KR950021505A - 기준전류발생회로, 정전류발생회로 및 그것을 사용한 장치 - Google Patents
기준전류발생회로, 정전류발생회로 및 그것을 사용한 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950021505A KR950021505A KR1019940035842A KR19940035842A KR950021505A KR 950021505 A KR950021505 A KR 950021505A KR 1019940035842 A KR1019940035842 A KR 1019940035842A KR 19940035842 A KR19940035842 A KR 19940035842A KR 950021505 A KR950021505 A KR 950021505A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- current
- circuit
- voltage
- generating
- mos
- Prior art date
Links
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/26—Current mirrors
- G05F3/267—Current mirrors using both bipolar and field-effect technology
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
반도체 집적 회로에 관한 것으로써, 저전원전압에서도 동작하며 온도에 대한 의존성을 저감하기 위해, 정의 온도의존성을 갖는 전류, 부의 온도의존심을 갖는 전류의 합전류를 형성하고, 이 합전류에 비례하는 온도변화에 대한 의존성을 저감한 전류를 발생하는 정전류발생회로에서 저전압에서 동작하기 위해 정의 온도의존성을 갖는 전류를 발생하는 회로가 흐르는 전류의 전류밀도의 비를 일정하게 유지한 2조의 PN접합의 양끝에 발생하는 전압의 차전압의 정의 온도의존성을 사용해서 전류를 발생하는 회로이고, 부의 온도의존성을 갖는 전류를 발생하는 회로가 PN접합의 양끝에 발생하는 전압의 부의 온도의존성을 사용해서 전류를 발생하는 회로를사용한다. 그리고, 온도의존성을 없애는 것 뿐만아니라 전원접압변동이나 구성소자의 특성편차에 대해서 안정된 기준전류, 기준전압을 발생하기 위해 여러개의 바이플라트랜지스터의 베이스, 에미터 전압의 차전압을 발생하는 것에 의해, 절대온도에 비례하는 전류발생회로에 있어서 MOS트랜지스터에 의해 상기 바이폴라트랜지스터에 흐르는 전류비를 결정하고, 또 이들 MOS의 드레인전압의 비가 전원전압에 의존하지 않도록 제어하는 회로를 사용한다. 이와 같은 구성에 의해서, 3V정도외 저전원정압에서 동작할 수 있고, 또 그 특성의 전원전압의존성이 적은 100k, ECL의 규격을 만족시키는 출력버퍼회로, 입력버퍼용 기준전압발생회로를 실현할 수 있다.
선택도 : 제 1도
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 정전류발생회로의 실시예를 도시한 도면.
Claims (22)
- 전류밀도의 비를 일정하게 유지한 2조의 PN접합부를 갖고, 상기 PN접합부의 각각의 양끝에 발생하는 전압에서 정의 온도 의존성을 갖는 차전압을 생성하고, 상기 차전압에 따른 전류를 발생하는 정의 온도의존성을 갖는 전류발생회로부 및 PN접합부의 양끝에 발생하는 부의 온도의존성을 갖는 전압에 따튼 전류를 발생하는 부의 온도의존성을 갖는 전류발생회로부를 갖는 것을 륵징으로 하는 정전류발생회로.
- 제1항에 있어서, 정의 은도의존성을 갖는 전류와 부의 온도의존성을 갖는 전류의 합전류에 따른 정전류를 발생하는 합전류발생회로부를 갖고, 상기 합전류발생회로부는 소오스와 게이트가 모두 각각 서로 접속된 2조이상의 MOS트랜지스터의 드레인전류의 비에 의해서 소정의 합전류를 발생하는 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 제1항에 있어서, 상기 정의 온도의존성을 갖는 전류발생회로중 적어도 1조의 PN접합부는 바이플라트랜지스터의 베이스, 에미터간의 PN접합인 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 제2항에 있어서, 상기 정의 온도의존성을 갖는 전류발생회로중 적어도 1조의 PN접합부는 바이폴라트랜지스터의 베이스, 에미터간의 PN접합인 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 제1항에 있어서, 상기 부의 온도의존성을 갖는 전류발생회로의 PN접합부는 바이폴라트랜지스터의 베이스, 에미터간의 PN접합인 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 제2항에 있어서, 상기 부의 온도의존성을 갖는 전류발생회로의 PN접합부는 바이폴라트랜지스터의 베이스 에미터간의 PN접합인 것을 특징으로 하는 정전류발생회로
- 제2항에 있어서, 상기 합전류발생회로는 상기 합전류에 전원전압에 의존하는 전류를 가산해서 정전류를 발생하는 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 제7항에 있어서, 상기 전원전압에 의존하는 전류는 MOS트랜지스터로 구성된 전훤전압공급부에서 공급하는 것을 특징으로 하는 정전류발생회로.
