CN102237027A - 显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

一种显示面板及其测试方法，此显示面板具有显示区以及非显示区，且显示面板包括第一基板、第二基板以及位于第一基板与第二基板之间的显示介质。此外，显示面板还包括多条数据线、多条扫描线、多个像素单元、至少一测试线以及至少一测试接垫。扫描线以及数据线位于第一基板上的显示区中。像素单元位于第一基板上的显示区中，且每一像素单元与其中一条数据线以及其中一条扫描线电性连接。测试线位于第一基板上的非显示区中，其中测试线与扫描线交越，且测试线与扫描线彼此电性绝缘。测试接垫位于第一基板上的非显示区中且与测试线电性连接。本发明不需要进行要对基板进行裂片戳洞的处理，即可以测量到扫描线的输出信号。

Description

显示面板及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种显示面板及其测试方法。

背景技术

一般来说，液晶显示面板是由彩色滤光基板(Color Filter，C/F)、薄膜晶体管阵列基板(thin film transistor array)以及配置于此两基板间的液晶层所构成。特别是，薄膜晶体管阵列基板又可分为有源区与周边线路区，其中有源区内配置有多个像素阵列，而周边线路区内则是配置有引线、多个接垫(bonding pad)以及测试晶体管等等元件。

在薄膜晶体管阵列基板的工艺中，通常会对基板上的像素阵列进行电性检测，以判断像素阵列可否正常运作。特别是，当于对像素阵列进行电性检测时，若发现有亮线缺陷或暗线缺陷时，一般都需要对上述线缺陷所在的扫描线进行检测。此检测方法即是在所述扫描线输入特定信号，并且在所述扫描线的末端接收输出信号。借由输出信号的分析，才能判断造成线缺陷的问题所在。

目前在扫描线的末端测量输出信号方法是以探针(probe)直接接触扫描线的末端，以接收输出信号。为了要使探针能够接触扫描线的末端，通常需要对位于扫描线的末端上方的玻璃基板进行破坏性的裂片戳洞，以使扫描线的末端裸露出来。而此种方法不但增加了测试程序的复杂度以及耗费许多测试时间，而且裂片戳洞的准确性以及成功率也不够高。

发明内容

本发明提供一种显示面板及其测试方法，当发现显示面板具有线缺陷而需对对应的扫描线进行检测时，其可以不需要对基板进行裂片戳洞的处理，即可以测量到扫描线的输出信号。

本发明提出一种显示面板，此显示面板具有显示区以及非显示区，且显示面板包括第一基板、第二基板以及位于第一基板与第二基板之间的显示介质。此外，显示面板还包括多条数据线、多条扫描线、多个像素单元、至少一测试线以及至少一测试接垫。扫描线以及数据线位于第一基板上的显示区中。像素单元位于第一基板上的显示区中，且每一像素单元与其中一条数据线以及其中一条扫描线电性连接。测试线位于第一基板上的非显示区中，其中测试线与扫描线交越，且测试线与扫描线彼此电性绝缘。测试接垫位于第一基板上的非显示区中且与测试线电性连接。

本发明提出一种显示面板的测试方法，此方法包括提供如上所述的显示面板。其中显示面板的其中一扫描线具有线缺陷。接着，在具有线缺陷的扫描线与测试线的交越处进行融接程序，以使测试线与扫描线电性连接。之后，对所述扫描线输入测试信号，并且从测试接垫测量输出信号。

基于上述，因本发明在非显示区中设置了测试线以及测试接垫，且测试线与扫描线交越设置。当发现此显示面板的其中一扫描线具有线缺陷时，可以直接在测试线与所述扫描线的交越处进行融接，以使测试线与所述扫描线电性连接。之后，在上述扫描线输入测试信号之后，此测试信号可经扫描线以及测试线而被传递到测试接垫，因此由测试接垫便可直接测量到输出信号。换言之，本发明的显示面板以及测试方法不需要进行要对基板进行裂片戳洞的处理，即可以测量到扫描线的输出信号。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1是根据本发明的实施例的显示面板的俯视示意图。

