KR950025963A - 반도체 장치의 제조방법 - Google Patents
반도체 장치의 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950025963A KR950025963A KR1019950002160A KR19950002160A KR950025963A KR 950025963 A KR950025963 A KR 950025963A KR 1019950002160 A KR1019950002160 A KR 1019950002160A KR 19950002160 A KR19950002160 A KR 19950002160A KR 950025963 A KR950025963 A KR 950025963A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lead
- die pad
- connection
- semiconductor device
- semiconductor chip
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 8
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49537—Plurality of lead frames mounted in one device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/0102—Calcium [Ca]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01068—Erbium [Er]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49121—Beam lead frame or beam lead device
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
반도체 장치의 제조방법.
복수의 다이패드 지지리드(11)로 다이패드(10)를 지지하는 제1리드프레임(1)상에 접속리드(21, 25)를 가진는 제2리드프레임(2)이 중첩되고, 제1 및 제2리드프레임(1, 2)을 제1금형(5)내에 배치하되, 다이패드(10)와 제2리드프레임의 내부리드(21, 25)의 내부 리드부(22, 26)가 제1금형(5)의 제1캐비티(51)내에 수납되는 반면 다이패드 지지리드(11)의 단차부(12)는 제1캐비티(51)의 외측에 배치되도록 하고, 제2금형(6)은 제1금형(5)상으로 클램프되어 이후 응용된 수지로 충전되어 패키지(35)를 형성하게되는 수지 몰딩 챔버를 규정한다.
제1 및 제2금형(5, 6)으로부터 패키지(35)를 제거한 후, 단차부(12)는 패키지(35)로부터 절단되고, 접속리드(21, 25)는 소정길이로 절단된다.
가능한한 큰 사이즈의 반도체칩이 반도체 장치의 우수한 품질과 향상된 신뢰성이 유지되면서 표준 반도체 장치내에 수납된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 반도체 장치의 제조방법에 있어서 다이패드 스탬핑(die pad stamping) 및 와이어 본딩(wire bonding)공정을 나타내는 평면도,
제2도는 제1도의 A-A선을 따라 화살표로 표시된 방향에서 나타낸 단면도,
제3도는 와이어 본딩 공정에서 사용된 지지대를 나타내는 사시도,
제4도는 금형 캐비티(molding cavity)내에 배치된 제1리드 프레임과 제2리드 프레임을 나타내는 평면도,
제5도는 제4도의 B-B선을 따라 화살표로 표시된 방향에서 나타낸 단면도,
제6도는 제4도의 C-C선을 따라 화살표로 표시된 방향에서 나타낸 단면도,
제7도는 제4도의 D-D선을 따라 화살표로 표시된 방향에서 나타낸 단면도,
제8도는 제4도의 E-E선을 따라 화살표로 표시된 방향에서 나타낸 단면도.
Claims (16)
- 반도체칩이 탑재되어 있는 다이패드를 단차부를 각각 포함하는 복수의 다이패드 지지리드로 지지하는 제1리프드레임상에, 상기 반도체칩에 형성된 전극에 근접하여 연장되어 있는 접속리드를 가지는 제2리드프레임을 중첩하여 배치하고, 상기 접속리드의 내부리드부를 상기 반도체칩의 상기 전극에 금속 와이어로 각각 접속시키는 제1공정과, 상기 제1 및 제2리드프레임을 제1금형상에 설치하되, 상기 다이패드와 상기 내부리드부가 상기 제1금형내에 형성된 제1캐비티내에 배치되는 반면 상기 다이패드 지지리드의 상기 단차부가 상기 제1캐비티의 외측에 배치되고, 제2캐비티를 가지는 제2금형을 상기 제1금형에 겹치도록 배치하여 수지 몰딩 챔버를 형성하고, 상기 제1 및 제2리드프레임이 상기 제1 및 제2금형의 이웃하는 면 사이에 위치하는 단차부를 포함하도록 하는 제2공정과, 상기 수지 몰딩 챔버를 수지로 충전하여 패키지를 형성하는 제3공정과, 상기 제1 및 제2금형으로부터 상기 패키지를 제거하고, 상기 패키지로부터 외부로 노출된 상기 단차부를 절단하는 한편 상기 접속리드를 소정길이로 자르는 제4공정과를 포함하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1공정에 있어서, 상기 다이패드 지지리드에 아래쪽으로 프레스를 가하여 단차부를 형성하고, 상기 반도체칩을 상기 다이패드상에 탑재하고, 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드의 내부 리드부와의 전기적 접속을 금속 와이어를 본딩하여 형성하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1공정에 있어서, 상기 리드프레임이 상기 다이패드 지지리드의 일부를 구성하는 복수의 제1돌출편과, 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 각각 연장되는 접속리드로 형성되는 반면, 상기 다이패드로부터 수평으로 연장되는 복수의 제2돌출편을 형성하고, 상기 제2돌출편이 