CN112669740B - 显示面板的检测方法、显示面板和显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种显示面板的检测方法、显示面板和显示装置。显示面板包括显示区和非显示区，显示区内一条数据线与至少一个子像素电连接；非显示区包括至少一条信号线，信号线通过开关单元与至少一条数据线电连接。向信号线提供脉冲信号；在信号线上至少一次信号跳变的时段控制开关单元对应开启一次，以通过信号线向数据线写入数据信号，数据信号为在脉冲信号跳变时段截取的脉冲信号；根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光。本发明利用信号线上的微裂纹会导致其传输的信号存在延迟的现象，当信号线上存在微裂纹时，写入数据线的数据信号与参考数据信号存在差异，则子像素的亮度与参考亮度不同，从而判断信号线上存在微裂纹。

Description

显示面板的检测方法、显示面板和显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法、显示面板和显示装置。
背景技术
目前在显示面板的工艺制程中可能会导致显示面板中的信号线产生裂纹，现有技术中有针对信号线中裂纹进行检测的方法。但是工艺制程中也可能会导致信号线上产生微裂纹，由于微裂纹对信号线上电阻影响较小，且微裂纹并不会影响信号线传输信号的功能，显示面板显示正常，造成微裂纹检测困难。但是，虽然在显示面板应用的初期信号线上存在的微裂纹不影响显示，但是经过长时间使用后，随着信号线老化微裂纹逐渐变大甚至导致信号线断裂，则会造成面板显示失效。因此，提供一种对信号线上微裂纹进行检测的方法是本领域亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法、显示面板和显示装置，以实现对信号线上的微裂纹进行检测。
第一方面，本发明实施例提供一种显示面板的检测方法，显示面板包括显示区和非显示区，显示区包括多条数据线，一条数据线与一个像素列中的至少一个子像素电连接；
非显示区包括至少一条信号线、至少一个开关单元和至少一条开关控制线，信号线通过开关单元与至少一条数据线电连接，其中，开关单元的控制端与开关控制线电连接，开关单元的输入端与信号线电连接，开关单元的输出端与至少一条数据线电连接；检测方法包括：
向信号线提供脉冲信号；
在信号线上的脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制开关单元对应开启一次，以将信号线与数据线导通，且通过信号线向数据线写入数据信号，数据信号为在脉冲信号跳变时段截取的脉冲信号；
根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，其中，当信号线对应的数据线连接的子像素亮度与参考亮度不同时，判断信号线上存在微裂纹。
第二方面，本发明实施例提供一种显示面板，显示面板包括显示区和非显示区；显示区包括多条数据线，一条数据线与一个像素列中的至少一个子像素电连接；
非显示区包括至少一条信号线、至少一个开关单元和至少一条开关控制线，信号线通过开关单元与至少一条数据线电连接，其中，开关单元的控制端与开关控制线电连接，开关单元的输入端与信号线电连接，开关单元的输出端与至少一条数据线电连接；
其中，显示面板能够采用本发明实施例提供的检测方法对信号线上的微裂纹进行检测。
第三方面，本发明实施例还提供一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示面板。
本发明实施例提供的显示面板的检测方法、显示面板和显示装置，具有如下有益效果：在对显示面板进行检测时，向信号线上提供脉冲信号，截取信号线上信号跳变时段的信号作为数据信号，并根据数据信号控制子像素发光，利用信号线上的微裂纹会导致其传输的信号存在延迟的现象，当信号线上存在微裂纹时，则写入子像素的数据信号与参考数据信号存在差异，则相应的子像素的亮度与参考亮度不同，从而判断信号线上存在微裂纹，实现对信号线上微裂纹的检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板示意图；
图2为本发明实施例提供的显示面板的检测方法流程图；
图3为信号线上传输脉冲信号的时序图；
图4为本发明实施例提供的检测方法中向数据线写入数据信号的时序图；
图5为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程；
图6为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图；
图7为采用本发明实施例提供的检测方法进行检测的显示面板一种局部简化示意图；
图8为图6实施例提供的检测方法的一种时序图；
图9为图6实施例提供的检测方法的另一种时序图；
图10为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图；
图11为图10实施例提供的检测方法的一种时序图；
图12为图10实施例提供的检测方法的另一种时序图；
图13为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图；
图14为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部简化示意图；
图15为本发明实施例提供的检测方法中另一种时序图；
图16为本发明实施例提供的检测方法中另一种时序图；
图17为本发明实施例提供的检测方法的另一种时序图；
图18为本发明实施例提供的检测方法的另一种时序图；
图19为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图；
图20为本发明实施例提供的显示面板中移位单元的一种结构示意图；
图21为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图；
