RU2013115237A - Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек, содержащих пленки диэлектрика оксида кремния и поликремния - Google Patents

Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек, содержащих пленки диэлектрика оксида кремния и поликремния Download PDF

Info

Publication number
RU2013115237A
RU2013115237A RU2013115237/05A RU2013115237A RU2013115237A RU 2013115237 A RU2013115237 A RU 2013115237A RU 2013115237/05 A RU2013115237/05 A RU 2013115237/05A RU 2013115237 A RU2013115237 A RU 2013115237A RU 2013115237 A RU2013115237 A RU 2013115237A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
polishing composition
composition according
aqueous polishing
aqueous
group
Prior art date
Application number
RU2013115237/05A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2573672C2 (ru
Inventor
Южуо ЛИ
Джеа-Джу ЧУ
Шиам Сундар ВЕНКАТАРАМАН
Вей Лан Уиллиам ЧИУ
Харви Уэйн ПИНДЕР
Original Assignee
Басф Се
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Басф Се filed Critical Басф Се
Publication of RU2013115237A publication Critical patent/RU2013115237A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2573672C2 publication Critical patent/RU2573672C2/ru

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K3/00Materials not provided for elsewhere
    • C09K3/14Anti-slip materials; Abrasives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K13/00Etching, surface-brightening or pickling compositions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09GPOLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
    • C09G1/00Polishing compositions
    • C09G1/02Polishing compositions containing abrasives or grinding agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09GPOLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
    • C09G1/00Polishing compositions
    • C09G1/06Other polishing compositions
    • C09G1/14Other polishing compositions based on non-waxy substances
    • C09G1/18Other polishing compositions based on non-waxy substances on other substances
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K3/00Materials not provided for elsewhere
    • C09K3/14Anti-slip materials; Abrasives
    • C09K3/1454Abrasive powders, suspensions and pastes for polishing
    • C09K3/1463Aqueous liquid suspensions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/31051Planarisation of the insulating layers
    • H01L21/31053Planarisation of the insulating layers involving a dielectric removal step

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

1. Водная полирующая композиция, содержащая(A) по меньшей мере, один тип абразивных частиц, содержащих или состоящих из диоксида церия, которые положительно заряжены при диспергировании в водной среде, свободной от компонента (C) и имеющей pH в интервале от 3 до 9, что подтверждается электрофоретической подвижностью;(B) по меньшей мере, один растворимый в воде полимер, выбранный из группы, состоящей из линейных и разветвленных гомополимеров и сополимеров алкиленоксидов; и(C) по меньшей мере, один анионный фосфатный диспергирующий агент,где композиция содержит растворимый в воде полимер (В) в количествах от 0,001 до 5 мас.%.2. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что абразивные частицы (А) состоят из диоксида церия.3. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что она содержит, в пересчете на полную массу указанной полирующей композиции, от 0,005 до 10 мас.% абразивных частиц (A).4. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что линейные и разветвленные гомополимеры и сополимеры алкиленоксидов (B) выбирают из группы, состоящей из гомополимеров и сополимеров этиленоксида и пропиленоксида.5. Водная полирующая композиция по п.4, отличающаяся тем, что она содержит полиэтиленгликоль ПЭГ в качестве гомополимера этиленоксида (B).6. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что анионный фосфатный диспергирующий агент (C) выбирают из группы растворимых в воде конденсированных фосфатов.7. Водная полирующая композиция по п.6, отличающаяся тем, что растворимый в воде конденсированный фосфат (C) выбирают из группы, состоящей из метафосфатов общей формулы I:и полифосфатов общей формулы II и III:;,где M явл

Claims (13)