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 각각 연장된 상기 접속리드의 아래쪽으로 연장되어 상기 제1돌출편의 하방에 위치하도록 상기 다이패드를 배치한후, 상기 제1 및 제2돌출편이 서로 연결부재로 접속되어 상기 복수의 다이패드 지지리드를 형성하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 연결부재가 접착재로 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 연결부재가, 상기 제1돌출편과 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 연장되는 접속리드의 하측에 배치되고 상기 제1돌출편 및 제2돌출편 사이에 끼워진 상태로 상기 제1돌출편 및 제2돌출편 모두에 접착된 스페이서로 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 연결부재가, 상기 제1 및 제2돌출편의 하나에 형성되고 상기 제1 및 제2돌출편의 다른 하나에 접착된 돌기부로 구성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 제1공정에서 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드 사이의 전기적 접속이, 상기 다이패드 지지리드들 사이에 형성된 스페이스로 연장된 상기 접속리드의 선단부가 상기 복수의 인접하는 다이패드 지지리드의 사이를 지나서 위쪽으로 돌출된 지지대 위에서 지지되는 상태에서 상기 금속 와이어를 본딩하여 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 제1공정에서, 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드 사이의 전기적 접속이, 상기다이패드 지지리드들 사이에 형성된 스페이스로 연장된 상기 접속리드의 선단부가 상기 복수의 인접하는 다이패드 지지리드의 사이를 지나서 위쪽으로 돌출된 지지대 위에서 지지되는 상태에서 사기 금속 와이어를 본딩하여형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 다이패드와, 상기 다이패드에 접속되고 각각 단차부를 가지는 다이패드 지지리드와, 상기 다이패드에 인접하는 위치로 연장된 접속리드로 구성된 리드 프레임을 형성하고, 상기 다이패드상에 반도체칩을 탑재하고, 상기 접속리드의 내부 리드부를 상기 반도체 칩의 전극에 금속 와이어를 사용하여 전기적으로 접속시키는 제1공정과, 상기 리드프레임을 제1금형상에 설치하되, 상기 다이패드와 상기 내부리드부가 상기 제1금형내에 형성된 제1캐비티내에 배치되는 반면 상기 다이패드 지지리드의 상기 단차부가 상기 제1캐비티의 외측에 배치되도록 하고, 제2캐비티를 가지는 제2금형을 상기 제1금형상에 겹치도록 배치하여 수지 몰딩 챔버를 형성하고, 상기 제1 및 제2리드프에임이 상기 제1 및 제2금형의 이웃하는 면 사이에 위치하는 단차부를 포함하도록 하는 제2공정과, 상기 수지 몰딩 챔버를 수지로 충전하여 패키지를 형성하는 제3공정과, 상기 제1 및 제2금형으로부터 상기 패키지를 제거하고, 상기 패키지로부터 외부로 노출된 상기 단차부를 절단하는 한편 상기 접속리드를 소정길이로 자르는 제4공정과를 포함하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제9항에 있어서, 상기 제1공정에 있어서, 상기 다이패드 지지리드에 아래쪽으로 프레스를 가하여 단차부를 형성하고, 상기 반도체칩을 상기 다이 패드상에 탑재하고, 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드의 내부 리드부와의 전기적 접속을 금속 와이어를 본딩하여 형성하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제9항에 있어서, 상기 제1공정에 있어서, 상기 리드프레임이 상기 다이패드 지지리드의 일부를 구성하는 복수의 제1돌출편과, 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 각각 연장되는 접속리드로 형성되는 반면, 상기 다이패드로부터 수평으로 연장되는 복수의 제2돌출편을 형성하고, 상기 제2돌출편이 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 각각 연장된 상기 접속리드의 아래쪽으로 연장되어 상기 제1돌출편의 하방에 위치하도록 상기 다이패드를 배치한후, 상기 제1 및 제2돌출편이 서로 연결부재로 접속되어 상기 복수의 다이패드 지지리드를 형성하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 연결부재가 접착재로 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 상기 연결부재가, 상기 제1돌출편과 상기 제1돌출편의 선단을 횡단하여 연장되는 접속리드의 하측에 배치되고 상기 제1돌출편 및 제2돌출편 사이에 끼워진 상태로 상기 제1돌출편 및 제2돌출편 모두에 접착된 스페이서로 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 연결부재가, 상기 제1 및 상기 제2돌출편의 하나에 형성되고 상기 제1 및 제2돌출편의 다른 하나에 접착된 돌기부로 구성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제10항에 있어서, 상기 제1공정에서, 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드 사이의 전기적 접속이, 상기 다이패드 지지리드들 사이에 형성된 스페이스로 연장된 상기 접속리드의 선단부가 상기 복수의 인접하는 다이패드 지지리드의 사이를 지나서 위쪽으로 돌출된 지지대 위에서 지지되는 상태에서 사기 금속 와이어를 본딩하여 형성되는 반도체 장치의 제조방법.
- 제11항에 있어서, 상기 제1공정에서, 상기 반도체칩의 전극과 상기 접속리드 사이의전기적 접속이, 상기 다이패드 지지리드들 사이에 형성된 스페이스로 연장된 상기 접속리드의 선단부가 상기 복수의 인접하는 다이패드 지지리드의 사이를 지나서 위쪽으로 돌출된 지지대 위에서 지지되는 상태에서 사기 금속 와이어를 본딩하여 형성되는 반도체 장치의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6013751A JP2866572B2 (ja) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | 半導体製造方法 |
JP94-13751 | 1994-02-07 | ||
JP94-013751 | 1994-02-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950025963A true KR950025963A (ko) | 1995-09-18 |
KR0185790B1 KR0185790B1 (ko) | 1999-03-20 |
Family
ID=11841960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950002160A KR0185790B1 (ko) | 1994-02-07 | 1995-02-07 | 반도체 장치의 제조방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5508232A (ko) |
JP (1) | JP2866572B2 (ko) |
KR (1) | KR0185790B1 (ko) |
DE (1) | DE19503823C2 (ko) |
TW (1) | TW269740B (ko) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09260550A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6600215B1 (en) * | 1998-04-02 | 2003-07-29 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for coupling a semiconductor die to die terminals |
SG75958A1 (en) | 1998-06-01 | 2000-10-24 | Hitachi Ulsi Sys Co Ltd | Semiconductor device and a method of producing semiconductor device |
US6199743B1 (en) | 1999-08-19 | 2001-03-13 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses for forming wire bonds from circuitry on a substrate to a semiconductor chip, and methods of forming semiconductor chip assemblies |
US6221748B1 (en) * | 1999-08-19 | 2001-04-24 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for providing mechanically pre-formed conductive leads |
KR100391124B1 (ko) * | 2001-05-18 | 2003-07-12 | 에쓰에쓰아이 주식회사 | 반도체 패키지의 베이스, 이를 이용한 반도체 패키지 및그 제조방법 |
US20060278962A1 (en) * | 2005-06-09 | 2006-12-14 | Tessera, Inc. | Microelectronic loop packages |
JP2008218776A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
US7763958B1 (en) * | 2007-05-25 | 2010-07-27 | National Semiconductor Corporation | Leadframe panel for power packages |
TWI462194B (zh) * | 2011-08-25 | 2014-11-21 | Chipmos Technologies Inc | 半導體封裝結構及其製作方法 |
US10699992B2 (en) * | 2015-12-23 | 2020-06-30 | Intel Corporation | Reverse mounted gull wing electronic package |
US10867894B2 (en) * | 2018-10-11 | 2020-12-15 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Semiconductor element including encapsulated lead frames |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4445271A (en) * | 1981-08-14 | 1984-05-01 | Amp Incorporated | Ceramic chip carrier with removable lead frame support and preforated ground pad |
JP2582013B2 (ja) * | 1991-02-08 | 1997-02-19 | 株式会社東芝 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
JPS5966157A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-14 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JPS60113932A (ja) * | 1983-11-26 | 1985-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | 樹脂封止半導体装置の組立方法 |
JPH01201947A (ja) * | 1988-02-05 | 1989-08-14 | Nec Corp | 半導体装置 |
US5018003A (en) * | 1988-10-20 | 1991-05-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Lead frame and semiconductor device |
JPH02253650A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Corp | リードフレーム |
US5278101A (en) * | 1989-06-28 | 1994-01-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
US5334872A (en) * | 1990-01-29 | 1994-08-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Encapsulated semiconductor device having a hanging heat spreading plate electrically insulated from the die pad |
JPH0760837B2 (ja) * | 1990-03-13 | 1995-06-28 | 株式会社東芝 | 樹脂封止型半導体装置 |
US5202288A (en) * | 1990-06-01 | 1993-04-13 | Robert Bosch Gmbh | Method of manufacturing an electronic circuit component incorporating a heat sink |
JP2877479B2 (ja) * | 1990-09-27 | 1999-03-31 | 株式会社東芝 | 半導体装置用リードフレーム |
JPH04192450A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-10 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 複合リードフレーム |
JPH04249348A (ja) * | 1991-02-05 | 1992-09-04 | Toshiba Corp | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 |
JP3215851B2 (ja) * | 1991-02-13 | 2001-10-09 | 日立化成工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置およびその製造法 |
US5214846A (en) * | 1991-04-24 | 1993-06-01 | Sony Corporation | Packaging of semiconductor chips |
KR100552353B1 (ko) * | 1992-03-27 | 2006-06-20 | 가부시키가이샤 히타치초엘에스아이시스템즈 | 리이드프레임및그것을사용한반도체집적회로장치와그제조방법 |
US5327008A (en) * | 1993-03-22 | 1994-07-05 | Motorola Inc. | Semiconductor device having universal low-stress die support and method for making the same |
-
1994
- 1994-02-07 JP JP6013751A patent/JP2866572B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-02-06 DE DE19503823A patent/DE19503823C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-02-06 US US08/386,808 patent/US5508232A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-02-07 KR KR1019950002160A patent/KR0185790B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-02-07 TW TW084100949A patent/TW269740B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5508232A (en) | 1996-04-16 |
DE19503823A1 (de) | 1995-08-10 |
TW269740B (ko) | 1996-02-01 |
JPH07221243A (ja) | 1995-08-18 |
DE19503823C2 (de) | 2001-01-25 |
KR0185790B1 (ko) | 1999-03-20 |
JP2866572B2 (ja) | 1999-03-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20030030131A1 (en) | Semiconductor package apparatus and method | |
KR960009136A (ko) | 반도체 패키지 및 그 제조방법 | |
JPS6143851B2 (ko) | ||
JPH08255862A (ja) | リードフレーム、樹脂封止型半導体装置、その製造方法及び該製造方法で用いる半導体装置製造用金型 | |
US20040164395A1 (en) | Surface-mounting semiconductor device and method of making the same | |
KR950025963A (ko) | 반도체 장치의 제조방법 | |
CN101359645B (zh) | 半导体装置、预模制封装结构及其制造方法 | |
JPH10200024A (ja) | 表面実装用パッケージとその製造方法 | |
KR960002711A (ko) | 전자 부품 및 그 제조 방법 | |
IT9083643A1 (it) | Procedimento di incapsulamento in resina di un dispositivo a semiconduttore di potenza montato su dissipatore allontanando i reofori dal dissipatore mediante l'azione del controstampo in fase di chiusura dello stampo | |
US20020149090A1 (en) | Lead frame and semiconductor package | |
KR100252737B1 (ko) | 수지봉합형 반도체 장치 및 그 제조방법 | |
JPS63258050A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6238863B2 (ko) | ||
JP2629853B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR20080089041A (ko) | 외부리드 없는 리드프레임을 갖는 led 패키지 및 그제조방법 | |
JPS63305604A (ja) | 圧電発振器 | |
JP2679848B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3134445B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
KR940008559B1 (ko) | 센서장치 및 그 제조방법과 제조장치 | |
JP2000150725A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP3406147B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2661152B2 (ja) | Icカード用モジュールの製造方法 | |
JPH01102947A (ja) | 樹脂封止型半導体デバイスおよびリードフレーム | |
KR100253388B1 (ko) | 반도체 패키지의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121130 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131210 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141205 Year of fee payment: 17 |
|
EXPY | Expiration of term |