TW201140105A - Test device and connection device - Google Patents

Test device and connection device Download PDF

Info

Publication number
TW201140105A
TW201140105A TW100106669A TW100106669A TW201140105A TW 201140105 A TW201140105 A TW 201140105A TW 100106669 A TW100106669 A TW 100106669A TW 100106669 A TW100106669 A TW 100106669A TW 201140105 A TW201140105 A TW 201140105A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
board
function board
socket
additional circuit
Prior art date
Application number
TW100106669A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Takeshita
Junji Ebara
Tomoyuki Takamoto
Koei Nishiura
Hidehiko Yasuno
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of TW201140105A publication Critical patent/TW201140105A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature

Description

201140105^ 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種測試裝置以及連接裝置。 【先前技術】 對半導體元件進行測試的測試裝置已為人所知(例如 專利文獻1)。對於半導體元件的製造者而言,隨著元件的 高速化以及高功能化,必須依序導入新的測試裝置。然而, 新的測試裝置的導入會使元件的成本(cost)升高,導致 現有的測試裝置的運行率下降。 專利文獻1曰本專利特開2008-292488號公報 因此,有時於現有的測試裝置中的安裝有被測試元件 =板上追加地設_加電路,觀來應對與高功能化以及 南速化相對應的元件㈣m。藉此,可抑繼的測試裝置 的導入,使現有的測試裝置的運行率提高。 然而’由於附加電路是用以進行與高速化以及高功能 化相對應的測試的電路,因此 品種,安裝有被測試元件二 則I 女裝有破測試元件的板上設置附加電路, 則必·對母個板來製作附加電路,從㈣本增大。 區域ί減=設f路’則7安裝被測試元件的 , ;文裝有被測試元件的板上設置附 ^量減少]致可叫平行地進行職的被測試元件的 又,安裝有勸m元件陳於_試元件的安裝以及 4 201140105
' JT -I 拆除過程中,藉由機械手(handler)來施加力。又,安裝 有被測試元件的板於加速可靠性測試等中,被腔^ (chamber)密封且與被測試元件一併被加熱。因此,安裝 有被測試元件的板上所設置的附加電路於測試中容易受到 機械應力(stress)以及熱應力。 【發明内容】 為了解決上述問題,本發明的第丨形態提供一種測試 裝置以及使用於此種測試裝置的連接裝置,該測試裝置連 接於與被測試元件的種類相對應的插座板(s〇cket board)’且對上述被測試元件進行測試,該測試裝置包括: 測試頭(testhead),於内部具有對上述被測試元件進行測 試的測試模組(module);功能板(functi〇nal b〇ard),經 由電纜(cable)而連接於上述測試頭内的上述測試模組, 並且連接於上述插座板;以及附加電路,搭载於上述功能 板’且連接於上述測試模組及上述被測試元件。 再者,上述發明的概要並未列舉本發明的必需的全部 特徵。又’上述特徵群的次組合亦可成為發明。 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂’下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下。 【實施方式】 以下’通過發明的實施形態來對本發明進行說明,但 以下的實施形態並不對申請專利範圍的發明進行限定。 又實施形態中所說明的特徵的全部組合對於發明的解決 201140105 方案而言不一定必需。 圖1 一併表示本實施形態的测試裝置10的構成以及被 測試元件200。本實施形態的測試裝置1〇至少對一個被測 試元件200進行測試。 測試裝置10包括:測試頭12、連接裝置14、以及控 制裝置16。測試頭12於内部具有對被測試元件2〇〇進行 測試的至少一個測試模組18。該測試模組18與相對應的 被測試元件200之間授受信號,對相對應的被測試元件^^ 進行測試。 連接裝置14設置於測試頭12上。連接裝置μ於上表 面(與連接著測試頭12的面相反的面)側安裝有被測試元 件200。藉由機械手來將被測試元件安键於造垃胜番 14以及自該連接裝置14拆除。連接裝置:=== 200的端子與相對應的測試模組18的端子之間予以電性連 接。 作為一例,控制裝置16為執行程式(pr〇gram)的電 腦(computer),對上述測試裝置1〇的整體進行控制。控 制裝置16根據程式來與測試頭12内的各個測試模組18 通信’對各個測試模組18進行控制。 圖2-併表示本實施形態的連接裝置M的構成與被測 試元件200以及測試頭12。