NO144140B - Fremgangsmaate ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd - Google Patents
Fremgangsmaate ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd Download PDFInfo
- Publication number
- NO144140B NO144140B NO783553A NO783553A NO144140B NO 144140 B NO144140 B NO 144140B NO 783553 A NO783553 A NO 783553A NO 783553 A NO783553 A NO 783553A NO 144140 B NO144140 B NO 144140B
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- fluorine
- compound
- organotin
- tin
- oxidizable
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 31
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 54
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 52
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 51
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 33
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 31
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 13
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 10
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 10
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical group [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 claims description 7
- VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N tetramethyltin Chemical compound C[Sn](C)(C)C VXKWYPOMXBVZSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000003574 free electron Substances 0.000 claims description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 150000003606 tin compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims description 4
- -1 fluoride compound Chemical class 0.000 claims description 3
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 3
- ZHMUANACXUSCMY-UHFFFAOYSA-N trimethyl(trifluoromethyl)stannane Chemical compound C[Sn](C)(C)C(F)(F)F ZHMUANACXUSCMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 2
- PKKGKUDPKRTKLJ-UHFFFAOYSA-L dichloro(dimethyl)stannane Chemical compound C[Sn](C)(Cl)Cl PKKGKUDPKRTKLJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 125000003709 fluoroalkyl group Chemical group 0.000 claims 2
- 239000011343 solid material Substances 0.000 claims 1
- HAJHWZJFYVOKED-UHFFFAOYSA-N trimethyl(1,1,2,2,2-pentafluoroethyl)stannane Chemical compound C[Sn](C)(C)C(F)(F)C(F)(F)F HAJHWZJFYVOKED-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 16
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 15
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 14
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 6
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 5
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000037230 mobility Effects 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 4
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000009972 noncorrosive effect Effects 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 2
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J tin(iv) fluoride Chemical compound [F-].[F-].[F-].[F-].[Sn+4] YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 240000007591 Tilia tomentosa Species 0.000 description 1
- ISKQADXMHQSTHK-UHFFFAOYSA-N [4-(aminomethyl)phenyl]methanamine Chemical compound NCC1=CC=C(CN)C=C1 ISKQADXMHQSTHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001464 adherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000005328 architectural glass Substances 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- QXDJFNYEWKDJJA-UHFFFAOYSA-N dimethylstannane Chemical compound C[SnH2]C QXDJFNYEWKDJJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWEVMPIIOJUPRI-UHFFFAOYSA-N dimethyltin Chemical compound C[Sn]C PWEVMPIIOJUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000003670 easy-to-clean Effects 0.000 description 1
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229960001730 nitrous oxide Drugs 0.000 description 1
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 229940071182 stannate Drugs 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWWNQEOPUOCKGR-UHFFFAOYSA-N tetraethyltin Chemical compound CC[Sn](CC)(CC)CC RWWNQEOPUOCKGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- DFNPRTKVCGZMMC-UHFFFAOYSA-M tributyl(fluoro)stannane Chemical compound CCCC[Sn](F)(CCCC)CCCC DFNPRTKVCGZMMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/84—Heating arrangements specially adapted for transparent or reflecting areas, e.g. for demisting or de-icing windows, mirrors or vehicle windshields
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01G—COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
- C01G19/00—Compounds of tin
- C01G19/02—Oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/23—Oxides
- C03C17/245—Oxides by deposition from the vapour phase
- C03C17/2453—Coating containing SnO2
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/407—Oxides of zinc, germanium, cadmium, indium, tin, thallium or bismuth
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
- H01C17/06—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base
- H01C17/075—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thin film techniques
- H01C17/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for coating resistive material on a base by thin film techniques by chemical deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/20—Light-sensitive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/20—Manufacture of screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored; Applying coatings to the vessel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M14/00—Electrochemical current or voltage generators not provided for in groups H01M6/00 - H01M12/00; Manufacture thereof
- H01M14/005—Photoelectrochemical storage cells
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B2203/00—Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
- H05B2203/013—Heaters using resistive films or coatings
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
- Y02B10/00—Integration of renewable energy sources in buildings
- Y02B10/10—Photovoltaic [PV]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/52—PV systems with concentrators
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
Oppfinnelsen angår en fremgangsmåte ved fremstilling av elektrisk ledende filmer som er sterkt gjennomsiktige for synlig lys og som er sterkt reflekterende overfor infrarødt lys. Slike filmer er nyttige som gjennomsiktige elektroder for solceller av fotovolttypen, fotoledende celler, elektrooptiske fremvisnings-anordninger av typen flytende krystall, fotoelektrokjemiske celler og en rekke andre typer av optiskelektronisk utstyr. Som gjennomsiktige elektriske motstander anvendes slike filmer for avising av vinduer i fly eller biler etc. Som varmereflekterende, gjennomsiktige filmer på glass forbedrer disse filmer effektivi-teten av termiske solenergioppsamlere og av vinduer i bygninger, husholdningsovner, industriovner og natriumdamppærer og av fiber-glass isolering.
Forskjellige metalloxyder, som fireverdig tinnoxyd (Sn02), indiumoxyd (ln203) og kadmiumstannat (Cd2Sn04), har vært de mest utstrakt anvendte materialer for dannelse av gjennomsiktige elektrisk ledende filmer eller belegg.
De tidligste metoder for <p>åføring av disse belegg var
basert på påsprøyting av en oppløsning av et metallsalt (som regel kloridet) oå en varm overflate, som en glassoverflate.
På denne måte ble tilfredsstillende gjennomsiktige, elektriske motstandslag først fremstilt for avising av flyvinduer. Sprøyte-prosessen ga imidlertid forholdsvis korroderende biprodukter,
varmt klor og hydrogenkloridgasser som var tilbøyelige til å angripe den varme glassoverflate under dannelse av et tåket ut-seende. I US patentskrift nr. 2617745 er det beskrevet at denne uønskede virkning kan unngås ved først å påføre et belegg av rent siliciumdioxyd på glasset. Et beskyttende lag av siliciumdioxyd er imidlertid ikke særlig effektivt på glass med et høyt alkali-
innhold og en høy varmeekspansjonskoeffisient, som vanlig soda-kalkglass. Dessuten angriper disse korroderende biprodukter metalldeler i apparaturen, og de metalliske forurensninger, som jernforurensninger, kan derefter avsettes i belegget med skadelige virkninger både for beleggets elektriske ledningsevne og gjennomsiktighet .
