TWI629490B - 具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備 - Google Patents

Abstract

一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其係於機台之後段區設有具壓接器、測試室之測試裝置及移載裝置，並於前段區設有供、收料裝置及冷源輸送裝置，該冷源輸送裝置係於機台上穿置一由下向上之立式通道件，該通道件之第一端係連通至測試裝置之測試室，而第二端連通至機台之下方，以供配置於機台下方之冷源單元的冷源輸送管以由下向上之配管路徑穿經通道件而連接至測試裝置之壓接器；藉此，可縮短冷源輸送管之配管距離而迅速輸送冷源散熱，並可易於同步搬移冷源輸送裝置與測試裝置，達到節省成本及提升移機作業便利性之實用效益。

Description

具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備

本發明係提供一種可縮短冷源輸送管之配管距離而迅速輸送冷源散熱，並可易於同步搬移冷源輸送裝置與測試裝置，以有效節省成本及提升移機作業便利性的具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備。

在現今，電子元件於實際使用時，可能處於低溫環境，業者為確保電子元件之使用品質，於電子元件製作完成後，必須以測試設備對電子元件進行冷測作業，以淘汰出不良品；請參閱第1至4圖，該測試設備係於機台11頂面之前段區設有供料裝置12及收料裝置13，該供料裝置12係具有至少一待測電子元件，該收料裝置13係具有至少一已測電子元件，該機台11上則設有測試裝置14及移載裝置15，該測試裝置14係於機台11上設有測試室141，並於測試室141配置有複數個壓接器142及測試座143，用以測試電子元件，該移載裝置15係用以於供料裝置12、收料裝置13及測試裝置14間移載電子元件，由於測試裝置14之壓接器142壓抵電子元件執行測試作業時，電子元件本身會產生高溫，為使電子元件保持預設測試溫度，該測試裝置14之壓接器142係連接一冷媒輸送裝置16，以於測試過程進行散熱作業，該冷媒輸送裝置16係配置於機台11外部之側方，並獨立配置有一箱體161，該箱體161與機台11間設有連接架162，並供裝配複數個冷媒單元163，該冷媒單元163包含有蒸發器、壓縮機、冷凝器及膨脹器等，並利用複數條輸送管164分別輸出/輸入冷 媒，由於該冷媒輸送裝置16與機台11係分別獨立配置，冷媒輸送裝置16即於箱體161上配置有複數個第一控制閥165，以及於機台11上方之外罩17配置有複數個第二控制閥166，複數個第一控制閥165與複數個第二控制閥166間則設有複數條連接管167，複數個第二控制閥166再連接複數條轉接管168，複數條轉接管168係先橫向配管於外罩17之頂面，接著彎折向下伸入於外罩17之內部，再橫向伸入於測試裝置14之測試室141，使複數條轉接管168連接測試裝置14之壓接器142而輸出/輸入冷媒，以對壓接器142及電子元件進行散熱作業，另於外罩17之周側與冷媒輸送裝置16之箱體161間係設有可掀合啟閉之維修門171，以供工作人員維修位於外罩17內部之收料裝置13等；惟，該冷媒輸送裝置16於使用上具有待改善之處：

1．由於冷媒輸送裝置16之箱體161與機台11係分別獨立配置，不僅必須於箱體161與機台11之間增設複數個第一控制閥165、複數個第二控制閥166及連接管167而增加元件成本，亦導致冷媒單元163必須經由輸送管164、連接管167及轉接管168之相當長距離的輸送配管路徑，方可將冷媒輸入/輸出於測試裝置14之壓接器142，以致增加元件成本及降低散熱效能。

2．請參閱第4圖，由於冷媒輸送裝置16之箱體161與機台11係分別獨立配置，當工作人員欲將測試設備搬移至不同場所時，必須執行移機前後置作業，該移機前後置作業即先開啟箱體161與機台11間之連接架162，接著關閉複數個第一控制閥165及複數個第二控制閥166以防止冷媒外洩，再將複數條連接管167一端拆卸，方可使冷媒輸送裝置16與機台11分離，工作人員再分次搬移冷媒輸送裝置16與機台11，於搬移至預設場所後，又必須重新組裝連接架162及複數條連接管167，以及重新調校冷媒 單元163，不僅搬移前後置作業繁瑣耗時，亦必須採多次搬移而造成移機作業不便之缺失。

3．由於測試設備之供料裝置12、收料裝置13、測試裝置14及移載裝置15係配置於機台11上，再於機台11之外部獨立配置有冷媒輸送裝置16，不僅整體測試設備之機台11及冷媒輸送裝置16的體積大而相當佔用場所空間，又必須於機台11及冷媒輸送裝置16之間預留一工作人員修護空間，更增加整體測試設備佔用之空間，造成不利場所空間配置之缺失。

4．由於外罩17之維修門171係面對冷媒輸送裝置16之箱體161，當工作人員欲進行收料裝置13之維修作業時，即必須要側身進入箱體161與機台11間之狹窄空間處，並開啟維修門171，再於狹窄空間處操作維修工具而執行維修作業，造成維修作業相當不便之缺失。

本發明之目的一，係提供一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其係於機台之後段區設有具壓接器、測試室之測試裝置及移載裝置，並於前段區設有供、收料裝置及冷源輸送裝置，該冷源輸送裝置係於機台上穿置一由下向上之立式通道件，該通道件之第一端係連通至測試裝置之測試室，而第二端連通至機台之下方，以供配置於機台下方之冷源單元的冷源輸送管以由下向上之配管路徑穿經通道件而連接至測試裝置之壓接器；藉此，可縮短冷源輸送管之配管距離而迅速輸送冷源散熱，達到提升散熱效能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該冷源輸送裝置之冷源單元係採下置式配置於機台之下方，並令冷源單元之冷源輸送管以由下向上之配管路徑穿經通道件而連接測試裝置之壓接器，於搬移測試設備時，工作人員可一次搬移機台及冷源輸送裝置等，毋須執行 關閉複數個控制閥及拆卸複數條冷源輸送管及重新調校冷源等繁瑣之移機前後置作業，達到易於移機及提升作業便利性之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該冷源輸送裝置之冷源單元係採下置式配置於機台之下方，並令冷源單元之冷源輸送管以由下向上之配管路徑穿經通道件而連接測試裝置之壓接器，使得冷源輸送裝置及測試裝置位於同一機台，而可有效縮減測試設備之整體體積，達到利於場所空間配置之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該測試設備之外罩係設有可啟閉之維修門，該冷源輸送裝置之冷源單元係採下置式配置於機台之下方，使得機台之周側具有較大操作空間，以供工作人員便利開啟維修門而進行修護作業，達到提升修護作業便利性之實用效益。