連接裝置14包括:母板(m〇ther board) 22、功能擴充部24、以及元件連接部%。 母板22設置於測試頭Π上。作為一例°,母板22於内 部收納有將測試頭12内的測試模組18與功能擴充部24 6 201140105 之間予以連接的信號用的電纜、以及將電源裝置與功能擴 充部24之間予以連接的電源用的電纜等。 功能擴充部24設置於母板22上。亦即,功能擴充部 24連接於與母板22的連接著測試頭12的面相反的面。功 能擴充部24於母板22側的面(亦即,測試頭12側的面) 具有連接器(connector)。該連接器與收納在母板22内的 信號用的電纜以及電源用的電纜連接,該信號用的電纜與 測試模組18連接,該電源用的電纜與電源裝置連接。 元件連接部26設置於功能擴充部24上。亦即,元件 連接部26連接於與功能擴充部24的連接著母板22的面 (測試頭12侧的面)相反的面。元件連接部26於上表面 (與測試頭12側相反的面)安裝有被測試元件2〇〇β元件 連接部26將功能擴充部24與所安裝的被測試元件2〇〇之 間予以電性連接。 又,功能擴充部24包括:多個連接單元(unit) 28、 與附加電路3G,附加電路3G安裝於功能擴充部24的位 於母板22側的面(亦即,測試頭12側的面 、該附加電路30電性連接於測試頭12内的測試模組18 以及被測心件200。該附加電路3〇是接受來自靡通】)
一㈣m_ie⑽eArray ’現場可程式閘陣列) 加電路3G亦可為多個積體電路元件的群組。 。又,該附 作為一例, 一個測試模組18 作為一例,該附加電路3〇根據來自一 201140105 J ί νυν/ρ晨f 的信號’與多個被測試元件200平行地進行信號的交換。 藉此,該附加電路30能夠使可由一個測試模組18來同時 測試的被測試元件200的數量增加。 又,作為一例,該附加電路30將自剛試模組18接收 的信號轉換為時脈較已接收的信號的時脈更高 號 給至被測試元件200。又,作為-例,該附更加:= 被測試7L件200接收的信號轉換為時脈較已接收的信號的 時脈更低的的信號且供給至測試模組18。藉此,該附加電 路30可對如下的被測試元件2〇〇進行測試,該被測試元件 2〇〇以比測試模組〗8可測試的元件的時脈更高的時脈 行動作。 多個連接單元28中的各個連接單元設置於功能擴充 部24的位於母板22相反側的面(亦即,測試頭12的相反 側的面)。元件連接部26經由多個連接單元28 *與功能擴 充部Μ形成電性連接。連接單元28是如下的構件,該構 件與το件連接部26之間’並不藉由連接n等來進行機械性 固定’而是將元件連接部26與功織充部24之間予以電 性連接。作為一例,連接單元28是包括多個彈簧針(p〇g〇 pm)的構件。再者,於本例中,連接單元28固定且設置 於功能擴充部24的上部’但亦可@定且設置於元件連接部 26侧’亦可不固定於功能擴充部24以及元件連接部% 兩個構件。 如上所述的連接裝置14並不機械地將元件連接部26 與功成擴充部24之間抑固定,因此,可容易地更換元件 8 201140105t 連接4 26。精此’於對品種不同的被測試元件細 試的情形時,無論被測試元件聊的品種如何 ^測 地使用包括附加電路30的功能擴充部24。 : Τ、通 元件St::接裝置14的功能擴充部24設置於 兀件連接。卩26的下側,因此,可將附加f路3q 遠離被測試元件勘。藉此,連接裝置 ^ 以及熱方式來將被測試元件2_附加電路3〇之^ = 斷°因此’根據如上所述的連接裝置14, 測試元件綱的熱以及力朝附加電路料遞。又,根據^ 接裝置14’可抑制由附加電路%產生㈣以及用以對附 加電路30進行冷卻的熱朝被測試元件2〇〇傳遞。 f,如上所述的連接裝置14於元件連接部26的上表 面未設置有附加電路30。因此,根據連接裝置14,能夠使 可安裝於兀件連接部26的上表面的被測試元件2〇〇的數量 增加,從而可使同時平行地進行測試的被測試元件2〇〇的 數量增加。 圖3—併表示本實施形態的連接裝置14的機械性構造 的一例以及被測試元件2〇〇。 元件連接部26包括:插座板34、插座框38、以及側 壁部42。功能擴充部24包括:功能板5〇、連接單元28、 連接單元框40、附加電路3〇、散熱器(heat sink) 54 '以 及功能板框架60。 插座板34是薄板狀的基板,且於上表面(測試頭12 相反侧的面)具有插座36。該插座36以可藉由機械手來 201140105 安裝以及拆除的方式保持著被測試元件200。又,插座板 34於下表面(設置有插座36的面的相反側的面)經由多 個連接單元28而連接於功能板50。此種插座板34保持著 被測試元件200 ’並且將下表面侧的功能板5〇與保持於插 座36的被測試元件200之間予以電性連接。 插座框38將插座板34的上表面的設置有插座36的部 分以外的區域予以包圍。作為一例,插座框38由SUS形 成。 側壁部4 2於已將插座板3 4與功能板5 0予以連接的狀 態下’自側面側包圍功能板50。作為一例,側壁部42由 如聚醚醚酮(Polyetheretherketone,PEEK)樹脂般的低熱 導率的材料形成。此種側壁部42可使該側壁部42的外側 的空間與内側的空間之間的熱的傳遞減少。 多個連接單元28設置於功能板50的上表面(測試頭 12的相反側的面)側。功能板50的上表面經由多個連接 單元28而與插座板34形成電性連接。 連接單元框40設置於功能板50的上表面(測試頭12 的相反側的面)側。該連接單元框40呈厚度與連接單元 28的厚度大致相同的板狀,且包括多個開口部。多個開口 部中的各個開口是對應於應配置有多個連接單元28中的 各個連接單元的位置而設置’且大小與相對應的連接單元 28大致相同。