KR970017107A - 액정표시장치의 어레이 기판, 이 어레이 기판을 구비한 액정표시장치 및 액정표시장치의 어레이 기판의 제조방법 - Google Patents
액정표시장치의 어레이 기판, 이 어레이 기판을 구비한 액정표시장치 및 액정표시장치의 어레이 기판의 제조방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 일반적으로 액정표시장치의 어레이 기판에 관한 것으로, 특히 복수의 화소전극이 이들 화소전극을 구동하는 구동회로와 함께 집적되는 어레이 기판에 관한 것으로서, 액정표시장치의 어레이 기판은 복수의 화소 전극(1), 복수의 주사선(3), 복수의 신호선(4), 각각 대응주사선(3)으로부터의 주사신호에 응답하여 대응신호선(4)으로부터의 영상신호를 대응화소전극(1)에 공급하는 복수의 스위칭 소자(5) 및 주사선(3)의 전위를 감지하는 검사보조회로(30)를 구비하고, 특히 회로(30)는 게이트가 주사선(3)에 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터(35)와, 이 트랜지스터(35)의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부(34)로 구성되며, 배선부(34)는 이 트랜지스터(35)의 소스 ·드레인 경로가 상호간 병렬적으로 접속되는 모니터 패드(32) 및 접지패드(GND)와, 검사전압이 인가되는 검사전위 패드(31)와, 패드(31,32)에 접지되어 트랜지스터(35)의 전기저항과 함께 검사전압을 분압하는 저항소자(33)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
≪선택도 : 제3도≫
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 관한 액정표시장치의 평면구조를 개략적으로 나타내는 도면,
제2도는 제1도의 액정표시장치의 단면구조를 개략적으로 나타내는 도면,
제3도는 제1도의 어레이 기판상에 형성되는 회로를 상세하게 나타내는 도면.
Claims (18)
- 절연성 기판; 상기 절연성 기판상에 매트릭스형상으로 배열되는 복수의 화소전극; 상기 절연성 기판상의 상기 복수의 화소전극의 행을 따라 형성되는 1세트의 제1화소배선; 상기 절연성 기판상의 상기 복수의 화소전극의 열을 따라 형성되는 제1세트의 제2화소배선; 상기 제1 및 제2화소배선의 교차점에 인접하여 각각 절연성 기판상에 형성되고, 각각 대응 제1화소배선으로부터의 주사신호에 응답하여 대응 제2화소배선으로부터의 영상신호를 대응화소전극에 공급하는 복수의 스위칭 소자, 및 적어도 1세트의 제1 및 제2화소배선의 전위를 감지하는 검사보조회로를 구비하며, 상기 검사보조회로는 게이트가 1세트의 화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와, 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제1검사부를 가지며, 상기 검사배선부는 상기 복수의 검사용 박막 트랜스터의 소스 ·드레인 경로가 상호간 병렬적으로 접속되는 제1 및 제2검사 패드, 검사전압이 상기 제1검사 패드를 기준으로 하여 인가되는 제3검사패드 및 상기 제2 및 제3검사패드간에 접속되며 상기 복수의 검사용 박막 트랜지스터의 전기저항과 함께 검사전 압을 분압하는 저항소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제1항에 있어서, 상기 제2검사패드는 상기 복수의 검사용 박막 트랜지스터를 따라 형성되는 공통의 검사배선을 통하여 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제1항에 있어서, 상기 어레이 기판은 주사신호를 상기 제1화소배선에 공급하는 제1드라이버와, 영상신호를 상기 제2화소배선에 공급하는 제2드라이버를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제3항에 있어서, 상기 제1검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 1세트의 제1화소배선에 각각 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제4항에 있어서 상기 제1검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 1세트의 제1화소배선에 복수의 버퍼회로를 통하여 각각 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제4항에 있어서, 상기 제1드라이버는 상기 1세트의 제1화소배선에 출력단이 각각 접속되는 복수의 버퍼회로를 포함하고, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 복수의 버퍼회로의 입력단에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와, 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제2검사부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제6항에 있어서, 상기 제1검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소배선의 단부에 각각 접속되며 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소배선의 타단부에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와, 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제3검사부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판.
- 제4항에 있어서, 상기 제1검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소배선의 단부에 각각 접속되고, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소배선의 타단부에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와, 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 그성되는 제2검사부를 더 갖는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이
- 내용없음.
- 내용없음.
- 내용없음.
- 내용없음.
- 내용없음.
- 내용없음.
