KR980005475A - 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법 Download PDF

Info

Publication number
KR980005475A
KR980005475A KR1019960023222A KR19960023222A KR980005475A KR 980005475 A KR980005475 A KR 980005475A KR 1019960023222 A KR1019960023222 A KR 1019960023222A KR 19960023222 A KR19960023222 A KR 19960023222A KR 980005475 A KR980005475 A KR 980005475A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
via contact
contact hole
metal wiring
semiconductor device
insulating film
Prior art date
Application number
KR1019960023222A
Other languages
English (en)
Inventor
최성칠
Original Assignee
김주용
현대전자산업주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019960023222A priority Critical patent/KR980005475A/ko
Publication of KR980005475A publication Critical patent/KR980005475A/ko

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법에 관한 것으로, 제1금속배선에 제2금속배선을 접속시키기 위해 제1금속배선 상부에 제1내부절연막, 평탄화층인 SOG 절연막 및 제2내부절연막을 순차적으로 형성하고, 그 상부에 비아콘택마스크를 이용한 노광 및 현상공정을 감광막패턴을 형성한 다음, 이를 마스크로하여 습식 및 건식식각공정을 실시함으로써 상기 제1금속배선을 노출시키는 비아콘택홀을 형성하는 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법에 있어서, 상기 건식식각공정후에 측면식각특성이 우수한 다른 건식식각공정을 실시하고 상기 감광막패턴을 제거하여 상부가 넓은 비아콘택홀을 형성함으로써 후속공정이 용이하게 실시할 수 있도록 하여 반도체소자의 특성 및 신뢰성을 향상시키고 그에 따른 반도체소자의 고집적화를 가능하게 하는 기술이다.

Description

반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2a도 및 제2b도는 본 발명의 실시에에 따른 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법을 도시한 단면도.

Claims (2)

  1. 제1금속배선에 제2금속배선을 접속시키기 위해 제1금속배선 상부에 제1내부절연막, 평탄화층인 SOG 절연막 및 제2내부절연막을 순차적으로 형성하고, 그 상부에 비아콘택마스크를 이용한 노광 및 현상공정을 감광막패턴을 형성한 다음, 이를 마스크로하여 습식 및 건식식각공정을 실시함으로써 상기 제1금속배선을 노출시키는 비아콘택홀을 형성하는 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법에 있어서, 상기 건식식각공정후에 측면식각특성이 우수한 다른 건식식각공정을 실시하는 공정과, 상기 감광막패턴을 제거하는 공정을 포함하는 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 다른 건식식각공정은 O2+CF4플라지마를 이용하여 실시하는 것을 특징으로 하는 반도체소자의 비아콘택홀 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960023222A 1996-06-24 1996-06-24 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법 KR980005475A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023222A KR980005475A (ko) 1996-06-24 1996-06-24 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960023222A KR980005475A (ko) 1996-06-24 1996-06-24 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR980005475A true KR980005475A (ko) 1998-03-30

Family

ID=66287315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960023222A KR980005475A (ko) 1996-06-24 1996-06-24 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR980005475A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970003483A (ko) 반도체 소자의 비아홀 형성방법
KR960019522A (ko) 반도체 소자의 플러그 형성방법
KR980005475A (ko) 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법
KR960002486A (ko) 반도체 소자의 다중 금속층 형성방법
KR960035829A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR980005899A (ko) 포토레지스트의 스트리핑방법
KR950015587A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR960019533A (ko) 반도체소자의 미세콘택 형성방법
KR980005543A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성방법
KR940012499A (ko) 콘택홀 형성방법
KR980005486A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR970054601A (ko) 반도체 디바이스 제조공정의 금속층 패터닝(Patterning) 방법
KR970052385A (ko) 반도체장치의 콘택홀 형성방법
KR980005466A (ko) 반도체 장치의 금속배선 형성방법
KR960002569A (ko) 금속 배선 얼라인 키 형성 방법
KR940016439A (ko) 반도체소자의 콘택형성방법
KR970053571A (ko) 반도체 장치 및 그의 제조 방법
KR960015741A (ko) 반도체소자의 콘택홀 형성방법
KR970003482A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR960002759A (ko) 반도체 소자의 다중 금속배선 형성방법
KR970023728A (ko) 반도체 소자의 콘택 홀 형성 방법
KR970053509A (ko) 반도체 소자의 다중 금속층 형성 방법
KR960026795A (ko) 반도체소자의 캐패시터 제조방법
KR960012324A (ko) 반도체소자의 게이트전극 콘택 및 그 제조방법
KR970018496A (ko) 반도체 소자의 저장전극 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination