RU2009114547A - Способ и установка для выращивания монокристалла сапфира с ориентацией в с-плоскости - Google Patents
Способ и установка для выращивания монокристалла сапфира с ориентацией в с-плоскости Download PDFInfo
- Publication number
- RU2009114547A RU2009114547A RU2009114547/05A RU2009114547A RU2009114547A RU 2009114547 A RU2009114547 A RU 2009114547A RU 2009114547/05 A RU2009114547/05 A RU 2009114547/05A RU 2009114547 A RU2009114547 A RU 2009114547A RU 2009114547 A RU2009114547 A RU 2009114547A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sapphire
- temperature gradient
- less
- orientation
- single crystal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/20—Controlling or regulating
- C30B15/206—Controlling or regulating the thermal history of growing the ingot
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/14—Heating of the melt or the crystallised materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/34—Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
- C30B29/20—Aluminium oxides
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1092—Shape defined by a solid member other than seed or product [e.g., Bridgman-Stockbarger]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/23907—Pile or nap type surface or component
- Y10T428/23986—With coating, impregnation, or bond
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
1. Способ формирования материала монокристалла сапфира с ориентацией в С-плоскости, включающий: ! затравливание установки с расплавом затравкой, имеющей ориентацию оси С главным образом перпендикулярно продольной оси отверстия формообразователя; ! кристаллизацию монокристалла сапфира над формообразователем, при этом монокристалл сапфира имеет ориентацию оси С главным образом перпендикулярно основной поверхности сапфира; ! прохождение сапфира через первую область, имеющую первый градиент температур, при этом сапфир находится при температуре больше чем 1850°C; и ! последовательное прохождение сапфира через вторую область, имеющую второй градиент температур, который меньше, чем первый градиент температур, при этом сапфир находится при температуре больше чем 1850°C. ! охлаждение сапфира с ориентацией в С-плоскости для получения материала, имеющего менее чем 10,000 нарушений правильности кристаллической структуры на см2. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первый градиент температур в два раза больше второго градиента температур. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что первый градиент температур, по меньшей мере, на 10°C/см больше, чем второй градиент температур. ! 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что время выдержки определенной точки на сапфире в первой области составляет, по меньшей мере, 10 мин. ! 5. Способ по п.1, включающий вытягивание монокристалла сапфира со скоростью больше чем 2,5 см/ч. ! 6. Способ по п.1, отличающийся тем, что получают слиток сапфира, имеющий длину больше или равную 30 см. ! 7. Способ по п.1, отличающийся тем, что первая область включает часть сапфира, имеющую длину больше или равную 1 см. ! 8. Способ по п
Claims (25)
1. Способ формирования материала монокристалла сапфира с ориентацией в С-плоскости, включающий:
затравливание установки с расплавом затравкой, имеющей ориентацию оси С главным образом перпендикулярно продольной оси отверстия формообразователя;
кристаллизацию монокристалла сапфира над формообразователем, при этом монокристалл сапфира имеет ориентацию оси С главным образом перпендикулярно основной поверхности сапфира;
прохождение сапфира через первую область, имеющую первый градиент температур, при этом сапфир находится при температуре больше чем 1850°C; и
последовательное прохождение сапфира через вторую область, имеющую второй градиент температур, который меньше, чем первый градиент температур, при этом сапфир находится при температуре больше чем 1850°C.
охлаждение сапфира с ориентацией в С-плоскости для получения материала, имеющего менее чем 10,000 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первый градиент температур в два раза больше второго градиента температур.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что первый градиент температур, по меньшей мере, на 10°C/см больше, чем второй градиент температур.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что время выдержки определенной точки на сапфире в первой области составляет, по меньшей мере, 10 мин.
5. Способ по п.1, включающий вытягивание монокристалла сапфира со скоростью больше чем 2,5 см/ч.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что получают слиток сапфира, имеющий длину больше или равную 30 см.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что первая область включает часть сапфира, имеющую длину больше или равную 1 см.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что вторая область включает часть сапфира, имеющую длину больше или равную 1 см.