〔習知〕

11‧‧‧機台

12‧‧‧供料裝置

13‧‧‧收料裝置

14‧‧‧測試裝置

141‧‧‧測試室

142‧‧‧壓接器

143‧‧‧測試座

15‧‧‧移載裝置

16‧‧‧冷媒輸送裝置

161‧‧‧箱體

162‧‧‧連接架

163‧‧‧冷媒單元

164‧‧‧輸送管

165‧‧‧第一控制閥

166‧‧‧第二控制閥

167‧‧‧連接管

168‧‧‧轉接管

17‧‧‧外罩

171‧‧‧維修門

〔本發明〕

20‧‧‧機台

21‧‧‧第二通口

30‧‧‧供料裝置

31‧‧‧供料承載器

32‧‧‧供料盤

40‧‧‧收料裝置

41‧‧‧收料承載器

42‧‧‧收料盤

50‧‧‧測試裝置

51‧‧‧測試室

511‧‧‧第一通口

52‧‧‧電路板

53‧‧‧測試座

54A、54B‧‧‧第一壓接器

55A、55B‧‧‧第二壓接器

60‧‧‧移載裝置

61‧‧‧第一移料器

62‧‧‧第一入料載台

63‧‧‧第一出料載台

64‧‧‧第二入料載台

65‧‧‧第二出料載台

66‧‧‧第二移料器

70‧‧‧冷源輸送裝置

71、72、73、74‧‧‧冷源單元

711‧‧‧第一冷源輸送管

712‧‧‧第二冷源輸送管

75‧‧‧電控元件

76‧‧‧通道件

80‧‧‧外罩

81‧‧‧維修門

第1圖：習知電子元件測試設備之俯視圖。

第2圖：習知測試裝置之示意圖。

第3圖：習知具維修門之外罩的示意圖。

第4圖：習知冷媒輸送裝置與機台分離之示意圖。

第5圖：本發明電子元件測試設備之俯視圖。

第6圖：本發明電子元件測試設備之前視圖。

第7圖：本發明電子元件測試設備之局部側視圖。

第8圖：本發明具維修門之外罩的示意圖。

第9圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(一)。

第10圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(二)。

第11圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(三)。

第12圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(四)。

第13圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(五)。

第14圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(六)。

第15圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(七)。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第5、6、7、8圖，本發明電子元件測試設備包含機台20、供料裝置30、收料裝置40、測試裝置50、移載裝置60、冷源輸送裝置70、外罩80及中央控制裝置(圖未示出)，更進一步，該測試設備可於機台20上配置至少一預溫電子元件之預溫器(圖未示出)，該預溫器可預冷或預熱電子元件，若預冷電子元件，該預溫器可連接冷源輸送裝置70之冷源輸送管，以輸入冷源，進而預冷待測之電子元件；該供料裝置30係配置於機台20之前段區，並設有至少一供料承載器，以承置至少一待測之電子元件，於本實施例中，該供料承載器31係作Z方向位移，以承載具待測電子元件之供料盤32；該收料裝置40係配置於機台20之前段區，並設有至少一收料承載器，以承置至少一已測之電子元件，於本實施例中，該收料承載器41係作Z方向位移，以承載具已測電子元件之收料盤42；該測試裝置50係配置於機台20之後段區，並設有至少一測試器及至少一壓接器，用以測試電子元件，更進一步，該壓接器可為單純壓抵電子元件之壓接具，亦或為壓抵及移載電子元件之壓移具，於本實施例中，測試裝置50係於機台20上設有一可輸入乾燥空氣之測試室51，該測試室51內配置有測試器及壓接器，該測試器係設有電性連接之電路板52及測試座53，並以測試座53測試電子元件，又測試裝置50係於機台20上設有複數個作Y-Z方向位移之第一壓接器54A、54B及第二壓接器55A、55B，用以移載及壓抵電子元件；該移載裝置60係配置於機台20上，並設有至少一移載電子元件之移料器，於本實施例中，移載裝置60係設有一作X-Y-Z方向位移之 第一移料器61，以於供料裝置30之供料盤32取出待測電子元件，又於測試裝置50之第一側設有第一入料載台62及第一出料載台63，以分別載送待測電子元件及已測電子元件，於測試裝置50之第二側設有第二入料載台64及第二出料載台65，以分別載送待測電子元件及已測電子元件，另設有一作X-Y-Z方向位移之第二移料器66，以於第一、二出料載台63、65及收料裝置40間移載已測電子元件；該冷源輸送裝置70係配置於機台20之前段區，並於機台20下方設有下置式之冷源單元，該冷源單元係設有複數條由下向上穿伸出機台20之冷源輸送管，以輸送冷源，該冷源可為冷媒或低溫氣體或低溫液體等，於本實施例中，係於機台20之下方依複數個第一、二壓接器54A、54B、55A、55B之數量而配置有複數個具冷媒之冷源單元71、72、73、74及相關電控元件75，使冷源輸送裝置70及測試裝置50位於同一機台20，冷源輸送裝置70不僅毋須於機台20之外部獨立配置箱體承置複數個冷源單元71、72、73、74及電控元件75，亦可大幅縮減整體測試設備之體積，而利於應用場所之空間配置，又由於冷源輸送裝置70配置於機台20，而可使複數條冷源輸送管直接連接測試裝置50之壓接器，毋須另外配置第一控制閥、第二控制閥及連接管等元件，而可有效節省成本，以冷源單元71為例，係設有第一冷源輸送管711及第二冷源輸送管712而連接第一壓接器54A，以分別輸入及輸出冷媒，更進一步，冷源輸送裝置70係於機台20設置至少一立式通道件，以供穿置複數條冷源輸送管，使複數條冷源輸送管由下向上而連接複數個壓接器，於本實施例中，係於機台20頂面且位於測試室51之前方設有一由下向上之直立式通道件76，該通道件76之第一端係連通至機台20後段區之測試室51開設的第一通口511，而第二端連通至機台20開設之第二通口21，以連通至機台20之下方，以供位於機台20下方之冷源單元71、72、73、 74的複數條冷源輸送管(例如第一冷源輸送管711及第二冷源輸送管712)依由下向上之配管路徑穿經通道件76而連接至測試裝置50之第一、二壓接器54A、54B、55A、55B，以分別輸入及輸出冷媒；該外罩80係配置於機台20上，並設有至少一可啟閉之維修門，於本實施例中，係於外罩80之側面設有維修門81，以供工作人員維修外罩80內部之收料裝置40等，另該外罩80之上方可供配置該冷源輸送裝置70之電控元件75；該中央控制裝置(圖未示出)係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

請參閱第5、9圖，由於電子元件測試時，其自身會產生高熱而影響測試溫度，為使電子元件保持預設測試溫度，於測試作業時，該冷源輸送裝置70之複數個冷源單元71、72、73、74係利用複數條第一冷源輸送管將冷媒輸送至第一、二壓接器54A、54B、55A、55B，以冷源單元71為例，該冷源單元71係置放於機台20前段區之下方，亦即位於測試裝置50之下方，而可縮短冷源單元71與測試裝置50之第一壓接器54A的距離，由於冷源輸送裝置70之通道件76係位於測試裝置50側方且呈由下向上直立配置於機台20上，以及通道件76之第一端連通測試室51的第一通口511，而第二端連通機台20之第二通口21，進而冷源單元71之第一冷源輸送管711及第二冷源輸送管712係以由下向上之配管路徑穿經通道件76而連接至第一壓接器54A，以有效縮短第一冷源輸送管711及第二冷源輸送管712與第一壓接器54A間之輸送路徑而迅速輸出/輸入冷媒，達到提升散熱效能之實用效益。

請參閱第10、11、12、13圖，於執行電子元件測試時，該供料裝置30之供料盤32係承置複數個待測之電子元件，該移載裝置60之第一移料器61係作X-Y-Z方向位移於供料裝置30之供料盤32取出待測之電子元件，並依 序移載至第一入料載台62及第二入料載台64；接著第一入料載台62係作X方向位移將待測電子元件載送至測試裝置50之第一側，測試裝置50之第一壓接器54A、54B係作Y-Z方向位移於第一入料載台62取出待測電子元件，並移載至測試座53而執行測試作業，該冷源輸送裝置70之複數個冷源單元71、72、73、74即利用複數條第一冷源輸送管將冷媒輸送至第一、二壓接器54A、54B、55A、55B，以冷源單元71為例，該冷源單元71可利用第一冷源輸送管711迅速將低溫之冷媒輸出至第一壓接器54A，並以第二冷源輸送管712將第一壓接器54A處已升溫之冷媒輸入回流至冷源單元71作一循環輸出/輸入冷媒，以提升散熱效能，使電子元件保持預設測試溫度；於測試完畢後，測試裝置50之第一壓接器54A、54B再將已測電子元件移載至第一出料載台63，第一出料載台63係作X方向位移載出已測電子元件，第四移料器66係作X-Y-Z方向位移於第一出料載台63取出已作業電子元件，並依測試結果，而移載至收料裝置40之收料盤42而分類收置。

請參閱第14圖，由於冷源輸送裝置70及測試裝置50位於同一機台20，毋須於機台20之側方增設箱體及連接架等，使得機台20上之外罩80側方具有較大之操作空間，工作人員即可易於進出機台20側方之操作空間，而便利開啟外罩80之維修門81執行維修作業，達到提升修護作業便利性之實用效益。

請參閱第15圖，當工作人員欲將測試設備搬移至不同場所時，由於冷源輸送裝置70及測試裝置50位於同一機台20，毋須於冷源輸送裝置70與外罩80間增設第一控制閥、第二控制閥及連接管等元件，而可有效節省成本，於搬移測試設備時，工作人員可一次搬移機台20及其上之冷源輸送裝置70及測試裝置50及外罩80等，毋須繁瑣關閉複數個第一、 二控制閥及拆卸冷源輸送管及重新調校冷源，而可便利作一次性搬移測試設備，達到易於移機及提升作業便利性之實用效益。

Claims (10)

1. 一種具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台之前段區，並設有至少一承載待測電子元件之供料承載器；收料裝置：係配置於該機台之前段區，並設有至少一承載已測電子元件之收料承載器；測試裝置：係配置於該機台之後段區，並設有至少一測試器及至少一壓接器，以測試電子元件；移載裝置：係配置於該機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器；冷源輸送裝置：係配置於該機台之前段區，並於該機台之下方設有至少一下置式冷源單元，該冷源單元係設有複數條輸送冷源之冷源輸送管，該冷源輸送管係由下向上穿伸出該機台，以連接該測試裝置之壓接器；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該測試裝置係於該機台上設有至少一測試室，該冷源輸送裝置之複數條冷源輸送管係穿置於該測試室，以連接該測試裝置之壓接器。
3. 依申請專利範圍第2項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該冷源輸送裝置係於該機台上設置至少一由下向上配置之通道件，該通道件之第一端係連通該測試室，第二端則連通該機台之下方，以供穿置該複數條冷源輸送管。
4. 依申請專利範圍第3項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該測試室係開設有第一通口，以供裝配該通道件之第一端，該機台係開設有第二通口，以供裝配該通道件之第二端。
5. 依申請專利範圍第2項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該測試裝置係於該測試室輸入乾燥空氣。
6. 依申請專利範圍第1項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該測試裝置之壓接器可為單純壓抵電子元件之壓接具，或為壓抵及移載電子元件之壓移具。
7. 依申請專利範圍第1項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該機台上係配置有至少一外罩，該外罩係設有至少一維修門。
8. 依申請專利範圍第7項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該冷源輸送裝置之電控元件係配置於該機台之下方或該外罩之上方。
9. 依申請專利範圍第1項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，更包含於該機台上配置至少一預溫電子元件之預溫器。
10. 依申請專利範圍第9項所述之具下置式冷源輸送裝置之電子元件測試設備，其中，該預溫器係連接該冷源輸送裝置之冷源輸送管。