KR930005210A - 디램셀의 구조 및 제조방법 - Google Patents

디램셀의 구조 및 제조방법 Download PDF

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정재승
송명섭
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문정환
금성일렉트론 주식회사
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices
    • H10B12/01Manufacture or treatment
    • H10B12/02Manufacture or treatment for one transistor one-capacitor [1T-1C] memory cells
    • H10B12/03Making the capacitor or connections thereto
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    • H10B12/0383Making the capacitor or connections thereto the capacitor being in a trench in the substrate wherein the transistor is vertical

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Abstract

내용 없음.

Description

디램셀의 구조 및 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 완성도.

Claims (2)

  1. P+기판(1)에 형성된 두개의 트렌치에 유전체막(9)과 P-형 폴리실리콘(8)을 형성하고 상기 폴리실리콘(8)의 기판 상방에 폴리실리콘(8)보다 내측으로 들어가게 에피층(8a)과 n+정션을 형성하여 커패시터를 구성하고, 상기 에피층(8a)의 측벽에는 게이트 산화막(3)과 게이트(4)를 수직으로 구성한 디램셀의 구조.
  2. 기판(1)에 두개의 트렌치를 형성하고 전 표면에 유전체(9)를 도포한뒤 트렌치에 채워지도륵 폴리실리콘(8)을 증착하는 공정과, 상기 폴리실리콘(8)을 기판(1)표면까지 에치백하고 산화막(7)을 증착하는 공정과, 상기 산화막(7)을 포토/에치 공정으로 선택적 제거하고 제거될 산화막(7)부분에 에피층(8a)을 형성한 후 에피층(8a)상부에 n+불순믈 이온주입하는 공정과, 상기 산화막(7)을 제거하고 게이트 산화막(3)과 폴리실리콘(4)을 증착한후 폴리실리콘(4)을 에치백하여 수직게이트를 형성하는 공정과, 평탄화용 SOG(11)을 증착하여 비트라인 연결을 위한 콘택을 형성하고 상기 n+정션과 연결되게 비트라인(12)을 증착하는 공정을 차례로 실시하여 저조하는 디램셀의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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