KR920015615A - 바이폴라 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 2
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- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N phosphinic chloride Chemical compound ClP=O RLOWWWKZYUNIDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도 (a)-(f)는 본발명의 1실시예에 따른 제조공정도이다.
Claims (1)
- 불순물 주입으로 콜렉터영역이 형성된 바이폴라 트랜지스터에 있어서, 베이스 형성영역의 에피택셜층을 소정두께만큼 제거하고 불순물 주입으로 베이스영역을 형성하는 공정과, 그 측면에 산화막으로된 측벽을 형성하는 공정과, 폴리실리콘의 도포와 POCl3의 도핑후 에미터 형성영역으로 한정하여 에미터영역을 형성하는 공정으로 이루어진 셀프얼라인된 바이폴라 트랜지스터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019910000844A KR940004257B1 (ko) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 바이폴라 트랜지스터의 제조방법 |
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---|---|---|---|
KR1019910000844A KR940004257B1 (ko) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 바이폴라 트랜지스터의 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920015615A true KR920015615A (ko) | 1992-08-27 |
KR940004257B1 KR940004257B1 (ko) | 1994-05-19 |
Family
ID=19310038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019910000844A KR940004257B1 (ko) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 바이폴라 트랜지스터의 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR940004257B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100363078B1 (ko) * | 1995-12-30 | 2003-02-05 | 삼성전자 주식회사 | 공정을단순화한바이씨모스(BiCMOS)트랜지스터의제조방법 |
-
1991
- 1991-01-18 KR KR1019910000844A patent/KR940004257B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100363078B1 (ko) * | 1995-12-30 | 2003-02-05 | 삼성전자 주식회사 | 공정을단순화한바이씨모스(BiCMOS)트랜지스터의제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR940004257B1 (ko) | 1994-05-19 |
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