- 는 검사보조회로를 포함하는 어레이 기판, 상기 절연성 기판상에 형성되는 대향전극을 포함하는 대향기판; 및 상기 어레이 기판 및 대향기판간에 유지되는 액정층을 구비하며, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 1세트의 제1화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 상기 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제1검사부 및 게이트가 상기 1세트의 제2화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제2검사부를 구비하며, 상기 제1 및 제2검사부의 각각의 검사배선부는 상기 복수의 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로가 상호간 병렬적으로 접속되는 제1 및 제2검사패드, 검사 전압이 상기 제1검사패드를 기준으로 하여 인가되는 제3검사패드 및 상기 제2및 제3검사패드간에 접속되며 상기 복수의 검사용 박막 트랜지스터의 전기저항과 함께 검사 전압을 분압하는 저항소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 절연성 기판; 상기 절연성 기판상에 매트릭스형상으로 배열되는 복수의 화소전극; 상기 절연성 기판상의 상기 복수의 화소전극의 행을 따라 형성되는 1세트의 제1화소배선; 상기 절연성 기판상의 상기 복수의 화소전극의 열을 따라 형성되는 1세트의 제2화소배선; 상기 제1 및 제2화소배선의 교차점에 인접하여 각각 절연성 기판상에 형성되고, 각각 대응 제1화소배선으로부터의 주사신호에 응답하여 대응 제2화소전극으로부터의 영상신호를 대응화소전극에 공급하는 복수의 스위칭 소자; 상기 1세트의 제2화소배선에 영상신호를 공급하는 제2드라이버; 상기 1세트의 제1화소배선에 주사신호를 공급하는 제1드라이버; 제1 및 제2화소배선의 전위를 감지하는 검사보조회로를 포함하는 어레이 기판; 상기 절연성 기판상에 형성되는 대향전극을 포함하는 대향기판; 및 상기 어레이 기판 및 대향기판간에 유지되는 액정층을 구비하며, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 1세트의 제1화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 상기 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제1검사부 및, 게이트가 상기 1세트의 제2화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제2검사부를 구비하며, 상기 제1드라이버가 상기 1세트의 제1화소배선에 출력단이 각각 접속되는 복수의 버퍼회로를 포함하고, 상기 제2드라이버가 상기 1세트의 제2화소배선에 출력단이 각각 접속되는 복수의 버퍼회로를 포함하며, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 제1드라이버의 복수의 버퍼회로의 입력단에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제3검사부 및 게이트가 상기 제2드라이버의 복수의 버퍼회로의 입력단에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터와 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제4검사부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 제16항에 있어서, 상기 제1검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소배선의 단부에 각각 접속되며, 상기 제2검사부의 검사용 박막 트랜지스터의 게이트는 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 재2화소배선의 단부에 각각 접속되고, 상기 검사보조회로는 게이트가 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제1화소전극의 타단부에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터, 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제5검사부, 게이트가 상기 화소전극의 매트릭스 어레이의 외측 영역에 상기 1세트의 제2화소배선의 타단부에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 제6검사부를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
- 복수의 화소전극을 절연성 기판상에 있어서 매트릭스형상으로 배열하여 형성하는 단계; 1세트의 제1화소배선을 이 절연성 기판상에 있어서 복수의 화소전극의 행을 따라 형성하는 단계; 1세트의 제2화소배선을 이 절연성 기판상에 있어서 복수의 화소전극의 열을 따라 형성하는 단계; 각각 대응 제1화소배선으로부터의 주사신호에 응답하여 대응 제2화소배선으로부터의 영상신호를 대응화소전극에 공급하는 복수의 스위칭 소자를 이 제1 및 제2화소배선의 교차점에 인접하여 각각 절연성 기판상에 형성하는 단계; 및 게이트가 1세트의 화소배선에 각각 접속되는 복수의 검사용 박막 트랜지스터 및 게이트 전위에 따른 동작상태를 검출하기 위해서 이 검사용 박막 트랜지스터의 소스 ·드레인 경로에 접속되는 검사배선부로 구성되는 검사부를 포함하고, 적어도 1세트의 제1 및 제2화소배선의 전위를 감지하는 검사보조회로를 형성하는 단계를 구비하며, 상기 복수의 스위칭 소자는 상기 복수의 검사용 박막 트랜지스터와 공통 처리로 형성되는 박막 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 어레이 기판의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (70)
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TW374852B (en) * | 1996-06-10 | 1999-11-21 | Toshiba Corp | Display device |
JPH09329806A (ja) * | 1996-06-11 | 1997-12-22 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
JP2937130B2 (ja) * | 1996-08-30 | 1999-08-23 | 日本電気株式会社 | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
KR100239749B1 (ko) * | 1997-04-11 | 2000-01-15 | 윤종용 | 그로스 테스트용 tft 소자 제조 방법 및 이를 형성한 액정 표시 장치 구조와 그로스 테스트 장치 및 방법 |
US5958026A (en) * | 1997-04-11 | 1999-09-28 | Xilinx, Inc. | Input/output buffer supporting multiple I/O standards |
US5877632A (en) | 1997-04-11 | 1999-03-02 | Xilinx, Inc. | FPGA with a plurality of I/O voltage levels |
FR2764424B1 (fr) * | 1997-06-05 | 1999-07-09 | Thomson Lcd | Procede de compensation d'un circuit capacitif perturbe et application aux ecrans de visualisation matriciels |
JP2001504953A (ja) * | 1997-08-26 | 2001-04-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 表示装置 |