图22为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图；
图23为本发明实施例提供的另一种检测方法流程图；
图24为图23实施例提供的检测方法的一种时序图；
图25为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图；
图26为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图；
图27为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部示意图；
图28为本发明实施例提供的显示装置示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法，利用信号线上的微裂纹会导致其传输的信号存在延迟的现象，截取信号线上信号跳变过程中的信号作为数据信号来控制子像素发光，当信号线上存在微裂纹时，则写入子像素的数据信号与参考数据信号存在差异，则相应的子像素的亮度与参考亮度不同，从而判断信号线上存在微裂纹，实现对信号线上微裂纹的检测。在显示面板出厂之前检出信号线上存在微裂纹的产品，能够提升出厂产品的性能可靠性。
下面结合显示面板的结构对本发明实施例提供的检测方法进行详细的说明。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板示意图，图2为本发明实施例提供的显示面板的检测方法流程图。图3为信号线上传输脉冲信号的时序图。图4为本发明实施例提供的检测方法中向数据线写入数据信号的时序图。
如图1所示，显示面板包括显示区AA和非显示区BA，显示区包括多条数据线10，一条数据线10与一个像素列中的至少一个子像素sp电连接；在俯视图中竖直方向排列的多个子像素sp形成像素列，水平方向排列的多个子像素sp形成像素行。非显示区BA包括至少一条信号线20、至少一个开关单元30和至少一条开关控制线40，信号线20通过开关单元30与至少一条数据线10电连接，其中，开关单元30的控制端与开关控制线40电连接，开关单元30的输入端与信号线20电连接，开关单元30的输出端与至少一条数据线10电连接。开关控制线40用于提供有效电平信号以控制开关单元30打开，使得信号线20与数据线10导通。本发明实施例提供的显示面板能够采用下述检测方法对信号线20上的微裂纹进行检测。
如图2所示，检测方法包括：
步骤S101：向信号线20提供脉冲信号。
如图3中示意的，H1为向信号线20提供的脉冲信号的时序图；H2为信号线20上不存在微裂纹时信号线20上传输的信号的时序图；H3为信号线20上存在较小裂纹时信号线20上传输的信号的时序图；H4为信号线20上存在较大裂纹时信号线20上传输的信号的时序图。其中，脉冲信号包括高电平信号和低电平信号，当信号线20上存在微裂纹时，信号线20上的微裂纹会导致其传输的脉冲信号存在延迟，比如，脉冲信号由高电平信号向低电平信号跳变时，在信号线20上没有微裂纹时，经过t1秒之后信号线20上的信号由高电平变为低电平；而在信号线20上存在微裂纹时，则需要经过t2秒之后才能使得信号线20上的信号由高电平变为低电平，其中，t2大于t1。并且随着裂纹增大，信号线20上传输信号的延迟越明显。
步骤S102：在信号线20上的脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制开关单元30对应开启一次，以将信号线20与数据线10导通，且通过信号线20向数据线10写入数据信号，数据信号为在脉冲信号跳变时段截取的脉冲信号。具体的，在信号跳变的时刻，开关控制线40提供有效电平信号，控制开关单元30开启，以将信号线20与数据线10导通。
其中，脉冲信号中的信号跳变包括由高电平信号向低电平信号的跳变和由低电平信号向高电平信号的跳变。如图4所示，脉冲信号的高电平信号的电压为VH，低电平信号的电压为VL。当信号线20上存在微裂纹时，以信号线20传输图3中H3示意的信号为例，在信号线20上信号由高电平向低电平的跳变的时段控制开关单元30开启一次，从信号开始跳变的时间点开始控制开关单元30的开启时长为t3，t3小于t2，则最终写入到数据线10的数据信号的电压为VD，其中，VL<VD<VH。当信号线20上不存在微裂纹时，以信号线20传输图3中H2示意的信号为例，在信号线20上信号由高电平信号向低电平信号的跳变的时段控制开关单元30开启一次，从信号开始跳变的时间点开始控制开关单元30的开启时长为t3，t3大于t1，则最终写入到数据线10的数据信号的电压为VL。
步骤S103：根据数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，其中，当信号线20对应的数据线10连接的子像素sp亮度与参考亮度不同时，判断信号线20上存在微裂纹。
具体的，在数据信号为脉冲信号中由高电平信号向低电平信号跳变时段截取的信号时，在信号线20上不存在微裂纹时，写入数据线10的数据信号的电压为VL，以根据电压为VL的数据信号控制子像素发光时，子像素的亮度为参考亮度，此时脉冲信号中的低电平信号VL相当于参考数据信号。当信号线20上存在微裂纹时，写入数据线10的数据信号的电压为VD，大于VL，则根据电压为VD的数据信号控制子像素发光时，子像素的亮度与参考亮度不同。由此可通过将信号线对应的数据线连接的子像素亮度与参考亮度进行比较，来判断信号线上是否存在微裂纹。另外，当数据信号为脉冲信号中由低电平信号向高电平信号跳变时段截取的信号时，则相应的参考数据信号为脉冲信号中高电平信号VH。
本发明实施例提供的检测方法，向信号线上提供脉冲信号，截取信号线上信号跳变时段的信号作为数据信号，并根据数据信号控制子像素发光，利用信号线上的微裂纹会导致其传输的信号存在延迟的现象，当信号线上存在微裂纹时，则向数据线写入的数据信号与参考数据信号存在差异，则相应的子像素的亮度与参考亮度不同，从而判断信号线上存在微裂纹，实现对信号线上微裂纹的检测。