此種連接單元框40可藉由多個連接單元28 來正確地將插座板34的下表面以及功能板50的上表面各 自的預定的位置的端子彼此予以連接。 201140105 又,作為一例,連接單元框40由如ρΕΕΚ(聚醚醚酮) 枒脂般的低熱導率的材料形成❶此種連接單元框4〇可使該 連接單元框40的更下側與更上側之間的熱的傳遞減少。 又’連接單元框40亦可於與功能板5〇發生接觸的一側的 面,形成使空氣通過的空間。藉此,連接單元框可使該 連接單元框40的更下側與更上側之間的熱的傳遞進一步 減少。又,連接單元框40可將由機械手等施加於被測試元 件200的力予以吸收,使施加於比該連接單元框4〇更靠下 方的構件的力減小。 又,功能板50於下表面(測試頭12側的面)具有連 接器58。該連接器58與信號用的電纜8〇以及電源用的電 纜82連接’該信號用的電纜8〇與測試頭12内的測試模組 18連接,該電源用的電纜82與電源裝置連接。 附加電路30是積體電路元件’該附加電路3〇搭載於 功能板50的下表面(測試頭12側的面)。附加電路3〇經 由功能板50以及信號用的電纜8〇而與測試頭12内的測試 模組18連接。又,附加電路3〇經由功能板5〇以及插座板 34而與被測試元件2〇〇連接。 散熱器54設置於附加電路3〇的安裝於功能板5〇的面 的相反側的面。作為一例,散熱器54是僅於一端具有底部 的筒狀的金屬,底部的外側的面黏著於附加電路3〇β此種 散熱器54可將附加電路3〇所發出的熱予以釋放,並且可 於筒的内部形成具有大致密閉的空間的冷卻室70。 功能板框架60設置於功能板50的下表面(測試頭12 11 201140105. 侧的面)。功能板框架60呈於與附加電路3〇 i8相對應驗置設置有開口的板狀。魏板轉6t呆持 者功此板50 ’並且機械性地將功能板%與母板2 以連接。 母板22包括:母板框架62、支持部&、以及連接器 引導部66^母板框架62載置於測試頭12上,且保持著設 置於該母板22的内部的構件。支持部64設置於母板框架 62上,且支持著功能擴充部24。作為-例,支持部64自、 下側支持以及ϋ定著功能擴充部Μ的功能板框架⑼。 -而且,母板22包括:喷出部72、排氣部%、流 徑76、以及排氣路徑78。喷出部72將氣體自功能板如 的測試頭12側喷出至功能板5G,對附加電路3〇進行Α 部。於本例中,噴出部72將氣體喷出至散熱器54所形成 的冷部至70内的空間。排氣部74自散熱器%所形成的〆 卻室70内的空間將氣體予以排出。 7 々’L入路拴76是用以將自外部的熱交換器輸出的氣體 朝嗔出部72輸送的路徑。排氣路徑78是用以使自排氣部 74排出·體返回至外部的熱交㈣的路徑。 如上所述的噴出部72以及排氣部74可經由散熱器Μ 來對附加電路3G進行冷卻。又,散熱H 54形成具有密閉 的空間的冷部室70 ’因此’冷氣不會賴至外部,可效率 良好地對附加電路3〇進行冷卻。再者,於冷卻冑7〇内的 空間中循環的氣體較佳為經I缩的乾燥空氣(dry air)。藉 此,於低溫時,可防止冷卻室70内的空間的冷凝。 12 201140105^ 此外,母板22包括··信號用的電纜8〇、電源用的電 纜82、以及子板(sub-board) 84。信號用的電纜8〇將測 試頭12内的測試模組丨8與功能板5〇之間予以連接。作為 一例,信號用的電纜80為同軸電纜。電源用的電纜82例 如t設置射卜㈣電源裝置與魏板5G予以連接。子板 84設置於上述母板22的内部,且設置於 .試模組18與功能板50之間。 ⑽別 而且,如上所述的連接裝置14於元件測試中,藉由機 械手等來安裝腔室32。腔室32將被測試元件2〇〇 ^以密 封,將被測試元件200的周圍的環境控制為預定的溫度以 及濕度。藉此,測試裝置10可對被測試元件2⑻進行加速 可靠性測試等。 如上所述的本實施形態的連接裝置14於插座板34的 下表面側設置有功能板50,而且於功能板5〇的位於測試 頭12側的面安裝有附加電路30。藉此,根據連接裝置μ, 可不使施加於被測試元件200的熱的影響對附加電路3〇 造成影響’且可不使附加電路30所發出的熱以及附加電路 30的冷卻熱的影響對被測試元件200造成影響。而且,根 據連接裝置14,於被測試元件200的安裝以及拆除等過程 中,可使施加於附加電路30的機械性應力減小。 又,連接裝置14設置有插座樞38、連接單元框40以 及側壁部42等。因此,根據連接裝置14,能夠以熱方式 來將腔室32内的空間與附加電路30予以阻斷。 又’連接裝置14於插座板34的上表面未設置有附加 13 201140105 電路30。因此’根據連接裝置Η,能夠使可安裝於插座板 34的上表面的被測試元件200的數量增加,從而可使同時 平行地進行測試的被測試元件200的數量增加。 圖4表示本實施形態的連接裝置14的機械性構造的一 例、以及表示隨著被測試元件200的品種更換而更換的部 分的線。 又’連接裝置14並不藉由連接器等來機械地將插座板 34與功能板50之間予以固定,而是將插座板34與功能板 50之間予以電性連接。因此,連接裝置μ於維護 (maintenance)等過程中’可容易地自功能板5〇而將插 座板34予以拆除《作為一例,連接裝置14可將圖4的點 線A1-A2上方的部分予以拆除。 因此,對於連接裝置14而言,無論被測試元件200 的種類如何’均可共通地使用功能板5〇以及附加電路3〇。 根據此種連接裝置14,可使測試成本減小。 圖5表示本實施形態的連接裝置14的部分構造的一 例。作為一例,插座板34是平面形狀大致為正方形的薄 板再者’於插座板34上更設置有圖5未表示的插座36 以及插座框38。 功能板50是平面形狀與插座板34相似且比插座板34 猶小的薄板。功能板50於與連接著插座板34的面相反的 面安裴有附加電路30,該附加電路30安裝有散熱器54。 