图2是图1沿着剖面线I-I’的剖面示意图。

图3是图1的显示面板的测试示意图。

图4是图3沿着剖面线I-I’的剖面示意图。

图5是根据本发明的实施例的显示面板的俯视示意图。

图6是图5沿着剖面线II-II’的剖面示意图。

图7是图5的显示面板的测试示意图。

图8是图7沿着剖面线II-II’的剖面示意图。

其中，附图标记说明如下：

100：第一基板

102、104：绝缘层

200：第二基板

300：显示介质

400：密封胶

A：显示区

B：非显示区

SL1～SLn：扫描线

DL1～DLn：数据线

P：像素单元

T：有源元件

PE：像素电极

TL、TL1、TL2：测试线

TP、TP1、TP2：测试接垫

L1、L3：第一部分

L2、L4：第二部分

CL：共用电压线

CP：共用电压接垫

BL：桥接线

GD、SD：驱动元件

W1、W2：融接区

C1～C3：切断区

具体实施方式

图1是根据本发明的实施例的显示面板的俯视示意图。图2是图1沿着剖面线I-I’的剖面示意图。请同时参照图1及图2，本实施例的显示面板具有显示区A以及非显示区B，且显示面板包括第一基板100、第二基板200以及位于第一基板100与第二基板200之间的显示介质300。此外，显示面板还包括多条数据线DL1～DLn、多条扫描线SL1～SLn、多个像素单元P、至少一测试线TL以及至少一测试接垫TP。

第一基板100与第二基板200彼此相对设置，且第一基板100与第二基板200可均为透光基板，或是其中之一为透光基板且另一为不透光基板。第一基板100与第二基板200均材质可选自玻璃、石英、有机聚合物、或是不透光/反射材料(例如：导电材料、金属、晶片、陶瓷、或其它可适用的材料)、或是其它可适用的材料。一般来说，为了将第一基板100与第二基板200接合在一起，并于第一基板100与第二基板200之间形成容纳空间，一般会在第一基板100与第二基板200之间的非显示区B中设置密封胶400，其又可称为框胶。

此外，根据本实施例，第二基板200位于第一基板100的上方，且第二基板200的面积小于第一基板100的面积。因此，当第一基板100与第二基板200接合在一起之后，第一基板100不会完全被第二基板200所覆盖。换言之，第一基板100的非显示区B有局部区域会被暴露出来，而不会被第二基板200覆盖住。在图1的实施例中，位于第一基板100的上侧以及左侧的非显示区B并未被第二基板200覆盖，但本发明不限于此。

显示介质300位于第一基板100与第二基板200之间。更详细而言，显示介质300位于第一基板100、第二基板200以及密封胶400所定义出的容纳空间内。显示介质300包括液晶分子、电泳显示介质、有机电致发光显示介质、电湿润显示介质或是其它可适用的介质。

扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn位于第一基板100上的显示区A中。根据本实施例，扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn彼此交越(crossover)设置，且扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn之间夹有绝缘层。换言之，扫描线SL1～SLn的延伸方向以及数据线DL1～DLn的延伸方向不平行，较佳的是，扫描线SL1～SLn的延伸方向以及数据线DL1～DLn的延伸方向垂直。另外，扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn属于不同的膜层。基于导电性的考量，扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn一般是使用金属材料。然而，本发明不限于此，根据其他实施例，扫描线SL1～SLn以及数据线DL1～DLn也可以使用其他导电材料。例如：合金、金属材料的氮化物、金属材料的氧化物、金属材料的氮氧化物、或其它合适的材料)、或是金属材料与其它导材料的堆叠层。

像素单元P位于第一基板100上的显示区A中，且每一像素单元P与其中一条数据线DL1～DLn以及其中一条扫描线SL1～SLn电性连接。根据本实施例，每一像素单元P包括开关元件T以及像素电极PE。每一开关元件T与对应的一条扫描线SL1～SLn以及对应的一条数据线DL1～DLn电性连接，且像素电极PE与开关元件T电性连接。上述的开关元件T可为底部栅极型薄膜晶体管或是顶部栅极型薄膜晶体管，其包括栅极、沟道、源极以及漏极。

