CN109212370A - 具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其是在机台的后段区设有具压接器、测试室的测试装置及移载装置，并在前段区设有供、收料装置及冷源输送装置，该冷源输送装置是在机台上穿置一由下向上的立式通道件，该通道件的第一端连通至测试装置的测试室，而第二端连通至机台的下方，以供配置于机台下方的冷源单元的冷源输送管以由下向上的配管路径穿经通道件而连接至测试装置的压接器；如此，可缩短冷源输送管的配管距离而迅速输送冷源散热，并可易于同步搬移冷源输送装置与测试装置，达到节省成本及提升移机作业便利性的实用效益。

Description

具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备

技术领域

本发明系提供一种可缩短冷源输送管的配管距离而迅速输送冷源散热，并可易于同步搬移冷源输送装置与测试装置，以有效节省成本及提升移机作业便利性的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备。

背景技术

在现今，电子组件于实际使用时，可能处于低温环境，业者为确保电子组件的使用质量，于电子组件制作完成后，必须以测试设备对电子组件进行冷测作业，以淘汰出不良品；请参阅第1至4图，该测试设备是在机台11顶面的前段区设有供料装置12及收料装置13，该供料装置12具有至少一待测电子组件，该收料装置13具有至少一已测电子组件，该机台11上则设有测试装置14及移载装置15，该测试装置14是在机台11上设有测试室141，并在测试室141配置有复数个压接器142及测试座143，用以测试电子组件，该移载装置15用以于供料装置12、收料装置13及测试装置14间移载电子组件，由于测试装置14的压接器142压抵电子组件执行测试作业时，电子组件本身会产生高温，为使电子组件保持预设测试温度，该测试装置14的压接器142连接一冷媒输送装置16，以于测试过程进行散热作业，该冷媒输送装置16配置于机台11外部的侧方，并独立配置有一箱体161，该箱体161与机台11间设有连接架162，并供装配复数个冷媒单元163，该冷媒单元163包含有蒸发器、压缩机、冷凝器及膨胀器等，并利用复数条输送管164分别输出/输入冷媒，由于该冷媒输送装置16与机台11分别独立配置，冷媒输送装置16即于箱体161上配置有复数个第一控制阀165，以及于机台11上方的外罩17配置有复数个第二控制阀166，复数个第一控制阀165与复数个第二控制阀166间则设有复数条连接管167，复数个第二控制阀166再连接复数条转接管168，复数条转接管168系先横向配管于外罩17的顶面，接着弯折向下伸入于外罩17的内部，再横向伸入于测试装置14的测试室141，使复数条转接管168连接测试装置14的压接器142而输出/输入冷媒，以对压接器142及电子组件进行散热作业，另于外罩17的周侧与冷媒输送装置16的箱体161间设有可掀合启闭的维修门171，以供工作人员维修位于外罩17内部的收料装置13等；然而，该冷媒输送装置16于使用上具有待改善的处：

1.由于冷媒输送装置16的箱体161与机台11分别独立配置，不仅必须于箱体161与机台11之间增设复数个第一控制阀165、复数个第二控制阀166及连接管167而增加组件成本，也导致冷媒单元163必须经由输送管164、连接管167及转接管168的相当长距离的输送配管路径，方可将冷媒输入/输出于测试装置14的压接器142，以致增加组件成本及降低散热效能。

2.请参阅图4，由于冷媒输送装置16的箱体161与机台11分别独立配置，当工作人员欲将测试设备搬移至不同场所时，必须执行移机前后置作业，该移机前后置作业即先开启箱体161与机台11间的连接架162，接着关闭复数个第一控制阀165及复数个第二控制阀166以防止冷媒外泄，再将复数条连接管167一端拆卸，方可使冷媒输送装置16与机台11分离，工作人员再分次搬移冷媒输送装置16与机台11，于搬移至预设场所后，又必须重新组装连接架162及复数条连接管167，以及重新调校冷媒单元163，不仅搬移前后置作业繁琐耗时，也必须采多次搬移而造成移机作业不便的缺失。

3.由于测试设备的供料装置12、收料装置13、测试装置14及移载装置15配置于机台11上，再于机台11的外部独立配置有冷媒输送装置16，不仅整体测试设备的机台11及冷媒输送装置16的体积大而相当占用场所空间，又必须于机台11及冷媒输送装置16之间预留一工作人员修护空间，更增加整体测试设备占用的空间，造成不利场所空间配置的缺失。

4.由于外罩17的维修门171系面对冷媒输送装置16的箱体161，当工作人员欲进行收料装置13的维修作业时，即必须要侧身进入箱体161与机台11间的狭窄空间处，并开启维修门171，再于狭窄空间处操作维修工具而执行维修作业，造成维修作业相当不便的缺失。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征是包含：