連接單元框40夾持於功能板50與插座板34之間。連 接單元框40是具有與功能板50大致相同的平面形狀的 201140105, 板。作為一例,連接單元框40比功能板5〇以及插座板34 更,,且於平面的預定的位置具有供連接單元28插入的開 口部。又’連接單元框4G於與功能板50發生接觸的面形 成有槽,使空氣通過。此種連接單元框4〇可將插座板34 與功肖b板50之間的熱的傳遞予以阻斷。 側壁部42是内周形狀與功能板50以及連接單元框4〇 的平面形狀大致相同,料周形狀與插座板34的平面形狀 大致相同的筒。侧壁部42能夠以熱方式將功能板5〇以及 附加電路3G、與被測試元件2⑻的周圍的環境予以阻斷。 功能板框架60自下側支持著功能板5〇以及插座板% =J圖5的例子中’功能板框架6〇保持著功能板5〇 以及插座板34的8個組。 技加!f部64是内部形成有開σ的正謂狀雜體,該支 持464言免置於母板22的上部的部分。支持部64保持著一 =0能板框架6°。於圖5的例子中,保持著兩個功 。支持部64於内部具有連接器引導部66。該 二二持著連接於功能板5〇的信號用的電纜80 的各個功能板的附加電㈣相對應的位 ==部85配置著用以將冷卻用氣體予以喷出 以 至 15 201140105t 附加電路30的構件可為如 _ 部86於基部87處形成有 所示的喷嘴部86。該喷嘴 喷嘴部86於基部87的侧面^以及排氣部74。又, 而且,此種喷嘴部86 、有環狀襯墊(packing)88。 圖7表示本實施形If用^所示的孔部心 及排出的構件的連接例 將切用氣體予以喷出以 呈與形成為筒㈣餘H 54。卩86的基部87的外周形狀 而且,在將設置有倾板^部分大致相同的形狀。 連接器料部66的狀態下 ,能板框架安裝於 會與環狀襯墊88發生接觸 ^ 54關σ部分的端部 or ^ m 藉此,散熱器54以及喷嘴部
86可形成具有密_ ”的冷卻室%。 HP 形成於噴嘴部86的噴出 如上所卩t 冷卩用的乱體喷出至 , 円的工間。又,形成於喷嘴部86的 山所述的冷卻室7G内的空間將氣體予以排 。為一例,喷出部72自比排氣部74 更靠近附加電路 30的位置將氣體予以噴出。藉此,喷出部72以及排氣部 74可效率良好地使由附加電路3〇加熱的氣體循環。 圖8表示本實施形態的功能板50的下側的面(測試頭 12側的面)的一例。圖9表示本實施形態的連接於插座板 34的連接單元28以及被測試元件2〇〇的配置的一例。 如圖8所示’作為一例,於功能板50的下側的面安裝 有連接器58、一個附加電路3〇、以及DC-DC轉換電路89。 作為一例,連接器58是連接著多個同軸的信號線的低插入 力(Low Insertion Force,LIF)連接器。DC-DC 轉換電路
201140105 ,丨yI 89對自電源裝置供給的直流電壓進行升壓或降壓而轉換 為被測試元件200的電源電壓。 一如圖9所示,作為一例,插座板34安裝有多個被測試 70件200。於本例中,8個被測試元件200安裝於插座板 34又多個連接單元28連接於插座板34。多個連接單 兀28分別為相同的構造。於本例中,連接有與8個被測試 元件200分別對應的8個連接單元28。 藉由使用如圖8以及圖9所示的插座板34以及功能板 5〇 ’則連接裝置14可對應於-刪加電路3Q❿安裝多個 破測試元件200。藉此,本實施形態的測試裝置1〇可藉由 P個附加電路30來平行地對多個被測試元件200進行測 圖ίο表示本實施形態的連接單元28以及連接單元框 的’。作為―例,連接單元28是藉由細旨等來將多 個接腳(Pm)予以—體化而成的構件。連接單元28的多 個接腳各自的_部分自插絲34 _面以及功能板% 的面中的各個面露出。 ,接單兀框40於應配置有多個連接單元28中的各個 連接單元的位置,形成有職與相制的連接單元28大致 相=開a 12G。多個連接單元28中的各個連接單元於插 $^的狀態下,夾持且固定於插座板34與功能板 崎罟二J ’多個連接單元28中的各個連接單元可將 Γ的預定的位置的端子、與設置於功能板 〇的駄的位置的端子之辭以電性連接。 17 201140105 又,作為一例,連接單元28自功能板5〇側的面插入 至連接單元框40。而且,連接單元28形成有卡合部122, 於連接單元28插入至連接單元框40的情形時,該卡合部 122碰觸於連接單元框40的一部分。對於如上所述的連接 單兀框40以及連接單元28而言,於連接單元28插入至連 接單元框40的情形時,可防止連接單元28穿透連接單元 框40而脫落。 圖11表示本實施形態的連接單元28的内部構造的一 例。連接單元28例如包含電源用接腳9〇、信號接腳%以 及接地接腳(ground pin) 94以作為多個接腳。電源用接 腳90、信號接腳92以及接地接腳94中的各個接腳包括: 功能板側探針(probe) 102、插座板侧探針1〇4、以及探 針連接部106。 功能板側探針102是自上述連接單元28的功能板5〇 侧的面露出至外部的金屬性探針。功能板側探針1〇2於將 插座板34與功能板50之間予以連接的狀態下,與功能板 50的端子墊(pad) 98發生接觸。 插座板侧探針104是自上述連接單元28的插座板% 側的面露出至外部的金屬性探針。插座板側探針1〇4於將 插座板34與功能板5G之間予以連接的狀態下,與插座板 34的端子塾1〇〇發生接觸。 探針連接部106是以可於軸方向上移動的方式來保持 著功能板側探針102,並且藉由彈箸等來朝外側的方向施 加力而保持著上述功能板側探針1〇2。又,探針連接部1〇6 201140105 疋x可於轴方向上移動的方式來保持著插座板側探針 104並且藉由彈簧等來朝外侧的方向施加力而保持著上述 插座板側探針1Q4。而且,探針連接部將功能板側探 針102與插座板侧探針1〇4之間予以電性連接。 連接單元28包括固定部108,該固定部108將如上所 述的電源用接腳9G、信號接腳92以及接地接腳94 -體化 ,固定於預定的位置。固定部1〇8保持著電源用接腳9〇、 k號接腳92以及接地接腳94 #各自的探針連接部1〇6的 功能板50侧的端部以及插座板34側的端部。作為一例, 固定部108可為樹脂。 電源用接腳90連接著電源線。因此,電源用接腳90 較佳為比信號接腳92更粗的輸電線(transmissi〇n wire)。 又,對於電源用接腳90而言,較佳為藉由絕緣材料等來將 探針連接部106的周圍予以覆蓋。又,接地接腳94連接著 接地線。因此,接地接腳94較佳為比信號接腳%更粗的 輸電線。 如上所述的構成的連接單元28可不藉由連接器等來 進行機械性固定,而將元件連接部26與功能擴充部24之 間予以電性連接。 圖12表示本實施形態的將功能板5〇、連接單元28以 及連接單元框40連接於功能板框架6〇的連接例。圖13 表示本實施形態的將功能板50、連接單元框4〇、侧壁部 42、插座板34以及插座框38連接於功能板框架6〇的連接 例。 201140105r 如圖12所示,例如,連接單元28插入至連接單元框 40且女裝於功能板5〇。安裝有連接單元框4〇以及連接單 元28的功能板50安裝於功能板框架6〇中的相對應的位 置。. " 接著,如圖13所示,將侧壁部42、插座板34以及插 座框38予以一體化而成的單元安裝於功能板框架6〇,該 功能板框架60安裝有該連接單元框4〇以及功能板5〇。如 此,根據連接裝置14,由於將每個單元予以一體化,因此, 可容易地進行製造以及維護。 以上,使用實施形態來對本發明進行了說明,但本發 明的技術範圍並不限定於上述實施形態所揭示的範圍。^ 領域技術人員顯然瞭解可對上述實施形態添加各種變更或 改良。根據中請專利範圍的揭示,此種添加了變更或改良 的形態顯然亦可包含於本發明的技術範圍。 /對於申請專利範圍'說明書、以及圖式中所示的裝置 系、先程< 以及方法中的動作、順序、步驟、以及階| „的執行順序而言,並不特別地明示為 「先於」 二:且’應當留意只要並非於之後的處理中使月 ::利I;的:出’則能夠以任意的順序來實現。關於, 方便而使用「首先:式中的動作流程,即便為1 J接者,」等來進行說明,亦並巧 思味者必須按照該順序來實施。 限定本·^發/,以較佳實施例揭露如上、然其並非用C 壬可熟習此技藝者,在不脫離本發明之精利 20 201140105. 和範圍内’當可作些許之更動_飾,因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 … 圖卜併表示本實施形態的測試裝置1〇的構成以及被 測試元件200。 表示本實施形態的連接裝置M的構成與被測 試兀件200以及測試頭12。 圖3併表示本實施形態的連接裝置14的機械性構造 的一例以及被測試元件2〇〇。 圖4表示本實施形態的連接裝置14的機械性構造的一 例、以及表示隨著被測試元件2〇〇的品種更換而更換的部 分的線。 圖5表示本實施形態的連接裝置14的部分構造的一 例。 圖6表示本實施形態的用以將冷卻用氣體予以噴出以 及排氣的構件的一例。 圖7表示本實施形態的用以將冷卻用氣體予以喷出以 及排出的構件的連接例。 圖8表示本實施形態的功能板5〇的下侧的面(測試頭 12侧的面)的一例。 圖9表示本實施形態的連接於插座板34的連接單元 28以及被測試元件200的配置的一例。 ® 10表示本實施形態的連接單元28以及連接單元框 40的一例。 21 201140105, 圖11表示本實施形L的連接單元28的構造的一例。 圖12表示本實施形態的將功能板5〇、連接單元28以 及連接單元框40連接於功能板框架60的連接例。 圖13表示本實施形態的將功能板5〇、連接單元框4〇、 侧壁部42、插座板34以及插座框38連接於功能板框 的連接例。 【主要元件符號說明】 10 :測試裝置 12 :測試頭 14 :連接裝置 16 :控制裝置 18 :測試模組 & 母板 24 :功能擴充部 26 :元件連接部 28 :連接單元 30 :附加電路 32 :腔室 34 :插座板 36 =插座 38 :插座框 40 :連接單元框 42 :侧壁部 50 :功能板 22 201140105 54 :散熱器 58 :連接器 60 :功能板框架 62 :母板框架 64 .支持部 66 :連接器引導部 70 :冷卻室 72 :喷出部 74 :排氣部 76 :流入路徑 78 :排氣路徑 80 :信號用的電纜 82 :電源用的電纜 84 :子板 85 :孔部 86 :喷嘴部 87 :基部 88 :環狀襯墊 89 : DC-DC轉換電路 90 :電源用接腳 92 :信號接腳 94 :接地接腳 98 :端子墊 100 :端子墊 23 201140105 102 :功能板側探針 104 :插座板側探針 106 :探針連接部 108 :固定部 120 :開口 122 :卡合部 200 :被測試元件 A1-A2 :點線 24

Claims (1)

  1. 201140105. 七、申請專利範園: 1. 一種測試裝置,連接於與被測試元件的種類相對應 的插座板,對上述被測試元件進行測試,該測試裝置包括: 測試頭,於内部具有對上述被測試元件進行測試的測 試模組; 功此板,經由電纜而連接於上述測試頭内的上述測試 模組,並且連接於上述插座板;以及 附加電路,搭載於上述功能板,且連接於上述測試模 組及上述被測試元件。 、 2·如申請專利範圍第丨項所述之測試裝置,其中 、上述附加電路是積體電路元件,連接於上述測試模組 以及上述被測試元件,且接受來自上述職模組的控制來 對上述被測試元件進行測試。 3. 如申A請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中 士,功能板於上述測試頭側的面具有將與上述測試模 :::連纜予以連接的連接器,上述測試頭的相反 侧的面連接於上述插座板, 面。上述附加電轉载於上述魏板的上制試頭側的 4. ^申請專利範圍第1項所述之測試裝置’其中 述功則試元件的種類如何’均可共通地使用上 述功此板以及上述附加電路。 摘f之測試裝置,更包括 ° °卩自上述功旎板的上述測試頭側將氣 25 201140105. 體予以噴ib ’且對上述附加電路進行冷卻。 如^睛專利範圍第5項所述之測試裝置,更包括: v部,,於上述附加電路上具有密閉的空間;以及 排氣。P,自上述冷卻室内的空間將氣體予以排出, 上述喷出部將上述氣體喷出至上述冷卻室内的空間。 7· 中請專利範圍第6項所述之測試裝置,包括: 力犯板框架,設置於上述功能板的上述測試頭側的 且於上述附加電路以及上述連接器的位置具有開口; 以及 側羞°卩,自上述功能板的侧面侧將上述附加電路予以 包圍。 8如,請專利範圍第1項所述之測試裝置,更包括 連接單元’該連接單元插人至上述功能板以及上述插 門且將上述功能板的端子以及上述插座板的端子 之間予以電性連接。 9’如申凊專利範圍第8項所述之測試裝置,其中 上述連接單元將上述功能板的多個端子與上述插座板 的多個端子之間予以電性連接, 、上述功能板以及上述插座板是藉由相同構造的多個上 述連接單元來連接。 10.如申請專利範圍第9項所述之測試裝置,更包括 、連接單元框,該連接單元框夾持於上述功能板以及上 f插座板之間’ 具有設置於應配置有上述多個連接單元 中的各個連接單元的位置的開口部。 26 .X 201140105 11 置,其中 上述連接單元形成有卡合部 如申請專利範圍第10項所述之測試裝 述連接單元框的情科===: 進行 功能板,經由而連接於上述測試頭内的上述測試 莫、’且並且連接於與上述被測試元件的種類相對應的插 板;以及 附加電路,搭載於上述功能板,且連接於上述測試模 組及上述被測試元件。 13.如申請專利範圍第12項所述之連接裝置,更包括: 功能板框架,設置於上述功能板的上述測試頭側的 面,且於上述附加電路及連接著與上述測試模組之間的上 述電纜的連接器的位置具有開口;以及 側壁部’自上述功能板的側面側將上述附加電路予以 包圍。 27
TW100106669A 2010-04-13 2011-03-01 Test device and connection device TW201140105A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010092208A JP2011220924A (ja) 2010-04-13 2010-04-13 試験装置および接続装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201140105A true TW201140105A (en) 2011-11-16

Family

ID=44760473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100106669A TW201140105A (en) 2010-04-13 2011-03-01 Test device and connection device

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20110248737A1 (zh)
JP (1) JP2011220924A (zh)
KR (1) KR101214033B1 (zh)
CN (1) CN102236071B (zh)
TW (1) TW201140105A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI806045B (zh) * 2021-05-04 2023-06-21 博磊科技股份有限公司 半導體積體電路、印刷電路板與測試裝置之連接器總成

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10162007B2 (en) 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Test architecture having multiple FPGA based hardware accelerator blocks for testing multiple DUTs independently
US10161993B2 (en) 2013-02-21 2018-12-25 Advantest Corporation Tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a FPGA block
US9952276B2 (en) 2013-02-21 2018-04-24 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a FPGA block
US11009550B2 (en) 2013-02-21 2021-05-18 Advantest Corporation Test architecture with an FPGA based test board to simulate a DUT or end-point
US9310427B2 (en) * 2013-07-24 2016-04-12 Advantest Corporation High speed tester communication interface between test slice and trays