9. Слиток монокристалла сапфира с ориентацией в С-плоскости, который имеет ширину больше или равную 5 см и менее 1000 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
10. Слиток по п.9, который имеет менее 100 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
11. Слиток по п.9, который имеет менее 10 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
12. Слиток по п.9, который имеет ширину больше или равную примерно 10 см.
13. Слиток по п.9, который имеет длину больше чем примерно 10 см.
14. Слиток по п.9, который имеет длину больше чем примерно 20 см.
15. Слиток по п.9, который имеет длину больше чем примерно 30 см.
16. Слиток по п.9, который имеет длину больше чем 30 см, ширину больше чем 8 см и толщину меньше чем 1 см.
17. Слиток по п.9, отличающийся тем, что он сформирован методом выращивания кремниевых лент с пленочной подпиткой при краевом ограничении роста.
18. Пластина сапфира с ориентацией с С-плоскости, сформированная из слитка по любому из пп.9-16 и имеющая размер больше или равный 5 см.
19. Пластина сапфира, имеющая менее 100 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
20. Пластина по п.19, имеющая менее 10 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
21. Пластина по п.19, имеющая диаметр больше или равный 5 см.
22. Пластина по п.19, имеющая диаметр больше или равный 7,5 см.
23. Пластина по п.19, имеющая диаметр больше или равный 10 см.
24. Монокристалл сапфира, имеющий размер больше чем 1 см и менее 100 нарушении правильности кристаллической структуры на см2.
25. Монокристалл сапфира по п.24, имеющий менее 10 нарушений правильности кристаллической структуры на см2.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US82672306P | 2006-09-22 | 2006-09-22 | |
US60/826,723 | 2006-09-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2009114547A true RU2009114547A (ru) | 2010-10-27 |
RU2436875C2 RU2436875C2 (ru) | 2011-12-20 |
Family
ID=38819679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2009114547A RU2436875C2 (ru) | 2006-09-22 | 2007-09-21 | Способ и установка для выращивания монокристалла сапфира с ориентацией в с-плоскости |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8652658B2 (ru) |
EP (1) | EP2082081B1 (ru) |
JP (1) | JP5702931B2 (ru) |
KR (5) | KR101225470B1 (ru) |
CN (2) | CN101522961B (ru) |
AU (1) | AU2007299677B2 (ru) |
CA (1) | CA2663382C (ru) |
MX (1) | MX2009003120A (ru) |
RU (1) | RU2436875C2 (ru) |
TW (2) | TWI472652B (ru) |
UA (1) | UA96952C2 (ru) |
WO (1) | WO2008036888A1 (ru) |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7348076B2 (en) | 2004-04-08 | 2008-03-25 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Single crystals and methods for fabricating same |
WO2008083073A1 (en) * | 2006-12-28 | 2008-07-10 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Sapphire substrates and methods of making same |
US8197303B2 (en) * | 2006-12-28 | 2012-06-12 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Sapphire substrates and methods of making same |
TWI350784B (en) * | 2006-12-28 | 2011-10-21 | Saint Gobain Ceramics | Sapphire substrates and methods of making same |
US8740670B2 (en) | 2006-12-28 | 2014-06-03 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Sapphire substrates and methods of making same |
US20090130415A1 (en) * | 2007-11-21 | 2009-05-21 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | R-Plane Sapphire Method and Apparatus |
