KR940022551A - 승압회로 - Google Patents
승압회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR940022551A KR940022551A KR1019940004989A KR19940004989A KR940022551A KR 940022551 A KR940022551 A KR 940022551A KR 1019940004989 A KR1019940004989 A KR 1019940004989A KR 19940004989 A KR19940004989 A KR 19940004989A KR 940022551 A KR940022551 A KR 940022551A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- side diffusion
- transistor
- substrate well
- diffusion layer
- node
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of dc power input into dc power output
- H02M3/02—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
- H02M3/04—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
- H02M3/06—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
- H02M3/073—Charge pumps of the Schenkel-type
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M3/00—Conversion of dc power input into dc power output
- H02M3/02—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
- H02M3/04—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
- H02M3/06—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
- H02M3/07—Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
- H02M3/073—Charge pumps of the Schenkel-type
- H02M3/078—Charge pumps of the Schenkel-type with means for reducing the back bias effect, i.e. the effect which causes the threshold voltage of transistors to increase as more stages are added to the converters
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Dram (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
백바이어스효과를 상쇄할 수 있고, 회로면적 및 소비전력의 증대의 방지, 클록발생회로의 복잡화의 방지 및 전류능력의 저하를 방지할 수 있는 승압회로를 실현한다.
승압단(昇壓段)을,p형 반도체기판에 형성되고, 소정전위로 바이어스 된 n웰내에 형성도니 p웰내에, 전하 운반용 nMOS 트랜지스터 NT 및 전압전달용 nMOS 트랜지스터 NTB를 형성하여 구성하고, 승압시에 상승하는 전하운반용 nMOS 트랜지스터 NT의 소스전압을 전압전달용 nMOS 트랜지스터 NTB를 통해 기판, 즉 p웰에 전달하도록 구성함으로써, 백바이어스효과를 억지한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1도는 본 발명에 관한 승압회로의 제1의 실시예를 나타낸 회로도.
Claims (5)
- 승압용 소자에 접속되어 상보적(相補的)으로 승압되는 제1의 노드와 제2의 노드를 작동적으로 접속하는 제1의 트랜지스터와, 제2의 노드와 상기 제1의 트랜지스터의 기판웰을 작동적으로 접속하는 제2의 트랜지스터를 가지며, 상기 제1의 노드가 상기 제1의 트랜지스터의 게이트 및 상기 제2의 트랜지스터의 게이트에 접속되고, 상기 제1의 트랜지스터의 기판웰과 제2의 트랜지스터의 기판웰이 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 승압회로.
- 승압용 소자에 접속되어 상보적으로 승압되는 제1의 노드와 제2의 노드를 작동적으로 접속하는 제1의 트랜지스터와, 제1의 노드와 상기 제1의 트랜지스터의 기판웰을 작동적으로 접속하는 제2의 트랜지스터를 가지며, 상기 제1의 노드가 상기 제1의 트랜지스터의 게이트에 접속되고,상기 제2의 노드가 상기 제2의 트랜지스터의 게이트에 접속되고, 상기 제1의 트랜지스터의 기판웰과 제2의 트랜지스터의 기판웰이 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 승압회로.
- 소정전위로 바이어스된 제1의 도전형 반도체영역으로 이루어지는 제1의 기판웰과, 제1의 기판웰내에 형성된 제2의 도전형 반도체영역으로 이루어지는 제2의 기판웰과, 제2의 기판웰내에 형성된 최소한 3개의 제1의 도전형 소자측 확산층으로 이루어지는 제1,제2,제3 및 제4의 소자측 확산층과, 제2의 기판웰내에 형성된 제2의 도전형 소자측 확산층으로 이루어지는 제5의 소자측 확산층과, 상기 제1 및 제2의 소자측 확산층 사이의 위에 형성된 제1의 게이트전극과, 상기 제3 및 제4의 소자측 확산층 사이의 위에 형성된 제2의 게이트전극을 가지며, 상기 제1의 소자측 확산층이 상기 제1 및 제2의 게이트전극에 접속되고, 상기 제2의 소자측 확산층이 상기 제3의 소자측 확산층에 접속되고, 상기 제4의 소자측 확산층이 상기 제5의 소자측 확산층에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 승압회로.