- 절대온도에 비례하는 절대온도비례전류를 생성하는 절대온도 비례전류발생부, 상기 절대온도비례전류에 비례하는 비례전류를 발생하는 비례전류발생부, 전원전압의 변동을 검출하고, 상기 변동에 따라서 상기 비례전류 발생부를 제어하는 제어부를 갖고, 상기 전원접압의 변동을 제어하여 상기 절대온도에 비레하는 기준전류를 생성하는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.
- 제9항에 있어서, 상기 비례전류발생부는 소오스와 게이트가 각각 서로 접속된 여러개의 MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.
- 제9항에 기재된 상기 기준전류발생회로를 사용해서 이루어지는 기준전류발생회로부, MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 전류원부, ECL버퍼회로부를 갖고, 상기 기준전류발생회로부에 의해서 생성되는 상기 절대온도에 비례하는 전류에 따른 상기 ECL버퍼회로부의 출력전위레벨인 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제10항에 기재된 상기 기준전류발생회로를 사용해서 이루어지는 기준전류발생회로부, MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 전류원부, ECL버퍼회로부를 갖고, 상기 기준전류발생회로부에 의해서 생성되는 상기 절대온도에 비례하는 전류에 따른 상기 ECL버퍼회로부의 출력전위레벨인 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제11항에 있어서, 상기 ECL버퍼회로의 상기 전류원부는 MOS를 사용한 레귤레이티드 캐스코드 커렌트미러회로를 포함해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제12항에 있어서, 상기 ECL버퍼회로의 상기 전류원부는 MOS를 사용한 레귤레이티드 캐스코드 커렌트미러회로를 포함해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 소오스, 게이트가 각각 서로 접속된 여러개의 MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 비례전류발생부 및 2조의 바이폴라트랜시스터를 갖고, 상기 2조의 바이폴라트랜지스터의 컬렉터전류의 비를 소정의 비로 해서 절대온도에 비례하는 상기 2조의 바이폴라트랜지스터의 베이스 에미터간 전압의 차전압에 따른 전류를 발생하는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.
- 제15항에 있어서, 상기 비례전류발생부는 전원전압을 검출하고, 소오스, 게이트가 각각 서로 접속된 여러 개의 MOS트랜지스터의 드레인전압이 상대적으로 변동하지 않도록 상기 검출된 전원전압에 따라서 상기 트레인 전압을 제어하는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.
- 제15항에 기재된 상기 기준전류발생회로를 사용해서 이루어지는 기준전류발생회로부, MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 전류원부 및 ECL버퍼회로부를 갖고, 상기 기준전류발생회로부에 의해서 생성되는 상기 절대 온도에 비례하는 전류에 따른 상기 ECL버퍼회로부의 출력전위레벨인 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제16항에 기재된 상기 기준전류발생회로를 사용해서 이루어지는 기준전류발생회로부, MOS트랜지스터를 사용해서 구성되는 전류원부 및 ECL버퍼회로부를 갖고, 상기 기준전류발생회로부에 의해서 생성되는 상기 절대 온도에 비례하는 전류에 따른 상기 ECL버퍼회로부의 출력전위레벨인 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제17항에 있어서, 상기 ECL버퍼회로의 상기 전류원부는 MOS를 사용한 레귤레이티드 캐스코드 커렌트미러회로를 포함해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로, 상기 ECL버퍼회로의 상기 전류원부는 MOS를 사용한 레귤레이티드 캐스코드 커렌트미러회로를 포함해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로.