具体的，图5为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图。如图5所示，检测方法包括：
步骤S201：向信号线20提供脉冲信号。
步骤S202：在信号线20上的脉冲信号由高电平信号向低电平信号跳变的时段控制开关单元30对应开启一次，且开关单元30的开启时间为T"，将信号线20与数据线10导通，且通过信号线20向数据线10写入数据信号。
步骤S203：根据开关单元30的开启时间为T"时写入的数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，此时信号线20对应的数据线10连接的子像素sp的亮度与参考亮度相同。
在对显示面板进行检测时，首先给开关单元30设定一个较长的开启时间T"，当开关单元30的开启时间较长时，信号线20上的微裂纹导致的延迟对数据信号的写入没有影响。以图4中时序H3为例，当开关单元30的开启时间大于t2时，即使在信号线20存在微裂纹的情况下，向数据线10写入的数据信号的电压值也为VL，也就是写入的数据信号与参考数据信号相同。
步骤S204：在信号线20上的脉冲信号由高电平信号向低电平信号跳变的时段控制开关单元30对应开启一次，且开关单元30的开启时间为T'，其中，T'<T"；将信号线20与数据线10导通，且通过信号线20向数据线10写入数据信号。
步骤S205：根据开关单元30的开启时间为T'时写入的数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，此时信号线20对应的数据线10连接的子像素sp的亮度与参考亮度不同，判断信号线20上存在微裂纹。
在对显示面板进行检测时，首先给开关单元30设定一个较长的开启时间，来检测相应的子像素的亮度情况，然后逐渐缩短开关单元30的开启时间，当信号线20上存在微裂纹时，开关单元30的开启时间缩短后，向数据线写入的数据信号即为信号跳变过程中的信号，比如当截取由高电平向低电平跳变时段的信号时，最终向数据线10写入的数据信号的电压值大于低电平信号的电压值VL，也即向数据线10写入的数据信号的电压值偏大。则该数据信号控制的子像素的发光亮度与参考亮度存在差异，由此判断相应的信号线上存在微裂纹。
本发明实施例提供的检测方法中，截取信号线上信号跳变时刻的信号作为数据信号来控制子像素发光，进而判断信号线上是否存在微裂纹。其中，对信号跳变时段的信号的截取方式，包括仅截取由高电平信号向低电平信号跳变时段的信号、仅截取由低电平信号向高电平信号跳变时段的信号、或者由高电平信号向低电平信号跳变时段的信号以及由低电平信号向高电平信号跳变时段的信号均截取用作驱动不同子像素发光的数据信号。
具体的，在一种实施例中，图6为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图。图7为采用本发明实施例提供的检测方法进行检测的显示面板一种局部简化示意图，图8为图6实施例提供的检测方法的一种时序图。
如图7所示，信号线20通过开关单元30与数据线10连接，开关单元30的控制端与开关控制线40连接。其中，一条数据线10与一个像素列中的多个子像素sp电连接，图中示意出了与数据线10连接的子像素sp-1至sp-6。显示面板还包括多条扫描线，一条扫描线与一个像素行中的多个子像素电连接。图中示意出了扫描线Sn+1至Sn+6，其中，n为正整数。步骤S103根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：向扫描线提供扫描信号，根据扫描信号的控制将数据信号写入子像素，以控制与数据线连接的子像素发光。也就是说，通过扫描线向子像素提供扫描信号，以将数据信号写入到子像素中。
如图6所示，检测方法包括：
步骤S301：向信号线20提供脉冲信号。
步骤S302：在信号线20上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，控制开关单元30开启一次，将信号线20与数据线10导通，且通过信号线20向数据线10写入第一数据信号，第一数据信号即为由高电平信号跳变到低电平信号的时段截取的脉冲信号。
其中，开关单元30开启一次，则向数据线10写入一次数据信号。可选的，通过对比一个子像素的亮度与参考亮度的差异，来判断相应的信号线是否存在微裂纹。可选的，通过对比与一条数据线连接的多个子像素的亮度和参考亮度的差异，来判断相应的信号线是否存在微裂纹，则在检测时控制控制开关单元30在多个由高电平信号跳变到低电平信号的时段分别开启一次，以实现向一条数据线10上写入多个数据信号。
步骤S303：根据第一数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，当子像素sp的亮度小于参考亮度时，判断信号线20上存在微裂纹，其中，参考亮度为将脉冲信号中的低电平信号写入到子像素sp时该子像素sp的发光亮度。
如图8所示，以信号线20上的信号的时序为图3中H3为例，在每次由高电平信号VH跳变到低电平信号VL的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，并控制开关单元30的开启时长为t4，t4小于t2，则通过信号线20向数据线10写入的第一数据信号的电压为VD1，VL<VD1。根据有机发光显示技术中发光电流Id的计算公式，Id＝K*(Vpvdd-Vdata)2，其中，K为常数，Vpvdd为正极电源电压值，Vdata为写入到子像素的数据信号的电压。写入到子像素中的数据信号的电压越大则子像素的发光亮度越低，则当第一数据信号控制子像素发光的亮度小于参考亮度时，判断信号线20上存在微裂纹。
该实施方式提供的检测方法，在信号线上脉冲信号由高电平信号向低电平信号跳变的时段控制开关单元打开一次，以向数据线写入第一数据信号。当信号线上存在微裂纹时，微裂纹导致的信号线上的信号存在延迟，向数据线写入的第一数据信号的电压大于脉冲信号中低电平信号的电压，则根据第一数据信号控制的子像素的发光亮度小于根据脉冲信号中低电平信号控制的子像素的发光亮度。也就是说，当用于检测的子像素的发光亮度偏暗时，则判断信号线上存在微裂纹。
结合图8时序图中扫描线Sn+1至Sn+3的时序、以及图7中扫描线与像素列中子像素连接方式进行理解。扫描线Sn+1至Sn+3为依次排列的三条扫描线，在每条扫描线提供扫描信号的时段均分别与开关控制线40提供有效电平信号的时段交叠。扫描线Sn+1与子像素sp-1连接，扫描线Sn+2与子像素sp-2连接，扫描线Sn+3与子像素sp-3连接。开关控制线40第一次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-1，开关控制线40第二次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-2，开关控制线40第三次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-3。该实施方式将写入到数据线10上的多个数据信号依次提供给像素列中多个像素sp，也即根据多个数据信号依次控制像素列中的多个子像素sp发光。当信号线20存在微裂纹时，在多个由高电平信号向低电平信号跳变的时段截取的多个第一数据信号分别写入到像素列中的多个子像素中，当该一列像素列发光亮度小于参考亮度时，也即，该一列像素列发光亮度偏暗时，则判断信号线上存在微裂纹。
图8时序图示意的检测方法将数据信号依次写入到像素列中依次排列的多个子像素中，也即在检测时像素列中依次排列的多个子像素都会被点亮。
在另一种实施例中，一个像素列中的多个子像素包括检测子像素和非检测子像素，步骤S103根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素发光。也就是在检测时像素列中仅有部分子像素被点亮。图9为图6实施例提供的检测方法的另一种时序图。结合图7示意的扫描线与像素列中子像素连接方式进行理解。如图9所示，在每次由高电平信号VH跳变到低电平信号VL的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，并控制开关单元30的开启时长为t4，t4小于t2，则通过信号线20向数据线10写入的第一数据信号的电压为VD1。扫描线Sn+1、扫描线Sn+3、以及扫描线Sn+5提供扫描信号的时段均分别与开关控制线40提供有效电平信号的时段交叠。扫描线Sn+1与子像素sp-1连接，扫描线Sn+3与子像素sp-3连接，扫描线Sn+5与子像素sp-5连接。开关控制线40第一次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-1，开关控制线40第二次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-3，开关控制线40第三次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-5。该实施方式中，子像素sp-1、子像素sp-3、子像素sp-5相当于检测子像素，子像素sp-2、子像素sp-4、子像素sp-6相当于非检测子像素，由于在扫描线Sn+2、扫描线Sn+4、以及扫描线Sn+6提供扫描信号的时段并没有数据信号写入到数据线10，则分别与扫描线Sn+2、扫描线Sn+4、以及扫描线Sn+6连接的子像素均不发光。通过对比子像素sp-1、子像素sp-3、子像素sp-5的亮度与参考亮度的不同，来判断信号线20存在微裂纹。该实施方式提供的检测方法，根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素(像素列中的部分子像素)发光，以判断信号线是否存在微裂纹。
具体的，在另一种实施例中，图10为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图。图11为图10实施例提供的检测方法的一种时序图。如图10所示，检测方法包括：
步骤S401：向信号线20提供脉冲信号。
步骤S402：在信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段，控制开关单元30开启一次，将信号线20与数据线10导通，且通过信号线20向数据线10写入第二数据信号，第二数据信号为由低电平信号跳变到高电平信号的时段截取的脉冲信号。
可选的，通过对比一个子像素的亮度与参考亮度的差异，来判断相应的信号线是否存在微裂纹，则控制开关单元30开启一次。可选的，通过对比与一条数据线连接的多个子像素的亮度和参考亮度的差异，来判断相应的信号线是否存在微裂纹，则在检测时控制控制开关单元30在多个由低电平信号跳变到高电平信号的时段分别开启一次，以实现向一条数据线10上写入多个数据信号。
步骤S403：根据第二数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，当子像素sp的亮度大于参考亮度时，判断信号线20上存在微裂纹，其中，参考亮度为将脉冲信号中的高电平信号写入到子像素sp时该子像素sp的发光亮度。
如图11所示，以信号线20上的信号的时序为图3中H3为例，在每次由低电平信号VL跳变到高电平信号VH的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，并控制开关单元30的开启时长为t4，t4小于t2，则通过信号线20向数据线10写入的第二数据信号的电压为VD2，VD2<VH。根据有机发光显示技术中发光电流的计算公式，写入到子像素中的数据信号的电压越小则子像素的发光亮度越高，则当第二数据信号控制子像素发光的亮度大于参考亮度时，判断信号线20上存在微裂纹。