US20100101387A1 (en) * | 2008-10-24 | 2010-04-29 | Kedar Prasad Gupta | Crystal growing system and method thereof |
US20110179992A1 (en) * | 2008-10-24 | 2011-07-28 | Schwerdtfeger Jr Carl Richard | Crystal growth methods and systems |
KR101405320B1 (ko) * | 2009-10-22 | 2014-06-10 | 어드밴스드 리뉴어블에너지 컴파니 엘엘씨 | 결정 성장 방법 및 시스템 |
JP5729135B2 (ja) | 2010-06-17 | 2015-06-03 | 株式会社Sumco | サファイアシードおよびその製造方法、ならびにサファイア単結晶の製造方法 |
JP6010026B2 (ja) * | 2010-07-19 | 2016-10-19 | レンセレイアー ポリテクニック インスティテュート | フルスペクトル半導体白色光源、製造方法および応用 |
JP2013018678A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Shinshu Univ | 結晶育成用るつぼ及び結晶の育成方法 |
US9599787B2 (en) | 2011-12-27 | 2017-03-21 | Tera Xtal Technology Corporation | Using sapphire lens to protect the lens module |
US20150044447A1 (en) * | 2012-02-13 | 2015-02-12 | Silicon Genesis Corporation | Cleaving thin layer from bulk material and apparatus including cleaved thin layer |
TW201235518A (en) * | 2012-03-06 | 2012-09-01 | Tera Xtal Technology Corp | Sapphire material and production method thereof |
US10052848B2 (en) * | 2012-03-06 | 2018-08-21 | Apple Inc. | Sapphire laminates |
TWI557439B (zh) * | 2012-05-28 | 2016-11-11 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 紅外截止濾光片及鏡頭模組 |
US9221289B2 (en) | 2012-07-27 | 2015-12-29 | Apple Inc. | Sapphire window |
US9945613B2 (en) | 2012-09-20 | 2018-04-17 | Apple Inc. | Heat exchangers in sapphire processing |
US9777397B2 (en) * | 2012-09-28 | 2017-10-03 | Apple Inc. | Continuous sapphire growth |
US9718249B2 (en) * | 2012-11-16 | 2017-08-01 | Apple Inc. | Laminated aluminum oxide cover component |
US9232672B2 (en) | 2013-01-10 | 2016-01-05 | Apple Inc. | Ceramic insert control mechanism |
JP2014162673A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Tokuyama Corp | サファイア単結晶コアおよびその製造方法 |
US10286487B2 (en) | 2013-02-28 | 2019-05-14 | Ipg Photonics Corporation | Laser system and method for processing sapphire |
TW201435158A (zh) * | 2013-03-15 | 2014-09-16 | Saint Gobain Ceramics | 帶狀藍寶石以及用以產生複數個具有改良尺寸穩定性之帶狀藍寶石之設備以及方法 |
DE102013004558B4 (de) | 2013-03-18 | 2018-04-05 | Apple Inc. | Verfahren zur Herstellung einer oberflächenverspannten Saphirscheibe, oberflächenverspannte Saphirscheibe und elektrisches Gerät mit einer transparenten Abdeckung |
US9632537B2 (en) | 2013-09-23 | 2017-04-25 | Apple Inc. | Electronic component embedded in ceramic material |
US9678540B2 (en) | 2013-09-23 | 2017-06-13 | Apple Inc. | Electronic component embedded in ceramic material |
US9154678B2 (en) | 2013-12-11 | 2015-10-06 | Apple Inc. | Cover glass arrangement for an electronic device |
US10328605B2 (en) | 2014-02-04 | 2019-06-25 | Apple Inc. | Ceramic component casting |
US9225056B2 (en) | 2014-02-12 | 2015-12-29 | Apple Inc. | Antenna on sapphire structure |
US9956646B2 (en) | 2014-02-28 | 2018-05-01 | Ipg Photonics Corporation | Multiple-beam laser processing using multiple laser beams with distinct wavelengths and/or pulse durations |
US10343237B2 (en) | 2014-02-28 | 2019-07-09 | Ipg Photonics Corporation | System and method for laser beveling and/or polishing |
US9764427B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-09-19 | Ipg Photonics Corporation | Multi-laser system and method for cutting and post-cut processing hard dielectric materials |
CN103849928A (zh) * | 2014-03-19 | 2014-06-11 | 江苏苏博瑞光电设备科技有限公司 | 一种多片式导模法蓝宝石晶片生长工艺 |
CN107148324A (zh) | 2014-08-28 | 2017-09-08 | Ipg光子公司 | 用于切割和切割后加工硬质电介质材料的多激光器系统和方法 |