Et annet problem har vært mangelen på jevnhet og reproduserbarhet for beleggenes egenskaper. I US patentskrift nr. 2651585 er det beskrevet at en bedre jevnhet og reproduserbarhet fås dersom fuktigheten i apparatet reguleres. Anvendelsen av en damp istedenfor en væskedusj, som beskrevet f.eks. i tysk patentskrift nr. 1521239, fører også til jevnere og bedre reproduserbare belegg.
Selv efter disse forbedringer er mer nylige undersøkelser blitt gjort med anvendelse av vakuumavsetningsmetoder, som fordampning og påspruting, for å oppnå renere og bedre reproduserbare belegg. Til tross for en langt høyere omkostning ved disse vakuumprosesser, betraktes den nedsatte dannelse av korroderende biprodukter og uønskede forurensninger som ellers fås ved på-sprøytningsmetodene, som av viktighet, spesielt for anvendelser i forbindelse med høyrene halvledere.
Den med hensikt foretatte tilsetning av visse forurensninger er av viktighet for disse prosesser for å oppnå høy elektrisk ledningsevne og høy refleksjonsevne overfor infrarødt lys. Tinn-forurensninger innarbeides således i indiumoxyd, mens antimon tilsettes til tinnoxyd (fireverdig tinnoxyd) for disse formål. I hvert tilfelle er virkningen av disse ønskede forurensninger ("dopemidler") å tilføre "ekstra" elektroner som bidrar til den elektriske ledningsevne. O<p>pløseligheten av disse forurensninger er høy, og de kan lett tilsettes under anvendelse av samtlige ovenfor nevnte avsetningsmetoder. Fluor byr på en fordel fremfor antimon som dopemiddel for tinnoxyd ved at filmer av fireverdig tinnoxyd som er blitt dopet med fluor, har en høyere gjennomsiktighet enn filmer dopet med antimon, spesielt innen den røde ende av det synlige spektrum. Denne fordel ved fluor er av viktighet for potensielle anvendelser for solceller og solvarmeoppsamlere.
Til tross for denne fordel ved fluor anvendes for de fleste, og kanskje for samtlige, handelstilgjengelige tinnoxydbelegg antimon som dopemiddel. Dette skyldes muligens at doping med fluor bare er blitt påvist i forbindelse med den mindre tilfredsstillende sprøytemetode, mens de forbedrede avsetningsmetoder (kjemisk dampavsetning, vakuumfordampning og påspruting) antas ikke å
ha vært påvist å gi doping med fluor. Dessuten konkluderer en ekspertkomité i en nylig utgitt rapport i American Institute of Physics Conference Proceedings, No. 25, s. 288 (1975), med at fluorlikevektsoppløselighet i tinnoxyd uvegerlig er lavere enn for antimon. Det bemerkes ikke desto mindre at tinnoxydfilmene med lavest elektrisk motstand beskrevet i teknikkens stand, er tinnoxydfilmene ifølge US patentskrift nr. 3677814. Under anvendelse av en sprøytemetode ble det ifølge dette patentskrift erholdt med fluor dopede tinnoxydfilmer med så lave elektriske motstander som 15 ohm pr. kvadratenhet ved anvendelse som ut-gangsmateriale av en forbindelse med en direkte tinn-fluorbinding. Den laveste elektriske motstand for handelstilgjengelig glass
som er belagt med tinnoxyd, er for tiden ca. 40 ohm pr. kvadratenhet. Dersom det er ønsket å erholde belegg med en så. lav elektrisk motstand som 10 ohm pr. kvadratenhet, har det hittil vært nødvendig å anvende de langt mer kostbare materialer, som indiumoxyd.
Det tas ved oppfinnelsen sikte på å tilveiebringe en fremgangsmåte for avsetning av en film eller .et belegg av med fluor dopet fireverdig tinnoxyd med høy synlig gjennomsiktighet, høy elektrisk ledningsevne og høy refleksjonsevne overfor infrarødt lys.
Det tas ved oppfinnelsen også sikte på lett å variere den elektriske ledningsevne under avsetningen aven. slik- enkelt film og å gjøre denne, istand til å få meget lave volummotstand:. og overflatemotstand.
Det tas ved oppfinnelsen dessuten sikte på å tilveiebringe
en ikke-korroderende avsetningsatmosfære hvorfra 'slike filmer av høy renhet lett kan avsettes og uten å forurense substratet med forurensninger eller uten korroderende angrep på substratet eller apparatet.
Det tas ved oppfinnelsen også sikte på å tilveiebringe et gassformig, istedenfor flytende, middel for fremstilling av de belagte produkter som beskrevet heri.
Det tas ved oppfinnelsen dessuten sikte på å tilveiebringe en fremgangsmåte ved hjelp av hvilken det er mulig lett å frem-stille slike filmer "med meget jevne og stérkt reproduserbare egenskaper over store arealer, uten de begrensninger som alltid hefter ved påsprøytingsmetoder.
Det tas ved oppfinnelsen også sikte på å muliggjøre en
enkel avsetning av slike filmer inne i rør eller pærer e'1'léf over overflaten av komplisert formede gjenstander som ikke enkelt kan belegges ved påsprøytning.
Det tas dessuten ved oppfinnelsen sikte på å tilveiebringe forbedrede gjenstander, som solceller, andre halvledere som er anvendbare i elektriske kretser, varmereflekterende vinduer eller forbedrede natriumlamper etc.
Det tas også ved oppfinnelsen sikte på å muliggjøre avsetning av slike filmer ved anvendelse av standard fremstillings-prosesser innen halvlederindustrien og glassindustrien.