机台；

供料装置：配置于该机台的前段区，并设有至少一承载待测电子组件的供料承载器；

收料装置：配置于该机台的前段区，并设有至少一承载已测电子组件的收料承载器；

测试装置：配置于该机台的后段区，并设有至少一测试器及至少一压接器，以测试电子组件；

移载装置：配置于该机台上，并设有至少一移载电子组件的移料器；

冷源输送装置：配置于该机台的前段区，并在该机台的下方设有至少一下置式冷源单元，该冷源单元设有复数条输送冷源的冷源输送管，该冷源输送管由下向上穿伸出该机台，以连接该测试装置的压接器；

中央控制装置：用以控制及整合该供料装置、收料装置、测试装置、移载装置以及冷源输送装置动作，以执行自动化作业。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该测试装置是在该机台上设有至少一测试室，该冷源输送装置的复数条冷源输送管穿置于该测试室，以连接该测试装置的压接器。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该冷源输送装置是在该机台上设置至少一由下向上配置的通道件，该通道件的第一端连通该测试室，第二端则连通该机台的下方，以供穿置该复数条冷源输送管。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该测试室开设有第一通口，以供装配该通道件的第一端，该机台开设有第二通口，以供装配该通道件的第二端。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该测试装置是在该测试室输入干燥空气。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该测试装置的压接器为单纯压抵电子组件的压接具，或为压抵及移载电子组件的压移具。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该机台上配置有至少一外罩，该外罩设有至少一维修门。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该冷源输送装置的电控组件配置于该机台的下方或该外罩的上方。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，还包含在该机台上配置至少一预温电子组件的预温器。

所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该预温器连接该冷源输送装置的冷源输送管。

本发明的优点之一，提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其是在机台的后段区设有具压接器、测试室的测试装置及移载装置，并在前段区设有供、收料装置及冷源输送装置，该冷源输送装置是在机台上穿置一由下向上的立式通道件，该通道件的第一端连通至测试装置的测试室，而第二端连通至机台的下方，以供配置于机台下方的冷源单元的冷源输送管以由下向上的配管路径穿经通道件而连接至测试装置的压接器；如此，可缩短冷源输送管的配管距离而迅速输送冷源散热，达到提升散热效能的实用效益。

本发明的优点之二，提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该冷源输送装置的冷源单元系采下置式配置于机台的下方，并令冷源单元的冷源输送管以由下向上的配管路径穿经通道件而连接测试装置的压接器，于搬移测试设备时，工作人员可一次搬移机台及冷源输送装置等，毋须执行关闭复数个控制阀及拆卸复数条冷源输送管及重新调校冷源等繁琐的移机前后置作业，达到易于移机及提升作业便利性的实用效益。

本发明的优点之三，提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该冷源输送装置的冷源单元系采下置式配置于机台的下方，并令冷源单元的冷源输送管以由下向上的配管路径穿经通道件而连接测试装置的压接器，使得冷源输送装置及测试装置位于同一机台，而可有效缩减测试设备的整体体积，达到利于场所空间配置的实用效益。

本发明的优点之四，提供一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其中，该测试设备的外罩设有可启闭的维修门，该冷源输送装置的冷源单元系采下置式配置于机台的下方，使得机台的周侧具有较大操作空间，以供工作人员便利开启维修门而进行修护作业，达到提升修护作业便利性的实用效益。