1. Водная полирующая композиция, содержащая
(A) по меньшей мере, один тип абразивных частиц, содержащих или состоящих из диоксида церия, которые положительно заряжены при диспергировании в водной среде, свободной от компонента (C) и имеющей pH в интервале от 3 до 9, что подтверждается электрофоретической подвижностью;
(B) по меньшей мере, один растворимый в воде полимер, выбранный из группы, состоящей из линейных и разветвленных гомополимеров и сополимеров алкиленоксидов; и
(C) по меньшей мере, один анионный фосфатный диспергирующий агент,
где композиция содержит растворимый в воде полимер (В) в количествах от 0,001 до 5 мас.%.
2. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что абразивные частицы (А) состоят из диоксида церия.
3. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что она содержит, в пересчете на полную массу указанной полирующей композиции, от 0,005 до 10 мас.% абразивных частиц (A).
4. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что линейные и разветвленные гомополимеры и сополимеры алкиленоксидов (B) выбирают из группы, состоящей из гомополимеров и сополимеров этиленоксида и пропиленоксида.
5. Водная полирующая композиция по п.4, отличающаяся тем, что она содержит полиэтиленгликоль ПЭГ в качестве гомополимера этиленоксида (B).
6. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что анионный фосфатный диспергирующий агент (C) выбирают из группы растворимых в воде конденсированных фосфатов.
7. Водная полирующая композиция по п.6, отличающаяся тем, что растворимый в воде конденсированный фосфат (C) выбирают из группы, состоящей из метафосфатов общей формулы I:
[ M + n ( P O 3 ) n ]                                                   ( I )
Figure 00000001
и полифосфатов общей формулы II и III:
M + n P n O 3 n + 1                                       ( II )
Figure 00000002
;
M + H 2 P n O 3 n + 1                                                       ( III )
Figure 00000003
,
где M является аммонием, натрием и калием, и индекс n равен от 2 до 10000.
8. Водная полирующая композиция по п.1, отличающаяся тем, что она дополнительно содержит, по меньшей мере, один агент, регулирующий pH, или буферный агент (E), отличный от компонентов (A), (B) и (C).
9. Водная полирующая композиция по любому из пп.1-8, отличающаяся тем, что величина pH составляет от 3 до 10.
10. Способ полирования подложек для электрических, механических и оптических устройств путем контактирования подложки, по меньшей мере, один раз с водной полирующей композицией и полирования подложки до получения желаемой плоскостности, отличающийся тем, что применяют водную полирующую композицию, определенную в любом из пп.1-9.
11. Способ по п.10, отличающийся тем, что подложки содержат, по меньшей мере, один слой, содержащий или состоящий из, по меньшей мере, одного диэлектрического материала, представляющего собой оксид кремния, и, по меньшей мере, один слой, содержащий или состоящий из поликремния, и селективность оксид/поликремний составляет более 50.
12. Способ по п.11, отличающийся тем, что материал подложки дополнительно содержит, по меньшей мере, один слой, содержащий или состоящий из нитрида кремния, и селективность оксид/нитрид находится в интервале от 3 до 6.
13. Способ по любому из пп.10-12, отличающийся тем, что электрические устройства представляют собой устройства с интегральными схемами.
RU2013115237/05A 2010-09-08 2011-09-05 Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек, содержащих пленки диэлектрика оксида кремния и поликремния RU2573672C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US38071910P 2010-09-08 2010-09-08
US61/380,719 2010-09-08
PCT/IB2011/053867 WO2012032451A1 (en) 2010-09-08 2011-09-05 Aqueous polishing composition and process for chemically mechanically polishing substrates containing silicon oxide dielectric and polysilicon films

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013115237A true RU2013115237A (ru) 2014-10-20
RU2573672C2 RU2573672C2 (ru) 2016-01-27

Family

ID=44773986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013115237/05A RU2573672C2 (ru) 2010-09-08 2011-09-05 Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек, содержащих пленки диэлектрика оксида кремния и поликремния

Country Status (11)

