KR20160148834A

KR20160148834A - 표시장치 및 그의 검사방법

Info

Publication number: KR20160148834A
Application number: KR1020150085456A
Authority: KR
Inventors: 변민우; 이승규
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2015-06-16
Filing date: 2015-06-16
Publication date: 2016-12-27
Also published as: CN106257571B; US20160372017A1; CN106257571A; US9875676B2; KR102343803B1

Abstract

본 발명은 패널의 크랙을 검출할 수 있도록 한 표시장치에 관한 것이다.
본 발명의 실시예에 의한 표시장치는 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과; 상기 데이터선들의 일측단에 접속되며, 상기 데이터선들로 데이터신호를 공급하기 위한 데이터 구동부와; 상기 데이터선들의 타측단에 접속되며, 상기 화소들에 검사신호를 공급하기 위한 검사부와; 상기 검사부와 전기적으로 접속되며, 패널의 일측으로부터 타측으로 이어지도록 형성되는 하나 이상의 검출선과; 상기 검출선과 리셋 전압원 사이에 접속되며, 제 1제어신호가 공급될 때 턴-온되는 리셋 트랜지스터를 구비한다.

Description

표시장치 및 그의 검사방법{Display Apparatus and Inspecting Method Thereof}

본 발명의 실시예는 표시장치 및 그의 검사방법에 관한 것으로, 특히 패널의 크랙을 검출할 수 있도록 한 표시장치 및 그의 검사방법에 관한 것이다.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결매체인 표시장치의 중요성이 부각되고 있다. 이에 부응하여 액정 표시장치(Liquid Crystal Display Device) 및 유기전계발광 표시장치(Organic Light Emitting Display Device) 등과 같은 표시장치(Display Apparatus)의 사용이 증가하고 있다.

일반적으로, 표시장치의 패널들은 하나의 모기판 상에 형성되며, 스크라이빙(Scribing)되어 개개의 패널로 분리된다. 하지만, 모기판이 절단되는 과정에서 패널의 주변에 크랙(Crack)이 발생될 수 있다. 따라서, 표시장치의 패널의 크랙을 검출할 수 있는 방법이 요구되고 있다. 또한, 표시장치에 플렉서블 패널이 장착되면서, 패널의 크랙을 검출할 수 있는 방법이 요구되고 있다.

따라서, 본 발명은 패널의 크랙을 검출할 수 있도록 한 표시장치 및 그의 검사방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 실시예에 의한 표시장치는 주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과; 상기 데이터선들의 일측단에 접속되며, 상기 데이터선들로 데이터신호를 공급하기 위한 데이터 구동부와; 상기 데이터선들의 타측단에 접속되며, 상기 화소들에 검사신호를 공급하기 위한 검사부와; 상기 검사부와 전기적으로 접속되며, 패널의 일측으로부터 타측으로 이어지도록 형성되는 하나 이상의 검출선과; 상기 검출선과 리셋 전압원 사이에 접속되며, 제 1제어신호가 공급될 때 턴-온되는 리셋 트랜지스터를 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 리셋 전압원은 상기 데이터 구동부로부터 공급되는 데이터신호보다 낮은 전압값으로 설정된다.

실시 예에 의한, 상기 리셋 전압원은 화이트 데이터신호보다 낮은 전압값으로 설정된다.

실시 예에 의한, 상기 주사선들로 주사신호를 공급하기 위한 주사 구동부를 더 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 화소들은 제 1색을 표시하는 제 1화소, 제 2색을 표시하는 제 2화소, 제 3색을 표시하는 제 3화소를 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 제 1화소는 적색 화소, 상기 제 2화소는 청색 화소, 상기 제 3화소는 녹색 화소이다.

실시 예에 의한, 상기 검사부는 상기 검출선의 일측단과 상기 제 3화소와 접속된 특정 데이터선 사이에 접속되며, 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1제어 트랜지스터와, 상기 검출선의 타측단과 상기 제 3화소로 검사신호를 공급하기 위한 제 3검사선 사이에 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2제어 트랜지스터를 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 제 1제어신호 및 제 2제어신호는 중첩되지 않는다.

실시 예에 의한, 패널의 크랙을 검사하는 검사기간 동안 상기 제 1제어신호가 공급되는 제 1기간 동안 상기 데이터 구동부는 화이트 데이터신호를 공급하며, 상기 제 2제어신호가 공급되는 제 2기간 동안 상기 제 3검사선으로는 블랙 데이터신호에 대응하는 전압이 공급되며, 상기 주사 구동부는 상기 주사선들로 주사신호를 순차적으로 공급한다.

실시 예에 의한, 상기 데이터 구동부와 상기 데이터선들 사이에 접속되는 디먹스부를 더 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 디먹스는 상기 제 1화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 1스위칭소자와, 상기 제 2화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 2스위칭소자와, 상기 제 3화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 3스위칭소자를 구비하며, 상기 제 3스위칭소자는 상기 제 1기간 동안 턴-온된다.

실시 예에 의한, 상기 검사부는 상기 제 1화소에 접속된 데이터선들과 제 1검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1트랜지스터와, 상기 제 2화소에 접속된 데이터선들과 제 2검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2트랜지스터와, 상기 특정 데이터선을 제외한 제 3화소에 접속된 데이터선들과 상기 제 3검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 3트랜지스터를 구비한다.

실시 예에 의한, 상기 제 3트랜지스터는 듀얼 게이트 트랜지스터이다.

실시 예에 의한, 상기 제 1트랜지스터 및 제 2트랜지스터 중 적어도 하나는 듀얼 게이트 트랜지스터이다.

본 발명의 실시예에 의한 화소들에 검사신호를 공급하기 위한 검사부와, 양측단이 상기 검사부와 전기적으로 접속되는 적어도 하나의 검출선을 구비하는 표시장치의 검사방법은 상기 검출선의 일측단과 특정 데이터선 사이에 위치된 제 1제어 트랜지스터 및 상기 검출선의 타측단과 검사선 사이에 위치된 제 2제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 단계와, 상기 검출선과 리셋 전압원 사이에 접속되는 리셋 트랜지스터를 턴-온시키는 단계와, 상기 특정 데이터선으로 데이터신호를 공급하는 단계와, 상기 리셋 트랜지스터는 턴-오프시키며, 상기 제 1제어 트랜지스터 및 제 2제어 트랜지스터를 턴-온하여 상기 검사선으로부터의 전압을 상기 특정 데이터선으로 공급하는 단계를 포함한다.

실시 예에 의한, 상기 데이터신호는 화이트 계조에 대응하는 전압이다.

실시 예에 의한, 상기 검사선으로부터의 상기 전압은 블랙 데이터신호에 대응하는 전압이다.

실시 예에 의한, 상기 특정 데이터선은 녹색 화소들과 접속된다.

실시 예에 의한, 상기 리셋 전압원은 상기 데이터신보다 낮은 전압값으로 설정된다.

실시 예에 의한, 상기 검사선으로부터의 전압을 상기 특정 데이터선으로 공급될 때 상기 특정 데이터선과 접속된 화소들을 수평라인 단위로 턴-온시키기 위하여 주사선들로 주사신호를 공급하는 단계를 더 포함한다.

본 발명의 실시예에 의한 표시장치 및 그의 검사방법에 의하면, 패널의 일측으로부터 타측까지 형성되는 검출선을 이용하여 패널의 크랙을 검출할 수 있다. 특히, 본원 발명에서는 검출선과 접속된 리셋 트랜지스터를 이용하여 검출선으로 리셋전압을 공급하고, 이에 따라 크랙 검출의 신뢰성을 확보할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 실시예를 나타내는 도면이다.
도 3은 본원 발명의 실시예에 의한 크랙 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 4a 내지 도 4c는 크랙 검사 방법에 대응한 화소들의 표시 휘도를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 또 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 8은 도 7에 도시된 디먹스부의 실시예를 나타내는 도면이다.
도 9는 본원 발명의 다른 실시예에 의한 크랙 검사방법을 나타내는 도면이다.

이하 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예 및 그 밖에 당업자가 본 발명의 내용을 쉽게 이해하기 위하여 필요한 사항에 대하여 상세히 기재한다. 다만, 본 발명은 청구범위에 기재된 범위 안에서 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으므로 하기에 설명하는 실시예는 표현 여부에 불구하고 예시적인 것에 불과하다.

즉, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 이하의 설명에서 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 도면에서 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 참조번호 및 부호로 나타내고 있음에 유의해야 한다.

본원 발명에서 신호가 공급된다는 것은, 신호를 공급받는 트랜지스터가 턴-온되는 전압이 공급됨을 의미한다. 그리고, 신호의 공급이 중단된다는 것은, 신호를 공급받는 트랜지스터가 턴-오프되는 전압이 공급됨을 의미한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 표시장치(100)는 패널(102), 주사 구동부(110), 데이터 구동부(120), 검사부(130), 화소부(140) 및 패드부(160)를 구비한다.

화소부(140)는 데이터선들(D1 내지 Dm) 및 주사선들(S1 내지 Sn)에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들(미도시)을 구비한다. 화소들은 서로 다른 색의 빛을 방출하는 제 1화소들, 제 2화소들 및 제 3화소들을 포함한다. 데이터선들(D1 내지 Dm)은 제 1방향으로 형성되고, 주사선들(S1 내지 Sn)은 제 2방향으로 형성된다.

주사 구동부(110)는 외부로부터 패드부(160)를 경유하여 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(SCS)를 공급받는다. 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(sCS)를 공급받은 주사 구동부(110)는 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호를 공급한다. 일례로, 주사 구동부(110)는 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호를 순차적으로 공급할 수 있다. 추가적으로, 도 1에서는 설명의 편의성을 위하여 주사 구동부(110)가 하나의 패드와 접속되는 것으로 도시되었지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다. 일례로, 주사 구동부(110)는 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(SCS)에 대응하여 복수의 패드와 접속될 수 있다.

데이터 구동부(120)는 데이터선들(D1 내지 Dm)의 일측단에 접속된다. 이와 같은 데이터 구동부(120)는 외부로부터 패드부(160)를 경유하여 데이터(Data) 및 데이터 제어신호(DCS)를 공급받는다. 데이터(Data) 및 데이터 제어신호(DCS)를 공급받은 데이터 구동부(120)는 주사신호에 동기되도록 데이터신호들을 생성하고, 생성된 데이터신호들을 데이터선들(D1 내지 Dm)로 공급한다. 이와 같은 데이터 구동부(120)는 패널(102)에 형성되거나, 집적회로(Integrated Circuit)로 형태로 패널(102)에 실장될 수 있다.

검사부(130)는 데이터선들(D1 내지 Dm)의 타측단에 접속된다. 이와 같은 검사부(130)는 패널(102)에 대한 검사가 수행되는 기간 동안 패드부(160)를 경유하여 검사신호를 공급받는다. 검사신호를 공급받은 검사부(130)는 화소들의 점등검사를 포함한 다양한 검사를 수행한다. 추가적으로, 검사부(130)는 검출선(180a, 180b)을 이용하여 패널(102)의 크랙을 검출한다.

패드부(160)는 외부로부터 공급되는 전원들 및/또는 신호들을 패널(102)로 전달하기 위한 다수의 패드(P)들을 구비한다.

패널(102)의 비표시부에는 패드부(160)로부터 전원들 및/또는 신호들을 공급받기 위한 제 1배선그룹(150), 제 2배선그룹(170) 및 검출선(180a, 180b)이 구비된다.

제 1배선그룹(150)은 제 1배선(150a), 제 2배선(150b), 제 3배선(150c) 및 제 4배선(150d)을 구비한다. 제 1배선(150a)은 외부로부터 제 1전원(ELVDD)을 공급받아 화소부(140)로 공급한다. 제 2배선(150b)은 외부로부터 제 2전원(ELVSS)을 공급받아 화소부(140)로 공급한다.

화소부(140)로 공급된 제 1전원(ELVDD) 및 제 2전원(ELVSS)은 화소들 각각으로 공급된다. 화소들 각각은 데이터신호에 대응하여 제 1전원(ELVDD)으로부터 제 2전원(ELVSS)으로 공급되는 전류량을 제어하면서 소정 휘도의 빛을 생성한다. 이를 위하여, 제 1전원(ELVDD)은 제 2전원(ELVSS)보다 높은 전압값으로 설정된다.

제 3배선(150c)은 외부로부터 데이터(Data) 및 데이터 제어신호(DCS)를 공급받아 데이터 구동부(120)로 전달한다. 이를 위하여, 제 3배선(150c)은 복수의 배선을 포함할 수 있다. 제 4배선(150d)은 외부로부터 주사구동전원(VDD, VSS) 및 주사제어신호(SCS)를 공급받아 주사 구동부(110)로 전달한다. 여기서, 제 1주사구동전원(VDD)은 하이전압으로 설정되며, 제 2주사구동전원(VSS)은 로우전압으로 설정될 수 있다.

제 4배선(150d)은 하나의 배선으로 도시되었지만, 실제로는 다수의 배선으로 구성될 수 있다. 예를 들어, 제 4배선(150d)은 제 1주사구동전원(VDD), 제 2주사구동전원(VSS), 주사제어신호(SCS)에 포함되는 스타트 펄스 및 클럭신호에 대응하여 4개 이상의 배선으로 구성될 수 있다.

제 2배선그룹(170)은 패널(102)의 검사를 위해 제어신호들 및 검사신호를 공급받아 검사부(130)로 전달한다. 이를 위하여, 제 2배선그룹(170)은 복수의 배선으로 구성될 수 있다. 예를 들어, 제 2배선그룹(170)은 제어신호들, 적색 검사신호, 녹색 검사신호 및 청색 검사신호에 대응하여 4개 이상의 배선으로 구성될 수 있따.

검출선(180a, 180b)은 패널(102)의 크랙을 검출하기 위한 배선으로, 적어도 하나 이상 형성된다. 도 1에서는 설명의 편의성을 위하여 2개의 검출선(180a, 180b)이 형성된 것으로 도시하였다. 검출선(180a, 180b)은 패널(102)의 외곽부에 형성되며, 패널(102)의 일측으로부터 타측으로 이어지도록 형성된다. 검출선(180a, 180b)의 일측단 및 타측단은 검사부(130)와 전기적으로 접속된다.

이와 같은 검출선(180a, 180b)은 패널(102)의 일측으로부터 타측으로 이어지도록 형성되기 때문에 소정의 커패시턴스 및 저항을 갖는다. 그리고, 검출선(180a, 180b)의 저항은 패널(102)의 크랙에 대응하여 증가한다.

다시 말하여, 패널(102)에 크랙이 발생되는 경우 검출선(180a, 180b)을 이루는 금속, 예를 들어, 소스/드레인 메탈에 크랙이 발생한다. 검출선(180a, 180b)에 크랙이 발생하면 검출선(180a, 180b)의 저항이 증가되며, 이에 따라 검출선(180a, 180b)의 RC 딜레이가 증가하게 된다.

본원 발명의 실시예에서는 검출선(180a, 180b)의 저항 증가를 이용하여 패널(102)의 크랙을 검출하며, 이에 대해서 상세한 설명은 후술하기로 한다.

추가적으로, 도시되지는 않았지만, 패널(102)에는 화소들의 발광시간을 제어하기 위하여 발광 제어신호를 공급하기 위한 발광 제어부가 더 포함될 수 있다.

도 2는 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 실시예를 나타내는 도면이다.

도 2를 참조하면, 화소부(140)는 제 1색을 표시하는 제 1화소들(R), 제 2색을 표시하는 제 2화소들(B) 및 제 3색을 표시하는 제 3화소들(G)을 구비한다. 여기서, 제 1화소들(R)은 적색, 제 2화소들(B)은 청색, 제 3화소들(G)은 녹색의 빛을 표시할 수 있다.

제 1화소들(R), 제 2화소들(B) 및 제 3화소들(G)는 화소부(140) 내에서 수직라인 단위로 배치된다. 따라서, 수직라인 단위로 배치된 데이터선들(D1 내지 Dm) 각각은 제 1화소(R)들, 제 2화소들(B) 및 제 3화소들(G) 중 어느 하나의 화소들(R, B 또는 G)과 접속된다. 추가적으로, 도 2에서는 화소부(140)가 적색, 녹색 및 청색을 표시하기 위한 화소들을 포함하는 것으로 도시하고 있으나, 적색, 녹색 및 청색 이외의 색을 표시하기 위한 화소들(미도시)을 더 포함할 수도 있다.

검사부(130)는 제 1검사선(170a), 제 2검사선(170b) 및 제 3검사선(170c)을 구비한다. 여기서, 제 1검사선(170a), 제 2검사선(170b) 및 제 3검사선(170c)은 제 2배선그룹(170)에 포함되는 배선으로, 검사과정에서 각각 직류 형태의 적색 검사신호(DC_R), 청색 검사신호(DC_B) 및 녹색 검사신호(DC_G)를 공급받는다.