测试线TL位于第一基板100上的非显示区B中。特别是，测试线TL与扫描线SL1～SLn交越设置，且测试线TL与扫描线SL1～SLn彼此电性绝缘。换言之，测试线TL与扫描线SL1～SLn之间夹有绝缘层102。另外，在测试线TL上方可进一步覆盖一层绝缘层104。由于扫描线SL1～SLn与测试线TL交越设置，且扫描线SL1～SLn与测试线TL彼此电性绝缘，因此扫描线SL1～SLn与测试线TL是位于不同的膜层。根据本实施例，测试线TL是位于扫描线SL1～SLn的上方，且两者之间夹有绝缘层102。然而，本发明不限于此。根据其他实施例，测试线TL也可以位于扫描线SL1～SLn的下方，且两者之间夹有一层绝缘层。

在本实施例中，因测试线TL主要是用来传递信号之用，因此测试线TL上可不需设置薄膜晶体管等等开关元件。因此，本实施例在显示面板的非显示区B中设计测试线TL并不会占用太多的空间，也不会增加工艺复杂度。

测试接垫TP位于第一基板100上的非显示区B中，且测试接垫TP与测试线TL电性连接。更详细而言，测试接垫TP是位于第一基板100上且未被第二基板200所覆盖的区域。为了配合测试线TL所设置的位置，本实施例的测试接垫TP是设置于第一基板100的上侧的非显示区B中。

根据本实施例，所述显示面板还包括至少一驱动元件，其可包括栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD。栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD位于第一基板100的非显示区B中，且栅极驱动元件GD与扫描线SL1～SLn电性连接，源极驱动元件SD与数据线DL1～DLn电性连接。更详细而言，栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD是设置在第一基板100的非显示区B中。扫描线SL1～SLn与数据线DL1～DLn分别从显示区A延伸至非显示区B而各自与栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD电性连接。因此，栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD的驱动信号可通过扫描线SL1～SLn与数据线DL1～DLn而传递到显示区A的各像素单元P中，以驱动像素单元P。

在本实施例中，驱动元件是以设置于显示区A的两侧边的栅极驱动元件GD以及源极驱动元件SD为例来说明。然而，本发明不限于此。根据其他实施例，驱动元件也可以仅设置于显示区A的其中一侧边，或是显示区A的其中三个侧边，或是显示区A的四周。

在图1以及图2的实施例中，此显示面板还包括共用电压线CL以及共用电压接垫CP，其用以提供显示面板内的共用电压之用。举例来说，第一基板100的像素结构P中的储存电容器的其中一电极(例如是下电极)会被施予共用电压：第二基板200上的电极层也会被施予共用电压。而上述的共用电压信号可通过共用电压接垫CP输入，并经由共用电压线CL而传递至上述的电极(储存电容器的电极以及第二基板上的电极层)。共用电压线CL位于第一基板100的非显示区B中且与测试线TL相邻设置。如图1所示，共用电压线CL与测试线TL平行设置。另外，共用电压接垫CP位于第一基板100的非显示区B中，且共用电压接垫CP与共用电压线CL电性连接。在此，共用电压接垫CP也是位于第一基板100上且未被第二基板200所覆盖的区域。类似地，为了配合共用电压线CL所设置的位置，本实施例的共用电压接垫CP是设置于第一基板100的上侧的非显示区B中。

根据本实施例，测试线TL与共用电压线CL电性连接。使测试线TL与共用电压线CL电性连接的方法例如可在测试线TL与共用电压线CL之间设置桥接线BL。倘若测试线TL与共用电压线CL是位于同一膜层，那么桥接线BL的两端可直接与测试线TL以及共用电压线CL连接，以使测试线TL与共用电压线CL电性连接。倘若测试线TL与共用电压线CL是位于不同膜层，那么可进一步在桥接线BL的两端设置接触窗结构，以使测试线TL与共用电压线CL电性连接。

承上所述，由于本实施例的测试线TL与共用电压线CL电性连接，且测试线TL与扫描线SL1～SLn之间电性绝缘。因此，此时测试线TL与共用电压线CL共电位。换言之，倘若共用电压线CL被施予共用电压(Vcom)，那么测试线TL也具有共用电压(Vcom)。

一般来说，当显示面板制作完成之后，都会进行一系列的电性检测程序。于进行电性检测程序时，当发现显示面板的其中一扫描线具有线缺陷时，通常需要再进一步对异常的扫描线进行测试。上述的线缺陷指的显示面板的显示区出现异常的线影像，其可能是亮线缺陷、淡线缺陷或暗线缺陷等等。通常，所述线缺陷可能起因于对应的扫描线因为工艺或是其他因素而有异常。而当发现显示面板的其中一扫描线具有线缺陷时，所要进行的测试方法如下。