Country Link
US (1) US20130168348A1 (ru)
EP (1) EP2428541B1 (ru)
JP (1) JP5965906B2 (ru)
KR (1) KR101906135B1 (ru)
CN (1) CN103080256B (ru)
IL (1) IL224645A (ru)
MY (1) MY175638A (ru)
RU (1) RU2573672C2 (ru)
SG (2) SG10201606566SA (ru)
TW (1) TWI525164B (ru)
WO (1) WO2012032451A1 (ru)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY158489A (en) 2010-10-07 2016-10-14 Basf Se Aqueous polishing composition and process for chemically mechanically polishing substrates having patterned or unpatterned low-k dielectric layers
JP6096670B2 (ja) 2010-12-10 2017-03-15 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se 酸化ケイ素誘電体膜およびポリシリコン膜を含有する基板を化学的機械的に研磨するための水性研磨組成物および方法
EP2753670B1 (en) 2011-09-07 2016-06-22 Basf Se A chemical mechanical polishing (cmp) composition comprising a glycoside
EP2794733B1 (en) * 2011-12-21 2019-05-15 Basf Se Method for manufacturing cmp composition and application thereof
CN104178033A (zh) * 2013-05-27 2014-12-03 天津西美半导体材料有限公司 纳米二氧化铈抛光液组合物
US20150104940A1 (en) 2013-10-11 2015-04-16 Air Products And Chemicals Inc. Barrier chemical mechanical planarization composition and method thereof
EP3080240A4 (en) * 2013-12-11 2017-07-19 FujiFilm Electronic Materials USA, Inc. Cleaning formulation for removing residues on surfaces
US9303189B2 (en) * 2014-03-11 2016-04-05 Cabot Microelectronics Corporation Composition for tungsten CMP
US9551075B2 (en) * 2014-08-04 2017-01-24 Sinmat, Inc. Chemical mechanical polishing of alumina
JP6879995B2 (ja) * 2015-07-13 2021-06-02 シーエムシー マテリアルズ,インコーポレイティド 誘電体基板を加工するための方法及び組成物
KR101628878B1 (ko) * 2015-09-25 2016-06-16 영창케미칼 주식회사 Cmp용 슬러리 조성물 및 이를 이용한 연마방법
KR101693278B1 (ko) * 2015-09-25 2017-01-05 유비머트리얼즈주식회사 슬러리 및 이를 이용한 기판 연마 방법
KR101871569B1 (ko) * 2016-02-25 2018-08-02 삼성에스디아이 주식회사 이방 도전성 필름 및 이에 의해 접속된 디스플레이 장치
KR101827366B1 (ko) * 2016-05-16 2018-02-09 주식회사 케이씨텍 고단차 연마용 슬러리 조성물
US10253216B2 (en) 2016-07-01 2019-04-09 Versum Materials Us, Llc Additives for barrier chemical mechanical planarization
KR102677797B1 (ko) * 2016-12-22 2024-06-24 주식회사 케이씨텍 Sti 공정용 연마 슬러리 조성물
JP6761339B2 (ja) 2016-12-28 2020-09-23 花王株式会社 酸化セリウム砥粒
WO2018125905A1 (en) * 2016-12-30 2018-07-05 Fujifilm Planar Solutions, LLC Polishing compositions
US10294399B2 (en) * 2017-01-05 2019-05-21 Cabot Microelectronics Corporation Composition and method for polishing silicon carbide
WO2018179061A1 (ja) * 2017-03-27 2018-10-04 日立化成株式会社 研磨液、研磨液セット及び研磨方法
CN108587478B (zh) * 2018-07-03 2020-09-25 中国人民解放军国防科技大学 一种改性纳米二氧化硅复合抛光液及其应用
KR102296085B1 (ko) 2019-07-01 2021-09-01 남기호 스마트 트램폴린 및 스마트 트램폴린을 이용한 건강관리 시스템
CN114341287B (zh) * 2019-09-04 2024-03-15 Cmc材料有限责任公司 用于多晶硅化学机械抛光的组合物及方法
TWI767355B (zh) * 2019-10-24 2022-06-11 美商慧盛材料美國責任有限公司 高氧化物移除速率的淺溝隔離化學機械平坦化組合物、系統及方法
CN113549399B (zh) * 2021-08-03 2022-02-15 万华化学集团电子材料有限公司 适用于硅片粗抛光的化学机械抛光组合物及其应用
CN115160933B (zh) * 2022-07-27 2023-11-28 河北工业大学 一种用于钴互连集成电路钴cmp的碱性抛光液及其制备方法
CN116000782B (zh) * 2022-12-27 2023-09-19 昂士特科技(深圳)有限公司 用于金属合金cmp的化学机械抛光组合物

