KR960018891A - 셀프테스트 기능을 내장한 싱글칩 마이크로프로세서 - Google Patents
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Abstract
접속된 어떤 외부전자장치에도 불리하게 영향을 주지않고 회로기판에 실장된 동안에 내부의 에러 또는 고장을 빨리 검출하는 셀프테스트기능을 가진 싱글칩마이크로프로세서, 내부회로를 테스트하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서는 내부회로의 자기진단 테스트하는 모드인 테스트모드시에 테스트모드신호를 출력하는 테스트모드신호출력수단과; 외부출력단자로부터의 신호를 출력하는 외부출력수단에 배치되고, 상기 테스트모드신호출력수단으로부터의 테스트모드신호가 입력되는 동안에 외부출력단자의 출력신호상태를 유지하는 외부출력유지수단을 구비하고, 외부출력단자의 출력신호상태를 유지하는 동안 싱글칩마이크로프로세서의 내우회로를 테스트한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 셀프테스트 기능을 내장한 싱글칩프로세서의 블록도.
Claims (15)
- 내부회로를 테스트하는 셀프레스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로스세에 있어서, 내부회로의 자기진단 테스트를 하는 모드인 테스트시에, 테스트모드 신호를 출력하는 데스트모드신호출력수단과; 외부출력단자로부터 신호를 출력하는 외부출력수단에 배치되고, 상기 테스트모드신호출력수단로부터의 테스르모드신호가 입력되는 동안에 외부출력단자의 출력신호상태를 유지하는 외부출력유지수단를 구비하고; 상기 외부출력단자의 출력신호상태를 유지하는 동안에 싱글칩마이크로프로세서의 내부회로를 테스트하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트 기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 내부회로를 테스트하는 센프테스트기능를 내장한 싱글칩마이크로프로스세에 있어서, 내부회로의 자기진단테스트를 하는 모드인 테스트모드시에, 테스트모드신호를 출력하는 데스트모드신호출력수단과; 상기 테스트모드신호출력수단로부터의 테스트모드신호를 근거해 외부단자로부터의 입출력신호를 차단하는 외부단자차단 수단은 구비하고, 외부단자로부터의 입력/출력된 신호가 차단될때 싱글칩마이크로프로세서의 내부회로를 테스트하는 것은 특징으로 하는 싱글칩마이크로 프로세서.
- 제1항에 있어서, 테스트모드신호출력수단으로부터의 테스트모드신호에 근거해 외부단자로부터 신호의 입출력을 차단하는 외부단자차단수단을 더 구비한 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩 마이크로프레서서.
- 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 테스트모드신호출력수단으로부터 테스트모드신호에 근거해 복수의 기능모듈을 형성하는 다른 내부회로의 출력단자 및 입력단자를 서로 접속하는 접속수단은 구비하고, 외부단자에서 신호의 입출력이 차단되어 상기 기능모듈을 형성하는 내부회로의 입력단자와 다른 기능모듈을 형성하는 내부회로의 출력단자를 접속해서, 상기 각 내부회로를 테스트하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 테스트모드신호출력수단은 레지스터를 구비하고; 테스트모드의 개시에서 수신된 개시신호에 근거해 상기 레지스트를 제1상태에 설정하고 테스트모드신호를 출력하며; 테스트모드가 종료할때 수신된 해제신호에 근거해 제2상태에 상기 레지스터를 설정하고 테스트모드신호를 해제하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제5항에 있어서, 상기 테스트모드 신호출력수단은 상기 테스트모드의 개시 및 종료신호를 중앙처리장치로부터 입력되는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제5항에 있어서, 테스트모드신호출력수단은 테스트모드의 개시 및 종료신호를 외부단자로부터 입력되는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 상기 테스트모드신호출력수단은 통상의 동작모드시에 외부단자와의 인터페이스가 필요없는 공시간에 테스트모드신호를 출력하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 테스트모드프로그램은 기억하는 기억수단과; 상기 기억수단에 기억된 프로그램에 따라 신호를 생성하는 신호생성 수단을 더 구비한 셀프테스트기능은 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 테스트모드프로그램을 기억하는 기억수단과; 기억수단에 기억된 프로그램에 따라 테스트대상된 내부회로를 테스트하는 테스트수단을 더 구비한 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제9항에 있어서, 상기 신호생성수단은 테스트되어 있는 입력모듈은 형성하는 내부회로에 입력된 테스트 입력신호를 생성하는 셀프테스트기능은 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제10항에 있어서, 테스트수단은 상기 출력모듈을 형성하는 내부회로로부터의 출력신호를 기억수단에 기억된 기대값과 비교해 데스트되어 있는 출력모듈이 정상인지, 아닌지 결정하는 셀프테스트기능를 내장한 싱글칩 마이크로프로세서.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 상기 중앙처리장치는; 테스트모드시에 테스트되는 내부회로로부터의 출력신호를 데이타버스를 통해 중앙처리장치에 입력되게 하고; 상기 중앙처리장치에 입력된 상기 신호를 근거해 데스트되어 있는 내부회로가 정상인지, 아닌지 결정하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제4항에 있어서, 상기 접속수단은; 상기 테스트모드신호출력수단으로부터의 테스트모드신호에 근거해 내부입력타이머의 입력과 내부출력타이머의 출력을 접속하고, 상기 타이머와의 사이에 입력/출력된 신호를 검출해서 통상의 동작을 테스트하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.
- 제4항에 있어서, 상기 접촉수단은; 직렬 I/O의 출력과 다른 직렬 I/O의 입력을 접속하고; 상기 직렬 I/O 사이에 입력/출력된 신호를 검출해서 통상의 동작을 테스트하는 것을 특징으로 하는 셀프테스트기능을 내장한 싱글칩마이크로프로세서.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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