Et spesielt særtrekk ved oppfinnelsen er å velge reaktantene på en slik måte at den nødvendige tinn-fluorbinding ikke dannes før like før avsetningen skal foretas. Tinnfluoridmaterialet bør således fortrinnsvis holdes i dampfase og ved tilstrekkelig lave temperaturer til at oxydasjon av forbindelsen bare vil inn-treffe efter omordningen for dannelse av en tinn-fluorbinding. Filmer av med fluor dopet tinnoxyd som er blitt fremstilt på denne måte, har en usedvanlig lav elektrisk motstand og en usedvanlig høy refleksjonsevne overfor infrarøde bølgelengder.
Oppfinnelsen angår således en fremgangsmåte ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd med en slik konsentrasjon av fluordopemiddel at 1-3% oxygen er erstattet med fluor, på et oppvarmet substrat under anvendelse av en gassformig blanding som til å begynne med inneholder (1) en første fluorholdig organotinnforbindelse som er fri for enhver direkte tinn-fluorbinding,
(2) en oxyderbar organotinnforbindelse og
(3) en oxyderende gass, og fremgangsmåten er særpreget ved at
(a) den første fluorholdige organotinnkomponent i den gassformige blanding omvandles til en annen gassformig organo-tinn-fluoridforbindelse med en direkte tinn-fluorbinding ved tilførsel av varme av kort varighet fra det oppvarmede
substrat umiddelbart før forbindelsen kommer i kontakt med substratet, (b) den annen organotinnfluoridforbindelse oxyderes umiddelbart og i umiddelbar nærhet av substratet for dannelse av et fluordopemiddel i den gassformige blanding, og (c) en med fluor dopet fireverdig tinnoxydfilm dannes på det oppvarmede substrat ved samtidig avsetning på dette av den oxyderbare organotinnforbindelse og fluordopemidlet.
Produktfilmen er en jevn, hard, vedheftende, gjennomsiktig film med en elektrisk ledningsevne og refleksjonsevne overfor infrarød stråling som er avhengige av konsentrasjonen av det fluorholdige dopemiddel.
Av tegningene viser Fig. 1 et skjematisk diagram av et apparat som er egnet for utførelse av en fremgangsmåte hvor et fluordopemiddel utgjøres av en organtinn-fluoralkyldamp som er blitt fordampet fra flytende tilstand. Fig. 2 viser en forenklet utførelse av et apparat for ut-førelse av den foreliggende fremgangsmåte, Fig. 3 viser et vindu 120 som er belagt med en film 118 ifølge oppfinnelsen, og Fig. 4 og 5 er kurver som viser hvorledes den elektriske ledningsevne og refleksjonsevnen varierer med konsentrasjonen av fluordopemiddel.
Den foreliggende fremgangsmåte omfatter to hovedtrinn:
(1) dannelse av en reaktiv dampblanding som ved oppvarming vil gi en forbindelse med en tinn-fluorbinding, og (2) overføring av denne dampblanding til en oppvarmet overflate hvorpå med fluor dopet tinnoxyd vil avsettes.
Tinn tilføres i. form av en flyktig, oxyderbar, organisk tinnforbindelse, som tetramethyltinn, tetraethyltinn, dibutyltinndiacetat, dimethyltinndihydrid eller dimethyltinndiklorid etc. Den foretrukne forbindelse er tetramethyltinn da denne er tilstrekkelig flyktig ved værelsetemperatur, ikke-korroderende, stabil og lett lar seg rense. Denne flyktige tinnforbindelse fylles i et bobleapparat 10 ifølge tegningen, og en inert bærergass, som nitrogen, bobles gjennom tinnforbindelsen. Ved anvendelse av de sterkt flyktige forbindelser, som tetramethyltinn og dimethyl-tinnhydrid, kan bobleapparatet holdes ved værelsetemperatur, mens bobleapparatet og røret må oppvarmes til egnet temperatur ved anvendelse av de andre mindre flyktige forbindelser, som en fag-mann vil forstå. Det er en fordel ved den foreliggende oppfinnelse at bruk av et høytemperaturapparat kan unngås og at enkle "kald-vegg"-tilførselsanordninger kan anvendes.
Dampblandingen må inneholde en oxyderende gass, som oxygen eller dinitrogenoxyd etc. Oxygen er den foretrukne gass da den er lett tilgjengelig og gir like godt resultat som de mer kostbare, også anvendbare oxydasjonsmidler.
Gasstrykkene opprettholdes ved hjelp av regulatorene 25,
og strømningshastighetene for oxygenet fra tanken 20 og for bærergassen fra tanken 21 reguleres ved hjelp av doseringsventiler 30 og måles ved hjelp av strømmålere 40. Gasstrømmene passerer derefter gjennom enveisventiler 50 og inn i et blanderør 60 og et traktformet kammer 70. En tinn oxydfilm avsettes på den varmeste overflate 80 som oppvarmes ved hjelp av et varmeapparat 90, som regel til en temperatur av 400-600°C.
Den generelle prosesstype som er beskrevet ovenfor, er vanlig kjent innen den angjeldende teknikk som kjemisk dampavsetning. Forskjellige forandringer, som en vertikal anbringelse av substratoverflåtene med rotasjon eller en anbringelse under reaksjonskammeret med rotasjon, er kjente for fagmannen og kan være spesielt egnede avhengig av substratets geometriske ut-formning eller av andre betingelser som innvirker på en gitt på-føring.
Det anbefales å rotere substratet for best å kunne bevege prøven gjennom eventuelle konveksjonsstrømmer som kan forekomme i apparatet og for derved best å sikre at de avsatte lag blir jevne. Det har imidlertid ifølge oppfinnelsen vist seg at dersom det oppvarmede substrat anbringes slik at det er vendt nedad,
kan sterkt jevne belegg erholdes mer enkelt uten rotasjon fordi gassen når den oppvarmes ovenfra, ikke forårsaker at det dannes besværlige konveksjonsstrømmer. En annen fordel ved å ha substratet anordnet over de reaktive damper er at eventuelt støv eller smuss eller pulverformig biprodukt dannet ved homogen kimdannelse i gassen, ikke faller ned på den voksende film.