Family Cites Families (75)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2610705C3 (de) 1976-03-13 1978-10-19 Henkel Kgaa, 4000 Duesseldorf Saure galvanische Kupferbäder
US5478882A (en) 1987-09-21 1995-12-26 The Geon Company Articles from reinforced plasticized polyvinyl halide resin
US5057560A (en) 1987-10-05 1991-10-15 Ciba-Geigy Corporation Thermotropic copolymer hydrogels from N,N-dimethylacrylamide and methoxy-ethyl (meth) acrylate
FR2694939B1 (fr) 1992-08-20 1994-12-23 Schlumberger Cie Dowell Polymères thermoviscosifiants, leur synthèse et leurs applications notamment dans l'industrie pétrolière.
US5738800A (en) 1996-09-27 1998-04-14 Rodel, Inc. Composition and method for polishing a composite of silica and silicon nitride
US6132637A (en) 1996-09-27 2000-10-17 Rodel Holdings, Inc. Composition and method for polishing a composite of silica and silicon nitride
US6068787A (en) 1996-11-26 2000-05-30 Cabot Corporation Composition and slurry useful for metal CMP
US6110396A (en) 1996-11-27 2000-08-29 International Business Machines Corporation Dual-valent rare earth additives to polishing slurries
US5759917A (en) 1996-12-30 1998-06-02 Cabot Corporation Composition for oxide CMP
ATE266071T1 (de) 1998-02-24 2004-05-15 Showa Denko Kk Schleifmittelzusammensetzung zum polieren eines halbleiterbauteils und herstellung des halbleiterbauteils mit derselben
US7547669B2 (en) 1998-07-06 2009-06-16 Ekc Technology, Inc. Remover compositions for dual damascene system
US6299659B1 (en) 1998-08-05 2001-10-09 Showa Denko K.K. Polishing material composition and polishing method for polishing LSI devices
JP2000109816A (ja) * 1998-10-05 2000-04-18 Okamoto Machine Tool Works Ltd 研磨剤スラリ−の調製方法
US6740590B1 (en) 1999-03-18 2004-05-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Aqueous dispersion, aqueous dispersion for chemical mechanical polishing used for manufacture of semiconductor devices, method for manufacture of semiconductor devices, and method for formation of embedded writing
US6110832A (en) * 1999-04-28 2000-08-29 International Business Machines Corporation Method and apparatus for slurry polishing
US7425581B2 (en) 1999-07-30 2008-09-16 Universiteit Utrecht Temperature sensitive polymers
US6468910B1 (en) 1999-12-08 2002-10-22 Ramanathan Srinivasan Slurry for chemical mechanical polishing silicon dioxide
US6491843B1 (en) 1999-12-08 2002-12-10 Eastman Kodak Company Slurry for chemical mechanical polishing silicon dioxide
DE10006538C2 (de) 2000-02-15 2002-11-28 Forsch Pigmente Und Lacke E V Verfahren zur Beschichtung von Partikeln mit LCST-Polymeren
JP2001240850A (ja) 2000-02-29 2001-09-04 Sanyo Chem Ind Ltd 研磨用砥粒分散剤および研磨用スラリー
KR100378180B1 (ko) 2000-05-22 2003-03-29 삼성전자주식회사 화학기계적 연마 공정용 슬러리 및 이를 이용한 반도체소자의 제조방법
TWI281493B (en) 2000-10-06 2007-05-21 Mitsui Mining & Smelting Co Polishing material
DE60123189T2 (de) 2000-10-13 2007-10-11 Shipley Co., L.L.C., Marlborough Keimschichtreparatur und Elektroplattierungsbad
US7037352B2 (en) * 2000-12-12 2006-05-02 Showa Denko Kabushiki Kaisha Polishing particle and method for producing polishing particle
FR2824832B1 (fr) 2001-05-16 2005-05-27 Oreal Polymeres hydrosolubles a squelette hydrosoluble et a unites laterales a lcst, leur procede de preparation, compositions aqueuses les contenant, et leur utilisation dans le domaine cosmetique
DE10152993A1 (de) 2001-10-26 2003-05-08 Bayer Ag Zusammensetzung für das chemisch-mechanische Polieren von Metall- und Metall/Dielektrikastrukturen mit hoher Selektivität
US7011930B2 (en) 2002-03-15 2006-03-14 The Penn State Research Foundation Method for control of temperature-sensitivity of polymers in solution
JP3516446B2 (ja) 2002-04-26 2004-04-05 東京応化工業株式会社 ホトレジスト剥離方法
US6616514B1 (en) * 2002-06-03 2003-09-09 Ferro Corporation High selectivity CMP slurry
JP4443864B2 (ja) 2002-07-12 2010-03-31 株式会社ルネサステクノロジ レジストまたはエッチング残さ物除去用洗浄液および半導体装置の製造方法
US6645265B1 (en) 2002-07-19 2003-11-11 Saint-Gobain Ceramics And Plastics, Inc. Polishing formulations for SiO2-based substrates
GB2393447B (en) * 2002-08-07 2006-04-19 Kao Corp Polishing composition
DE10243438A1 (de) 2002-09-18 2004-03-25 Merck Patent Gmbh Oberflächenmodifizierte Effektpigmente
DE10254430A1 (de) 2002-11-21 2004-06-03 Süd-Chemie AG LCST-Polymere