图3是图1的显示面板的测试示意图。图4是图3沿着剖面线I-I’的剖面示意图。请参照图3及图4，当发现显示面板的其中一条扫描线(以扫描线SL2为例)所在之处具有线缺陷时，首先在扫描线SL2与测试线TL的交越处进行融接程序，所述交越处也就是融接区W1，以使测试线TL与扫描线SL2电性连接。根据本实施例，所述融接程序可采用激光融接程序或是其他合适的融接程序。

另外，可从切断区C1、C2切断测试线TL及桥接线BL，以使测试线TL与共用电压线CL电性绝缘。上述从切断区C1、C2切断测试线TL以及桥接线BL的方法可采用激光切断程序或是其他合适的切断程序。

此时，由于测试线TL与共用电压线CL之间已经借由切断程序而彼此电性绝缘，因此测试线TL不再具有共用电压信号。另外，因为扫描线SL2与测试线TL已经借由融接程序而彼此电性连接，因此扫描线SL2的信号可传递到测试线TL。

接着，对扫描线SL2输入测试信号。在此，因扫描线SL2是电性连接至栅极驱动元件GD，因此本实施例是借由栅极驱动元件GD施予测试信号至扫描线SL2。之后，所述测试信号将经过扫描线SL2而传递到测试线TL，并从测试线TL传递到测试接垫TP。因此，从测试接垫TP便可测量到对应的输出信号。而通过所述输出信号与测试信号的比对分析，便可进一步分析造成扫描线SL2产生线缺陷的问题。

值得一提的是，由于测试接垫TP是位于第一基板100上，且未被第二基板200所覆盖。因此，本实施例可直接使用探针接触测试接垫TP即可测量到输出信号。换言之，本实施例不需要对显示面板的任一基板进行裂片戳洞等等破坏性处理。

在上述的实施例(如图1至图4所示)中，测试线TL是与共用电压线CL电性连接，因此当于扫描线SL2与测试线TL的交越处进行融接以使测试线TL与扫描线SL2电性连接之后，需进一步切断测试线TL及桥接线BL，以使测试线TL与共用电压线CL电性绝缘。之后，才对扫描线SL2输入测试信号，并从从测试接垫TP测量对应的输出信号。然而，根据其他实施例，倘若测试线TL是独立的测试线路，也就是测试线TL不与共用电压线CL电性连接。那么当于扫描线SL2与测试线TL的交越处进行融接程序以使测试线TL与扫描线SL2电性连接之后，则可省略上述切断测试线的步骤。也就是，于进行融接程序之后，即可直接对扫描线SL2输入测试信号，并从测试接垫TP测量对应的输出信号。

图5是根据本发明的另一实施例的显示面板的俯视示意图。图6是图5沿着剖面线II-II’的剖面示意图。请参照图5及图6，本实施例与上述图1及图2的实施例相似，因此相同的元件以相同的符号表示，且不再重复赘述。本实施例与图1及图2的实施例不相同之处在于，用来传递测试信号的测试线可以利用显示面板上既有的修补线(rescue line)来作为测试线。或者是，本实施例的测试线也可以同时作为修补线之用。一般来说，当显示面板的检测程序发现线路或是元件有缺陷时，都会利用修补的方式来修补缺陷，以提高产品良率。

根据本实施例，在第一基板100的非显示区B中所设置的测试线TL1、TL2可以同时作为数据线的修补线之用。为了能够使测试线TL1、TL2可以同时作为数据线的修补线之用，本实施例的测试线TL1、TL2与数据线DL1～DLn交越。换言之，当后续有特定数据线产生缺陷时，便可通过测试线TL1、TL2来取代有缺陷的数据线。本实施例是以两条测试线TL1、TL2为例来说明，但本发明不限测试线的数目。类似地，测试线TL1、TL2可为单纯的导线结构，其可不需设置薄膜晶体管等等开关元件。