US6265889B1 (en) | 1997-09-30 | 2001-07-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor test circuit and a method for testing a semiconductor liquid crystal display circuit |
CA2307031C (en) * | 1997-10-09 | 2007-03-27 | Joseph L. Vilella | Electronic assembly video inspection system |
US6191770B1 (en) * | 1997-12-11 | 2001-02-20 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Apparatus and method for testing driving circuit in liquid crystal display |
TW491959B (en) * | 1998-05-07 | 2002-06-21 | Fron Tec Kk | Active matrix type liquid crystal display devices, and substrate for the same |
JP4057716B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2008-03-05 | 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 | 保護回路を具えた絶縁ゲート型トランジスタ回路装置 |
US6115305A (en) * | 1999-06-15 | 2000-09-05 | Atmel Corporation | Method and apparatus for testing a video display chip |
JP5408829B2 (ja) | 1999-12-28 | 2014-02-05 | ゲットナー・ファンデーション・エルエルシー | アクティブマトリックス基板の製造方法 |
JP2001265248A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法 |
JP4659180B2 (ja) * | 2000-07-12 | 2011-03-30 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
US7385579B2 (en) * | 2000-09-29 | 2008-06-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device and method of driving the same |
KR100494685B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2005-06-13 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법 |
JP4562938B2 (ja) * | 2001-03-30 | 2010-10-13 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
SG109457A1 (en) * | 2001-07-17 | 2005-03-30 | Toshiba Kk | Array substrate, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display |
DE10227332A1 (de) * | 2002-06-19 | 2004-01-15 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Ansteuervorrichtung mit verbesserten Testeneigenschaften |
JP4610843B2 (ja) | 2002-06-20 | 2011-01-12 | カシオ計算機株式会社 | 表示装置及び表示装置の駆動方法 |
KR100895311B1 (ko) * | 2002-11-19 | 2009-05-07 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 |
US7265572B2 (en) * | 2002-12-06 | 2007-09-04 | Semicondcutor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image display device and method of testing the same |
US6862489B2 (en) * | 2003-01-31 | 2005-03-01 | Yieldboost Tech, Inc. | System and method of monitoring, predicting and optimizing production yields in a liquid crystal display (LCD) manufacturing process |
WO2004109374A1 (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-16 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | アレイ基板の検査方法およびアレイ基板の検査装置 |
GB2403581A (en) * | 2003-07-01 | 2005-01-05 | Sharp Kk | A substrate and a display device incorporating the same |
GB0320212D0 (en) * | 2003-08-29 | 2003-10-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Light emitting display devices |
US20060038554A1 (en) * | 2004-02-12 | 2006-02-23 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system stage |
US6833717B1 (en) * | 2004-02-12 | 2004-12-21 | Applied Materials, Inc. | Electron beam test system with integrated substrate transfer module |
US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
US7319335B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
JP4665419B2 (ja) | 2004-03-30 | 2011-04-06 | カシオ計算機株式会社 | 画素回路基板の検査方法及び検査装置 |
JP4281622B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2009-06-17 | ソニー株式会社 | 表示装置及び検査方法 |
US7868856B2 (en) * | 2004-08-20 | 2011-01-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data signal driver for light emitting display |
JP4790292B2 (ja) * | 2004-10-25 | 2011-10-12 | 三星電子株式会社 | アレイ基板及びこれを有する表示装置 |
KR101073041B1 (ko) | 2004-10-25 | 2011-10-12 | 삼성전자주식회사 | 어레이 기판 |
CN101065705A (zh) * | 2004-11-24 | 2007-10-31 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 高对比度的液晶显示器件 |
KR101093229B1 (ko) * | 2005-01-06 | 2011-12-13 | 삼성전자주식회사 | 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치 |