- 제18항에 있어서, 상기 ECL버퍼회로의 상기 전류원부는 MOS를 사용한 레귤레이티드 캐스코드 커렌트미러회로를 포함해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 ECL버퍼회로
- 제1의 바이폴라트랜지스터의 베이스와 제2의 바이폴라트랜지스터가 서로 접속되고, 상기 제1의 바이폴라트랜지스퍼의 에미터와 상기 제2의 바이폴라트랜지스터의 에미터는 전기적인 저항값을 갖는 저항부에 의해서 접속되고, 상기 제2의 바이폴라트랜지스터의 베이스와 컬렉터가 접속되고, 상기 제2의 바이폴라트랜지스터의 베이스, 에미터간 전압과 상기 제2의 바이폴라트랜지스터의 베이스, 에미터간 전압의 차전압이 상기 저항부에 인가되는 기준전류기준전압발생부 및 상기 제1의 바이폴라트랜지스터에 흐르는 컬렉터전류와 상기 제2의 바이폴라트랜지스터에 흐르는 켈렉터전류의 전류비를 소정의 전류비로 하기 위해 상기 제1및 제2의 바이폴라트랜지스터의 컬렉터에 접속된 MOS트랜지스터로 이루어지는 전원전압변동흡수부를 갖는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.
- 제21항에 있어서. 상기 전원전압변동흡수부는 상기 바이폴라트랜지스터의 컬렉터와 접속된 제1의 MOS의 게이트가 제2의 MOS의 소오스에 접속되고, 상기 제2의 MOS의 게이트는 상기 제1의 MOS의 소오스에 접속되고,상기 제1 및 제2의 바이폴라트랜지스터의 컬렉터전류의 비를 제어하는 것을 특징으로 하는 기준전류발생회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-331002 | 1993-12-27 | ||
JP05331002A JP3094764B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 基準電流発生回路 |
JP93-331034 | 1993-12-27 | ||
JP05331034A JP3104509B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 定電流発生回路及びそれを用いた装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950021505A true KR950021505A (ko) | 1995-07-26 |
KR100316834B1 KR100316834B1 (ko) | 2002-04-24 |
Family
ID=26573709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940035842A KR100316834B1 (ko) | 1993-12-27 | 1994-12-22 | 기준전류발생회로,정전류발생회로및그것을사용한장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5631600A (ko) |
KR (1) | KR100316834B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100415545B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2004-05-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 기준전류생성회로 |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2836547B2 (ja) * | 1995-10-31 | 1998-12-14 | 日本電気株式会社 | 基準電流回路 |
KR0184761B1 (ko) * | 1996-07-10 | 1999-04-15 | 정명식 | 씨모스 3-상태 버퍼 제어 회로 |
KR0183549B1 (ko) * | 1996-07-10 | 1999-04-15 | 정명식 | 온도 보상형 정전류원 회로 |
US5818294A (en) * | 1996-07-18 | 1998-10-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature insensitive current source |
US6052020A (en) | 1997-09-10 | 2000-04-18 | Intel Corporation | Low supply voltage sub-bandgap reference |
US5994945A (en) * | 1998-03-16 | 1999-11-30 | Integrated Device Technology, Inc. | Circuit for compensating for variations in both temperature and supply voltage |
US6091279A (en) * | 1998-04-13 | 2000-07-18 | Lucent Technologies, Inc. | Temperature compensation of LDMOS devices |
KR20000003932A (ko) * | 1998-06-30 | 2000-01-25 | 김영환 | 온도 보상된 고정밀 전류원 |
EP1046092A1 (en) * | 1998-09-18 | 2000-10-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Voltage and/or current reference circuit |
US6046579A (en) * | 1999-01-11 | 2000-04-04 | National Semiconductor Corporation | Current processing circuit having reduced charge and discharge time constant errors caused by variations in operating temperature and voltage while conveying charge and discharge currents to and from a capacitor |
US6407625B1 (en) * | 1999-12-17 | 2002-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for generating multiple bias currents |
US6346848B1 (en) * | 2000-06-29 | 2002-02-12 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for generating current linearly dependent on temperature |
FR2825806B1 (fr) * | 2001-06-08 | 2003-09-12 | St Microelectronics Sa | Circuit de polarisation a point de fonctionnement stable en tension et en temperature |
US6549062B1 (en) * | 2001-11-21 | 2003-04-15 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for improving the tolerance of integrated resistors |
US6664847B1 (en) * | 2002-10-10 | 2003-12-16 | Texas Instruments Incorporated | CTAT generator using parasitic PNP device in deep sub-micron CMOS process |
JP3998559B2 (ja) * | 2002-10-21 | 2007-10-31 | ローム株式会社 | 電流源回路 |
JP2004328640A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Toshiba Corp | バイアス電流生成回路、レーザダイオード駆動回路及び光通信用送信器 |
