TWI585419B - Test equipment for electronic components operating equipment with anti - condensation unit and its application - Google Patents

Description

具防結露單元之電子元件作業裝置及其應用之測試分類設備

本發明係提供一種該防結露單元可於控溫箱之外部周圍形成冷熱交換區域，以使控溫箱外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而升溫，而有效防止控溫箱之外表面結露，進而提升作業品質之電子元件作業裝置。

在現今，電子元件於實際使用時，可能處於低溫環境，業者為確保電子元件之使用品質，於電子元件完成後，必須以電子元件測試設備對電子元件進行冷測作業，該測試設備即利用作業裝置(如壓移裝置)移載待測之電子元件，並將待測電子元件壓抵於測試裝置之測試座而執行測試作業，以淘汰不良品；請參閱第1圖，係為電子元件壓接裝置10，其係以驅動器11帶動控溫箱12作Z方向位移，該控溫箱12係設有第一箱體121，並於第一箱體121之外部套接一第二箱體122，該第一箱體121與第二箱體122之間設有相互配合且呈Z方向配置之第一滑軌123及第一滑座124，進而利用驅動器11帶動第一箱體121於第二箱體122內作Z方向位移，又該控溫箱12之第二箱體122底面水平配置有二門板125，二門板125與第二箱體122之間設有相互配合且呈X方向配置之第二滑座126及第二滑軌127，使門板125利用第二滑軌127沿第二箱體122之第二滑座126滑移而啟閉，另於控溫箱12之第二箱體122內部設有一輸送低溫氣體之輸送管128，以輸送低溫氣體至控溫箱12的內部；一下壓電子元件之下壓器13，係裝配於控溫箱12的第一箱體121，該下壓器1 3設有至少一溫控件131，使下壓器13保持預設低溫測試作業溫度；惟，請參閱第2圖，由於控溫箱12的第一箱體121利用第一滑座124於第二箱體122之第一滑軌123上作Z方向滑移，為令第一箱體121順暢於第二箱體122內位移，該第一箱體121與第二箱體122間並非封閉組裝，實際上二者之間具有Z方向空隙，另該二門板125利用第二滑軌127沿第二箱體122之第二滑座126作X方向滑移，為令二門板125順暢於第二箱體122之底面位移啟閉，二門板125與第二箱體122間亦非封閉組裝，實際上二者之間具有X方向空隙，當輸送管128持續將低溫氣體輸入控溫箱12之內部時，部分低溫氣體會由第一箱體121與第二箱體122間之Z方向空隙及二門板125與第二箱體122間之X方向空隙外洩，當外洩的低溫氣體接觸控溫箱12外部周圍含水量高的空氣時，即會於控溫箱12之外表面發生結露現象，由於壓接裝置10位於一測試裝置之上方，以致控溫箱12外表面結露所產生之水液將會滴落於下方之測試裝置，致使測試裝置之零件損壞而必須淘汰更換，造成增加設備成本之缺失，再者，若測試裝置內已承置有待測之電子元件，則控溫箱12外表面結露之水液亦會滴落至待測之電子元件，進而影響電子元件測試之準確性，造成測試品質不佳之缺失。

本發明之目的一，係提供一種具防結露單元之電子元件作業裝置，其係設有一由移動臂帶動位移之控溫箱，並令控溫箱之第一箱體可於第二箱體內作Z軸向位移，該第一箱體則裝配至少一對電子元件執行低溫預設作業之作業器，另於控溫箱裝配至少一輸入低溫氣體或乾燥空氣之輸送管，該防結露單元係於控溫箱之第一、二箱體裝配有至少一加熱件，以升溫控溫箱外部周圍之空氣，使熱空氣於控溫箱之周圍形成一冷熱交換區域，以使控溫箱外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而 升溫，進而有效防止控溫箱之外表面發生結露，達到提升使用便利性及作業品質之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元之控溫箱可為金屬材質或於外部裝設金屬製之傳導件，以輔助傳導加熱件之高溫，而擴大冷熱交換區域之範圍，以確保控溫箱外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而升溫，進而防止控溫箱之外表面發生結露，達到更加提升使用便利性之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元係於控溫箱裝配有加熱件，以升溫該控溫箱外部周圍之空氣，使熱空氣於控溫箱之周圍形成一冷熱交換區域，可令控溫箱外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而升溫，以防止控溫箱之外表面發生結露，進而提升控溫箱移動路徑下方之相關裝置的使用壽命及相關裝置內之電子元件品質，達到節省成本及提升作業品質之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種應用具防結露單元之電子元件作業裝置的測試分類設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、測試裝置、作業裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該供料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器，該收料裝置係配置於機台上，並設有至少一容納已測電子元件之收料承置器，該測試裝置係配置於機台上，並設有至少一測試電子元件之測試器，該作業裝置係配置於機台上，包含作業器、控溫箱及防結露單元，以對待測電子元件執行預設作業，並可防止控溫箱結露，該輸送裝置係配置於機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