因此，在本实施例中，是将上述测试线TL1、TL2做进一步的设计。换言之，除了使测试线TL1、TL2与数据线DL1～DLn交越，以期能够作为缺陷数据线的修补线之外，还使测试线TL1、TL2与扫描线SL1～SLn交越，以使其能够作为传递扫描线信号的测试线。

更详细来说，本实施例的测试线TL1包括第一部分L1以及第二部分L2，且测试线TL2包括第一部分L3以及第二部分L4。测试线TL1、TL2的第一部分L1、L3与扫描线SL1～SLn交越、与扫描线SL1～SLn电性绝缘并且与测试接垫TP1、TP2电性连接。测试线TL1、TL2的第二部分L2、L4与数据线DL1～DLn交越且与数据线DL1～DLn电性绝缘。根据本实施例，测试线TL1、TL2的第一部分L1、L3的延伸方向与扫描线SL1～SLn的延伸方向垂直。测试线TL1、TL2的第二部分L2、L4的延伸方向与数据线DL1～DLn的延伸方向垂直。

倘若显示面板的检测结果显示数据线DL1～DLn均无异常，因而不需进行修补，那么测试线TL1、TL2便均可作为传递扫描线信号的测试线。倘若显示面板的检测结果显示有数据线需进行修补，并采用了测试线TL1来进行修补，那么后续需要对扫描线进行测试时，则是采用测试线TL2来作为传递扫描线信号的测试线。

类似地，本实施例的显示面板也包括共用电压线CL以及共用电压接垫CP，以提供显示面板内共用电压之用。在本实施例中，共用电压线CL与测试线TL1、TL2彼此平行设置，且共用电压线CL与测试线TL1、TL2电性绝缘。由于测试线TL1、TL2可能需要担任具有缺陷的数据线的测试线，以传递数据线的信号，因此测试线TL1、TL2与共用电压线CL电性绝缘。

类似地，当发现显示面板的其中一扫描线具有线缺陷(亮线缺陷、淡线缺陷或暗线缺陷等等)时，所要进行的测试方法如下所述。

图7是图5的显示面板的测试示意图。图8是图7沿着剖面线II-II’的剖面示意图。请参照图7及图8，当发现显示面板的其中一条扫描线(以扫描线SL2为例)所在之处具有线缺陷时，首先在扫描线SL2与测试线TL1的第一部分L1的交越处(即为融接区W2)进行融接程序，以使测试线TL1与扫描线SL2电性连接。根据本实施例，所述融接程序可采用激光融接程序或是其他合适的融接程序。

另外，可从切断区C3切断测试线TL1。上述从切断区C3切断测试线TL1的方法可采用激光切断程序或是其他合适的切断程序。此时，因为扫描线SL2与测试线TL1已经借由融接程序而彼此电性连接，因此扫描线SL2的信号可传递到测试线TL1。

接着，对扫描线SL2输入测试信号。在此，因扫描线SL2是电性连接至栅极驱动元件GD，因此本实施例是借由栅极驱动元件GD施予测试信号至扫描线SL2。之后，此扫描线SL2会将所述测试信号传递到测试线TL1，并从测试线TL1传递到测试接垫TP。因此，从测试接垫TP便可测量到对应的输出信号。而通过所述输出信号与测试信号的比对分析，便可进一步分析造成扫描线SL2产生线缺陷的问题。

根据另一实施例，也可省略从切断区C3切断测试线TL1的步骤。由于测试线TL1在融接程序之前并未与其他导线有电性连接的关系，因此在融接之后也可省略从切断区C3切断测试线TL1的步骤，而直接对扫描线SL2输入测试信号，并且从测试接垫TP测量输出信号。

另外，本实施例是采用测试线TL1作为传递扫描线SL2的测试信号的测试线。然而，根据其他实施例，也可利用测试线TL2作为传递扫描线SL2的测试信号的测试线。

综上所述，因本发明在非显示区中设置了测试线以及测试接垫，且测试线与扫描线交越设置。当发现此显示面板的其中一扫描线具有线缺陷时，可以直接在测试线与所述扫描线的交越处进行融接，以使测试线与所述扫描线电性连接。于所述扫描线输入测试信号之后，测试信号可经扫描线以及测试线而传递到测试接垫，因此由测试接垫便可直接测量到输出信号。换言之，本发明的显示面板以及测试方法不需要进行要对基板进行裂片戳洞的处理，即可以测量到扫描线的输出信号。