KR100605594B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2006-07-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 파워업신호 발생 장치 |
FR2867893A1 (fr) * | 2004-03-18 | 2005-09-23 | St Microelectronics Sa | Dispositif pour l'etablissement d'un courant d'ecriture dans une memoire de type mram et memoire comprenant un tel dispositif |
KR100588735B1 (ko) * | 2004-05-06 | 2006-06-12 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 온도의 변화에 관계없는 기준전압과 기준전류를 공급하는기준전압 및 전류 발생기 |
JP2006109349A (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Ricoh Co Ltd | 定電流回路及びその定電流回路を使用したシステム電源装置 |
KR100582742B1 (ko) | 2004-12-21 | 2006-05-22 | 인티그런트 테크놀로지즈(주) | 기준 전류 발생 회로 |
KR100712555B1 (ko) * | 2006-05-26 | 2007-05-02 | 삼성전자주식회사 | 기준전류 발생방법 및 이를 이용하는 전류 기준회로 |
JP2011054248A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-03-17 | Toshiba Corp | 参照電流生成回路 |
US9024682B2 (en) * | 2013-08-27 | 2015-05-05 | Ati Technologies, Ulc | Proportional-to-supply analog current generator |
JP6660745B2 (ja) * | 2016-01-28 | 2020-03-11 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 基準電流生成回路及びメモリ装置 |
US10222816B1 (en) * | 2016-09-09 | 2019-03-05 | Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. | Compensated source-follower based current source |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5001362A (en) * | 1989-02-14 | 1991-03-19 | Texas Instruments Incorporated | BiCMOS reference network |
US5243239A (en) * | 1991-01-22 | 1993-09-07 | Information Storage Devices, Inc. | Integrated MOSFET resistance and oscillator frequency control and trim methods and apparatus |
JP3322685B2 (ja) * | 1992-03-02 | 2002-09-09 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 定電圧回路および定電流回路 |
US5394026A (en) * | 1993-02-02 | 1995-02-28 | Motorola Inc. | Substrate bias generating circuit |
US5391980A (en) * | 1993-06-16 | 1995-02-21 | Texas Instruments Incorporated | Second order low temperature coefficient bandgap voltage supply |
US5440277A (en) * | 1994-09-02 | 1995-08-08 | International Business Machines Corporation | VCO bias circuit with low supply and temperature sensitivity |
-
1994
- 1994-12-22 KR KR1019940035842A patent/KR100316834B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-12-23 US US08/361,722 patent/US5631600A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100415545B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2004-05-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 기준전류생성회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100316834B1 (ko) | 2002-04-24 |
US5631600A (en) | 1997-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR950021505A (ko) | 기준전류발생회로, 정전류발생회로 및 그것을 사용한 장치 | |
KR0169316B1 (ko) | 기준 발생기 | |
JP3759513B2 (ja) | バンドギャップ基準回路 | |
KR930018345A (ko) | 정전압 발생회로 | |
KR930001574A (ko) | 내부 전원전압 발생회로 | |
KR880014568A (ko) | 기준 전위 발생회로 | |
US4906863A (en) | Wide range power supply BiCMOS band-gap reference voltage circuit | |
KR100301605B1 (ko) | 밴드갭 기준 전압 발생 회로 | |
KR950006848A (ko) | 기준 전위 발생 회로 | |
KR950010050A (ko) | 과열 검출 회로 | |
KR950010341A (ko) | 온도 변화에 대해 일정하게 유지되는 출력 신호 진폭을 갖는 ic | |
KR102544302B1 (ko) | 밴드갭 레퍼런스 회로 | |
US9753482B2 (en) | Voltage reference source and method for generating a reference voltage | |
KR950033755A (ko) | 안정화 전압 공급 제어 회로 | |
KR870009494A (ko) | 전원전압 검출회로 | |
KR900013520A (ko) | BiCMOS기준 회로망 및 기준 전압 발생 방법 | |
KR930020833A (ko) | 중폭기 장치 | |
KR970067333A (ko) | 전압 및 전류 기준 회로 | |
KR930020847A (ko) | 기준전류 발생회로 | |
KR950034156A (ko) | 온도 검출 회로 | |
US5966006A (en) | Voltage regulator generating a predetermined temperature-stable voltage | |
KR970012689A (ko) | 바이폴라 트랜지스터 정전압원 회로 | |
KR930020658A (ko) | 기준전압 발생회로 | |
KR0150196B1 (ko) | BiCMOS 기준 전압 발생기 | |
US6771054B2 (en) | Current generator for low power voltage |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20071123 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |