KR970054497A - 박막 트랜지스터 제조방법 - Google Patents

박막 트랜지스터 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970054497A
KR970054497A KR1019950050917A KR19950050917A KR970054497A KR 970054497 A KR970054497 A KR 970054497A KR 1019950050917 A KR1019950050917 A KR 1019950050917A KR 19950050917 A KR19950050917 A KR 19950050917A KR 970054497 A KR970054497 A KR 970054497A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
forming
film
polysilicon film
predetermined size
pattern
Prior art date
Application number
KR1019950050917A
Other languages
English (en)
Inventor
강지성
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950050917A priority Critical patent/KR970054497A/ko
Publication of KR970054497A publication Critical patent/KR970054497A/ko

Links

Landscapes

  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

본 발명은 질화막(1)을 일정크기로 형성하는 단계; 상기 질화막 패턴(1)의 측벽에 소정크기를 갖는 폴리실리콘막 스페이서(2)를 형성하는 단계; 상기 질화막 패턴(1) 및 폴리실리콘막 스페이스(2) 상에 소정의 크기를 갖는 채널 폴리실리콘막(3)을 형성하는 단계; 상기 질화막 패턴(1) 및 폴리실리콘막 스페이서(2)상에 소정의 크기를 갖는 채널 폴리실리콘막(3)을 형성하는 단계; 상기 질화막 패턴(3)을 형성하는 단계; 상기 질화막 패턴(1)을 습식식각하여 제거하는 단계; 상기 폴리실리콘막 스페이서(2) 및 채널 폴리실리콘막(3) 상에 게이트 산화막(4)을 도포하는 단계; 상기 게이트 산화막(4) 상에 게이트 전극을 형성하는 단계; 및 상기 채널 폴리실리콘막(3)에 이온을 주입하여 소오스/드레인(7)을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조방법에 관한 것으로, 오프셋(off-set)영역의 폴리실리콘막이 두껍게 형성되어 저농도 이온 주입되는 채널 형성공정을 제거할 수 있다.

Description

박막 트랜지스터의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명에 따른 박막 트랜지스터의 제조 공정 단면도.

Claims (3)

  1. 박막 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 소정의 크기를 전도막 패턴을 형성하는 단계; 및 상기 전도막 패턴이 상기 박막 트랜지스터의 채널 오프셋 영역에 위치하여 상기 오프셋(off-set) 영역이 소오스/드레인 영역보다 두껍게 형성되도록 채널 형성용 전도막을 도포하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전도막 패턴은, 절연막 패턴을 일정크기로 형성하는 단계; 상기 절연막 패턴의 측벽에 소정크기를 폴리실리콘막 스페이서를 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조방법.
  3. 박막 트랜지스터 제조방법에 있어서, 절연막 패턴을 일정크기로 형성하는 단계, 상기 절연막 패턴의 측벽에 소정크기를 갖는 폴리실리콘막 스페이서를 형성하는 단계; 상기 절연막 패턴 및 폴리실리콘막 스페이서상에 소정의 크기를 갖는 채널 폴리실리콘막을 형성하는 단계; 상기 절연막 패턴을 습식식각하여 제거하는 단계; 상기 폴리실리콘막 스페이서 및 채널 폴리실리콘막 상에 게이트 산화막을 도포하는 단계; 상기 게이트산화막 상에 게이트 전극을 형성하는 단계; 및 상기 채널 폴리실리콘막에 이온을 주입하여 소오스/드레인 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950050917A 1995-12-16 1995-12-16 박막 트랜지스터 제조방법 KR970054497A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050917A KR970054497A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 박막 트랜지스터 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050917A KR970054497A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 박막 트랜지스터 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970054497A true KR970054497A (ko) 1997-07-31

Family

ID=66595108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950050917A KR970054497A (ko) 1995-12-16 1995-12-16 박막 트랜지스터 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970054497A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940027104A (ko) 트랜지스터 제조방법
KR960012564A (ko) 박막 트랜지스터 및 그 형성방법
KR960024604A (ko) 이중 채널 박막트랜지스터 및 그 제조방법
KR960005896A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR970013411A (ko) 일방향, 경사형 채널 반도체 디바이스 형성 방법
KR950021786A (ko) 모스펫(mosfet) 및 그 제조방법
KR970054497A (ko) 박막 트랜지스터 제조방법
KR970054438A (ko) 경사진 게이트 산화막을 갖는 전력용 모스 소자 및 그 제조 방법
KR970023894A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR960026973A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR960036143A (ko) 박막트랜지스터의 구조 및 제조방법
KR970030917A (ko) 박막트랜지스터 제조 방법
KR960043290A (ko) 이중 게이트 전극 구조의 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
KR950009978A (ko) 모스트랜지스터의 제조방법
KR940016888A (ko) 트랜지스터 형성 방법
KR910019204A (ko) 슬롭형 게이트를 이용한 ldd제조방법
KR930003434A (ko) Ldd 구조의 모스 트랜지스터 제조방법
KR960005895A (ko) 모스트랜지스터 제조방법
KR910017635A (ko) 메모리 셀 커패시터 제조방법
KR960035916A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970054513A (ko) 박막트랜지스터 제조 방법
KR920020753A (ko) 모스 소자의 구조 및 제조방법
KR940010387A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970054258A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR980005881A (ko) 반도체 소자의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination