JP4665419B2 - 画素回路基板の検査方法及び検査装置 - Google Patents
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Description
信号線と、
供給線と、
エレクトロルミネッセンス素子に接続されていない駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を前記信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流す第一スイッチング素子と、
前記駆動トランジスタのゲートに所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にする第二スイッチング素子と、
を有する画素回路基板の検査方法であって、
前記画素回路基板は前記エレクトロルミネッセンス素子を備えておらず、
前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか他方は前記供給線に接続され、
前記エレクトロルミネッセンス素子が設けられていない状態で、前記第一スイッチング素子が前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流すことが可能となるように前記第一スイッチング素子をオンするとともに、システムコントローラが前記駆動トランジスタのゲートに前記供給線からの検査用の所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にするように前記第二スイッチング素子をオンし、前記第一スイッチング素子及び前記第二スイッチング素子がオンしている状態で、前記駆動トランジスタのソース−ドレイン間を前記信号線と前記供給線との電位差に基づいた電位差とし、システムコントローラが、前記エレクトロルミネッセンス素子を介することなく、前記駆動トランジスタのソース−ドレインを流れる電流を前記信号線に取り込んで検査する、
ことを特徴とする。
ことを特徴とする。
複数の信号線と、複数の走査線と、複数の供給線と、前記複数の信号線及び前記複数の走査線に沿って二次元アレイ状に配列された複数のトランジスタ群を有し、エレクトロルミネッセンス素子を有さない画素と、を備えた画素回路基板画素回路基板の検査装置であって、
前記各トランジスタ群の複数のトランジスタのうち、第一スイッチング素子のドレインとソースのうちの一方が前記信号線に接続され、前記第一スイッチング素子のゲートが前記走査線に接続され、第二スイッチング素子のゲートが前記走査線に接続され、前記第二スイッチング素子のドレインとソースのうちの一方が前記供給線に接続され、駆動トランジスタのゲートが前記第二スイッチング素子のドレインとソースのうちの他方に接続され、前記駆動トランジスタのドレインとソースのうちの他方が前記供給線に接続され、前記駆動トランジスタのドレインとソースのうちの一方が前記第一スイッチング素子のドレインとソースのうちの他方に接続されており、
前記画素回路基板の前記複数の信号線からの電流を計測する電流計と、
前記画素回路基板の検査時に、エレクトロルミネッセンス素子が設けられていない状態で前記第一スイッチング素子が前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を前記信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流すことが可能となるように前記第一スイッチング素子をオンするとともに、検査時に、前記駆動トランジスタのゲートに前記供給線からの検査用の所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にするように第二スイッチング素子をオンして、前記駆動トランジスタのソース−ドレイン間を前記信号線と前記供給線との電位差に基づいた電位差とし前記エレクトロルミネッセンス素子を介することなしに前記駆動トランジスタのソース−ドレインを流れる電流を前記信号線から前記電流計に流させる回路と、
を有することを特徴とする。
図1に示すように、トランジスタアレイ基板1は、シート状又は板状の基板2と、互いに平行となるよう基板2上に配列されたn本の信号線Y1〜Ynと、基板2を平面視して信号線Y1〜Ynに対して直交するよう且つ互いに平行となるよう基板2上に配列されたm本の走査線X1〜Xmと、走査線X1〜Xmのそれぞれの間において走査線X1〜Xmと平行となるよう基板2上に配列されたm本の供給線Z1〜Zmと、信号線Y1〜Yn及び走査線X1〜Xmに沿って二次元アレイ状となるよう基板2上に配列された(m×n)群の画素回路となるトランジスタ群D1,1〜Dm,nと、を備える。
1行目の走査線X1の選択期間においては、走査線X1にハイレベルのシフトパルスが出力されているので、1行目のトランジスタ群D1,1〜D1,nの何れでも、第一トランジスタ21及び第二トランジスタ22がオン状態となる。
D1,1〜Dm,n トランジスタ群
X1〜Xm 走査線
Y1〜Yn 信号線
Z1〜Zm 供給線
21 第一トランジスタ(第一スイッチング素子)
22 第二トランジスタ(第二スイッチング素子)
23 第三トランジスタ(駆動トランジスタ)
24 キャパシタ
101 検査装置
103 マルチプレクサ
104 シフトレジスタ
105 可変電圧源
106 電流計
109 判定回路
Claims (6)
- 信号線と、
供給線と、
エレクトロルミネッセンス素子に接続されていない駆動トランジスタと、
前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を前記信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流す第一スイッチング素子と、
前記駆動トランジスタのゲートに所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にする第二スイッチング素子と、
を有する画素回路基板の検査方法であって、
前記画素回路基板は前記エレクトロルミネッセンス素子を備えておらず、
前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか他方は前記供給線に接続され、
前記エレクトロルミネッセンス素子が設けられていない状態で、前記第一スイッチング素子が前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流すことが可能となるように前記第一スイッチング素子をオンするとともに、システムコントローラが前記駆動トランジスタのゲートに前記供給線からの検査用の所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にするように前記第二スイッチング素子をオンし、前記第一スイッチング素子及び前記第二スイッチング素子がオンしている状態で、前記駆動トランジスタのソース−ドレイン間を前記信号線と前記供給線との電位差に基づいた電位差とし、システムコントローラが、前記エレクトロルミネッセンス素子を介することなく、前記駆動トランジスタのソース−ドレインを流れる電流を前記信号線に取り込んで検査する、
ことを特徴とする画素回路基板の検査方法。 - 前記駆動トランジスタのソース−ドレインを流れる電流に応じて、前記駆動トランジスタ、前記第一スイッチング素子、前記第二スイッチング素子が正常であるかどうかを判定する、
ことを特徴とする請求項1記載の画素回路基板の検査方法。 - 前記第一スイッチング素子及び第二スイッチング素子に接続された走査線から前記第一スイッチング素子及び第二スイッチング素子をオンする信号が入力され、
前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか他方に接続された前記供給線に検査用の所定の電圧を印加して、前記供給線、前記駆動トランジスタのソース−ドレイン、前記第一スイッチング素子及び前記信号線を介して流れる電流を取り込む、
ことを特徴とする請求項1記載の画素回路基板の検査方法。 - 前記信号線は複数あり、
前記駆動トランジスタ、前記第一スイッチング素子、及び前記第二スイッチング素子を有するトランジスタ群は複数あり、それぞれ前記信号線に接続され、
前記複数の信号線の電流を順次取り込む、
ことを特徴とする請求項1記載の画素回路基板の検査方法。 - 複数の信号線と、複数の走査線と、複数の供給線と、前記複数の信号線及び前記複数の走査線に沿って二次元アレイ状に配列された複数のトランジスタ群を有し、エレクトロルミネッセンス素子を有さない画素と、を備えた画素回路基板の検査装置であって、
前記各トランジスタ群の複数のトランジスタのうち、第一スイッチング素子のドレインとソースのうちの一方が前記信号線に接続され、前記第一スイッチング素子のゲートが前記走査線に接続され、第二スイッチング素子のゲートが前記走査線に接続され、前記第二スイッチング素子のドレインとソースのうちの一方が前記供給線に接続され、駆動トランジスタのゲートが前記第二スイッチング素子のドレインとソースのうちの他方に接続され、前記駆動トランジスタのドレインとソースのうちの他方が前記供給線に接続され、前記駆動トランジスタのドレインとソースのうちの一方が前記第一スイッチング素子のドレインとソースのうちの他方に接続されており、
前記画素回路基板の前記複数の信号線からの電流を計測する電流計と、
前記画素回路基板の検査時に、前記エレクトロルミネッセンス素子が設けられていない状態で前記第一スイッチング素子が前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方を前記信号線と導通して、前記駆動トランジスタのソース、ドレインのいずれか一方から前記信号線に電流を流すことが可能となるように前記第一スイッチング素子をオンするとともに、検査時に、前記駆動トランジスタのゲートに前記供給線からの検査用の所定の電圧を印加して前記駆動トランジスタのソース−ドレインに電流が流れることができる状態にするように第二スイッチング素子をオンして、前記駆動トランジスタのソース−ドレイン間を前記信号線と前記供給線との電位差に基づいた電位差とし前記エレクトロルミネッセンス素子を介することなしに前記駆動トランジスタのソース−ドレインを流れる電流を前記信号線から前記電流計に流させる回路と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 前記電流計で計測された電流を取り込み、前記駆動トランジスタ、前記第一スイッチング素子、前記第二スイッチング素子が正常であるかどうかを判定する判定回路を有することを特徴とする請求項5記載の検査装置。
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