제 1데이터선(D1, D4,...) 각각과 제 1검사선(170a) 사이에는 제 1트랜지스터(M1)들이 형성된다. 제 1트랜지스터(M1)들은 제 2제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되어 제 1검사선(170a)과 제 1데이터선(D1, D4,...)을 전기적으로 접속시킨다. 여기서, 제 1데이터선(D1, D4,...)은 제 1화소들(R)과 접속된 데이터선을 의미한다.

제 2데이터선(D3, D6,...) 각각과 제 2검사선(170b) 사이에는 제 2트랜지스터(M2)들이 형성된다. 제 2트랜지스터(M2)들은 제 2제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되어 제 2검사선(170b)과 제 2데이터선(D3, D6,..)을 전기적으로 접속시킨다. 여기서, 제 2데이터선(D3, D6,...)은 제 2화소들(B)과 접속된 데이터선을 의미한다.

제 3데이터선(D5,...) 각각과 제 3검사선(170c) 사이에는 제 3트랜지스터(M3)들이 형성된다. 제 3트랜지스터(M3)들은 제 2제어신호(CS)가 공급될 때 턴-온되어 제 3검사선(170c)과 제 3데이터선(D5,...)을 전기적으로 접속시킨다. 여기서, 제 3데이터선(D5,...)은 제 3화소들(G)과 접속된 데이터선을 의미한다. 다만, 제 3데이터선(D5,...)에는 검출선(180a, 180b)과 전기적으로 접속되는 특정 데이터선(D2, Dm-1)이 포함되지 않는다.

제 1제어 트랜지스터(MC1a, MC1b)는 검출선(180a, 180b)의 일측단과 특정 데이터선(D2, Dm-1) 사이에 접속된다. 일례로, 첫 번째 제 1제어 트랜지스터(MC1a)는 제 1검출선(180a)과 제 2데이터선(D2) 사이에 접속되며, 제 2제어신호(CS2)가 공급될 때 턴-온된다. 그리고, 두 번째 제 1제어 트랜지스터(MC1b)는 제 2검출선(180b)과 제 Dm-1데이터선(Dm-1) 사이에 접속되며, 제 2제어신호(CS2)가 공급될 때 턴-온된다.

검출선(180a, 180b)과 각각 접속되는 특정 데이터선(D2, Dm-1)은 크랙 검출에 이용되는 것으로, 시인성이 좋은 제 3화소(G)에 접속될 수 있다. 추가적으로, 도 2에서는 설명의 편의성을 위하여 특정 데이터선을 제 2데이터선(D2), 제 m-1데이터선(Dm-1)으로 도시하였지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다. 일례로, 특정 데이터선은 제 3화소(G)에 접속된 데이터선들(D2, D5, ..) 중 어느 하나로 선택될 수 있다. 또한, 상술한 설명에서는 특정 데이터선이 제 3화소(G)에 접속되는 것으로 설명되었지만, 특정 데이터선은 제 1화소(R) 또는 제 2화소(B)에 접속된 데이터선들(D1, D3, D4, D6,..) 중 어느 하나로 선택될 수 있다.

제 2제어 트랜지스터(MC2a, MC2b)는 검출선(180a, 180b)의 타측단과 제 3검사선(170c) 사이에 접속된다. 일례로, 첫 번째 제 2제어 트랜지스터(MC2a)는 제 1검출선(180a)과 제 3검사선(170c) 사이에 접속되며, 제 2제어신호(CS2)가 공급될 때 턴-온되다. 그리고, 두 번째 제 2제어 트랜지스터(MC2b)는 제 2검출선(180b)과 제 3검사선(170c) 사이에 접속되며, 제 2제어신호(CS2)가 공급될 때 턴-온된다.

리셋 트랜지스터(MR1, MR2)는 검출선(180a, 180b) 각각과 리셋 전압원(VR) 사이에 접속된다. 일례로, 제 1리셋 트랜지스터(MR1)는 제 1검출선(180a)과 리셋 전압원(VR) 사이에 접속되며, 제 1제어신호(CS1)가 공급될 때 턴-온된다. 그리고, 제 2리셋 트랜지스터(MR2)는 제 2검출선(180b)과 리셋 전압원(VR) 사이에 접속되며, 제 1제어신호(CS1)가 공급될 때 턴-온된다.

여기서, 리셋 전압원(VR)은 데이터신호보다 낮은 전압, 예를 들면 화이트 데이터신호보다 낮은 전압값으로 설정된다. 일례로, 리셋 전압원(VR)은 제 2전원(ELVSS) 또는 제 2주사구동전원(VSS)으로 설정될 수 있다.

추가적으로, 제 1제어신호(CS1) 및 제 2제어신호(CS2)는 서로 중첩되지 않는다. 따라서, 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)는 제어 트랜지스터들(MC1a, MC1b, MC2a, MC2b)과 턴-온 기간이 중첩되지 않는다.

점등 검사 과정을 개략적으로 설명하면, 먼저 제 2제어신호(CS2)가 공급되어 트랜지스터들(M1, M2, M3) 및 제어 트랜지스터들(MC1a, MC1b, MC2a, MC2b)이 턴-온된다. 트랜지스터들(M1, M2, M3) 및 제어 트랜지스터들(MC1a, MC1b, MC2a, MC2b)이 턴-온되면 검사선들(170a, 170b, 170c) 각각이 데이터선들(D1 내지 Dm)에 접속된다.