虽然本发明已以实施例披露如上，然而其并非用以限定本发明，任何本领域普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种显示面板，其包括一显示区以及一非显示区，该显示面板包括：

一第一基板、一第二基板以及位于该第一基板与该第二基板之间的一显示介质；

多条数据线以及多条扫描线，位于该第一基板上的该显示区中；

多个像素单元，位于该第一基板上的该显示区中，且每一像素单元与其中一条数据线以及其中一条扫描线电性连接；

至少一测试线，位于该第一基板上的该非显示区中，其中所述多条扫描线与该至少一测试线交越，且所述多条扫描线与该至少一测试线彼此电性绝缘；以及

至少一测试接垫，位于该第一基板上的该非显示区中，且该至少一测试接垫与该至少一测试线电性连接。

2.如权利要求1所述的显示面板，还包括：

一共用电压线，位于该第一基板的该非显示区中且与该至少一测试线相邻设置；以及

一共用电压接垫，位于该第一基板的该非显示区中且与该共用电压线电性连接，

其中该至少一测试线与该共用电压线电性连接。

3.如权利要求1所述的显示面板，其中该至少一测试线包括一第一部分以及一第二部分，该测试线的该第一部分与所述多条扫描线交越、与所述多条扫描线电性绝缘且与该测试接垫电性连接，该测试线的该第二部分与所述多条数据线交越且与所述多条数据线电性绝缘。

4.如权利要求3所述的显示面板，还包括：

一共用电压线，位于该第一基板的该非显示区中且与该至少一测试线相邻设置；以及

一共用电压接垫，位于该第一基板的该非显示区中且与该共用电压线电性连接。

5.如权利要求1所述的显示面板，其中该至少一测试接垫位于该第一基板上，且未被该第二基板覆盖。

6.如权利要求1所述的显示面板，还包括至少一驱动元件，位于该第一基板的该非显示区中，且所述多条扫描线以及所述多条数据线与该至少一驱动元件电性连接。

7.一种显示面板的测试方法，包括：

提供一显示面板，其包括：

一第一基板、一第二基板以及位于该第一基板与该第二基板之间的一显示介质；

多条数据线以及多条扫描线，位于该第一基板上的该显示区中；

多个像素单元，位于该第一基板上的该显示区中，且每一像素单元与其中一条数据线以及其中一条扫描线电性连接；

至少一测试线，位于该第一基板上的该非显示区中，其中所述多条扫描线与该至少一测试线交越，且所述多条扫描线与该至少一测试线彼此电性绝缘；以及

至少一测试接垫，位于该第一基板上的该非显示区中，且该至少一测试接垫与该至少一测试线电性连接，

其中该显示面板的其中一条扫描线具有一线缺陷；

在所述具有该线缺陷的扫描线与该测试线的一交越处进行一融接程序，以使该测试接线与该扫描线电性连接；以及

对所述具有该线缺陷的扫描线输入一测试信号，并且从该测试接垫测量一输出信号。

8.如权利要求7所述的显示面板的测试方法，其中该融接程序包括一激光融接程序。

9.如权利要求7所述的显示面板的测试方法，其中该显示面板的该至少一测试线还包括与一共用电压线电性连接，且于对该扫描线输入该测试信号之前，还包括使该测试线与该共用电压线电性绝缘。

10.如权利要求9所述的显示面板的测试方法，其中使该测试线与该共用电压线电性绝缘的方法包括对该测试线进行一激光切断程序。

11.如权利要求7所述的显示面板的测试方法，其中该至少一测试线包括一第一部分以及一第二部分，该测试线的该第一部分与所述多条扫描线交越、与所述多条扫描线电性绝缘且与该测试接垫电性连接，该测试线的该第二部分与所述多条数据线交越且与所述多条数据线电性绝缘，且该融接程序包括：

在所述具有该线缺陷的扫描线与该测试线的该第一部分的一交越处进行一激光融接程序，以使该测试线与所述扫描线电性连接。

12.如权利要求11所述的显示面板的测试方法，其中于进行该融接程序之后，还包括切断该测试线，以使该测试信号从该扫描线经由该测试线与该扫描线的一融接处而直接传送到该测试接垫。

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