WO2016033494A1 (en) | 2014-08-28 | 2016-03-03 | Ipg Photonics Corporation | System and method for laser beveling and/or polishing |
WO2016208603A1 (ja) * | 2015-06-22 | 2016-12-29 | 並木精密宝石株式会社 | 大型サファイア基板 |
US10406634B2 (en) | 2015-07-01 | 2019-09-10 | Apple Inc. | Enhancing strength in laser cutting of ceramic components |
JP2017077986A (ja) * | 2015-10-20 | 2017-04-27 | 並木精密宝石株式会社 | サファイア単結晶とその製造方法 |
JP6025080B1 (ja) * | 2015-12-26 | 2016-11-16 | 並木精密宝石株式会社 | 大型efg法用育成炉の熱反射板構造 |
AT16098U1 (de) * | 2017-05-03 | 2019-01-15 | Plansee Se | Glasschmelzkomponente |
US11047650B2 (en) | 2017-09-29 | 2021-06-29 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Transparent composite having a laminated structure |
US20210017667A1 (en) * | 2017-12-07 | 2021-01-21 | Kyocera Corporation | Single crystal, die for efg apparatus, efg apparatus, method for manufacturing single crystal, and method for manufacturing single crystal member |
JP7477997B2 (ja) * | 2019-03-25 | 2024-05-02 | 京セラ株式会社 | サファイアリボンおよび単結晶リボン製造装置 |
US11269374B2 (en) | 2019-09-11 | 2022-03-08 | Apple Inc. | Electronic device with a cover assembly having an adhesion layer |
CN113913924A (zh) * | 2021-09-08 | 2022-01-11 | 杭州富加镓业科技有限公司 | 一种氧化镓单晶生长装置 |
CN116200823B (zh) * | 2022-12-09 | 2024-04-16 | 奕瑞新材料科技(太仓)有限公司 | 一种晶体生长装置及碘化铯晶体生长方法 |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3265469A (en) * | 1964-09-21 | 1966-08-09 | Gen Electric | Crystal growing apparatus |
US3471266A (en) * | 1967-05-29 | 1969-10-07 | Tyco Laboratories Inc | Growth of inorganic filaments |
US3591348A (en) * | 1968-01-24 | 1971-07-06 | Tyco Laboratories Inc | Method of growing crystalline materials |
US3608050A (en) * | 1969-09-12 | 1971-09-21 | Union Carbide Corp | Production of single crystal sapphire by carefully controlled cooling from a melt of alumina |
US3915662A (en) * | 1971-05-19 | 1975-10-28 | Tyco Laboratories Inc | Method of growing mono crystalline tubular bodies from the melt |
BE791024A (fr) * | 1971-11-08 | 1973-05-07 | Tyco Laboratories Inc | Procede pour developper des cristaux a partir d'un bain d'une matiere |
JPS5532021B2 (ru) * | 1974-10-26 | 1980-08-22 | ||
US3953174A (en) * | 1975-03-17 | 1976-04-27 | Tyco Laboratories, Inc. | Apparatus for growing crystalline bodies from the melt |
US4303465A (en) * | 1976-10-14 | 1981-12-01 | Bagdasarov Khachik S | Method of growing monocrystals of corundum from a melt |
US4158038A (en) * | 1977-01-24 | 1979-06-12 | Mobil Tyco Solar Energy Corporation | Method and apparatus for reducing residual stresses in crystals |
US4325917A (en) * | 1977-07-21 | 1982-04-20 | Pelts Boris B | Method and apparatus for producing sapphire tubes |
AT391887B (de) * | 1977-07-21 | 1990-12-10 | Pelts Boris Bentsionovich Ing | Verfahren zum herstellen von kristallinen saphirrohren und einrichtung zu dessen durchfuehrung |
US4248645A (en) * | 1978-09-05 | 1981-02-03 | Mobil Tyco Solar Energy Corporation | Method for reducing residual stresses in crystals |
US4271129A (en) | 1979-03-06 | 1981-06-02 | Rca Corporation | Heat radiation deflectors within an EFG crucible |
JPS5659693A (en) * | 1979-10-23 | 1981-05-23 | Ricoh Co Ltd | Beltlike crystal manufacturing apparatus |
US4415401A (en) * | 1980-03-10 | 1983-11-15 | Mobil Solar Energy Corporation | Control of atmosphere surrounding crystal growth zone |
