KR970053429A - 반도체장치의 소자분리 방법 - Google Patents

반도체장치의 소자분리 방법 Download PDF

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KR970053429A
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홍수진
강호규
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김광호
삼성전자 주식회사
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  • Local Oxidation Of Silicon (AREA)
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Abstract

본 발명은 반도체장치의 소자분리 방법에 관한 것으로, 반도체기판 상에 패드산화막을 형성하는 단계; 상기 패드산화막의 소정영역 상에 제1질화막 패턴 및 산화막 패턴이 차례로 적층된 활성영역 패턴을 형성하는 단계; 상기 활성영역 패턴 측벽에 제2질화막으로 이루어진 스페이서를 형성하는 단계; 상기 산화막 패턴을 제거하는 단계; 및 상기 산화막 패턴이 제거된 반도체기판을 열산화시키어 상기 제1질화막 패턴 및 상기 스페이서가 형성되지 않은 반도체기판 표면에 필드산화막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 소자분리 방법을 제공한다. 본 발명에 의하면, 버즈비크 아래에 가해지는 스트레스 및 버즈비크의 길이를 크게 감소시킬 수 있다.

Description

반도체장치의 소자분리 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 소자분리 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.

Claims (1)

  1. 반도체기판 상에 패드산화막을 형성하는 단계; 상기 패드산화막의 소정영역 상에 제1질화막 패턴 및 산화막 패턴이 차례로 적층된 활성영역 패턴을 형성하는 단계; 상기 활성영역 패턴 측벽에 제2질화막으로 이루어진 스페이서를 형성하는 단계; 상기 산화막 패턴을 제거하는 단계; 및 상기 산화막 패턴이 제거된 반도체기판을 열산화시키어 상기 제1질화막 패턴 및 상기 스페이서가 형성되지 않은 반도체기판 표면에 필드산화막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 소자분리 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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