- 소정전위로 바이어스된 제1의 도전형 반도체영역으로 이루어지는 제1의 기판웰과, 제1의 기판웰내에 형성된 제2의 도전형 반도체영역으로 이루어지는 제2의 기판웰과, 제2의 기판웰내에 형성된 최소한 3개의 제1의 도전형 소자측 확산층으로 이루어지는 제1,제2,제3 및 제4의 소자측 확산층과, 제2의 기판웰내에 형성된 제2의 도전형 소자측 확산층으로 이루어지는 제5의 소자측 확산층과, 상기 제1 및 제2의 소자측 확산층 사이의 위에 형성된 제1의 게이트전극과, 상기 제3 및 제4의 소자측 확산층 사이의 위에 형성된 제2의 게이트전극을 가지며, 상기 제1의 소자측 확산층이 상기 제3의 소자측 확산층 및 제1의 게이트전극에 접속되고, 상기 제2의 소자측 확산층이 상기 제2의 게이트전극에 접속되고, 상기 제4의 소자측 확산층이 상기 제5의 소자측 확산층에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 승압회로.
- 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 제1의 도전형은 n형이고, 상기 제2의 도전형은 p형인 것을 특징으로 하는 승압회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5832093A JP3307453B2 (ja) | 1993-03-18 | 1993-03-18 | 昇圧回路 |
JP93-58,320 | 1993-03-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940022551A true KR940022551A (ko) | 1994-10-21 |
KR100270926B1 KR100270926B1 (ko) | 2000-11-01 |
Family
ID=13080989
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940004989A KR100270926B1 (ko) | 1993-03-18 | 1994-03-14 | 승압회로 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5489870A (ko) |
EP (1) | EP0616329B1 (ko) |
JP (1) | JP3307453B2 (ko) |
KR (1) | KR100270926B1 (ko) |
DE (1) | DE69413438T2 (ko) |
Families Citing this family (68)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5152450A (en) * | 1987-01-26 | 1992-10-06 | Hitachi, Ltd. | Wire-bonding method, wire-bonding apparatus,and semiconductor device produced by the wire-bonding method |
KR0157334B1 (ko) * | 1993-11-17 | 1998-10-15 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 전압 승압회로 |
US7102422B1 (en) * | 1994-04-20 | 2006-09-05 | Nippon Steel Corporation | Semiconductor booster circuit having cascaded MOS transistors |
JP2718375B2 (ja) * | 1994-09-30 | 1998-02-25 | 日本電気株式会社 | チャージポンプ回路 |
JP3167904B2 (ja) * | 1994-12-27 | 2001-05-21 | 日本鋼管株式会社 | 電圧昇圧回路 |
KR0137437B1 (ko) * | 1994-12-29 | 1998-06-01 | 김주용 | 챠지 펌프회로의 출력전압 조절회로 |
JP2738335B2 (ja) * | 1995-04-20 | 1998-04-08 | 日本電気株式会社 | 昇圧回路 |
GB2301720B (en) * | 1995-06-01 | 2000-05-24 | Motorola Inc | A MOS switching circuit |
US5698877A (en) * | 1995-10-31 | 1997-12-16 | Gonzalez; Fernando | Charge-pumping to increase electron collection efficiency |
JPH09162713A (ja) * | 1995-12-11 | 1997-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
US6218882B1 (en) * | 1995-12-23 | 2001-04-17 | Nec Corporation | Diode circuit for clamping the signals on a transmission line to a predetermined potential |
JPH09198887A (ja) * | 1996-01-12 | 1997-07-31 | Nec Corp | 高電圧発生回路 |
JP3394133B2 (ja) * | 1996-06-12 | 2003-04-07 | 沖電気工業株式会社 | 昇圧回路 |
US6100557A (en) * | 1996-10-10 | 2000-08-08 | Macronix International Co., Ltd. | Triple well charge pump |
EP0931379B1 (en) * | 1996-10-10 | 2008-08-06 | Macronix International Co., Ltd. | Triple well charge pump |
DE69619112D1 (de) * | 1996-10-11 | 2002-03-21 | St Microelectronics Srl | Verbesserte positive Ladungspumpe |
WO1998020401A1 (en) * | 1996-11-05 | 1998-05-14 | Aplus Flash Technology, Inc. | Positive/negative high voltage charge pump system |
US5841703A (en) * | 1996-12-31 | 1998-11-24 | Intel Corporation | Method and apparatus for removal of VT drop in the output diode of charge pumps |
DE69733603D1 (de) * | 1997-01-23 | 2005-07-28 | St Microelectronics Srl | NMOS, negative Ladungspumpe |
US6130574A (en) * | 1997-01-24 | 2000-10-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Circuit configuration for producing negative voltages, charge pump having at least two circuit configurations and method of operating a charge pump |
ATE204413T1 (de) * | 1997-01-24 | 2001-09-15 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum erzeugen negativer spannungen |
FR2759507B1 (fr) * | 1997-02-12 | 1999-03-26 | Sgs Thomson Microelectronics | Pompe de charge dans une technologie a double caisson |
JPH114575A (ja) * | 1997-06-11 | 1999-01-06 | Nec Corp | 昇圧回路 |
