CN2239628Y - 一种半导体器件特性分析测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种半导体器件特性分析测试装置,以PC扩展卡的形式制成本装置,它包含数模/模数转换接口,直接数字量的I/O端口、恒流源电路、扫描电压形成/控制电路功耗电阻网络和信号拾取单元。恒流源电路是微机控制下的压控恒流源,电压信号由微机数字化设定;扫描电压信号由微机给出对应数据,经D/A转换电路,功率放大电路,加在被测器件的电极上。功耗电阻网络由数字量I/O控制相应继电器或模拟开关选择。
Description
本实用新型涉及半导体器件特性测试
目前用于测量半导体器件特性参数的仪器、仪表主要有晶体管特性图示仪,半导体器件特性测试装置、数字显示晶体管直流参数测试表等。这些仪器、仪表一般采用模拟电路设计、制造,用示波管(JT-1、PT-2、XJ4810等)显示半导体器件的某些特性曲线,或经AD转换,用数码管显示特定条件下的某一参数(如β值),此类仪器一般不具备智能特征,不带存储器,因而没有分析处理能力和数据转化功能。例如不能直观显示β-Ib关系,不可直接地给出PN结的理想因子等。若要使之具备上述功能,则不仅增大电路设计的复杂性,而且必然要增加仪器的成本。并且,此类仪器,没有数据交换能力,在某些场合(需记录数据并希望输出特性曲线)尤为显得不便。
本实用新型目的是制作一种半导体器件的测试仪器,该仪器为PCCI(个人计算机卡式仪器)形式,使之不仅可以显示特性曲线,而且具有数据交换能力、保存能力、分析能力,并且使测试装置的状态和测量参数通过软件设置。
本实用新型的技术解决方案是:以PC扩展卡的形式制成本装置,它包含数模/模数转换接口,直接数字量的I/O端口、恒流源电路、扫描电压形成/控制电路、功耗电阻网络和信号拾取单元。恒流源电路是微机控制下的压控恒流源,电压信号由微机数字化设定;扫描电压信号由微机给出对应数据,经D/A转换电路,功率放大电路,加在被测器件的电极上。功耗电阻网络由数字量I/O继电器或模拟开关,选择相应电阻;采样信号由运算放大器变换至控制相应的适当的电压范围内,经直接数字量I/O控制的模拟开关构成的通道选择电路,进入A/D转换电路,进而与微机CPU进行数据交换。
本装置是在其支持软件控制下工作的。在控制软件的支持下,可对测试条件(激发电流,激发电压,功耗电阻,扫描电压,平均率等)和系统状态(单次,重复、画点/线方式,平滑系数等)进行软设置。通过控制D/A,设定扫描电压和激发状态;控制I/O端口,选通采样电路和配置功耗电阻;触发A/D转换,将采样数据与内存进行数据交换。软件对采样数据进行加工处理,就可绘制出被测器件的特性曲线和计算出有关参数,并可根据不同的要求,对数据进一步处理。
本实用新型具有下述特点:能实现测量条件和设备状态的软设置;方便实现对阶梯信号和扫描电压的数字化控制;能绘制出半导体器件的特性曲线(输入,输出,转移等)并自动地计算出被测器件的有关参数,(β、gm、PN结的理想因子);易于实现坐标转换(如将Vee-Ic转换成Ic-Ib、β-Ib等);方便地将测试数据写入磁盘保修或从磁盘读出有关数据;数据处理迅速,与宿主机直接进行数据交换,不同于专用设备需与计算机进行二次数据交换方能做进一步处理;图形曲线可以打印输出。
以下结合附图和通过实施例对本实用新型作进一步描述:
电路原理图1、2给出了受控恒流源受控电压源电路,扫描电压形成/控制电路受控电阻网络电路及信号拾取电路。图4、5分别为测量二极管IN4001的I-V曲线和三极管3DG8的输出特性曲线。
图3中数模转换电路U3(DAC0832)运放U9(TL084),可编程I/O接口U6(8255)及图2模拟开关U3(4051),U6(4053),运放U2(TL082),U5(74S009)构成数控电压信号和压控电流信号,并连接至测量器件的测试端口。
图3中数模转换电路U4(DAC1210),运放(TL084),可编程I/O接口U6(8255)及图1中继电器J9,三极管P1、N10等构成受控扫描电压形式电路,产生扫描电压为(-15V-+15V)。如调整功率器件,并对采样电路进行局部修改,扫描电压范围可扩展。
由图3中可编程I/O(8255),图1中译码电路U1(GAL16V8),晶体管阵列N1-N8,电阻阵列RC1-RC8,继电器阵列J1-J8组成受控电阻网络。
由图3中可编程I/O口U6(8255),模拟开关U11(4051),采样保持电路U15(LF398)和模数转换器U5(AD574)及图1中运放U4(TL082),图2中U8(TL082)及继电器J10构成信号拾取电路。
本实用新型卡通过数据缓冲和地址译码电路与微机联接,进行信息交换,由控制软件对测试条件和系统状态进行设置,对数据进行自动处理,由于用软件实现硬件的部分功能,降低了硬件的成本,克分发挥了微机在自动测量,数据处理、图形功能、文件管理等方面优势。本实用新型的工作平台为目前最广泛使用的IBM-PC系列及其兼容机,并有DOS3.0以上操作系统支持,在功能设置和参数选择方面类似HP公司的半导体器件分析仪,但成本较低,价格合理,使用面广,可满足电子产品设计开发部门、无线电器件生产部门、实验室及其他相关部门对中小功率器件和非极限条件下的大功率器件参数测试。
Claims (4)
1.一种半导体器件特性分析测试装置,其特征是以PC扩展卡的形式制成本装置,它包含数模/模数转换接口,直接数字量的I/O端口,恒流源电路、扫描电压形成/控制电路功耗电阻网络和信号拾取单元,恒流源电路是微机控制下的压控恒流源,电压信号由微机数字化设定,扫描电压信号由微机输出端口,连经D/A转换电路,功率放大电路,加在被测器件的电极上。功耗电阻网络由数字量I/O控制相应继电器或模拟开关,选择电阻网络的相应电阻;采样信号经直接数字量I/O控制的模拟开关构成的通道选择电路,进入A/D转换电路,A/D转换电路输出接微机输入端口。
2.由权利要求1所述的分析测试装置,其特征是直接数字量I/O端口以可编程I/O(8255)构成。
3.由权利要求1、2所述的分析测试装置,其特征是由模形开关(U11,4051)、采样保持电路(U15、LF398)和模数转换器(U5、AD574)构成信号拾取电路,并连至可编程I/O口(8255),由可编程I/O口读取采样信号。
4.由权利要求1、2、3、所述的分析测试装置,其特征是由可编程逻辑电路(GAL168V8)构成译码电路,用以控制继电器组(J1-J8,HG4100),从而形成功耗网络。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101881806A (zh) * | 2010-04-04 | 2010-11-10 | 兰州大学 | 一种有机半导体器件特性测量仪 |
CN102236071A (zh) * | 2010-04-13 | 2011-11-09 | 爱德万测试株式会社 | 测试装置及连接装置 |
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1995
- 1995-04-21 CN CN 95239616 patent/CN2239628Y/zh not_active Expired - Fee Related
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