일례로, 제 1검사선(170a)은 제 1데이터선들(D1, D4,...)과 접속되고, 이에 따라 적색 검사신호(DC_R)가 제 1데이터선들(D1, D4,...)로 공급된다. 제 2검사선(170b)은 제 2데이터선들(D3, D6,...)과 접속되고, 이에 따라 청색 검사신호(DC_B)가 제 2데이터선들(D3, D6,...)로 공급된다. 제 3검사선(170c)은 제 3데이터선들(D5,...) 및 특정 데이터선(D2, Dm-1)에 접속되고, 이에 따라 녹색 검사신호(DC_G)가 제 3데이터선들(D5,...) 및 특정 데이터선(D2, Dm-1)으로 공급된다.

이후, 주사 구동부(110)로부터의 주사신호에 대응하여 검사신호들(DC_R, DC_B, DC_G)은 화소들(R, G, B)로 공급되고, 이에 따라 화소들(R, G, B)은 검사신호(DC_R, DC_B 및 DC_G 중 어느 하나)에 대응하는 빛을 생성한다. 이와 같은 점등 검사는 일반적인 것으로, 현재 공지된 다양한 방법으로 수행될 수 있다.

도 3은 본원 발명의 실시예에 의한 크랙 검사 방법을 나타내는 도면이다.

도 3을 참조하면, 크랙 검사기간에는 패널(102)의 크랙을 검출한다. 크랙 검사기간의 제 1기간(T1)에는 데이터 구동부(120)로부터 데이터선들(D1 내지 Dm)로 화이트 데이터신호(DS(W))가 공급된다. 데이터선들(D1 내지 Dm)로 화이트 데이터신호(DS(W))가 공급되면, 데이터선들(D1 내지 Dm)은 화이트 데이터신호(DS(W))의 전압으로 초기화된다. 여기서, 화이트 데이터신호(DS(W))는 화소들(R, G, B)에 포함된 트랜지스터가 PMOS인 경우, 데이터 구동부(120)에서 공급되는 데이터신호 중 가장 낮은 전압으로 설정된다. 추가적으로, 데이터 구동부(120)는 제 1기간(T1) 동안 제 3화소들(G)과 접속된 데이터선들, 즉 제 3데이터선들(D5,...) 및 특정 데이터선(D2, Dm-1)으로만 화이트 데이터신호를 공급할 수도 있다.

또한, 제 1기간(T1)에는 제 1제어신호(CS1)가 공급되어 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)가 턴-온된다. 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)가 턴-온되면 검출선(180a, 180b)으로 리셋 전압원(VR)의 전압이 공급된다. 즉, 제 1기간(T1) 동안 검출선(180a, 180b)은 리셋 전압원(VR)의 전압에 의하여 초기화된다.

크랙 검사기간의 제 2기간(T2)에는 제 2제어신호(CS2)가 공급된다. 제 2제어신호(CS2)가 공급되면 제어 트랜지스터들(MC1a, MC1b, MC2a, MC2b), 제 1트랜지스터들(M1), 제 2트랜지스터(M2) 및 제 3트랜지스터(M3)들이 턴-온된다.

제 1트랜지스터들(M1)이 턴-온되면 제 1검사선(170a)과 제 1데이터선들(D1, D4,...)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_R)가 제 1데이터선들(D1, D4,...)로 공급된다. 제 2트랜지스터들(M2)이 턴-온되면 제 2검사선(170b)과 제 2데이터선들(D3, D6,..)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_B)가 제 2데이터선들(D3, D6,...)로 공급된다. 제 3트랜지스터들(M3)이 턴-온되면 제 3검사선(170c)과 제 3데이터선들(D5,...)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_G)가 제 3데이터선들(D5,...)로 공급된다. 여기서, 제 2기간(T2)에는 검사신호(DC_R, DC_B, DC_G)로서 블랙 데이터신호에 대응하는 전압이 공급된다.

첫 번째 제 1제어 트랜지스터(MC1a) 및 첫 번째 제 2제어 트랜지스터(MC2a)가 턴-온되면 제 3검사선(170c)으로부터의 검사신호(DC_G)가 제 1검출선(180a)을 경유하여 제 2데이터선(D2)으로 공급된다. 그러면, 제 1검출선(180a)은 리셋 전압원(VR)의 전압으로부터 검사신호(DC_G), 즉 블랙 데이터신호의 전압으로 상승한다.

두 번째 제 2제어 트랜지스터(MC1b) 및 두 번째 제 2제어 트랜지스터(MC2b)가 턴-온되면 제 3검사선(170c)으로부터의 검사신호(DC_G)가 제 2검출선(180b)을 경유하여 제 m-1데이터선(D2)으로 공급된다. 그러면, 제 2검출선(180b)은 리셋 전압원(VR)의 전압으로부터 검사신호(DC_G), 즉 블랙 데이터신호의 전압으로 상승한다.

한편, 제 2기간(T2) 동안 주사 구동부(110)는 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호를 순차적으로 공급한다. 그러면, 데이터선들(D1 내지 Dm)로부터의 블랙 데이터신호가 수령라인 단위로 화소들(R, G, B)로 공급되고, 이에 따라 화소들(R, G, B)은 블랙의 계조를 구현한다. 추가적으로, 제 2기간(T2)에는 제 3검사선(170c)으로만 블랙 데이터신호의 전압이 공급될 수도 있다.

패널(102)에 크랙이 발생되지 않는 경우, 제 2기간(T2) 동안 화소들(R, G, B)은 도 4a와 같이 블랙의 계조를 구현한다.

하지만, 패널(102)에 크랙이 발생된 경우, 특정 데이터선(D2 및/또는 Dm-1)과 접속된 화소들(G)은 도 4b 및/또는 도 4c와 같이 소정 계조의 빛을 생성한다. 상세히 설명하면, 패널(102)에 크랙이 발생되는 경우 검출선(180a 및/또는 180b)의 저항이 증가된다. 검출선(180a 및/또는 180b)의 저항이 증가되면, 리셋 전압원(VR)의 전압으로부터 블랙 데이터신호의 전압으로 상승되는 시간이 증가된다.

즉, 패널(102)에 크랙이 발생되는 경우, 제 2기간(T2) 동안 검출선(180a 및/또는 180b)의 전압은 블랙 데이터신호의 전압으로 상승되지 못하고, 이에 따라 특정 데이터선(D2 및/또는 Dm-1)과 접속된 화소들(G)에서 블랙의 계조가 표현되지 못한다. 따라서, 본원 발명에서는 크랙 검사기간 동안 특정 데이터선(D2, Dm-1)과 접속된 화소들(G)의 발광 상태를 이용하여 패널(102)의 크랙을 검출할 수 있다.

추가적으로, 본원 발명은 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)를 이용하여 검출선(180a, 180b)의 전압을 리셋 전압원(VR)의 전압으로 하강시키기 때문에 동작의 신뢰성을 확보할 수 있다. 일례로, 제 1기간(T1) 동안 검출선(180a, 180b)으로 리셋 전압원(VR)의 전압을 공급하지 않는 경우, 패널(102)에 크랙이 발생하더라도 검출선(180a, 180b)의 전압이 블랙 데이터신호의 전압까지 상승할 수 있다.

도 5는 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 다른 실시예를 나타내는 도면이다. 도 5를 설명할 때 도 2와 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 할당함과 아울러 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 5를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에서 검사부(130)에 포함된 제 3트랜지스터(M3')는 듀얼 게이트 트랜지스터로 형성된다. 상세히 설명하면, 패널(102)의 크랙을 검출하기 위하여 사용되는 특정 데이터선(D2, Dm-1) 각각은 2개의 트랜지스터(MC1a, MC2a 또는 MC1b, MC2b)와 접속된다.

이때, 특정 데이터선(D2, Dm-1)을 제외한 제 3화소(G)와 접속되는 제 3데이터선들(D5,..) 각각이 하나의 제 3트랜지스터(M3)와 접속되면, 점등 검사의 신뢰성을 낮아질 수 있다. 다시 말하여, 점등 검사 시 특정 데이터선(D2, Dm-1)과 접속된 제 3화소들(G)과 제 3데이터선(D5,...)과 접속된 제 3화소들(G)이 서로 다른 휘도의 빛을 생성할 수 있다. 따라서, 본원 발명의 다른 실시예에서는 제 3트랜지스터(M3')를 듀얼 게이트 트랜지스터로 형성함으로써 제 3데이터선들(D5,...)과 접속된 제 3화소들(G)과 특정 데이터선(D2, Dm-1)과 접속된 제 3화소들(G)의 밝기 특성을 균일하게 설정할 수 있다.

도 6은 도 1에 도시된 화소부 및 검사부의 또 다른 실시예를 나타내는 도면이다. 도 6을 설명할 때 도 2와 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 할당함과 아울러 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 6을 참조하면, 본 발명의 또 다른 실시에에서 검사부(130)에 포함된 제 1트랜지스터(M1'), 제 2트랜지스터(M2') 및 제 3트랜지스터(M3')는 듀얼 게이트 트랜지스터로 형성된다.

상세히 설명하면, 패널(102)의 크랙을 검출하기 위하여 사용되는 특정 데이터선(D2, Dm-1) 각각은 2개의 트랜지스터(MC1a, MC2a 또는 MC1b, MC2b)와 접속되고, 특정 데이터선(D2, Dm-1)을 제외한 데이터선들은 하나의 트랜지스터(M1, M2, M3 중 어느 하나)와 접속된다. 그러면, 점등 검사시에 특정 데이터선(D2, Dm-1)과 접속된 화소들(G)과 그 외의 데이터선들에 접속된 화소들(R, G, B) 간에 휘도 편차가 발생될 수 있다. 따라서, 본원 발명의 또 다른 실시예에서는 제 1트랜지스터(M1'), 제 2트랜지스터(M2') 및 제 3트랜지스터(M3')를 듀얼 게이트 트랜지스터로 형성함으로써 화소들(R, G, B)의 밝기 특성을 균일하게 설정할 수 있다.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 의한 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 7을 설명할 때 도 1과 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 할당함과 아울러 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 7을 참조하면, 본 발명의 다른 실시에에 의한 표시장치는 데이터선들(D1 내지 Dm)과 데이터 구동부(120) 사이에 접속되는 디먹스부(190)를 더 구비한다.

디먹스부(190)는 데이터 구동부(120)의 출력선(O1 내지 Oi) 각각으로 공급되는 복수의 데이터신호를 복수의 데이터선으로 공급한다. 일례로, 디먹스부(190)는 제 1출력선(O1)으로 공급되는 세 개의 데이터신호를 제 1데이터선(D1), 제 2데이터선(D2) 및 제 3데이터선(D3)으로 분할하여 공급할 수 있다.

제 1배선그룹(150)은 제 5배선(150e)을 추가로 구비한다. 제 5배선(150e)은 외부로부터의 먹스 제어신호(MCS)를 디먹스부(190)로 공급한다. 이를 위하여, 제 5배선(150e)은 복수의 배선을 포함할 수 있다.

도 8은 도 7에 도시된 디먹스부의 실시예를 나타내는 도면이다. 도 8에서는 설명의 편의성을 위하여 디먹스부(190)에 3개의 스위칭소자(SW1 내지 SW3)가 포함되는 것으로 도시되었지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다. 실제로, 디먹스부(190)에 포함되는 스위칭소자는 적어도 둘 이상으로 다양하게 설정될 수 있다.

도 8을 참조하면, 디먹스부(190)는 제 1스위칭소자(SW1), 제 2스위칭소자(SW2) 및 제 3스위칭소자(SW3)를 구비한다.

제 1스위칭소자(SW1)는 제 1데이터선(D1, D4,...) 각각과 데이터 구동부(120) 사이에 접속된다. 이와 같은 제 1스위칭소자(SW1)는 제 1먹스 제어신호(MCS1)가 공급될 때 턴-온된다.

제 2스위칭소자(SW2)는 제 2데이터선(D3, D6,...) 각각과 데이터 구동부(120) 사이에 접속된다. 이와 같은 제 2스위칭소자(SW2)는 제 2먹스 제어신호(MCS2)가 공급될 때 턴-온된다.

제 3스위칭소자(SW3)는 제 4데이터선(D2, D5,...) 각각과 데이터 구동부(120) 사이에 접속된다. 이와 같은 제 3스위칭소자(SW3)는 제 3먹스 제어신호(MCS3)가 공급될 때 턴-온된다. 여기서, 제 4데이터선(D2, D5,...)은 제 3화소들(G)과 접속된 데이터선을 의미한다.

제 1스위칭소자(SW1) 내지 제 3스위칭소자(SW3)는 1수평기간 동안 순차적 또는 비순차적으로 턴-온되면서 출력선(O1 내지 Oi) 각각으로 공급되는 3개의 데이터신호를 3개의 데이터선으로 전달한다.

도 9는 본원 발명의 다른 실시예에 의한 크랙 검사방법을 나타내는 도면이다.

도 9를 참조하면, 크랙 검사기간의 제 1기간(T1')에는 제 3먹스 제어신호(MCS3)가 공급되어 제 3스위칭소자(SW3)들이 턴-온된다. 그러면, 제 1기간(T1') 동안 데이터 구동부(120)로부터의 화이트 데이터신호(DS(W))가 제 3화소들(G)로 공급된다. 추가적으로, 제 1기간(T1') 동안 제 1먹스 제어신호(MCS1) 및 제 2먹스 제어신호(MCS2)가 제 3먹스 제어신호(MCS3)와 중첩되지 않도록 순차적으로 공급될 수 있다. 그러면, 데이터 구동부(120)로부터의 화이트 데이터신호가 제 1화소들(R), 제 2화소들(G) 및 제 3화소들(G)로 공급된다.

추가적으로, 제 1기간(T1') 동안 제 1제어신호(CS1)가 공급되어 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)가 턴-온된다. 리셋 트랜지스터(MR1, MR2)가 턴-온되면 검출선(180a, 180b)으로 리셋 전압원(VR)의 전압이 공급된다. 즉, 제 1기간(T1') 동안 검출선(180a, 180b)은 리셋 전압원(VR)의 전압에 의하여 초기화된다.

크랙 검사기간의 제 2기간(T2')에는 제 2제어신호(CS2)가 공급된다. 제 2제어신호(CS2)가 공급되면 제어 트랜지스터들(MC1a, MC1b, MC2a, MC2b), 제 1트랜지스터들(M1), 제 2트랜지스터(M2) 및 제 3트랜지스터(M3)들이 턴-온된다.

제 1트랜지스터들(M1)이 턴-온되면 제 1검사선(170a)과 제 1데이터선들(D1, D4,...)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_R)가 제 1데이터선들(D1, D4,...)로 공급된다. 제 2트랜지스터들(M2)이 턴-온되면 제 2검사선(170b)과 제 2데이터선들(D3, D6,..)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_B)가 제 2데이터선들(D3, D6,...)로 공급된다. 제 3트랜지스터들(M3)이 턴-온되면 제 3검사선(170c)과 제 3데이터선들(D5,...)이 접속되고, 이에 따라 검사신호(DC_G)가 제 3데이터선들(D5,...)로 공급된다. 여기서, 제 2기간(T2')에는 검사신호(DC_R, DC_B, DC_G)로는 블랙 데이터신호에 대응하는 전압이 공급된다. 추가적으로, 제 2기간(T2')에는 제 3검사선(170c)으로만 블랙 데이터신호의 전압이 공급될 수 있다.

한편, 제 2기간(T2') 동안 주사 구동부(110)는 주사선들(S1 내지 Sn)로 주사신호를 순차적으로 공급한다. 그러면, 데이터선들(D1 내지 Dm)로부터의 블랙 데이터신호가 수령라인 단위로 화소들(R, G, B)로 공급되고, 이에 따라 화소들(R, G, B)은 블랙의 계조를 구현한다.

패널(102)에 크랙이 발생되지 않는 경우, 제 2기간(T2') 동안 화소들(R, G, B)은 도 4a와 같이 블랙의 계조를 구현한다.

즉, 패널(102)에 크랙이 발생되는 경우, 제 2기간(T2') 동안 검출선(180a 및/또는 180b)의 전압은 블랙 데이터신호의 전압으로 상승되지 못하고, 이에 따라 특정 데이터선(D2 및/또는 Dm-1)과 접속된 화소들(G)에서 블랙의 계조가 표현되지 못한다. 따라서, 본원 발명에서는 크랙 검사기간 동안 특정 데이터선(D2, Dm-1)과 접속된 화소들(G)의 발광 상태를 이용하여 패널(102)의 크랙을 검출할 수 있다.

한편, 상술한 설명에서는 본원 발명에서는 설명의 편의성을 위하여 트랜지스터들을 피모스(PMOS)로 도시하였지만, 본원 발명이 이에 한정되지는 않는다. 다시 말하여, 트랜지스터들은 엔모스(NMOS)로 형성될 수도 있다.

본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

전술한 발명에 대한 권리범위는 이하의 특허청구범위에서 정해지는 것으로써, 명세서 본문의 기재에 구속되지 않으며, 청구범위의 균등 범위에 속하는 변형과 변경은 모두 본 발명의 범위에 속할 것이다.

110 : 주사 구동부 120 : 데이터 구동부
130 : 검사부 140 : 화소부
150,170 : 배선그룹 150a,150b,150c,150d : 배선
160 : 패드부 170a,170b,170c : 검사선
180a,180b : 검출선 190 : 디먹스부

Claims

주사선들 및 데이터선들에 의하여 구획된 영역에 위치되는 화소들과;
상기 데이터선들의 일측단에 접속되며, 상기 데이터선들로 데이터신호를 공급하기 위한 데이터 구동부와;
상기 데이터선들의 타측단에 접속되며, 상기 화소들에 검사신호를 공급하기 위한 검사부와;
상기 검사부와 전기적으로 접속되며, 패널의 일측으로부터 타측으로 이어지도록 형성되는 하나 이상의 검출선과;
상기 검출선과 리셋 전압원 사이에 접속되며, 제 1제어신호가 공급될 때 턴-온되는 리셋 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 1항에 있어서,
상기 리셋 전압원은 상기 데이터 구동부로부터 공급되는 데이터신호보다 낮은 전압값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 2항에 있어서,
상기 리셋 전압원은 화이트 데이터신호보다 낮은 전압값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 1항에 있어서,
상기 주사선들로 주사신호를 공급하기 위한 주사 구동부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 4항에 있어서,
상기 화소들은,
제 1색을 표시하는 제 1화소,
제 2색을 표시하는 제 2화소,
제 3색을 표시하는 제 3화소를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 5항에 있어서,
상기 제 1화소는 적색 화소, 상기 제 2화소는 청색 화소, 상기 제 3화소는 녹색 화소인 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 4항에 있어서,
상기 검사부는
상기 검출선의 일측단과 상기 제 3화소와 접속된 특정 데이터선 사이에 접속되며, 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1제어 트랜지스터와,
상기 검출선의 타측단과 상기 제 3화소로 검사신호를 공급하기 위한 제 3검사선 사이에 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2제어 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 7항에 있어서,
상기 제 1제어신호 및 제 2제어신호는 중첩되지 않는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 7항에 있어서,
패널의 크랙을 검사하는 검사기간 동안
상기 제 1제어신호가 공급되는 제 1기간 동안 상기 데이터 구동부는 화이트 데이터신호를 공급하며,
상기 제 2제어신호가 공급되는 제 2기간 동안 상기 제 3검사선으로는 블랙 데이터신호에 대응하는 전압이 공급되며, 상기 주사 구동부는 상기 주사선들로 주사신호를 순차적으로 공급하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 9항에 있어서,
상기 데이터 구동부와 상기 데이터선들 사이에 접속되는 디먹스부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 10항에 있어서,
상기 디먹스는
상기 제 1화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 1스위칭소자와,
상기 제 2화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 2스위칭소자와,
상기 제 3화소에 접속된 데이터선들에 각각 접속되는 제 3스위칭소자를 구비하며,
상기 제 3스위칭소자는 상기 제 1기간 동안 턴-온되는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 7항에 있어서,
상기 검사부는
상기 제 1화소에 접속된 데이터선들과 제 1검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 1트랜지스터와,
상기 제 2화소에 접속된 데이터선들과 제 2검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 2트랜지스터와,
상기 특정 데이터선을 제외한 제 3화소에 접속된 데이터선들과 상기 제 3검사선 사이에 각각 접속되며, 상기 제 2제어신호가 공급될 때 턴-온되는 제 3트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 12항에 있어서,
상기 제 3트랜지스터는 듀얼 게이트 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 표시장치.
제 12항에 있어서,
상기 제 1트랜지스터 및 제 2트랜지스터 중 적어도 하나는 듀얼 게이트 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 표시장치.
화소들에 검사신호를 공급하기 위한 검사부와, 양측단이 상기 검사부와 전기적으로 접속되는 적어도 하나의 검출선을 구비하는 표시장치의 검사방법에 있어서;
상기 검출선의 일측단과 특정 데이터선 사이에 위치된 제 1제어 트랜지스터 및 상기 검출선의 타측단과 검사선 사이에 위치된 제 2제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 단계와,
상기 검출선과 리셋 전압원 사이에 접속되는 리셋 트랜지스터를 턴-온시키는 단계와,
상기 특정 데이터선으로 데이터신호를 공급하는 단계와,
상기 리셋 트랜지스터는 턴-오프시키며, 상기 제 1제어 트랜지스터 및 제 2제어 트랜지스터를 턴-온하여 상기 검사선으로부터의 전압을 상기 특정 데이터선으로 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
제 15항에 있어서,
상기 데이터신호는 화이트 계조에 대응하는 전압인 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
제 15항에 있어서,
상기 검사선으로부터의 상기 전압은 블랙 데이터신호에 대응하는 전압인 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
제 15항에 있어서,
상기 특정 데이터선은 녹색 화소들과 접속되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
제 15항에 있어서,
상기 리셋 전압원은 상기 데이터신보다 낮은 전압값으로 설정되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.
제 15항에 있어서,
상기 검사선으로부터의 전압을 상기 특정 데이터선으로 공급될 때 상기 특정 데이터선과 접속된 화소들을 수평라인 단위로 턴-온시키기 위하여 주사선들로 주사신호를 공급하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 검사방법.