Ifølge oppfinnelsen omfatter denne en forbedret fremgangsmåte hvor regulerte mengder av fluorforurensning kan innføres i den voksende tinnoxydfilm. Ifølge den enkleste utførelsesform av oppfinnelsen utgjøres fluordopemidlet av en damp som inneholder én tinn-fluorbinding i hvert molekyl. De andre tre tinnvalenser er tilfredsstilt av organiske grupper og/eller andre halogener enn fluor. Typisk for slike forbindelser er tributyltinnfluorid.
Det har ifølge o<p>pfinnelsen vist seg at fluoret bundet på denne måte og gjort tilgjengelig i dampform for en varm overflate, ikke spaltes av fra tinnet under oxydasjon på en varm overflate.
Dessverre er alle kjente forbindelser med en slik direkte tinn-fluorbinding ikke særlige flyktige ved temperaturer nær værelsetemperatur.
Det er en spesiell fordel ved oppfinnelsen at ved denne dannes fluordopemidlet fra flyktige forbindelser som ikke har den nødvendige tinn-fluorbinding, men som vil omarrangeres ved oppvarming under dannelse av en direkte tinn-fluorbinding. Denne omarrangering finner med fordel sted ved tilstrekkelig høye temperaturer (f.eks. over 100 C), slik at det således dannede tinn-fluorid holder seg i dampfase, men også ved tilstrekkelig lave temperaturer (f.eks. under 400°C), slik at oxydasjonen av forbindelsen bare finner sted efter omarrangeringen. Et eksempel på en slik forbindelse er trimethyltrifluormethyltinn, (CH-^^SnCF-j. Ved oppvarming til en temperatur av ca. 150°C i en oppvarmet sone nær avsetningsoverflaten 80 vil denne forbindelse omarrangeres under dannelse av en direkte tinn-f luorbinding til (CH^J-jSnF-
damp som derefter reagerer som fluordonator eller -dopemiddel.
Andre forbindelser som utsettes for lignende omarrangeringer
ved temperaturer som selvfølgelig vil variere noe fra forbindelse til forbindelse, har den generelle formel R^SnRF, hvori R betegner et hydrocarbonradikal og RF et fluorert hydrocarbonradikal med minst ett fluoratom bundet til det carbonatom som er bundet til tinnet. Hovedfordelen ved disse fluordopemidler er at de er flyktige væsker, slik at de lett kan gi et tilstrekkelig damptrykk når de fordampes ved værelsetemperatur. Dette forenkler kon-struksjonen av apparatet, som vist på Fig. 1, ved at behovet for å opprettholde en varm sone mellom bobleapparatet 15 og reaksjonskammeret 70 for derved å holde fluordopemidlet i dampfase unngås. Apparatet kan således være av den type som vanligvis betegnes som en "kaldveggreaktor for kjemisk dampavsetning" som er utstrakt anvendt f.eks. innen halvlederindustrien for å avsette silicium, siliciumdioxyd eller siliciumnitrid etc. Et annet viktig særtrekk ved "kaldveggreaktoren" for anvendelse innen halvlederindustrien er at ved anvendelse av denne senkes innholdet av uønskede forurensninger til et minimum både i substratet og i den avsatte film. Innen glassproduksjonen kan på lignende måte gassblandingen tilsettes til gløde- og avkjølingsovnen på det trinn når glasset har den egnede temperatur, f.eks. ca. 4 70°C, for mykt glass.
På denne måte kan meget jevne filmer erholdes ved anvendelse av varlig glassproduks jonsutstyr.
Den foretrukne forbindelse for anvendelse
ifølge Fig. 1 er (CH^J^SnCF^ da denne forbindelse er mer flyktig enn-forbindelsene med flere carbonatomer. Den er en stabil, farveløs, ikke-korroderende væske som ikke spaltes i luft ved værelsetem<p>eratur og som bare reagerer meget langsomt med vann.
Filmer fremstilt ifølge oppfinnelsen har vist seg å ha en refleksjonsevne overfor infrarød stråling av 90% eller derover når den måles, som velkjent innen den angjeldende teknikk, ved den vanlige bølgelengde for lys av 10 um som er typisk for termisk infrarød stråling ved værelsetemperatur. Denne refleksjonsevne på 90% må sammenlignes med refleksjonsevnen på 80% som hittil er blitt oppnådd ved anvendelse av tinnoxydbelegg. I vanlig praksis vil disse lag som er istand til å reflektere infrarød stråling, ha en tykkelse av 0,2-1 pm, idet tykkelser av 0,3-0,5 jim er typiske.
For mer kvantitativt å karakterisere fluordopemiddel-konsentrasjonene i filmene ble den infrarøde refleksjonsevne målt for bølgelengdeområdet 2,5-40 ^im. Ved å tilpasse disse data til teoretiske kurver, som detaljert beskrevet av R. Groth,
E. Kauer og P.C. van den Linden, "Optical Effeets of Free
Carriers in SnC^ Layers," Zeitschrift fur Naturforschung, bind
179, s. 789 - 793 (1962), ble verdier erholdt for konsentrasjonen av frie elektroner i filmene. De erholdte verdier lå innen om-rådet 10 20 cm -3 til 10 21 cm —3og økte jevnt med økende konsentrasjon av fluordopemidlet. Teoretisk bør en fri elektron frigjøres for hvert fluoratom som erstatter et oxygenatom i gitteret. Denne hypotese ble bekreftet ved elektronspektroskopiske målinger med et elektronspektroskop av typen Auger av den samlede fluorkonsentrasjon i en del av filmene, og disse målinger ga fluorkonsentrasjoner i overensstemmelse med konsentrasjonene av frie elektroner, innen grensene for forsøksfeil. Denne overensstemmelse tyder på at hoveddelen av det innarbeidede fluor er elektrisk aktiv.
Den infrarøde refleksjonsevne ved 10 pn og også filmenes elektriske volumledningsevne viste seg å være høyest ved en dopemiddelkon-sentrasjon av 1,5-2% fluor som hadde erstattet oxygen. Maksimums-områdene er meget vide, og filmer med 1-2,5% fluor oppviser nesten maksimale ledningsevner og refleksjonsevner. Det forekommer også en svak, bred absorpsjon innen hele det synlige bølgelengdeområde, og denne øker direkte med fluorkonsentrasjonen. For fremstilling av filmer med høy elektrisk ledningsevne og høy synlig gjennomsiktighet er derfor en fluorkonsentrasjon i filmen av ca. 1%
(dvs. et forhold fluor:oxygen av 0,01 i filmen) sterkt foretrukken. Dette optimum vil imidlertid variere noe avhengig av den spektral-fordeling som er av interesse for en gitt anvendelse. Ved å
variere konsentrasjonen av fluordopemiddel kan ved hjelp av rutine-forsøk den optimale prosent for enhver gitt anvendelse lett fast-slås .
Fluordopemiddelkonsentrasjoner av over 3% kan lett oppnås
i filmene under anvendelse av fremgangsmåtene ifølge oppfinnelsen. Tidligere resultater har ikke overskredet 1%, og den oppfatning hersket, som angitt ovenfor, at dette var oppløselighetsgrensen for fluor. Selv om slike høye konsentrasjoner av dopemiddel ikke er nødvendige for å erholde en optimal infrarød refleksjonsevne eller en optimal elektrisk ledningsevne, kan de gråe filmer som dannes ved konsentrasjoner av dopemiddel på 2% eller derover, være anvendbare for arkitekturglass for å begrense solvarmeøkning i luftkondisjonerte bygninger. For slike anvendelser er det fordelaktig å senke konsentrasjonen av dopemiddel ved filmens overflate til ca. 2% for å oppnå en maksimal infrarød refleksjonsevne.
Ved å anvende de målte elektronkonsentrasjoner og elektriske ledningsevner kan elektronmigreringsmobilitetene beregnes. For forskjellige filmer ble verdier av 50-70 cm 2/V-sekund beregnet på denne måte. Tidligere erholdte mobilitetsverdier for tinnoxyd-
filmer har variert fra 5 til 35 cm 2/V-sekund. Det antas at de foreliggende filmer er de første som har slike mobiliteter som overskrider 40 cm 2/V-sekund. Disse verdier viser på en annen måte den overlegne kvalitet for den foreliggende fremgangsmåte og for de ved hjelp av denne fremstilte filmer.
Den foreliggende fremgangsmåte er også meget nyttig for anvendelse ved fremstilling av nye innretninger, som de som har elektrisk ledende lag,ved fremstilling av halvledere (f.eks. integrerte kretser eller lignende innretninger), og dessuten ved fremstilling av varmereflekterende, gjennomsiktige gjenstander, som vinduer.
Den. ^eii::sterkt fordelaktig ifølge oppfinnelsen at
. org.anoti-iin^f-l-ucfridf arbindels.en som har en tinn-
fluorbinding, spaltes på substratet straks efter at den er blitt dannet. Denne spaltning finner fortrinnsvis sted innenfor en snever reaksjonssone som i det vesentlige oppvarmes til spaltnings-temperaturen av varme fra selve substratet.
eksempler ved hjelp av typiske utførelsesformer av den foreliggende fremgangsmåte og av de ved hjelp av denne fremstilte produkter.
Dersom intet annet er nærmere angitt, utføres de nedenfor angitte spesielle eksempler i overensstemmelse med den følgende generelle metode:
Eksempel 1
Den foreliggende fremgangsmåte er her eksemplifisert ved hjelp av et forsøk under anvendelse av apparatet ifølge Fig. 1 for fremstilling av en gasstrøm som inneholder 1% tetramethyltinn ,(CH3)4Sn, 0,02%' trimethyltrifluormethyltinn,(CH3)3SnCF3, 10% nitrogenbærergass og resten oxygengass. Den erholdte strøm ledes over en plate av ildfast glass 0'Pyrex") med en diameter av 15 cm og som i en avsetningsperiode på ca. 5 minutter holdes ved en temperatur av 500°C. Strømningshastigheten for gasstrømmen er ca. 400 cm /min. Denne strømningshastighet er slik at gassut-skiftningshastigheten i trakten 70 er ca. en gang pr. 2 minutter. En gjennomsiktig film med en tykkelse av ca. 1 jum avsettes. Den har en elektrisk motstand av 2 ohm pr. kvadratenhet som svarer til en volummotstand av 0,0002 ohm-cm. Denne film viser seg ved måling å ha et forhold fluor:oxygen av ca.0,017 og en migreringsmobilitet ("drift mobility") av ca. 50 cm o/V-sekund.
Eksempel 2
Når fremgangsmåten ifølge eksempel 1 gjentas under anvendelse av et natriumfritt siliciumsubstrat, synker motstandsverdien til ca. 1 ohm pr. kvadratenhet, dvs. til ca. halvparten av verdien for motstand erholdt med et natriumholdig substrat.
Vanlige fotoelektriske siliciumceller (solceller) har hittil hatt typiske overflatemotstander av 50-100 ohm pr. kvadratenhet. For å oppnå en aksepterbar lav samlet cellemotstand avsettes et metallgitter med en avstand av 1 eller 2 mm på siliciumoverflaten. Ved å avsette et med fluor dopet tinnoxydlag med en arkmotstand av ca. 0,5 ohm pr. kvadratenhet (ca. 2 pm £ykt) på celleoverflaten kan metallgitteravstanden økes til ca. 10 mm med en tilsvarende minskning av omkostningene for gitteret. Gitterstørrelsen kan eventuelt holdes liten, og cellen vil da være istand til å virke effektivt selv dersom sollyset er blitt konsentrert med en faktor av ca. 100, forutsatt at en tilstrekkelig avkjøling av cellen op<p>rettholdes.
Et skjematisk snitt 100 gjennom en slik celle er vist på
Fig. 2, hvor et 2 pm tykt lag 102 av n-Sn02 (det med fluor dopede materiale ifølge oppfinnelsen anvendes), et 0,4 pm tykt lag 104
av n-silicium (med fosfor dopet silicium som kjent innen den angjeldende teknikk), et 0,1 mm tykt p-siliciumlag 106 (med bor dopet silicium som kjent innen den angjeldende teknikk) for-bindes med et aluminiumlag 108 som tjener som en elektrode. Metall-gitterne 110 er anordnet i en avstand av 10 mm fra hverandre.
Det fås igjen et utmerket resultat.
De avsatte filmer kan anvendes for fremstilling av andre halv-ledergjenstander, f.eks. elektriske ledere eller motstander. Tinnoxydbelegg er tidligere blitt anvendt slik for integrerte kretser. Den forbedrede elektriske ledningsevne vil tillate en mer utstrakt anvendelse av dette materiale i fremtiden. Ikke bare er arkmot-standsområdet utvidet til langt lavere verdier (f.eks. ca. 5 ohm pr. kvadratenhet eller derunder) enn hittil mulig, men også avsetning av filmer kan.erholdes i det samme apparat som anvendes f.eks. for å vokse epitaksialt silicium. Dette fjerner de kostbare og om-stendelige uttømnings-, rense- og fyllingstrinn mellom avsetningene.
Motstandsverdiene erholdt for siliciumsubstratene med avsatt tinnoxyd som er dopet med fluor, er ca. 10 -4ohm cm som er sammen-lignbare med motstandsverdiene for fordampet tantalmetall som av og til anvendes for forbindelser i integrerte kretser. Den gode avpasning mellom varmeekspansjonskoeffisientene for tinnoxyd og silicium muliggjør avsetning av tykke lag uten vesentlige spenninger.
På Fig.4 er den elektriske ledningsevne for de med fluor dopede filmer av fireverdig tinnoxyd vist som en funksjon av det målte forhold fluor:oxygen i filmene ved avsetningstemperaturer av 480°C og 500°C. På Fig.5 er den infrarøde refleksjonsevne for de med fluor dopede filmer av toverdig tinnoxyd vist som funksjon av det målte forhold fluor:oxygen i filmene for avsetningstemperaturer av 480°C og 500°C.
På Fig.4 og 5 er også (1) den elektriske ledningsevne for
de innen teknikken kjente kostbare indiumoxydmaterialer og som beskrevet i Philips Technical Review, vol. 29, s. 17 (1968), av van Boort og Groth, og (2) de beste påståtte kjente verdier for den elektriske ledningsevne og refleksjonsevne for dopede belegg av toverdig tinnoxyd vist.
Claims (11)
1. Fremgangsmåte ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd med en slik konsentrasjon av fluordopemiddel at 1-3% oxygen er erstattet med fluor, på et oppvarmet substrat under anvendelse av en gassformig blanding som til å begynne med inneholder
(1) en første fluorholdig organotinnforbindelse som er fri for enhver direkte tinn-fluorbinding,
(2) en oxyderbar organotinnforbindelse og
(3) en oxyderende gass, karakterisert ved at (a) den første fluorholdige organotinnkomponent i den gassformige blanding omvandles til en annen gassformig organo-tinn-fluoridforbindelse med en direkte tinn-fluorbinding ved tilførsel av varme av kort varighet fra det oppvarmede substrat umiddelbart før forbindelsen kommer i kontakt med substratet, (b) den annen organotinnfluoridforbindelse oxyderes umiddelbart og i umiddelbar nærhet av substratet for dannelse av et fluordopemiddel i den gassformige blanding, og (c) en med fluor dopet fireverdig tinnoxydfilm dannes på det oppvarmede substrat ved samtidig avsetning på dette av den oxyderbare organotinnforbindelse og fluordopemidlet.
2. Fremgangsmåte ifølge krav 1, karakterisert ved at det anvendes et slikt forhold mellom fluordopemidlet og den oxyderbare organotinnforbindelse at den frie elektronkonsentrasjon for filmene vil ligge innen et område av 10 cm 21 -3
10 cm , idet den frie elektronkonsentrasjon øker med økende mengde av fluordopemidlet.
3. Fremgangsmåte ifølge krav 1 eller 2, karakterisert ved at det som den første fluorholdige organotinnkomponent anvendes en flyktig komponent som er fri for en direkte tinn-fluorbinding, men som omarrangeres ved oppvarming under dannelse av en direkte tinn-fluorbinding ved temperaturer som er tilstrekkelig høye til at den nydannede forbindelse med en direkte tinn-fluorbinding vil holde seg i dampfase inntil den omsettes sammen med den oxyderbare organotinnforbindelse under avsetning
av filmen av med fluor dopet tinnoxyd.
4. Fremgangsmåte ifølge krav 1-3, karakterisert ved at det som den første fluorholdige organotinnkomponent anvendes en komponent som inneholder er. fluoralkylgruppe eller substituert fluoralkylgruppe bundet til et tinnatom.
5. Fremgangsmåte ifølge krav 4, karakterisert ved at det anvendes en første fluorholdig organotinnkomponent bestående av trimethyltrifluormethyltinn.
6. Fremgangsmåte ifølge krav 4, karakterisert ved at det som den første fluorholdige organotinnkomponent anvendes trimethylpentafluorethyltinn.
7. Fremgangsmåte ifølge krav 1-6, karakterisert ved at det som den oxyderbare organotinnforbindelse anvendes en forbindelse som inneholder minst én carbon-tinnbinding.
8. Fremgangsmåte ifølge krav 7, karakterisert ved at det som den oxyderbare organotinnforbindelse anvendes tetramethyltinn.
9. Fremgangsmåte ifølge krav 7, karakterisert ved at det som den oxyderbare organotinnforbindelse anvendes dimethyltinndiklorid.
10. Fremgangsmåte ifølge krav 1-8, karakterisert ved at tetramethyltinndamp i en konsentrasjon av opp til 1% anvendes som den oxyderbare tinnforbindelse, at oxygengass ved et. partialtrykk av opp til 1 atmosfære anvendes som den oxyderende gass, og at det fireverdige tinnoxyd avsettes på en overflate som er oppvarmet til ca. 500°C.
11. Fremgangsmåte ifølge krav 1-10, karakterisert ved at det som substrat som skal belegges, anvendes et fast materiale med sin flate vendt nedad, og at den gassformige blanding rettes oppad mot overflaten.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB7841384A GB2033357B (en) | 1978-10-20 | 1978-10-20 | Processes for the production of tin oxide coatings and articles having such coatings |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO783553L NO783553L (no) | 1980-04-22 |
NO144140B true NO144140B (no) | 1981-03-23 |
NO144140C NO144140C (no) | 1981-07-01 |
Family
ID=10500482
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO783553A NO144140C (no) | 1978-10-20 | 1978-10-20 | Fremgangsmaate ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JPS5558363A (no) |
BE (1) | BE871408A (no) |
BR (1) | BR7806939A (no) |
CA (1) | CA1121666A (no) |
CH (1) | CH640276A5 (no) |
DE (1) | DE2845782A1 (no) |
FI (1) | FI64128C (no) |
FR (1) | FR2439240A1 (no) |
GB (1) | GB2033357B (no) |
IT (1) | IT1109618B (no) |
NL (1) | NL191210C (no) |
NO (1) | NO144140C (no) |
SE (1) | SE431321B (no) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6018090B2 (ja) * | 1979-10-03 | 1985-05-08 | 日本板硝子株式会社 | 導電薄膜の形成方法 |
CA1171505A (en) * | 1980-07-23 | 1984-07-24 | Katherine V. Clem | Conductive elements for photovoltaic cells |
US4377613A (en) * | 1981-09-14 | 1983-03-22 | Gordon Roy G | Non-iridescent glass structures |
DE3300449A1 (de) * | 1983-01-08 | 1984-07-12 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur herstellung einer elektrode fuer eine hochdruckgasentladungslampe |
JPS59190219A (ja) * | 1983-04-12 | 1984-10-29 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 基体に酸化錫膜を形成する方法 |
JPS6273783A (ja) * | 1985-09-27 | 1987-04-04 | Taiyo Yuden Co Ltd | 非晶質半導体太陽電池 |
GB8624825D0 (en) * | 1986-10-16 | 1986-11-19 | Glaverbel | Vehicle windows |
GB8630791D0 (en) * | 1986-12-23 | 1987-02-04 | Glaverbel | Coating glass |
JPH07112076B2 (ja) * | 1987-05-07 | 1995-11-29 | 日本板硝子株式会社 | 二層構造を有する透明導電膜体 |
JPH01227418A (ja) * | 1988-03-08 | 1989-09-11 | Taiyo Yuden Co Ltd | 電気二重層コンデンサ |
JPH021104A (ja) * | 1988-03-08 | 1990-01-05 | Taiyo Yuden Co Ltd | 電気二重層コンデンサ |
DE4243382C2 (de) * | 1992-02-27 | 1994-06-09 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Steuerung der Entladung eines Kondensators |
DE4303074C2 (de) * | 1992-02-27 | 1994-05-19 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Steuerung der Ladung eines Kondensators |
DE4213747A1 (de) * | 1992-04-25 | 1993-10-28 | Merck Patent Gmbh | Elektrisch leitfähige Pigmente |
DE4337986C2 (de) * | 1993-11-06 | 1996-06-05 | Schott Glaswerke | Verwendungen von Sn(IV)-Carboxylaten als Ausgangsverbindungen für Tauchlösungen zur Herstellung transparenter, elektrisch leitfähiger Einkomponentenschichten aus reinem oder dotiertem SnO¶2¶ auf Glassubstraten |
US5698262A (en) | 1996-05-06 | 1997-12-16 | Libbey-Owens-Ford Co. | Method for forming tin oxide coating on glass |
DE19801861C2 (de) * | 1998-01-20 | 2001-10-18 | Schott Glas | Verfahren zum Herstellen eines hohlen, innenbeschichteten Glasformkörpers |
DE19810848A1 (de) * | 1998-02-06 | 1999-08-12 | Heinz Zorn | Spiegelheizeinrichtung |
DE19844046C2 (de) | 1998-09-25 | 2001-08-23 | Schott Glas | Mehrscheibenisolierglas |
US20030165731A1 (en) * | 2002-03-01 | 2003-09-04 | Gayatri Vyas | Coated fuel cell electrical contact element |
US7372610B2 (en) | 2005-02-23 | 2008-05-13 | Sage Electrochromics, Inc. | Electrochromic devices and methods |
JP2007242340A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Fujikura Ltd | 透明導電性基板及びその製造方法並びにその製造装置 |
DE102014220575A1 (de) * | 2014-10-10 | 2015-10-29 | Siemens Vai Metals Technologies Gmbh | Feuerfestbauteil zum Auskleiden eines metallurgischen Gefäßes |
US10221201B2 (en) * | 2015-12-31 | 2019-03-05 | Praxair Technology, Inc. | Tin-containing dopant compositions, systems and methods for use in ION implantation systems |
JP7129310B2 (ja) * | 2018-10-17 | 2022-09-01 | 株式会社カネカ | 蒸着装置 |
WO2023214161A1 (en) * | 2022-05-03 | 2023-11-09 | Pilkington Group Limited | Method of forming a tin oxide coating |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2566346A (en) * | 1948-09-08 | 1951-09-04 | Pittsburgh Plate Glass Co | Electroconductive products and production thereof |
US2651585A (en) * | 1949-06-25 | 1953-09-08 | Pittsburgh Plate Glass Co | Production of electroconductive articles |