KR101455681B1 (ko) * 2013-08-20 2014-10-29 곽은기 공기 순환 기능이 개선된 하이픽스 보드
KR102035998B1 (ko) * 2013-10-25 2019-10-24 가부시키가이샤 어드밴티스트 인터페이스 장치, 제조 방법 및 시험 장치
TWI515436B (zh) * 2013-12-13 2016-01-01 Mpi Corp Detect fixture
JP2016170007A (ja) 2015-03-12 2016-09-23 株式会社東芝 共通テストボード、ip評価ボード、及び半導体デバイスのテスト方法
JP6512052B2 (ja) 2015-09-29 2019-05-15 新東工業株式会社 テストシステム
US9921266B1 (en) * 2017-01-24 2018-03-20 Advantest Corporation General universal device interface for automatic test equipment for semiconductor testing
US9921244B1 (en) 2017-01-24 2018-03-20 Advantest Corporation Production-level modularized load board produced using a general universal device interface for automatic test equipment for semiconductor testing
TWI629490B (zh) * 2017-07-07 2018-07-11 鴻勁精密股份有限公司 具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備
RU177049U1 (ru) * 2017-11-07 2018-02-07 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВО Волгоградский ГАУ) Вспомогательное оборудование для тестирования полупроводниковых интегральных схем
US10976361B2 (en) 2018-12-20 2021-04-13 Advantest Corporation Automated test equipment (ATE) support framework for solid state device (SSD) odd sector sizes and protection modes
US11137910B2 (en) 2019-03-04 2021-10-05 Advantest Corporation Fast address to sector number/offset translation to support odd sector size testing
US11237202B2 (en) 2019-03-12 2022-02-01 Advantest Corporation Non-standard sector size system support for SSD testing
TWI705250B (zh) * 2019-07-17 2020-09-21 美商第一檢測有限公司 晶片測試裝置
KR102207091B1 (ko) * 2019-08-16 2021-01-25 주식회사 시스다인 테스트 소켓 보드 에이징 시험 시스템 및 이를 이용한 테스트 소켓 보드 에이징 시험 방법
US10884847B1 (en) 2019-08-20 2021-01-05 Advantest Corporation Fast parallel CRC determination to support SSD testing
CN111366811B (zh) * 2020-03-19 2022-06-21 北京广利核系统工程有限公司 一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法
CN112285528A (zh) * 2020-09-25 2021-01-29 杭州加速科技有限公司 可扩展的半导体测试设备
US20230069125A1 (en) * 2021-08-27 2023-03-02 Tse Co., Ltd. Test apparatus for semiconductor package

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2239628Y (zh) * 1995-04-21 1996-11-06 南京大学 一种半导体器件特性分析测试装置
JP2001183416A (ja) 1999-12-28 2001-07-06 Mitsubishi Electric Corp テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置
JP2003075515A (ja) 2001-08-31 2003-03-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の試験装置およびその試験方法
