KR960043107A - 필드전극 패드를 갖는 반도체장치 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
필드 전극 패드를 갖는 반도체장치 및 그 제조방법이 개시되어 있다. 본 발명은 선택적 폴리실리콘 산화법(selective polysilicon oxidation)에 의한 소자분리 영역 형성시 제1 버즈 비크와 제2 버즈 비크 사이에 잔존하는 도우핑된 폴리실리콘 영역을 필드 전극으로 이용할 수 있도록 필드 전극과 연결된 필드 전극 패드를 형성하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 필드 전극에 적절한 전압을 인가함으로써, 소자분리 특성 또는 활성영역의 접합특성을 향상시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 소자분리 영역의 일 부분을 나타내는 평면도이다.
Claims (4)
- 반도체기판 표면에 접하는 제1 버즈 비크와 그 상부에 제2 버즈 비크를 가지면서 소자분리 영역으로 형성된 적어도 하나 이상의 필드 산화층 ; 상기 제1 버즈 비크와 접하면서 상기 반도체 기판 상부에 형성된 패드 산화층 패턴; 상기 제1 버즈 비크와 상기 제2 버즈 비크 사이에 형성된 필드 전극 ; 및 상기 필드 전극의 일부분과 연결되어 상기 패드 산화층 패턴 상부에 형성된 필드 전극 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제1항에 있어서, 상기 필드 전극 및 상기 필드 전극 패드는 도우핑된 폴리실리콘으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 반도체기판 상부에 패드 산화층, 도우핑된 폴리실리콘층, 및 질화실리콘층을 차례로 형성하는 단계 ; 상기질화실리콘층을 패터닝하여 소자분리 영역이 형성될 부분의 도우핑된 폴리실리콘층이 노출되도록 질화실리콘 패턴을 형성하는 단계 ; 상기 질화실리콘 패턴이 형성된 반도체기판을 열산화시키어 상기 반도체기판과 접하는 제1 버즈 비크와 그상부에 제2 버즈 비크를 갖는 필드 산화층을 형성함으로써, 변형된 질화실리콘 패턴, 도우핑된 폴리실리콘 패턴, 및 패드산화층 패턴을 형성하는 단계 ; 상기 변형된 질화실리콘 패턴을 제거하는 단계 ; 및 필드 전극용 마스크를 사용하여 상기도우핑된 폴리실리콘 패턴을 식각함으로써, 상기 제1 버즈 비크와 상기 제2 버즈 비크 사이에 상기 도우핑된 폴리실리콘패턴으로 이루어진 필드 전극을 형성함과 동시에, 상기 필드 전극의 일부와 접하면서 상기 패드 산화층 패턴 상부에 상기도우핑된 폴리실리콘 패턴으로 이루어진 필드 전극 패드를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 필드 전극 패드를 형성하는 단계 이후에, 상기 필드 전극 패드에 전기적인 신호를 인가하는 수단을 형성하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950013956A KR0151052B1 (ko) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 필드 전극 패드를 갖는 반도체장치 및 그 제조방법 |
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KR960043107A true KR960043107A (ko) | 1996-12-23 |
KR0151052B1 KR0151052B1 (ko) | 1998-12-01 |
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KR1019950013956A KR0151052B1 (ko) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 필드 전극 패드를 갖는 반도체장치 및 그 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR0151052B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
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KR19990004609A (ko) * | 1997-06-28 | 1999-01-15 | 김영환 | 반도체소자의 소자분리막 형성방법 |
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1995
- 1995-05-30 KR KR1019950013956A patent/KR0151052B1/ko not_active IP Right Cessation
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KR0151052B1 (ko) | 1998-12-01 |
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