〔習知〕

10‧‧‧壓接裝置

11‧‧‧驅動器

12‧‧‧控溫箱

121‧‧‧第一箱體

122‧‧‧第二箱體

123‧‧‧第一滑軌

124‧‧‧第一滑座

125‧‧‧門板

126‧‧‧第二滑座

127‧‧‧第二滑軌

128‧‧‧輸送管

13‧‧‧下壓器

131‧‧‧溫控件

〔本發明〕

20‧‧‧作業裝置

21‧‧‧控溫箱

211‧‧‧第一箱體

212‧‧‧第二箱體

213‧‧‧第一滑軌

214‧‧‧第一滑座

215‧‧‧門板

216‧‧‧第二滑座

217‧‧‧第二滑軌

218‧‧‧輸送管

22‧‧‧作業器

221‧‧‧溫控件

23‧‧‧防結露單元

231‧‧‧第一加熱件

232‧‧‧第二加熱件

233‧‧‧第三加熱件

234‧‧‧第一傳導件

235‧‧‧第二傳導件

236‧‧‧第三傳導件

237‧‧‧第四加熱件

238‧‧‧第五加熱件

239‧‧‧第六加熱件

24‧‧‧移動臂

30‧‧‧測試裝置

31‧‧‧電路板

32‧‧‧測試座

33‧‧‧電子元件

34‧‧‧掣動器

40‧‧‧機台

50‧‧‧供料裝置

51‧‧‧供料承置器

60‧‧‧收料裝置

61‧‧‧收料承置器

70‧‧‧輸送裝置

71‧‧‧第一移料器

72‧‧‧第一供料載台

73‧‧‧第二供料載台

74‧‧‧第二移料器

75‧‧‧第三移料器

76‧‧‧第一收料載台

77‧‧‧第二收料載台

78‧‧‧第四移料器

第1圖：習知壓接裝置之示意圖。

第2圖：習知壓接裝置之低溫氣體外洩示意圖。

第3圖：本發明電子元件作業裝置之第一實施例示意圖。

第4圖：本發明作業裝置之第一實施例使用示意圖(一)。

第5圖：本發明作業裝置之第一實施例使用示意圖(二)。

第6圖：本發明作業裝置位於測試裝置上方之示意圖。

第7圖：本發明作業裝置壓抵測試裝置之電子元件的使用示意圖。

第8圖：本發明電子元件作業裝置之第二實施例示意圖。

第9圖：本發明電子元件作業裝置之第二實施例使用示意圖。

第10圖：本發明作業裝置應用於測試分類設備之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱第3圖，係本發明電子元件作業裝置20之第一實施例，其包含控溫箱21、作業器22及防結露單元23，該控溫箱21係設有至少一箱體，並於該至少一箱體裝配至少一輸入氣體之輸送管，另於該至少一箱體裝設至少一門板，於本實施例中，該控溫箱21係由一移動臂24帶動作Z方向位移，該控溫箱21設有一連結移動臂24之第一箱體211，並於第一箱體211之外部套接一第二箱體212，該第一箱體211及第二箱體212可為隔熱材製或金屬製，於本實施例中，該第一箱體211及第二箱體212係為金屬製，並於第一箱體211及第二箱體212之間設有相互配合且呈Z方向配置之第一滑軌及第一滑座，於本實施例中，係於第二箱體212設有呈Z方向配置之第一滑軌213，於第一箱體211設有呈Z方向配置之第一滑座214，以滑置於第一滑軌213，使第一箱體211可於第二箱體212內作Z方向相對位移，又該控溫箱21係於第二箱體212之底面裝設有至少一門板，該門板可作向下擺動啟閉或作水平位移啟閉，於本實施例中，係於第二箱體212之底面裝設二作水平位移啟閉之門板215，並於門板215與第 