EP1422320A1 (en) 2002-11-21 2004-05-26 Shipley Company, L.L.C. Copper electroplating bath
DE10254432A1 (de) 2002-11-21 2004-06-03 Süd-Chemie AG LCST-Polymere
US7300601B2 (en) 2002-12-10 2007-11-27 Advanced Technology Materials, Inc. Passivative chemical mechanical polishing composition for copper film planarization
US20040175942A1 (en) 2003-01-03 2004-09-09 Chang Song Y. Composition and method used for chemical mechanical planarization of metals
US7071105B2 (en) 2003-02-03 2006-07-04 Cabot Microelectronics Corporation Method of polishing a silicon-containing dielectric
US6910951B2 (en) * 2003-02-24 2005-06-28 Dow Global Technologies, Inc. Materials and methods for chemical-mechanical planarization
WO2004094581A1 (en) 2003-04-18 2004-11-04 Ekc Technology, Inc. Aqueous fluoride compositions for cleaning semiconductor devices
JP4363890B2 (ja) * 2003-04-30 2009-11-11 共栄社化学株式会社 水系研磨加工液
KR100539983B1 (ko) 2003-05-15 2006-01-10 학교법인 한양학원 Cmp용 세리아 연마제 및 그 제조 방법
KR101123210B1 (ko) 2003-07-09 2012-03-19 다이니아 케미컬스 오이 화학적 기계적 평탄화용 비-중합성 유기 입자
BRPI0412515A (pt) * 2003-07-11 2006-09-19 Grace W R & Co partìculas abrasivas para polimento quìmico mecánico
KR100574225B1 (ko) 2003-10-10 2006-04-26 요업기술원 실리카에 세리아/실리카가 코팅된 화학적 기계적 연마용연마재 및 그 제조방법
DE10358092A1 (de) 2003-12-10 2005-07-14 Merck Patent Gmbh Oberflächenmodifizierte Partikel
KR100640600B1 (ko) 2003-12-12 2006-11-01 삼성전자주식회사 슬러리 조성물 및 이를 이용한 화학기계적연마공정를포함하는 반도체 소자의 제조방법
WO2005110679A1 (ja) * 2004-05-19 2005-11-24 Nissan Chemical Industries, Ltd. 研磨用組成物
JP4420391B2 (ja) 2004-05-28 2010-02-24 三井金属鉱業株式会社 セリウム系研摩材
US7026441B2 (en) 2004-08-12 2006-04-11 Intel Corporation Thermoresponsive sensor comprising a polymer solution
US20070218811A1 (en) 2004-09-27 2007-09-20 Hitachi Chemical Co., Ltd. Cmp polishing slurry and method of polishing substrate
CN101333418B (zh) * 2004-09-28 2011-05-25 日立化成工业株式会社 Cmp抛光剂以及衬底的抛光方法
US7504044B2 (en) * 2004-11-05 2009-03-17 Cabot Microelectronics Corporation Polishing composition and method for high silicon nitride to silicon oxide removal rate ratios
TW200632147A (ru) 2004-11-12 2006-09-16
KR100674927B1 (ko) 2004-12-09 2007-01-26 삼성전자주식회사 Cmp용 슬러리 조성물 및 그 제조 방법과 이들을 이용한기판 연마 방법
CN100375770C (zh) * 2005-01-17 2008-03-19 上海大学 核/壳型纳米粒子研磨剂抛光液组合物及其制备方法
JP4131270B2 (ja) 2005-03-01 2008-08-13 トヨタ自動車株式会社 車輌の制駆動力制御装置
US20060213780A1 (en) 2005-03-24 2006-09-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Electroplating composition and method
US20060216935A1 (en) 2005-03-28 2006-09-28 Ferro Corporation Composition for oxide CMP in CMOS device fabrication
JP3929481B2 (ja) * 2005-04-04 2007-06-13 昭和電工株式会社 酸化セリウム系研磨材、その製造方法及び用途
FR2889194A1 (fr) 2005-07-27 2007-02-02 Rhodia Chimie Sa Copolymere a blocs comprenant un bloc lcst presentant une temperature inferieur critique de solubilite, formulations comprenant le copolymere et utilisation pour vectoriser un ingredient actif
JP2009503910A (ja) 2005-08-05 2009-01-29 アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド 金属フィルム平坦化用高スループット化学機械研磨組成物
WO2007040118A1 (ja) 2005-09-30 2007-04-12 Toyama Prefecture 感熱応答性高分子を用いた穴パタン付き膜を有するチップ及びその製造方法
US20070077865A1 (en) 2005-10-04 2007-04-05 Cabot Microelectronics Corporation Method for controlling polysilicon removal
EP2410558A3 (en) 2005-11-11 2012-04-18 Hitachi Chemical Co., Ltd. Polishing slurry for silicon oxide, additive liquid and polishing method
CN101374922B (zh) 2006-01-25 2013-06-12 Lg化学株式会社 用于抛光半导体晶片的cmp浆料及使用该浆料的方法
JP4985409B2 (ja) * 2006-01-31 2012-07-25 日立化成工業株式会社 絶縁膜研磨用cmp研磨剤、研磨方法、該研磨方法で研磨された半導体電子部品
US20070264827A1 (en) * 2006-05-09 2007-11-15 Promos Technologies Pte. Ltd. Method for achieving uniform chemical mechanical polishing in integrated circuit manufacturing
KR100829594B1 (ko) 2006-10-10 2008-05-14 삼성전자주식회사 화학 기계적 연마용 슬러리 조성물 및 이를 이용한 반도체메모리 소자의 제조 방법
US9120952B2 (en) 2006-10-27 2015-09-01 University Of South Florida Polymeric microgels for chemical mechanical planarization (CMP) processing
JP2008186898A (ja) * 2007-01-29 2008-08-14 Nissan Chem Ind Ltd 研磨用組成物
JP4367494B2 (ja) * 2007-02-09 2009-11-18 住友電気工業株式会社 GaAsウエハの化学機械研磨方法
WO2008117592A1 (ja) * 2007-03-26 2008-10-02 Jsr Corporation 化学機械研磨用水系分散体、および半導体装置の化学機械研磨方法
KR101202720B1 (ko) * 2008-02-29 2012-11-19 주식회사 엘지화학 화학적 기계적 연마용 수계 슬러리 조성물 및 화학적 기계적 연마 방법

