KR970052784A - 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법 - Google Patents

반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법 Download PDF

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KR970052784A
KR970052784A KR1019950047314A KR19950047314A KR970052784A KR 970052784 A KR970052784 A KR 970052784A KR 1019950047314 A KR1019950047314 A KR 1019950047314A KR 19950047314 A KR19950047314 A KR 19950047314A KR 970052784 A KR970052784 A KR 970052784A
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film planarization
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Inventor
이강민
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

본 발명은 실리콘기판에 형성된 필드산화막을 평탄화할 수 있는 방법을 제공하는 것으로, 상기 필드산화막이 형성된 상기 실리콘기판상에 감광막을 이용하여 상기 필드산화막을 평탄화시키므로써 단차를 완화할 수 있는 효과가 있다.

Description

반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 2D도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.

Claims (3)

  1. 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법에 있어서, 필드산화막이 형성된 실리콘기판의 전체 상부면에 감광막을 형성하는 단계와, 상기 단계로부터 노광공정에 의해 상기 필드산화막이 노출되도록 상기 감광막을 식각하는 단계와, 상기 단계로부터 플라즈마 식각을 실시하여 노출된 상기 필드산화막을 평탄화시킨 후 상기 감광막을 제거하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 감광막의 두께는 0.3내지 0.7㎛가 되도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 노광공정의 노광시간은 40내지 60ms동안 실시하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950047314A 1995-12-07 1995-12-07 반도체 소자의 필드산화막 평탄화 방법 KR970052784A (ko)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5414165A (en) * 1977-07-05 1979-02-02 Oki Electric Ind Co Ltd Selective oxidation method for semiconductor substrate
JPS56108264A (en) * 1980-01-31 1981-08-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Manufacture of semiconductor device
JPH0442558A (ja) * 1990-06-08 1992-02-13 Seiko Epson Corp 半導体装置
KR950025913A (ko) * 1994-02-03 1995-09-18 김주용 반도체소자의 미세패턴 형성방법

Patent Citations (4)

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