二箱體212之間設有相互配合且呈X方向配置之第二滑軌及第二滑座，於本實施例中，係於第二箱體212設有呈X方向配置之第二滑座216，於門板215上設有呈X方向配置之第二滑軌217，使門板215利用第二滑軌217沿第二箱體212之第二滑座216作X方向滑移啟閉，另於控溫箱21上設有至少一輸送氣體之輸送管218，該氣體可為低溫氣體或乾燥空氣，於本實施例中，輸送管218可輸送低溫氣體至控溫箱21之內部；該作業器22係裝配於控溫箱21之至少一箱體內部，以對電子元件執行低溫預設作業，更進一步，該作業器22可為一壓抵電子元件之壓接器，或為一移載電子元件之移載器，亦或為一壓抵及移載電子元件之壓移器，於本實施例中，該作業器22係為低溫之壓接器，並裝配於控溫箱21之第一箱體211，而由第一箱體211帶動作Z方向位移，以壓抵待測之電子元件，另於作業器22設有至少一溫控件221，以使作業器22保持預設測試作業溫度，該溫控件221可為致冷晶片、加熱件或具低溫流體之本體，於本實施例中，該溫控件221係為致冷晶片，以使作業器22保持低溫預設測試作業溫度；該防結露單元23係於控溫箱21之至少一箱體裝配至少一加熱件，以升溫控溫箱21外部周圍之空氣，而於控溫箱21之周圍形成一冷熱交換區域，以供控溫箱21外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而升溫，進而有效防止控溫箱21之外表面結露，更進一步，該加熱件可直接裝配於控溫箱21之外表面或壁厚內，亦或於控溫箱21之外部裝配至少一傳導件，再於傳導件上裝配加熱件，於本實施例中，該防結露單元23係於控溫箱21之第一箱體211壁厚中裝配複數個為加熱棒之第一加熱件231，以及於第二箱體212之壁厚中裝配有複數個為加熱棒之第二加熱件232，以及於門板215之壁厚中裝配有複數個為加熱棒之第三加熱件233，利用第一加熱件231、第二加熱件232及第三加熱件233升溫該控溫箱21外部周圍之空 氣，而於控溫箱21之周圍形成一冷熱交換區域。

請參閱第4圖，本發明作業裝置20係應用於執行電子元件之冷測作業，該作業裝置20係以一為致冷晶片之溫控件221將作業器22降溫至預設低溫測試溫度，以便低溫之作業器22下壓電子元件時，可使電子元件處於模擬低溫測試環境，然為防止低溫之作業器22在尚未執行下壓動作之前發生結露，作業裝置20係利用輸送管218對控溫箱21之內部輸送低溫氣體，以減少控溫箱21內部之空氣含水量，由於控溫箱21係罩置於作業器22之外部，於二門板215關閉控溫箱21時，可避免低溫之作業器22與控溫箱21外部含水量高之空氣接觸，以防止作業器22在尚未執行下壓動作之前結露，進而提升測試品質。

請參閱第5圖，由於控溫箱21之第一箱體211及第二箱體212間具有Z方向空隙，以及二門板215與第二箱體212底面間具有X方向空隙，當輸送管218將低溫氣體輸入於控溫箱21之內部時，部分低溫氣體即會由Z方向空隙及X方向空隙外洩，因此，該作業裝置20即利用第一加熱件231及第二加熱件232事先將控溫箱21之第一箱體211及第二箱體212的外部周圍空氣升溫，以及利用第三加熱件233將二門板215的外部周圍空氣升溫，而於控溫箱21之外部周圍形成一冷熱交換區域，由於第一箱體211、第二箱體212及二門板215係為金屬材製，而可傳導第一加熱件231、第二加熱件232及第三加熱件233之高溫，不僅可使第一箱體211、第二箱體212及二門板215均溫，並可擴大冷熱交換區域之範圍，當控溫箱21之低溫氣體由第一箱體211及第二箱體212間的Z方向空隙，以及由二門板215與第二箱體212底面間的X方向空隙外洩至冷熱交換區域時，可令外洩之低溫氣體先與冷熱交換區域之熱空氣作一冷熱交換，使原低溫氣體升溫至常溫或常溫以上，當升溫後之外洩氣體接觸控溫箱21 外部的空氣時，並不會於控溫箱21之外表面發生結露，達到有效防止控溫箱21外表面結露之實用效益。