Also Published As

Publication number Publication date
SG10201606566SA (en) 2016-09-29
JP2013540849A (ja) 2013-11-07
EP2428541B1 (en) 2019-03-06
RU2573672C2 (ru) 2016-01-27
WO2012032451A1 (en) 2012-03-15
US20130168348A1 (en) 2013-07-04
IL224645A (en) 2017-11-30
TWI525164B (zh) 2016-03-11
CN103080256B (zh) 2015-06-24
SG11201606187RA (en) 2016-09-29
TW201226491A (en) 2012-07-01
CN103080256A (zh) 2013-05-01
MY175638A (en) 2020-07-03
KR20130102587A (ko) 2013-09-17
JP5965906B2 (ja) 2016-08-10
EP2428541A1 (en) 2012-03-14
KR101906135B1 (ko) 2018-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2013115237A (ru) Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек, содержащих пленки диэлектрика оксида кремния и поликремния
JP2013540849A5 (ru)
RU2013115239A (ru) Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования подложек для электрических, механических и оптических устройств
EP3007213B1 (en) Use of a composition for silicon wafer polishing
JP5689581B2 (ja) ポリシリコンの除去を制御するための方法
EP2957613B1 (en) Polishing composition, method for producing polishing composition and method for producing polished article
RU2661571C2 (ru) Композиция для смр, содержащая абразивные частицы, содержащие диоксид церия
CN101622326B (zh) 包含表面活性剂的能稀释的化学机械抛光组合物
JP5689970B2 (ja) 高速及び低欠陥性のシリコン研磨組成物
US10119048B1 (en) Low-abrasive CMP slurry compositions with tunable selectivity
KR20160114709A (ko) 폴리(아미노산)을 포함하는 화학 기계적 연마(cmp) 조성물
EP3053978B1 (en) Polishing composition and method for producing same
EP3366746B1 (en) Polishing composition
US8916061B2 (en) CMP compositions selective for oxide and nitride with high removal rate and low defectivity
RU2631875C2 (ru) Композиция для химико-механического полирования (смр), содержащая белок
US9816010B2 (en) Polishing composition
US20180244532A1 (en) Increased wetting of colloidal silica as a polishing slurry
JP2009272601A (ja) 研磨剤、これを用いた基板の研磨方法並びにこの研磨方法に用いる溶液及びスラリー
KR20080047291A (ko) 연마용 조성물 및 연마 방법
US20110121224A1 (en) Polishing composition
KR102029977B1 (ko) 연마용 조성물
JP2015199840A (ja) 研磨用組成物
US11459486B2 (en) Polishing composition containing amphoteric surfactant
CN116333599A (zh) 一种化学机械抛光液及其使用方法
JP2013197211A (ja) 研磨用組成物

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190906