US6703852B1 (en) * 2002-12-18 2004-03-09 Xilinx Inc. Low-temperature semiconductor device testing apparatus with purge box
JP2005009942A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路の試験装置
US7046027B2 (en) * 2004-10-15 2006-05-16 Teradyne, Inc. Interface apparatus for semiconductor device tester
KR100641320B1 (ko) * 2005-01-28 2006-11-06 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트용 소켓 어셈블리
JP3875254B2 (ja) * 2005-05-30 2007-01-31 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置及びインターフェースプレート
JP5028060B2 (ja) * 2006-10-03 2012-09-19 株式会社アドバンテスト パフォーマンスボードおよびカバー部材
WO2008102581A1 (ja) * 2007-02-23 2008-08-28 Advantest Corporation 電子部品押圧装置および電子部品試験装置
CN101271854A (zh) * 2007-03-19 2008-09-24 京元电子股份有限公司 整合基本电性及系统功能检测的装置及方法
JP5113624B2 (ja) * 2007-05-24 2013-01-09 株式会社アドバンテスト 試験装置
JP2009186351A (ja) * 2008-02-07 2009-08-20 Yokogawa Electric Corp Dut基板冷却装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI806045B (zh) * 2021-05-04 2023-06-21 博磊科技股份有限公司 半導體積體電路、印刷電路板與測試裝置之連接器總成

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011220924A (ja) 2011-11-04
CN102236071A (zh) 2011-11-09
CN102236071B (zh) 2013-09-18
KR101214033B1 (ko) 2012-12-20
KR20110114433A (ko) 2011-10-19
US20110248737A1 (en) 2011-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201140105A (en) Test device and connection device
US7659738B2 (en) Test sockets having peltier elements, test equipment including the same and methods of testing semiconductor packages using the same
US7042240B2 (en) Burn-in testing apparatus and method
JP5615852B2 (ja) 電子デバイス試験システム
JP2007525672A (ja) 通電テスト用の装置とその方法
US20110227595A1 (en) Interface member, test section unit and electronic device handling apparatus
JP7301795B2 (ja) 半導体パッケージテスト装置
TWI408384B (zh) 測試裝置、電路模組以及製造方法
TWI403260B (zh) A water jacket for cooling the electronic components on the substrate
JP2014169964A (ja) 半導体装置の製造方法
CN112578149A (zh) 芯片可靠性测试用老化设备
JP2015132524A (ja) 試験装置
JPH11284037A (ja) 半導体ウェーハの温度試験装置
JP3824943B2 (ja) Icソケットモジュール
CN220137317U (zh) 老化测试装置
TWI782406B (zh) 具背面散熱機制的燒機電路板
US9658287B2 (en) Handler apparatus, adjustment method of handler apparatus, and test apparatus
KR102397648B1 (ko) 반도체 테스트 시스템용 하이브리드 방열 장치
JPH112655A (ja) 半導体の高温度試験装置
RU176244U1 (ru) Панель контроля параметров микросхем
JP2008263150A (ja) 半導体装置および検査方法
JP5319442B2 (ja) 半導体装置の製造方法
KR100862300B1 (ko) 그래픽 메모리 실장 테스트시스템
KR20150048603A (ko) 푸싱 어셈블리 및 이를 포함하는 테스트 핸들러
KR20100093286A (ko) 수직 실장형 테스트 보드 및 이를 갖는 테스트 장치