US7429970B2 (en) * | 2005-01-11 | 2008-09-30 | Tpo Displays Corp. | Method for testing drive circuit, testing device and display device |
US7429984B2 (en) * | 2005-02-04 | 2008-09-30 | Philip Morris Usa Inc. | Display management system |
TWI333094B (en) * | 2005-02-25 | 2010-11-11 | Au Optronics Corp | System and method for display testing |
US7535238B2 (en) * | 2005-04-29 | 2009-05-19 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
US20060273815A1 (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-07 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with integrated prober drive |
TWI281569B (en) * | 2005-06-13 | 2007-05-21 | Au Optronics Corp | Display panels |
KR20070040505A (ko) * | 2005-10-12 | 2007-04-17 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 및 이의 검사 방법 |
TW200732808A (en) | 2006-02-24 | 2007-09-01 | Prime View Int Co Ltd | Thin film transistor array substrate and electronic ink display device |
KR20070093540A (ko) * | 2006-03-14 | 2007-09-19 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 |
US7569818B2 (en) * | 2006-03-14 | 2009-08-04 | Applied Materials, Inc. | Method to reduce cross talk in a multi column e-beam test system |
KR20090006198A (ko) * | 2006-04-19 | 2009-01-14 | 이그니스 이노베이션 인크. | 능동형 디스플레이를 위한 안정적 구동 방식 |
US7786742B2 (en) * | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
US7602199B2 (en) * | 2006-05-31 | 2009-10-13 | Applied Materials, Inc. | Mini-prober for TFT-LCD testing |
US20080079684A1 (en) * | 2006-10-03 | 2008-04-03 | Tpo Displays Corp. | Display device comprising an integrated gate driver |
US20080251019A1 (en) * | 2007-04-12 | 2008-10-16 | Sriram Krishnaswami | System and method for transferring a substrate into and out of a reduced volume chamber accommodating multiple substrates |
KR101502366B1 (ko) | 2007-06-12 | 2015-03-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 |
CN101546774B (zh) * | 2008-03-28 | 2012-05-09 | 中华映管股份有限公司 | 有源元件阵列基板 |
US8786582B2 (en) * | 2009-10-27 | 2014-07-22 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display panel and display apparatus |
KR101113476B1 (ko) * | 2010-03-10 | 2012-03-02 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 액정표시장치 |
US9030221B2 (en) * | 2011-09-20 | 2015-05-12 | United Microelectronics Corporation | Circuit structure of test-key and test method thereof |
KR101262984B1 (ko) | 2012-03-05 | 2013-05-09 | 엘지디스플레이 주식회사 | 프린지 필드 스위칭 모드 액정표시장치용 어레이 기판 |
US20130328749A1 (en) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | Apple Inc | Voltage threshold determination for a pixel transistor |
CN102982775B (zh) * | 2012-10-31 | 2014-12-17 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 驱动电压提供装置、方法及显示装置 |
CN104090436B (zh) * | 2014-06-26 | 2017-03-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板的栅极行驱动电路及显示装置 |
KR102312291B1 (ko) * | 2015-02-24 | 2021-10-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 그의 검사방법 |
US10331826B2 (en) | 2017-04-20 | 2019-06-25 | Texas Instruments Incorporated | False path timing exception handler circuit |
JP6753482B2 (ja) * | 2019-02-26 | 2020-09-09 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置および電子機器 |
US11341878B2 (en) * | 2019-03-21 | 2022-05-24 | Samsung Display Co., Ltd. | Display panel and method of testing display panel |
CN111128063B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-03-23 | 云谷(固安)科技有限公司 | 显示面板的测试电路、方法及显示面板 |
CN112289243A (zh) * | 2020-11-30 | 2021-01-29 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 显示面板及其制备方法、显示装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0827463B2 (ja) * | 1986-11-05 | 1996-03-21 | セイコーエプソン株式会社 | アクテイブマトリクスパネル |
JPH067239B2 (ja) * | 1987-08-14 | 1994-01-26 | セイコー電子工業株式会社 | 電気光学装置 |
-
1996
- 1996-09-21 TW TW085111579A patent/TW331599B/zh active
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-
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US5774100A (en) | 1998-06-30 |
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