US6100751A (en) * | 1997-06-20 | 2000-08-08 | Intel Corporation | Forward body biased field effect transistor providing decoupling capacitance |
CN1196263C (zh) * | 1997-06-20 | 2005-04-06 | 英特尔公司 | 正向本体偏置晶体管电路 |
US6166584A (en) * | 1997-06-20 | 2000-12-26 | Intel Corporation | Forward biased MOS circuits |
US6218895B1 (en) | 1997-06-20 | 2001-04-17 | Intel Corporation | Multiple well transistor circuits having forward body bias |
US6232827B1 (en) | 1997-06-20 | 2001-05-15 | Intel Corporation | Transistors providing desired threshold voltage and reduced short channel effects with forward body bias |
US6300819B1 (en) | 1997-06-20 | 2001-10-09 | Intel Corporation | Circuit including forward body bias from supply voltage and ground nodes |
US6593799B2 (en) | 1997-06-20 | 2003-07-15 | Intel Corporation | Circuit including forward body bias from supply voltage and ground nodes |
US6124751A (en) * | 1997-06-30 | 2000-09-26 | Stmicroelectronics, Inc. | Boost capacitor for an H-bridge integrated circuit motor controller having matching characteristics with that of the low-side switching devices of the bridge |
JP3765163B2 (ja) * | 1997-07-14 | 2006-04-12 | ソニー株式会社 | レベルシフト回路 |
US6078212A (en) * | 1997-08-18 | 2000-06-20 | Micron Technology, Inc. | VT cancellation in output stage of charge pump |
US5886566A (en) * | 1997-08-21 | 1999-03-23 | Integrated Silicon Solution, Inc. | High voltage charge transfer stage |
FR2773012B1 (fr) * | 1997-12-24 | 2001-02-02 | Sgs Thomson Microelectronics | Dispositif a pompe de charges negatives |
JP3385960B2 (ja) * | 1998-03-16 | 2003-03-10 | 日本電気株式会社 | 負電圧チャージポンプ回路 |
JP3223504B2 (ja) * | 1998-03-31 | 2001-10-29 | 日本電気株式会社 | 昇圧回路 |
KR100268887B1 (ko) * | 1998-06-17 | 2000-10-16 | 김영환 | 차아지 펌프 회로 |
US5978283A (en) * | 1998-07-02 | 1999-11-02 | Aplus Flash Technology, Inc. | Charge pump circuits |
JP4491846B2 (ja) * | 1998-09-21 | 2010-06-30 | ソニー株式会社 | 不揮発性メモリのロウデコーダ |
US5982224A (en) * | 1998-09-22 | 1999-11-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Low-power charge pump circuit having reduced body effect |
JP3554497B2 (ja) * | 1998-12-08 | 2004-08-18 | シャープ株式会社 | チャージポンプ回路 |
US6285240B1 (en) | 1999-01-14 | 2001-09-04 | Macronix International Co., Ltd. | Low threshold MOS two phase negative charge pump |
WO2000042483A1 (en) * | 1999-01-14 | 2000-07-20 | Macronix Internaitonal Co., Ltd. | Low threshold mos two phase negative charge pump |
JP3476384B2 (ja) * | 1999-07-08 | 2003-12-10 | Necマイクロシステム株式会社 | 昇圧回路とその制御方法 |
US6265911B1 (en) * | 1999-12-02 | 2001-07-24 | Analog Devices, Inc. | Sample and hold circuit having improved linearity |
IT1313877B1 (it) * | 1999-12-17 | 2002-09-24 | St Microelectronics Srl | Moltiplicatore di tensione in tecnologia cmos |
US6696883B1 (en) * | 2000-09-20 | 2004-02-24 | Cypress Semiconductor Corp. | Negative bias charge pump |
JP2003051550A (ja) * | 2001-08-07 | 2003-02-21 | Denso Corp | 半導体装置 |
US6674317B1 (en) | 2002-09-18 | 2004-01-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Output stage of a charge pump circuit providing relatively stable output voltage without voltage degradation |
US6833753B2 (en) * | 2002-11-27 | 2004-12-21 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for signal dependent boosting in sampling circuits |
US6930536B2 (en) * | 2003-11-04 | 2005-08-16 | Micron Technology, Inc. | Voltage booster |
US7248988B2 (en) * | 2004-03-01 | 2007-07-24 | Transmeta Corporation | System and method for reducing temperature variation during burn in |
JP4773746B2 (ja) * | 2005-05-11 | 2011-09-14 | シャープ株式会社 | 昇圧回路 |
JP4712519B2 (ja) * | 2005-05-27 | 2011-06-29 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | ハイサイド駆動回路用チャージポンプ回路及びドライバ駆動電圧回路 |
KR100851546B1 (ko) * | 2006-09-22 | 2008-08-11 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 기억 장치 및 그 동작 방법 |