附图说明

图1是现有电子组件测试设备的俯视图。

图2是现有测试装置的示意图。

图3是现有具维修门的外罩的示意图。

图4是现有冷媒输送装置与机台分离的示意图。

图5是本发明电子组件测试设备的俯视图。

图6是本发明电子组件测试设备的前视图。

图7是本发明电子组件测试设备的局部侧视图。

图8是本发明具维修门的外罩的示意图。

图9是本发明电子组件测试设备的使用示意图(一)。

图10是本发明电子组件测试设备的使用示意图(二)。

图11是本发明电子组件测试设备的使用示意图(三)。

图12是本发明电子组件测试设备的使用示意图(四)。

图13是本发明电子组件测试设备的使用示意图(五)。

图14是本发明电子组件测试设备的使用示意图(六)。

图15是本发明电子组件测试设备的使用示意图(七)。

附图标记说明：[现有技术]机台11；供料装置12；收料装置13；测试装置14；测试室141；压接器142；测试座143；移载装置15；冷媒输送装置16；箱体161；连接架162；冷媒单元163；输送管164；第一控制阀165；；第二控制阀166；连接管167；；转接管168；外罩17；维修门171；[本发明]机台20第二通口21；供料装置30；供料承载器31；；供料盘32；收料装置40；收料承载器41；收料盘42；；测试装置50；测试室51；第一通口511；电路板52；测试座53；第一压接器54A、54B；第二压接器55A、55B；移载装置60；第一移料器61；第一入料载台62；第一出料载台63；第二入料载台64；第二出料载台65；第二移料器66；冷源输送装置70；冷源单元71、72、73、74；第一冷源输送管711；第二冷源输送管712；电控组件75；通道件76；外罩80；维修门81。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图5、图6、图7、图8，本发明电子组件测试设备包含机台20、供料装置30、收料装置40、测试装置50、移载装置60、冷源输送装置70、外罩80及中央控制装置(图未示出)，更进一步，该测试设备可于机台20上配置至少一预温电子组件的预温器(图未示出)，该预温器可预冷或预热电子组件，若预冷电子组件，该预温器可连接冷源输送装置70的冷源输送管，以输入冷源，进而预冷待测的电子组件；该供料装置30配置于机台20的前段区，并设有至少一供料承载器，以承置至少一待测的电子组件，于本实施例中，该供料承载器31系作Z方向位移，以承载具待测电子组件的供料盘32；该收料装置40配置于机台20的前段区，并设有至少一收料承载器，以承置至少一已测的电子组件，于本实施例中，该收料承载器41系作Z方向位移，以承载具已测电子组件的收料盘42；该测试装置50配置于机台20的后段区，并设有至少一测试器及至少一压接器，用以测试电子组件，更进一步，该压接器可为单纯压抵电子组件的压接具，也或为压抵及移载电子组件的压移具，于本实施例中，测试装置50是在机台20上设有一可输入干燥空气的测试室51，该测试室51内配置有测试器及压接器，该测试器设有电性连接的电路板52及测试座53，并以测试座53测试电子组件，又测试装置50是在机台20上设有复数个作Y－Z方向位移的第一压接器54A、54B及第二压接器55A、55B，用以移载及压抵电子组件；该移载装置60配置于机台20上，并设有至少一移载电子组件的移料器，于本实施例中，移载装置60设有一作X－Y－Z方向位移的第一移料器61，以于供料装置30的供料盘32取出待测电子组件，又于测试装置50的第一侧设有第一入料载台62及第一出料载台63，以分别载送待测电子组件及已测电子组件，于测试装置50的第二侧设有第二入料载台64及第二出料载台65，以分别载送待测电子组件及已测电子组件，另设有一作X－Y－Z方向位移的第二移料器66，以于第一、二出料载台63、65及收料装置40间移载已测电子组件；该冷源输送装置70配置于机台20的前段区，并在机台20下方设有下置式的冷源单元，该冷源单元设有复数条由下向上穿伸出机台20的冷源输送管，以输送冷源，该冷源可为冷媒或低温气体或低温液体等，于本实施例中，是在机台20的下方依复数个第一、二压接器54A、54B、55A、55B的数量而配置有复数个具冷媒的冷源单元71、72、73、74及相关电控组件75，使冷源输送装置70及测试装置50位于同一机台20，冷源输送装置70不仅毋须于机台20的外部独立配置箱体承置复数个冷源单元71、72、73、74及电控组件75，也可大幅缩减整体测试设备的体积，而利于应用场所的空间配置，又由于冷源输送装置70配置于机台20，而可使复数条冷源输送管直接连接测试装置50的压接器，毋须另外配置第一控制阀、第二控制阀及连接管等组件，而可有效节省成本，以冷源单元71为例，设有第一冷源输送管711及第二冷源输送管712而连接第一压接器54A，以分别输入及输出冷媒，更进一步，冷源输送装置70是在机台20设置至少一立式通道件，以供穿置复数条冷源输送管，使复数条冷源输送管由下向上而连接复数个压接器，于本实施例中，是在机台20顶面且位于测试室51的前方设有一由下向上的直立式通道件76，该通道件76的第一端连通至机台20后段区的测试室51开设的第一通口511，而第二端连通至机台20开设的第二通口21，以连通至机台20的下方，以供位于机台20下方的冷源单元71、72、73、74的复数条冷源输送管(例如第一冷源输送管711及第二冷源输送管712)依由下向上的配管路径穿经通道件76而连接至测试装置50的第一、二压接器54A、54B、55A、55B，以分别输入及输出冷媒；该外罩80配置于机台20上，并设有至少一可启闭的维修门，于本实施例中，是在外罩80的侧面设有维修门81，以供工作人员维修外罩80内部的收料装置40等，另该外罩80的上方可供配置该冷源输送装置70的电控组件75；该中央控制装置(图未示出)用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

请参阅图5、图9，由于电子组件测试时，其自身会产生高热而影响测试温度，为使电子组件保持预设测试温度，于测试作业时，该冷源输送装置70的复数个冷源单元71、72、73、74系利用复数条第一冷源输送管将冷媒输送至第一、二压接器54A、54B、55A、55B，以冷源单元71为例，该冷源单元71系放置于机台20前段区的下方，也即位于测试装置50的下方，而可缩短冷源单元71与测试装置50的第一压接器54A的距离，由于冷源输送装置70的通道件76位于测试装置50侧方且呈由下向上直立配置于机台20上，以及通道件76的第一端连通测试室51的第一通口511，而第二端连通机台20的第二通口21，进而冷源单元71的第一冷源输送管711及第二冷源输送管712系以由下向上的配管路径穿经通道件76而连接至第一压接器54A，以有效缩短第一冷源输送管711及第二冷源输送管712与第一压接器54A间的输送路径而迅速输出/输入冷媒，达到提升散热效能的实用效益。

请参阅图10、图11、图12、图13，于执行电子组件测试时，该供料装置30的供料盘32系承置复数个待测的电子组件，该移载装置60的第一移料器61系作X－Y－Z方向位移于供料装置30的供料盘32取出待测的电子组件，并依序移载至第一入料载台62及第二入料载台64；接着第一入料载台62系作X方向位移将待测电子组件载送至测试装置50的第一侧，测试装置50的第一压接器54A、54B系作Y－Z方向位移于第一入料载台62取出待测电子组件，并移载至测试座53而执行测试作业，该冷源输送装置70的复数个冷源单元71、72、73、74即利用复数条第一冷源输送管将冷媒输送至第一、二压接器54A、54B、55A、55B，以冷源单元71为例，该冷源单元71可利用第一冷源输送管711迅速将低温的冷媒输出至第一压接器54A，并以第二冷源输送管712将第一压接器54A处已升温的冷媒输入回流至冷源单元71作一循环输出/输入冷媒，以提升散热效能，使电子组件保持预设测试温度；于测试完毕后，测试装置50的第一压接器54A、54B再将已测电子组件移载至第一出料载台63，第一出料载台63系作X方向位移载出已测电子组件，第四移料器66系作X－Y－Z方向位移于第一出料载台63取出已作业电子组件，并依测试结果，而移载至收料装置40的收料盘42而分类收置。

请参阅图14，由于冷源输送装置70及测试装置50位于同一机台20，毋须于机台20的侧方增设箱体及连接架等，使得机台20上的外罩80侧方具有较大的操作空间，工作人员即可易于进出机台20侧方的操作空间，而便利开启外罩80的维修门81执行维修作业，达到提升修护作业便利性的实用效益。

请参阅图15，当工作人员欲将测试设备搬移至不同场所时，由于冷源输送装置70及测试装置50位于同一机台20，毋须于冷源输送装置70与外罩80间增设第一控制阀、第二控制阀及连接管等组件，而可有效节省成本，于搬移测试设备时，工作人员可一次搬移机台20及其上的冷源输送装置70及测试装置50及外罩80等，毋须繁琐关闭复数个第一、二控制阀及拆卸冷源输送管及重新调校冷源，而可便利作一次性搬移测试设备，达到易于移机及提升作业便利性的实用效益。

Claims (10)

1.一种具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征是包含：

机台；

供料装置：配置于该机台的前段区，并设有至少一承载待测电子组件的供料承载器；

收料装置：配置于该机台的前段区，并设有至少一承载已测电子组件的收料承载器；

测试装置：配置于该机台的后段区，并设有至少一测试器及至少一压接器，以测试电子组件；

移载装置：配置于该机台上，并设有至少一移载电子组件的移料器；

冷源输送装置：配置于该机台的前段区，并在该机台的下方设有至少一下置式冷源单元，该冷源单元设有复数条输送冷源的冷源输送管，该冷源输送管由下向上穿伸出该机台，以连接该测试装置的压接器；

中央控制装置：用以控制及整合该供料装置、收料装置、测试装置、移载装置以及冷源输送装置动作，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该测试装置是在该机台上设有至少一测试室，该冷源输送装置的复数条冷源输送管穿置于该测试室，以连接该测试装置的压接器。

3.根据权利要求2所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该冷源输送装置是在该机台上设置至少一由下向上配置的通道件，该通道件的第一端连通该测试室，第二端则连通该机台的下方，以供穿置该复数条冷源输送管。

4.根据权利要求3所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该测试室开设有第一通口，以供装配该通道件的第一端，该机台开设有第二通口，以供装配该通道件的第二端。

5.根据权利要求2所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该测试装置是在该测试室输入干燥空气。

6.根据权利要求1所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该测试装置的压接器为单纯压抵电子组件的压接具，或为压抵及移载电子组件的压移具。

7.根据权利要求1所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该机台上配置有至少一外罩，该外罩设有至少一维修门。

8.根据权利要求7所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该冷源输送装置的电控组件配置于该机台的下方或该外罩的上方。

9.根据权利要求1所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，还包含在该机台上配置至少一预温电子组件的预温器。

10.根据权利要求9所述的具有下置式冷源输送装置的电子组件测试设备，其特征在于，该预温器连接该冷源输送装置的冷源输送管。