請參閱第6、7圖，本發明作業裝置20係裝配於一測試裝置30之上方，該測試裝置30係設有具測試座32之電路板31，用以測試電子元件，於一移料裝置(圖未示出)將待測之電子元件33置入於測試裝置30之測試座32時，該作業裝置20係以移動臂24驅動控溫箱21及作業器22同步作Z方向向下位移，令控溫箱21之二門板215置放於測試裝置30之掣動器34上，利用掣動器34帶動二門板215作X方向向外位移，以開啟控溫箱21之二門板215，由於控溫箱21的二門板215係置放限位於測試裝置30之掣動器34上，使得控溫箱21之第二箱體212不會作Z方向向下位移，當作業裝置20之移動臂24繼續帶動第一箱體211及作業器22作Z方向向下位移時，即可使作業器22下壓測試座32上之待測電子元件33，令待測電子元件33之接點與測試座32之探針確實接觸而執行冷測作業，由於作業裝置20之防結露單元23可防止控溫箱21之外表面結露，使得控溫箱21放置於測試裝置30上時，並不會令測試裝置30的掣動器34及測試座32等沾附到水滴，不僅提升測試裝置30之使用壽命，亦可使待測之電子元件33於測試座32內準確進行測試作業，達到節省成本及提升作業品質之實用效益。

請參閱第8、9圖，係本發明電子元件作業裝置20之第二實施例，其包含控溫箱21、作業器22及防結露單元23，其中，該控溫箱21係設有至少一箱體，於本實施例中，該控溫箱21係由一移動臂24帶動作Z方向位移，並設有二為隔熱材製之第一箱體211及第二箱體212，該控溫箱21係於第二箱體212設有呈Z方向配置之第一滑軌213，於第一箱體211設有呈Z方向配置之第一滑座214，以滑置於第一滑軌213，使第一箱體211可於第二箱體212內作Z方向 位移，又該控溫箱21係於第二箱體212之底面裝設有至少一作水平位移啟閉之二門板215，並於第二箱體212設有呈X方向配置之第二滑座216，於門板215上設有呈X方向配置之第二滑軌217，使二門板215利用第二滑軌217沿第二箱體212之第二滑座216作X方向滑移啟閉，另於控溫箱21上設有至少一輸送低溫氣體或乾燥氣體之輸送管218；該作業器22係裝配於控溫箱21之至少一箱體內部，於本實施例中，該作業器22係裝配於控溫箱21之第一箱體211內部，並設有至少一溫控件221，使作業器22保持預設低溫測試作業溫度，用以對電子元件執行低溫預設作業；該防結露單元23係於控溫箱21之至少一箱體外部裝配有至少一金屬製之傳導件，於本實施例中，係於第一箱體211之外部裝配第一傳導件234，並於第二箱體212之外部裝配有第二傳導件235，以及於二門板215之外部裝配有第三傳導件236，又該防結露單元23係於至少一傳導件裝配至少一加熱件，於本實施例中，係於第一、二、三傳導件234、235、236上分別設有為加熱片之第四、五、六加熱件237、238、239，於第四、五、六加熱件237、238、239加熱時，可利用金屬製之第一、二、三傳導件234、235、236傳導均溫，以升溫該控溫箱21外部周圍之空氣，而於控溫箱21之外部周圍形成一冷熱交換區域，並利用第一、二、三傳導件234、235、236擴大冷熱交換區域之範圍，進而使控溫箱21外洩低溫之氣體與冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換而升溫，達到有效防止控溫箱21外表面結露之實用效益。

請參閱第3、10圖，係本發明具防結露單元之作業裝置應用於電子元件測試分類設備，該測試分類設備包含作業裝置20、機台40、供料裝置50、收料裝置60、測試裝置30、輸送裝置70及中央控制裝置(圖未示出)，該供料裝置50係裝配於機台40，並設有至少一供料承置器51，用以容納 至少一待測之電子元件；該收料裝置60係裝配於機台40，並設有至少一收料承置器61，用以容納至少一已測之電子元件，該測試裝置30係裝配於機台40，並設有至少一測試器，用以對電子元件執行測試作業，於本實施例中，該測試器係具有電性連接之電路板31及測試座32，該作業裝置20係裝配於機台40上，並設有控溫箱21、作業器22及防結露單元23，用以壓接測試裝置30處之電子元件執行測試作業，並防止控溫箱21之外表面結露；該輸送裝置70係配置於該機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器，於本實施例中，該輸送裝置70之第一移料器71係於供料裝置50取出待測之電子元件，並分別輸送至第一供料載台72及第二供料載台73，第一供料載台72及第二供料載台73將待測之電子元件載送至測試裝置30處，該輸送裝置70之第二移料器74及第三移料器75分別將第一供料載台72及第二供料載台73上待測之電子元件移載至測試裝置30而執行測試作業，以及將測試裝置30處之已測電子元件移載至第一收料載台76及第二收料載台77，第一收料載台76及第二收料載台77則載出已測之電子元件，該輸送裝置70之第四移料器78係於第一收料載台76及第二收料載台77上取出已測之電子元件，並依據測試結果，將已測之電子元件輸送至收料裝置60分類收置，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。

21‧‧‧控溫箱

211‧‧‧第一箱體

212‧‧‧第二箱體

215‧‧‧門板

218‧‧‧輸送管

231‧‧‧第一加熱件

232‧‧‧第二加熱件

233‧‧‧第三加熱件

Claims (10)

1. 一種具防結露單元之電子元件作業裝置，包含：控溫箱：係設有至少一箱體，並於該箱體裝設至少一門板；作業器：係裝配於該控溫箱之至少一箱體，以對電子元件執行低溫預設作業；防結露單元：係於該控溫箱之至少一箱體裝配至少一加熱件，以升溫該控溫箱外部周圍之空氣而形成一冷熱交換區域，該控溫箱外洩低溫之氣體與該冷熱交換區域之熱空氣作冷熱交換，而防止該控溫箱結露。
2. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該控溫箱係設有作至少一方向位移之第一箱體，並於該第一箱體之外部套置有第二箱體，另於該第二箱體裝設該至少一門板，該作業器係裝配於該控溫箱之第一箱體。
3. 依申請專利範圍第2項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元係於該控溫箱之第一箱體的壁厚內裝配至少一第一加熱件，以及於該第二箱體之壁厚內裝配至少一第二加熱件。
4. 依申請專利範圍第2項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元係於該控溫箱之第一、二箱體外部分別裝配有第一、二傳導件，該第一、二傳導件分別裝配有第四、五加熱件。
5. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元之加熱件係裝配於該控溫箱之外表面或壁厚內。
6. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該防結露單元係於該控溫箱之外部裝配至少一傳導件，並於該至少一傳導件上裝配該至少一加熱件。
7. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該控溫箱係於該箱體裝配至少一輸入氣體之輸送管。
8. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該控溫箱之箱體可為隔熱材製或金屬製。
9. 依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置，其中，該控溫箱之箱體係作至少一方向位移。
10. 一種應用具防結露單元之電子元件作業裝置的測試分類設備，包含：機台；供料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一容納待測電子元件之供料承置器；收料裝置：係配置於該機台上，並設有至少一容納已測電子元件之供料承置器；測試裝置：係配置於該機台上，並設有至少一測試電子元件之測試器；至少一依申請專利範圍第1項所述之具防結露單元之電子元件作業裝置：係配置於該機台，以對電子元件執行預設作業；輸送裝置：係配置於該機台上，並設有至少一移載電子元件之移料器；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。