. 如申請專利範圍第7項所述之顯示面板的測試方 法，其中該顯示面板之該至少一測試線更包括與一共用電 壓線電性連接’且於對該掃描線輸入該測試訊號之前，更 包括使遠測試線與該共用電壓線電性絕緣。 10. 如申請專利範圍第9項所述之顯示面板的測試方 法其中使該測試線與該共用電壓線電性絕緣之方法包括 對该測試線進行一雷射切斷程序。 、n.如申請專利範圍第7項所述之顯示面板的測試方 t ’其中該至少—測試線包括H份以及一第二部 刀°亥測°式線之该第一部份與該些掃描線交越、與該些掃 描線電性絕緣且與制試接㈣性連接，制試線之該第 一°卩伤與"亥些>料線交越且與該些資料線電性絕緣，且哕 融接程序包括： 在所述具有该線缺陷之掃描線與該測試線之該第一 21 201241531〇/TW 37454twf.doc/n 部份的一交越處進行一雷射融接程序，以使該測試線與所 述掃描線電性連接。 12.如申請專利範圍第n項所述之顯示面板的測試方 法其中於進行该融接程序之後，更包括切斷該測試後， 以使該測試訊號從該掃描線經由該測試 = 融接處而直接傳送_測試接I。 W線之一 22