US4267010A (en) * | 1980-06-16 | 1981-05-12 | Mobil Tyco Solar Energy Corporation | Guidance mechanism |
JPS5795899A (en) | 1980-12-09 | 1982-06-14 | Toshiba Ceramics Co Ltd | Correcting method for deformed sapphire single crystal sheet |
US4443411A (en) * | 1980-12-15 | 1984-04-17 | Mobil Solar Energy Corporation | Apparatus for controlling the atmosphere surrounding a crystal growth zone |
US4402786A (en) * | 1981-09-01 | 1983-09-06 | Mobil Solar Energy Corporation | Adjustable heat shield assembly |
EP0608213A1 (en) * | 1990-07-10 | 1994-08-03 | Saphikon, Inc. | Apparatus for growing hollow crystalline bodies from the melt |
US5164041A (en) | 1991-01-04 | 1992-11-17 | At&T Bell Laboratories | Method of growing rare earth doped orthosilicates(ln2-xrexsio5) |
JPH05186297A (ja) * | 1992-01-08 | 1993-07-27 | Tosoh Corp | 高品位チタンサファイア単結晶の製造方法 |
US5451553A (en) * | 1993-09-24 | 1995-09-19 | General Electric Company | Solid state thermal conversion of polycrystalline alumina to sapphire |
US5660627A (en) * | 1994-10-27 | 1997-08-26 | Schlumberger Technology Corporation | Method of growing lutetium oxyorthosilicate crystals |
US5558712A (en) * | 1994-11-04 | 1996-09-24 | Ase Americas, Inc. | Contoured inner after-heater shield for reducing stress in growing crystalline bodies |
US6177236B1 (en) * | 1997-12-05 | 2001-01-23 | Xerox Corporation | Method of making a pixelized scintillation layer and structures incorporating same |
US6413311B2 (en) * | 1998-04-16 | 2002-07-02 | Cti, Inc. | Method for manufacturing a cerium-doped lutetium oxyorthosilicate scintillator boule having a graded decay time |
EP1016894A3 (en) * | 1998-12-28 | 2001-03-28 | Kyocera Corporation | Liquid crystal display device |
JP2003112998A (ja) | 2001-09-28 | 2003-04-18 | Furuya Kinzoku:Kk | 単結晶製造用坩堝 |
US20030183161A1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-10-02 | Japan Super Quartz Corporation | Surface modified quartz glass crucible and its modification process |
JP2003327495A (ja) | 2002-05-14 | 2003-11-19 | Namiki Precision Jewel Co Ltd | 晶癖面サファイヤ板材及びその製造方法 |
US7067007B2 (en) * | 2002-08-24 | 2006-06-27 | Schott Glas | Process and device for growing single crystals |
FR2860248B1 (fr) * | 2003-09-26 | 2006-02-17 | Centre Nat Rech Scient | Procede de realisation de substrats autosupportes de nitrures d'elements iii par hetero-epitaxie sur une couche sacrificielle |
DE102004010377A1 (de) | 2004-03-03 | 2005-09-22 | Schott Ag | Herstellung von Substratwafern für defektarme Halbleiterbauteile, ihre Verwendung, sowie damit erhaltene Bauteile |
US7348076B2 (en) * | 2004-04-08 | 2008-03-25 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Single crystals and methods for fabricating same |
KR100718188B1 (ko) * | 2004-05-07 | 2007-05-15 | 삼성코닝 주식회사 | 비극성 a면 질화물 반도체 단결정 기판 및 이의 제조방법 |
ATE474076T1 (de) | 2004-08-05 | 2010-07-15 | Amosov Vladimir Iljich | Vorrichtung zum ziehen von einkristallen aus einer schmelze |
JP2006176359A (ja) | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Tdk Corp | 単結晶の製造装置及び製造方法 |
-
2007
- 2007-09-21 EP EP20070842957 patent/EP2082081B1/en not_active Not-in-force
- 2007-09-21 KR KR1020097008104A patent/KR101225470B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 WO PCT/US2007/079149 patent/WO2008036888A1/en active Application Filing
- 2007-09-21 KR KR1020117015112A patent/KR101230279B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 AU AU2007299677A patent/AU2007299677B2/en not_active Ceased
- 2007-09-21 RU RU2009114547A patent/RU2436875C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 CN CN2007800352691A patent/CN101522961B/zh active Active
- 2007-09-21 UA UAA200902529A patent/UA96952C2/ru unknown
- 2007-09-21 CA CA 2663382 patent/CA2663382C/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-21 MX MX2009003120A patent/MX2009003120A/es active IP Right Grant
- 2007-09-21 KR KR1020127034328A patent/KR101353277B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 JP JP2009529410A patent/JP5702931B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-21 CN CN2012104485479A patent/CN102965729A/zh active Pending
- 2007-09-21 KR KR1020117025852A patent/KR101298965B1/ko active IP Right Grant
- 2007-09-21 TW TW100129282A patent/TWI472652B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 KR KR1020127034324A patent/KR101498520B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-09-21 US US11/858,949 patent/US8652658B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-09-21 TW TW96135587A patent/TWI388700B/zh not_active IP Right Cessation
-
2014
- 2014-01-06 US US14/147,879 patent/US20140116323A1/en not_active Abandoned
-
2017
- 2017-03-22 US US15/466,466 patent/US20170226659A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2009114547A (ru) | Способ и установка для выращивания монокристалла сапфира с ориентацией в с-плоскости | |
US20080217745A1 (en) | Nitride Semiconductor Wafer | |
KR101880835B1 (ko) | 저온 다결정실리콘 박막 및 그 제조방법, 트랜지스터 | |
US7390359B2 (en) | Nitride semiconductor wafer | |
RU2010122014A (ru) | Сапфир с r-плоскостью, способ и устройство для его получения | |
SG170827A1 (en) | Grown nanofin transistors | |
WO2005029550A3 (en) | Method and system for producing crystalline thin films with a uniform crystalline orientation | |
TW200802627A (en) | Grown nanofin transistors | |
EA200970941A1 (ru) | Способ и устройство для получения монокристалла | |
JP2013103863A5 (ja) | β−Ga2O3単結晶及びその製造方法 | |
RU2008142153A (ru) | Полуизолирующая нитридная полупроводниковая подложка и способ ее производства, нитридная полупроводниковая эпитаксиальная подложка и полевой транзистор | |
RU2008128490A (ru) | КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ ПОДЛОЖКА ИЗ AlxGayIn1-x-yN, ПОЛУПРОВОДНИКОВ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | |
JP2011063504A5 (ru) | ||
JP2005286330A (ja) | 薄膜トランジスタと薄膜トランジスタ基板とそれらの製造方法 | |
TW200603388A (en) | Semiconductor device and method for producing the same | |
US8916455B2 (en) | Method of growing heteroepitaxial single crystal or large grained semiconductor films on glass substrates and devices thereon | |
EP4012078A4 (en) | SEED CRYSTAL SEED OF SIC AND PRODUCTION METHOD THEREFOR, SIC INGOT PRODUCED BY GROWING SAID SEED CRYSTAL SEED OF SIC AND PRODUCTION METHOD THEREFOR, AND SIC WAFER PRODUCED FROM SAID SIC INGOT AND EPITAXIAL FILM SIC WAFER AND METHODS RESPECTIVE PRODUCTION RESPECTS OF SAID SIC WAFER AND SAID EPITAXIAL FILM SIC WAFER | |
JP2014144880A5 (ru) | ||
JP4454333B2 (ja) | ディスプレーデバイス用多結晶シリコン薄膜の製造方法及びレーザー結晶化用マスク | |
JP2015533771A5 (ja) | 融液からの結晶シート用装置及び方法 | |
JP2013124216A (ja) | Ga2O3系単結晶の成長方法及びGa2O3系基板の製造方法 | |
CN108550583B (zh) | 一种显示基板、显示装置及显示基板的制作方法 | |
JP2018058743A (ja) | ランダムマイクロニードル | |
JP2004260160A (ja) | 多結晶シリコン薄膜の製造方法及びその製造方法により製造された多結晶シリコン薄膜を用いて製造される薄膜トランジスタ | |
JP2008063194A (ja) | Siバルク多結晶の作製方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170922 |