US8115597B1 (en) * | 2007-03-07 | 2012-02-14 | Impinj, Inc. | RFID tags with synchronous power rectifier |
US8710908B2 (en) * | 2011-01-28 | 2014-04-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Charge pump and method of biasing deep N-well in charge pump |
JP2012175441A (ja) | 2011-02-22 | 2012-09-10 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
CN102624222B (zh) * | 2012-03-27 | 2017-03-29 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 电荷泵及电荷泵系统 |
JP6031883B2 (ja) | 2012-08-08 | 2016-11-24 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路及び電源回路 |
US8947158B2 (en) * | 2012-09-03 | 2015-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
TWI663820B (zh) * | 2013-08-21 | 2019-06-21 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 電荷泵電路以及具備電荷泵電路的半導體裝置 |
US9343961B1 (en) * | 2013-09-13 | 2016-05-17 | Qualtre, Inc. | Ultrahigh voltage charge pump apparatus implemented with low voltage technology |
KR102267237B1 (ko) | 2014-03-07 | 2021-06-18 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 전자 기기 |
US9312280B2 (en) | 2014-07-25 | 2016-04-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US11611276B2 (en) | 2014-12-04 | 2023-03-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Charge pump circuit |
US11300988B2 (en) | 2018-08-07 | 2022-04-12 | Battery Savers Inc. | Method and system to boost battery voltage |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6038028B2 (ja) * | 1979-07-23 | 1985-08-29 | 三菱電機株式会社 | 基板電位発生装置 |
IT1221261B (it) * | 1988-06-28 | 1990-06-27 | Sgs Thomson Microelectronics | Moltiplicatore di tensione omos |
US5081371A (en) * | 1990-11-07 | 1992-01-14 | U.S. Philips Corp. | Integrated charge pump circuit with back bias voltage reduction |
-
1993
- 1993-03-18 JP JP5832093A patent/JP3307453B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-03-14 KR KR1019940004989A patent/KR100270926B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-03-17 EP EP94104235A patent/EP0616329B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-03-17 DE DE69413438T patent/DE69413438T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-03-17 US US08/214,145 patent/US5489870A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69413438T2 (de) | 1999-05-06 |
EP0616329A3 (en) | 1995-11-29 |
EP0616329A2 (en) | 1994-09-21 |
DE69413438D1 (de) | 1998-10-29 |
KR100270926B1 (ko) | 2000-11-01 |
EP0616329B1 (en) | 1998-09-23 |
US5489870A (en) | 1996-02-06 |
JPH06276729A (ja) | 1994-09-30 |
JP3307453B2 (ja) | 2002-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR940022551A (ko) | 승압회로 | |
KR900004039A (ko) | 복합 mos 트랜지스터 및 그의 프리휠 다이오드로의 응용 | |
TWI325636B (en) | Transistor with start-up control element | |
KR980005030A (ko) | 승압된 백게이트 바이어스를 갖는 다단 승압 회로 | |
KR930024010A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
TW426819B (en) | Bandgap reference voltage generating circuit | |
JPS63182848A (ja) | 集積回路 | |
KR890005977A (ko) | 증폭기 장치 | |
KR940022826A (ko) | 반도체 기판상에 제조된 집적 회로 | |
US5045716A (en) | Integrated circuit in complementary circuit technology comprising a substrate bias voltage generator | |
JPH03501669A (ja) | ラツチアツプ保護回路を有する集積回路 | |
KR880004589A (ko) | 기판바이어스 전압발생기를 구비한 상보형 집적회로 배열 | |
KR970072377A (ko) | 보호 회로 | |
ATE185451T1 (de) | Integrierte schaltung | |
JPS5937585B2 (ja) | 相補性mis論理回路 | |
KR920003629A (ko) | 바이어스 전압발생회로 및 연산증폭기 | |
JP2613579B2 (ja) | 集積半導体回路内の発生器回路 | |
JPH0219979B2 (ko) | ||
JP2730071B2 (ja) | 半導体回路 | |
JPS6130431B2 (ko) | ||
KR960032770A (ko) | 박막 반도체 집적 회로 | |
JPS63252464A (ja) | 半導体装置 | |
JPH01253267A (ja) | 半導体装置のための入力保護回路 | |
JPS63246018A (ja) | 遅延回路 | |
JPS6343901B2 (ko) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120730 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130802 Year of fee payment: 14 |
|
EXPY | Expiration of term |