US3107177A (en) * | 1960-01-29 | 1963-10-15 | Pittsburgh Plate Glass Co | Method of applying an electroconductive tin oxide film and composition therefor |
US3705054A (en) * | 1967-01-25 | 1972-12-05 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of applying coatings of tin oxide upon substrates |
US3667814A (en) * | 1970-09-04 | 1972-06-06 | Alfred Krivda | Vacuum loader |
BE788501A (fr) * | 1971-09-17 | 1973-01-02 | Libbey Owens Ford Co | Procede d'application d'enduits d'oxyde d'etain sur des substrats transparents |
US3766053A (en) * | 1972-06-29 | 1973-10-16 | Nalco Chemical Co | Corrosion inhibitors for refining & petrochemical processing equipment |
US3949259A (en) * | 1973-08-17 | 1976-04-06 | U.S. Philips Corporation | Light-transmitting, thermal-radiation reflecting filter |
-
1978
- 1978-10-20 CH CH1088078A patent/CH640276A5/fr not_active IP Right Cessation
- 1978-10-20 NL NL7810511A patent/NL191210C/xx not_active IP Right Cessation
- 1978-10-20 JP JP12943078A patent/JPS5558363A/ja active Granted
- 1978-10-20 BE BE191237A patent/BE871408A/xx not_active IP Right Cessation
- 1978-10-20 GB GB7841384A patent/GB2033357B/en not_active Expired
- 1978-10-20 BR BR7806939A patent/BR7806939A/pt unknown
- 1978-10-20 SE SE7810973A patent/SE431321B/sv not_active IP Right Cessation
- 1978-10-20 FR FR7829935A patent/FR2439240A1/fr active Granted
- 1978-10-20 CA CA000313867A patent/CA1121666A/en not_active Expired
- 1978-10-20 DE DE19782845782 patent/DE2845782A1/de active Granted
- 1978-10-20 IT IT69421/78A patent/IT1109618B/it active
- 1978-10-20 NO NO783553A patent/NO144140C/no unknown
- 1978-10-20 FI FI783195A patent/FI64128C/fi not_active IP Right Cessation
-
1988
- 1988-02-16 JP JP63033830A patent/JPS63245813A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE7810973L (sv) | 1980-06-23 |
GB2033357A (en) | 1980-05-21 |
NL191210B (nl) | 1994-10-17 |
SE431321B (sv) | 1984-01-30 |
BR7806939A (pt) | 1980-04-22 |
JPS649399B2 (no) | 1989-02-17 |
CH640276A5 (en) | 1983-12-30 |
DE2845782C2 (no) | 1990-04-19 |
NL191210C (nl) | 1995-03-16 |
NL7810511A (nl) | 1980-04-22 |
CA1121666A (en) | 1982-04-13 |
GB2033357B (en) | 1983-01-06 |
FR2439240A1 (fr) | 1980-05-16 |
JPS6361388B2 (no) | 1988-11-29 |
NO144140C (no) | 1981-07-01 |
IT7869421A0 (it) | 1978-10-20 |
FI64128B (fi) | 1983-06-30 |
NO783553L (no) | 1980-04-22 |
BE871408A (fr) | 1979-04-20 |
FI783195A (fi) | 1980-04-21 |
FI64128C (fi) | 1983-10-10 |
IT1109618B (it) | 1985-12-23 |
DE2845782A1 (de) | 1980-04-30 |
JPS63245813A (ja) | 1988-10-12 |
FR2439240B1 (no) | 1984-06-29 |
JPS5558363A (en) | 1980-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO144140B (no) | Fremgangsmaate ved fremstilling av gjennomsiktige filmer av fireverdig tinnoxyd | |
US4146657A (en) | Method of depositing electrically conductive, infra-red reflective, transparent coatings of stannic oxide | |
US4265974A (en) | Electrically conductive, infrared reflective, transparent coatings of stannic oxide | |
USRE31708E (en) | Method of depositing electrically conductive, infra-red reflective, transparent coatings of stannic oxide | |
Manifacier et al. | Deposition of In2O3 SnO2 layers on glass substrates using a spraying method | |
JP5960221B2 (ja) | 薄膜光起電性適用向けの透明導電性酸化膜、及びその製造方法 | |
US4371740A (en) | Conductive elements for photovoltaic cells | |
RU2447030C2 (ru) | Способ изготовления стеклоизделия с содержащим легирующие примеси покрытием из оксида цинка, имеющим низкое удельное сопротивление, и стеклоизделие с покрытием, изготовленное этим способом | |
US6504139B1 (en) | Substrate for photoelectric conversion device, method of manufacturing the same, and photoelectric conversion device using the same | |
CN101477846B (zh) | 带有透明导电膜的透明基体及其制造方法、以及含有该基体的光电转换元件 | |
JP4468894B2 (ja) | 透明導電性基板とその製造方法、および光電変換素子 | |
JP4467707B2 (ja) | 導電膜付きガラス板とその製造方法、およびこれを用いた光電変換装置 | |
JP4460108B2 (ja) | 光電変換装置用基板の製造方法 | |
JP3984404B2 (ja) | 導電膜付きガラス板とその製造方法、およびこれを用いた光電変換装置 | |
JP2004362842A (ja) | 透明導電膜付き透明基体、その製造方法、および光電変換素子用基板ならびに光電変換素子 | |
JP2001060707A (ja) | 光電変換装置 | |
JP4516657B2 (ja) | 光電変換装置用基板とその製造方法、およびこれを用いた光電変換装置 | |
JP2005029464A (ja) | 薄膜付きガラス板とその製造方法、およびこのガラス板を用いた光電変換装置 | |
JPS6214221B2 (no) | ||
DK156998B (da) | Fremgangsmaade til fremstilling af transparente film af stannioxid paa et underlag | |
CN116395981B (zh) | 带有透明导电膜的玻璃基板及其制造方法 | |
JP2005029463A (ja) | 透明導電膜付きガラス板とその製造方法、およびこのガラス板を用いた光電変換装置 | |
IE47459B1 (en) | Processes for the production of tin oxide coatings and articles having such coatings | |
JP2000340815A (ja) | 光電変換素子用基板 | |
GB2080275A (en) | Conductive element, method of preparing the conductive element and photovoltaic cell comprising the conductive element |