KR970003483A - 반도체 소자의 비아홀 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 비아홀 형성방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970003483A
KR970003483A KR1019950017288A KR19950017288A KR970003483A KR 970003483 A KR970003483 A KR 970003483A KR 1019950017288 A KR1019950017288 A KR 1019950017288A KR 19950017288 A KR19950017288 A KR 19950017288A KR 970003483 A KR970003483 A KR 970003483A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
via hole
oxide film
film
sog film
Prior art date
Application number
KR1019950017288A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100208442B1 (ko
Inventor
신찬수
김춘환
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950017288A priority Critical patent/KR100208442B1/ko
Priority to US08/668,845 priority patent/US5702568A/en
Publication of KR970003483A publication Critical patent/KR970003483A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100208442B1 publication Critical patent/KR100208442B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/28Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/268
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76801Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 비아홀 형성방법이 개시된다.
본 발명은 다수의 금속배선이 형성된 웨이퍼상에 제1산화막을 형성하고, 제1산화막상에 SOG막 도포후 실제 비아홀 크기보다 큰 비아홀 콘택이 형성된 마스크를 사용하여 SOG막에 홈을 형성하고, 이후 홈을 완전히 매립하는 공정(제2산화막형성후 SOG막을 형성하는 2단계공정 또는 제2산화막을 두껍게 형성하는 1단계공정)을 실시한 후 비아홀 크기의 콘택 마스크를사용하여 비아홀을 형성한다.
따라서, 본 발명은 비아홀 측벽에서 SOG막의 노출없이 비아홀을 형성할 수 있으며, 또한 건식식각으로 비아홀을 형성할때 SOG막이 노출되지 않으므로, 양호한 식각 형상을 갖는 비아홀을 형성할 수 있을 뿐만 아니라, 금속 층간 절연막중 제2산화막이 얇을 경우에 발생할 수 있는 포토리소그라피 공정의 문제를 해결할 수 있다.

Description

반도체 소자의 비아홀 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1A 내지 1F도는 본 발명의 제1실시예에 의한 반도체 소자의 비아홀 형성방법을 설명하기 위해 도시한 소자의 단면도.

Claims (2)

  1. 반도체 소자의 비아홀 형성방법에 있어서, 웨이퍼상에 다수의 제1금속배선을 형성하고, 상기 다수의 제1금속배선을 포함한 상기 웨이퍼상에 제1산화막을 얇게 형성하는 단계와, 상기 제1산화막상에 제1 SOG막을 두껍게 도포하고,형성될 비아홀의 크기보다 큰 비아홀 콘택이 형성될 마스크를 사용한 포토리소그라피 공정과 상기 제1 SOG막 식각공정으로 홈을 형성하는 단계와, 상기 홈이 형성된 상기 제1 SOG막상에 제2산화막을 얇게 형성하는 단계와, 상기 제2산화막에제2 SOG막을 도포하여 상기 홈 부분이 완전히 매립되게 하는 단계와, 실제 크기의 비아홀 콘택이 형성된 마스크를 사용한포토리소그라피 공정과 상기 제2 SOG막, 제2산화막, 제1 SOG막 및 제1산화막을 식각공정으로 순차적으로 식각한 후, 상기제2 SOG막을 완전히 제거하여 비아홀을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비아홀 형성방법.
  2. 반도체 소자의 비아홀 형성방법에 있어서, 웨이퍼상에 다수의 제1금속배선을 형성하고, 상기 다수의 제1금속배선을 포함한 상기 웨이퍼상에 제1산화막을 얇게 형성하는 단계와, 상기 제1산화막상에 SOG막을 두껍게 도포하고, 형성될 비아홀의 크기보다 큰 비아홀 콘택이 형성된 마스크를 사용한 포토리소그라피 공정과 상기 SOG막 식각공정으로 홈을형성하는 단계와, 상기 홈이 형성된 상기 SOG막상에 제2산화막을 두께 형성하여 상기 홈 부분이 완전히 매립되게 하는 단계와, 실제 크기의 비아홀 콘택이 형성된 마스크를 사용한 포토리소그라피 공정과 상기 제2산화막, SOG막 및 제1산화막을식각공정으로 순차적으로 식각하여 비아홀을 형성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 비아홀 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950017288A 1995-06-24 1995-06-24 반도체 소자의 비아홀 형성방법 KR100208442B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950017288A KR100208442B1 (ko) 1995-06-24 1995-06-24 반도체 소자의 비아홀 형성방법
US08/668,845 US5702568A (en) 1995-06-24 1996-06-24 Method of forming a via hole of a semiconductor device with spin-on-glass film sealed by an oxide film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950017288A KR100208442B1 (ko) 1995-06-24 1995-06-24 반도체 소자의 비아홀 형성방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970003483A true KR970003483A (ko) 1997-01-28
KR100208442B1 KR100208442B1 (ko) 1999-07-15

Family

ID=19418169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950017288A KR100208442B1 (ko) 1995-06-24 1995-06-24 반도체 소자의 비아홀 형성방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5702568A (ko)
KR (1) KR100208442B1 (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825132B1 (en) 1996-02-29 2004-11-30 Sanyo Electric Co., Ltd. Manufacturing method of semiconductor device including an insulation film on a conductive layer
US6599847B1 (en) * 1996-08-27 2003-07-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Sandwich composite dielectric layer yielding improved integrated circuit device reliability
KR100383498B1 (ko) 1996-08-30 2003-08-19 산요 덴키 가부시키가이샤 반도체 장치 제조방법
US6288438B1 (en) 1996-09-06 2001-09-11 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device including insulation film and fabrication method thereof
JP3015767B2 (ja) * 1996-12-25 2000-03-06 三洋電機株式会社 半導体装置の製造方法及び半導体装置
US5985766A (en) 1997-02-27 1999-11-16 Micron Technology, Inc. Semiconductor processing methods of forming a contact opening
JP2975934B2 (ja) 1997-09-26 1999-11-10 三洋電機株式会社 半導体装置の製造方法及び半導体装置
US6690084B1 (en) 1997-09-26 2004-02-10 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device including insulation film and fabrication method thereof
TW374946B (en) * 1997-12-03 1999-11-21 United Microelectronics Corp Definition of structure of dielectric layer patterns and the manufacturing method
US6015751A (en) * 1998-04-06 2000-01-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Self-aligned connection to underlayer metal lines through unlanded via holes
US6794283B2 (en) 1998-05-29 2004-09-21 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
US6358831B1 (en) * 1999-03-03 2002-03-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Method for forming a top interconnection level and bonding pads on an integrated circuit chip
US6133131A (en) * 1999-04-19 2000-10-17 United Microelectronics Corp. Method of forming a gate spacer on a semiconductor wafer
US6534396B1 (en) * 2000-10-10 2003-03-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Patterned conductor layer pasivation method with dimensionally stabilized planarization
KR100389034B1 (ko) * 2000-11-30 2003-06-25 삼성전자주식회사 반도체 장치의 상하층 접속 형성 방법 및 그 방법에 의해형성된 반도체 장치
US6917110B2 (en) * 2001-12-07 2005-07-12 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device comprising an interconnect structure with a modified low dielectric insulation layer
TWI240988B (en) * 2004-01-07 2005-10-01 Powerchip Semiconductor Corp Method for fabricating a through hole on a semiconductor substrate
CN1303667C (zh) * 2004-03-25 2007-03-07 力晶半导体股份有限公司 制作通孔的方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2017720C (en) * 1990-05-29 1999-01-19 Luc Ouellet Sog with moisture-resistant protective capping layer
US5384483A (en) * 1992-02-28 1995-01-24 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Planarizing glass layer spaced from via holes
JP2751820B2 (ja) * 1994-02-28 1998-05-18 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
US5422312A (en) * 1994-06-06 1995-06-06 United Microelectronics Corp. Method for forming metal via

Also Published As

Publication number Publication date
KR100208442B1 (ko) 1999-07-15
US5702568A (en) 1997-12-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970003483A (ko) 반도체 소자의 비아홀 형성방법
KR960019522A (ko) 반도체 소자의 플러그 형성방법
KR970067640A (ko) 반도체 소자의 금속층 형성 방법
KR960002486A (ko) 반도체 소자의 다중 금속층 형성방법
KR970008404A (ko) 반도체 소자의 금속층간절연막 형성방법
KR20000043099A (ko) 반도체 소자의 도전층 배선 형성 방법
KR0144229B1 (ko) 반도체 소자의 미세 콘택 형성 방법
KR970053509A (ko) 반도체 소자의 다중 금속층 형성 방법
KR19980058461A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR970052327A (ko) 반도체 소자의 금속라인 형성 방법
KR960026232A (ko) 텅스텐 플러그 형성방법
KR970018098A (ko) 비감광성 폴리이미드 수지 절연막의 콘택홀 형성방법
KR980005475A (ko) 반도체 소자의 비아콘택홀 형성방법
KR940016694A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR970053465A (ko) 반도체 소자의 소자분리 방법
KR940016439A (ko) 반도체소자의 콘택형성방법
KR950025913A (ko) 반도체소자의 미세패턴 형성방법
KR950021096A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR960005791A (ko) 반도체소자의 콘택홀 형성방법
KR970003522A (ko) 금속배선 형성방법
KR970003851A (ko) 반도체 소자의 금속배선 형성방법
KR970077521A (ko) 반도체소자의 금속배선구조 및 이의 형성방법
KR950021076A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR970053571A (ko) 반도체 장치 및 그의 제조 방법
KR970003839A (ko) 반도체장치의 다층 배선구조 및 그 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130426

Year of fee payment: 15

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140324

Year of fee payment: 16

EXPY Expiration of term