该实施方式提供的检测方法，在信号线上脉冲信号由低电平信号向高电平信号跳变的时段控制开关单元打开一次，以向数据线写入第二数据信号。当信号线上存在微裂纹时，微裂纹导致的信号线上的信号存在延迟，向数据线写入的第二数据信号的电压小于脉冲信号中高电平信号的电压，则根据第二数据信号控制的子像素的发光亮度大于根据脉冲信号中高电平信号控制的子像素的发光亮度。也就是说，当用于检测的子像素的发光亮度偏亮时，则判断信号线上存在微裂纹。
结合图11时序图中扫描线Sn+1至Sn+3的时序、以及图7中扫描线与像素列中子像素连接方式进行理解。扫描线Sn+1至Sn+3为依次排列的三条扫描线，在每条扫描线提供扫描信号的时段均分别与开关控制线40提供有效电平信号的时段交叠。开关控制线40第一次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-1，开关控制线40第二次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-2，开关控制线40第三次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第一数据信号写入到了子像素sp-3。该实施方式将写入到数据线10上的多个数据信号依次提供给像素列中多个像素sp，也即根据多个数据信号依次控制像素列中的多个子像素sp发光。当信号线20存在微裂纹时，将在多个由低电平信号向高电平信号跳变的时段截取的多个第二数据信号分别写入到像素列中的多个子像素中，当该一列像素列发光亮度大于参考亮度时，也即，该一列像素列发光亮度偏亮时，则判断信号线上存在微裂纹。
图11时序图示意的检测方法将数据信号依次写入到像素列中依次排列的多个子像素中，也即在检测时像素列中依次排列的多个子像素都会被点亮。在另一种实施例中，一个像素列中的多个子像素包括检测子像素和非检测子像素，步骤S103根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素发光。也就是在检测时像素列中仅有部分子像素被点亮。图12为图10实施例提供的检测方法的另一种时序图。结合图7示意的扫描线与像素列中子像素连接方式进行理解。如图12所示，在每次由低电平信号VL跳变到高电平信号VH的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，并控制开关单元30的开启时长为t4，t4小于t2，则通过信号线20向数据线10写入的第二数据信号的电压为VD2。扫描线Sn+2、扫描线Sn+4、以及扫描线Sn+6提供扫描信号的时段均分别与开关控制线40提供有效电平信号的时段交叠。扫描线Sn+2与子像素sp-2连接，扫描线Sn+4与子像素sp-4连接，扫描线Sn+6与子像素sp-6连接。开关控制线40第一次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第二数据信号写入到了子像素sp-2，开关控制线40第二次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第二数据信号写入到了子像素sp-4，开关控制线40第三次提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，截取到的第二数据信号写入到了子像素sp-6。该实施方式中，子像素sp-2、子像素sp-4、子像素sp-6相当于检测子像素，子像素sp-1、子像素sp-3、子像素sp-5相当于非检测子像素，由于在扫描线Sn+1、扫描线Sn+3、以及扫描线Sn+5提供扫描信号的时段并没有数据信号写入到数据线10，则分别与扫描线Sn+1、扫描线Sn+3、以及扫描线Sn+5连接的子像素均不发光。通过对比子像素sp-2、子像素sp-4、子像素sp-6的亮度与参考亮度的不同，来判断信号线20存在微裂纹。该实施方式提供的检测方法，根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素(像素列中的部分子像素)发光，以判断信号线是否存在微裂纹。
具体的，在另一种实施例中，图13为本发明实施例提供的另一种检测方法的流程图。如图13所示，检测方法包括：
步骤S501：向信号线20提供脉冲信号。
步骤S502：在信号线20上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制开关单元30开启一次，通过信号线20向数据线10写入第一数据信号；且在信号线20上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制开关单元开启30一次，通过信号线20向数据线10写入第二数据信号；其中，第一数据信号为由高电平信号跳变到低电平信号的时段截取的脉冲信号，第二数据信号为由低电平信号跳变到高电平信号的时段截取的脉冲信号；
步骤S503：根据第一数据信号控制与数据线10连接的第一子像素发光；根据第二数据信号控制与数据线10连接的第二子像素发光；当第一子像素的亮度小于第一参考亮度，且第二子像素的亮度大于第二参考亮度时，判断信号线10上存在微裂纹。其中，第一参考亮度为将脉冲信号中的低电平信号写入到子像素时该子像素的发光亮度，第二参考亮度为将脉冲信号中的高电平信号写入到子像素时该子像素的发光亮度。脉冲信号中的低电平信号相当于第一参考数据信号，脉冲信号中的高电平信号相当于第二参考数据信号。
根据上述图6和图10实施例中的说明，可以理解，当信号线20上存在微裂纹时，在信号线20上由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制开关单元30开启一次时，向数据线10写入的第一数据信号的电压大于脉冲信号中低电平信号的电压VL；在信号线20上由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制开关单元开启30一次时，向数据线10写入的第二数据信号的电压小于脉冲信号中高电平信号的电压VH。并根据第一数据信号控制第一子像素发光，根据第二数据信号控制第二子像素发光。将脉冲信号中的低电平信号写入到子像素时子像素的发光亮度作为第一参考亮度，将脉冲信号中的高电平信号写入到子像素时子像素的发光亮度作为第二参考亮度。通过对比第一子像素的亮度与第一参考亮度之间的差异、以及第二子像素的亮度与第二参考亮度之间的差异，能够实现对信号线上微裂纹的检测。
在一种实施例中，步骤S502包括：在信号线上由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制开关单元开启一次和在信号线上由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制开关单元开启一次交替执行。图14为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部简化示意图，图14实施例提供的显示面板中的信号线能够采用该实施方式提供的检测方法进行检测。图15为本发明实施例提供的检测方法中另一种时序图。
如图14所示，信号线20通过开关单元30与数据线10连接，开关单元30的控制端与开关控制线40连接。其中，与数据线10连接的像素列包括至少一个第一子像素sp1和至少一个第二子像素sp2，且第一子像素sp1和第二子像素sp2交替设置。显示面板还包括多条扫描线，一条扫描线与一个像素行中的多个子像素电连接。图中示意出了扫描线Sn+1至Sn+6，其中，n为正整数。步骤S103根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：向扫描线提供扫描信号，根据扫描信号的控制将数据信号写入子像素以控制与数据线连接的子像素发光。
如图15所示，以信号线20上不存在微裂纹时传输的信号为图3中H2、信号线20上存在较小裂纹时传输的信号为图3中H3为例。图中示意扫描线的提供的扫描信号的宽度与信号线上传输的脉冲信号的宽度大致相同。且扫描线上传输扫描信号的时间与开关控制线40提供有效电平信号的时间存在交叠，则在信号线20上信号跳变的时段控制开关单元30开启一次，以向数据线20写入数据信号，在向数据线20写入数据信号的同时扫描线向子像素提供扫描信号，数据线20将数据信号写入的子像素中以控制子像素发光。以图中示意的信号线20上第一个由高电平信号向低电平信号跳变的时段为例，此时开关控制线40提供有效电平信号，且扫描线Sn+1上传输扫描信号，开关单元30开启一次将截取的t4时间段内由高电平信号向低电平信号跳变的脉冲信号(也即数据信号)写入到数据线10，同时数据线10将数据信号提供给图14中示意的与扫描线Sn+1相连接的第一子像素sp1。
在信号线上由高电平信号VH跳变到低电平信号VL的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次；且在由低电平信号VL跳变到高电平信号VH的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，并控制开关单元30的开启时长均为t4，t4小于t2。
在信号线20上不存在微裂纹时，由高电平信号VH跳变到低电平信号VL的时段，通过信号线20向数据线10写入的第一数据信号的电压为VL；由低电平信号VL跳变到高电平信号VH的时段，通过信号线20向数据线10写入的第二数据信号的电压为VH，并根据第一数据信号控制第一子像素sp1发光，根据第二数据信号控制第二子像素sp2发光。此时，第一子像素sp1的发光亮度为第一参考亮度，第二子像素sp2的亮度为第二参考亮度。
在信号线20上存在微裂纹时，则在由高电平信号VH跳变到低电平信号VL的时段，通过信号线20向数据线10写入的第一数据信号的电压为VD1，VL<VD1；在由低电平信号VL跳变到高电平信号VH的时段，通过信号线20向数据线10写入的第二数据信号的电压为VD2，VD2<VH。并根据第一数据信号控制第一子像素sp1发光，根据第二数据信号控制第二子像素sp2发光。第一数据信号控制的第一子像素sp1的发光亮度小于第一参考亮度，第二数据信号控制的第二子像素sp2的发光亮度大于第二参考亮度。由此判断信号线上存在微裂纹。
图15时序图示意的检测方法向数据线交替写入第一数据信号和第二数据信号，然后将数据信号依次写入到像素列中依次排列的多个子像素中，在检测时像素列中依次排列的多个子像素都会被点亮。在另一种时序图中，在检测时像素列中仅有部分子像素被点亮。图16为本发明实施例提供的检测方法中另一种时序图。结合图7示意的扫描线与像素列中子像素连接方式进行理解。如图16所示，根据开关控制线40的控制，在信号线20上由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制开关单元30开启一次和在信号线20上由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制开关单元30开启一次交替执行。扫描信号的宽度小于脉冲信号的宽度，在开关控制线40第一次提供有效电平信号时，将截取到的第一数据信号写入到数据线10，在扫描线Sn+1提供扫描信号的时刻控制将第一数据信号写入到子像素sp-1。在扫描线Sn+2提供扫描信号的时刻没有数据信号写入到数据线，则与扫描线Sn+2提供连接的子像素sp-2不被点亮。同样的道理可以理解，在检测时，在扫描线Sn+3提供扫描信号的时刻控制将第二数据信号写入到子像素sp-3，在扫描线Sn+6提供扫描信号的时刻控制将第一数据信号写入到子像素sp-6。在该种检测方法中，子像素sp-1、子像素sp-3、子像素sp-6相当于检测子像素，子像素sp-2、子像素sp-4、子像素sp-5相当于非检测子像素，在检测子像素sp-1和检测子像素sp-3之间间隔一个非检测子像素，在检测子像素sp-3和检测子像素sp-6之间间隔两个非检测子像素。通过对比子像素sp-1、子像素sp-3、子像素sp-6的亮度与参考亮度的不同，来判断信号线20存在微裂纹。该实施方式提供的检测方法，根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素(像素列中的部分子像素)发光，以判断信号线是否存在微裂纹。
在另一种实施例中，步骤S502包括：在信号线上两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段分别控制开关单元开启一次，且，在两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段之间，在信号线上至少两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段分别控制开关单元开启一次。具体的，图17为本发明实施例提供的检测方法的另一种时序图。如图17所示，以信号线20上传输的信号为图3中H3为例。在信号线20上两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，开关控制线40分别提供有效电平信号，分别控制开关单元30开启一次；且在两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段之间，在信号线20上两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段，开关控制线40分别提供有效电平信号，分别控制开关单元30开启一次。并控制开关单元30的开启时长均为t4，t4小于t2。其中，在高电平信号跳变到低电平信号的时段控制开关单元30开启一次时，向数据线10写入的数据信号为第一数据信号VD1，在低电平信号跳变到高电平信号的时段控制开关单元30开启一次时，向数据线10写入的数据信号为第二数据信号VD2。
图17中还示意出了扫描线Sn+1至扫描线Sn+11传输扫描信号的时序。结合上述相关实施例的说明可以理解，在开关控制线40第一次提供有效电平信号时，向数据线10写入第一数据信号，扫描线Sn+1提供扫描信号控制将第一数据信号写入到与扫描线Sn+1相连接的子像素中。在扫描线Sn+3提供扫描信号时，将截取到的第二数据信号写入到与扫描线Sn+3相连接的子像素中。在扫描线Sn+8提供扫描信号时，将截取到的第二数据信号写入到与扫描线Sn+8相连接的子像素中。在扫描线Sn+11提供扫描信号时，将截取到的第一数据信号写入到与扫描线Sn+11相连接的子像素中。其中，在一个像素列中与扫描线Sn+1相连接的子像素、与扫描线Sn+3相连接的子像素、与扫描线Sn+8相连接的子像素、与扫描线Sn+11相连接的子像素为检测子像素，而该像素列中其他子像素则为非检测子像素。该实施方式提供的检测方法，向数据线10上写入的数据信号的类型为：在两个第一数据信号之间至少包括两个第二数据信号。根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素(像素列中的部分子像素)发光，以判断信号线是否存在微裂纹。并且在检测子像素中包括第一子像素和第二子像素，其中写入第一数据信号的与扫描线Sn+1相连接的子像素、与扫描线Sn+11相连接的子像素为第一子像素，写入第二数据信号的与扫描线Sn+3相连接的子像素、与扫描线Sn+8相连接的子像素为第二子像素，当第一子像素的发光亮度小于第一参考亮度，第二子像素的发光亮度大于第二参考亮度时，判断信号线上存在微裂纹。
在另一种实施例中，步骤S502包括：在信号线上两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段分别控制开关单元开启一次，且，在两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段之间，在信号线上至少两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段分别控制开关单元开启一次。该实施方式中，向数据线上写入的数据信号的类型为：在两个第二数据信号之间至少包括两个第一数据信号。
具体的，图18为本发明实施例提供的检测方法的另一种时序图。如图18所示，以信号线20上传输的信号为图3中H3为例。在信号线20上两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段，开关控制线40分别提供有效电平信号，分别控制开关单元30开启一次；且，在两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段之间，在信号线20上三次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，开关控制线40分别提供有效电平信号，分别控制开关单元开启一次。并控制开关单元30的开启时长均为t4，t4小于t2。图中示意出了扫描线Sn+1至扫描线Sn+21中部分扫描线传输扫描信号的时序。根据上述图17中的说明可以理解，在图18实施例中，在扫描线Sn+1提供扫描信号时，将截取到的第二数据信号写入到与扫描线Sn+1相连接的子像素中。在扫描线Sn+3提供扫描信号时，将截取到的第一数据信号写入到与扫描线Sn+3相连接的子像素中。在扫描线Sn+8提供扫描信号时，将截取到的第一数据信号写入到与扫描线Sn+8相连接的子像素中。在扫描线Sn+13提供扫描信号时，将截取到的第一数据信号写入到与扫描线Sn+13相连接的子像素中。在扫描线Sn+21提供扫描信号时，将截取到的第二数据信号写入到与扫描线Sn+21相连接的子像素中。则在一个像素列中与扫描线Sn+1相连接的子像素、与扫描线Sn+3相连接的子像素、与扫描线Sn+8相连接的子像素、与扫描线Sn+13相连接的子像素、与扫描线Sn+21相连接的子像素为检测子像素，而该像素列中其他子像素则为非检测子像素。该实施方式提供的检测方法，向数据线10上写入的数据信号的类型为：在两个第二数据信号之间包括三个第一数据信号。实现根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素(像素列中的部分子像素)发光，以判断信号线是否存在微裂纹。并且在检测子像素中包括第一子像素和第二子像素，其中写入第一数据信号的与扫描线Sn+3相连接的子像素、与扫描线Sn+8相连接的子像素、与扫描线Sn+13相连接的子像素为第一子像素，写入第二数据信号的与扫描线Sn+1相连接的子像素、与扫描线Sn+21相连接的子像素为第二子像素，当第一子像素的发光亮度小于第一参考亮度，第二子像素的发光亮度大于第二参考亮度时，判断信号线上存在微裂纹。
具体的，本发明实施例提供的检测方法能够用于对驱动移位单元工作的时钟信号进行检测。图19为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图。图20为本发明实施例提供的显示面板中移位单元的一种结构示意图。如图19所示，显示面板还包括多条扫描线S，一条扫描线S与一个像素行中的多个子像素sp电连接；非显示区BA还包括第一驱动电路50，第一驱动电路50包括多个级联的第一移位单元1VSR，第一移位单元1VSR的输出端连接扫描线S；第一驱动电路包括信号线20，信号线20包括时钟信号线，信号线用于驱动多个级联的第一移位单元1VSR输出扫描信号。
图20示意出了一种移位单元的结构，移位单元包括M1至M8共8个晶体管和两个电容(C1和C2)，还示意出了时钟信号端XCK\CK、输入端IN、输出端OUT、高电平信号端VGH、低电平信号端VGL。第一移位单元1VSR可以采用图20示意的移位单元的结构，在多个级联的第一移位单元中，第一级第一移位单元的输入端IN连接起始信号端，其余的第一移位单元的输入端IN连接上一级第一移位单元的输出端OUT。其中第一驱动电路50包括两条时钟信号线，一条时钟信号线为时钟信号端XCK提供时钟信号，另一条时钟信号线为时钟信号端CK提供时钟信号。
步骤S103根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：信号线20将脉冲信号提供给第一移位单元1VSR，第一移位单元1VSR在脉冲信号的控制下向扫描线S提供扫描信号，根据扫描信号的控制将数据信号写入子像素sp以控制与数据线10连接的子像素sp发光。该实施方式中，信号线20在驱动第一驱动电路50工作的同时，还能够通过对开关单元30的控制截取信号线20上的脉冲信号作为数据信号，以通过数据信号控制子像素sp发光，然后通过子像素sp的亮度情况判断信号线20是否存在微裂纹。
该实施方式中，扫描线提供的扫描信号的宽度与信号线上脉冲信号的脉冲宽度相同。具体的，在一种实施例中，在每次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，以向数据线10写入一次数据信号，可参考图9实施例的说明进行理解，根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素发光，以判断信号线是否存在微裂纹。在另一种实施例中，在每次由低电平信号跳变到高电平信号的时段，开关控制线40提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，以向数据线10写入一次数据信号，可参考图12实施例的说明进行理解，根据多个数据信号控制像素列中的检测子像素发光，以判断信号线是否存在微裂纹。在另一种实施例中，在每次由低电平信号跳变到高电平信号的时段、以及每次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，开关控制线40均分别提供有效电平信号控制开关单元30开启一次，以向数据线10写入数据信号，可参考图15实施例的说明进行理解，与一条数据线10连接的多个子像素均写入相应的数据信号后被点亮，用以判断信号线是否存在微裂纹。
在另一种实施例中，图21为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图。如图21所示，非显示区BA包括在第一方向x上位于显示区AA两侧的第一非显示区BA1和第二非显示区BA2，还包括在第二方向y上位于显示区AA两侧的第三非显示区BA3和第四非显示区BA4，第一方向x和第二方向y交叉；数据线10沿所述第一方向x延伸。显示面板还包括多条扫描线S，一条扫描线S与一个像素行中的多个子像素sp电连接；非显示区BA还包括位于第三非显示区BA3的第一驱动电路50和位于第四非显示区BA4的第二驱动电路60，第一驱动电路50包括多个级联的第一移位单元1VSR，第二驱动电路60包括多个级联的第二移位单元2VSR，扫描线S的一端连接第一移位单元1VSR的输出端，扫描线S的另一端连接第二移位单元2VSR的输出端；其中，第一驱动电路50包括信号线20；信号线20在第三非显示区BA3内沿第一方向x延伸，信号线20包括起始信号线、时钟信号线、恒定电平信号线中任意一种或多种。
图21实施例中的信号线20能够采用上述图2至图18任意实施例提供的检测方法进行检测，其中，在检测过程中根据数据信号控制与数据线连接的子像素发光，包括：向扫描线S提供扫描信号，根据扫描信号的控制将数据信号写入子像素sp以控制与数据线10连接的子像素sp发光，具体的，驱动第二驱动电路60工作，以通过第二移位单元2VSR向扫描线S提供扫描信号。
在检测过程中，向信号线20提供脉冲信号，此时信号线20不驱动第一移位单元1VSR工作，也即级联的多个第一移位单元1VSR均不工作。驱动第二驱动电路60工作，通过第二移位单元2VSR控制向扫描线S提供扫描信号，以实现将通过信号线20写入到数据线10上的数据信号写入到相应的子像素sp中，进而通过子像素的亮度与参考亮度比较，来判断信号线20上是否存在微裂纹。
图21实施例提供的显示面板在出厂之后，显示面板正常显示工作时，驱动第一驱动电路50和第二驱动电路60同时工作，以向扫描线S提供扫描信号。
进一步的，图22为本发明实施例提供的另一种显示面板示意图。图23为本发明实施例提供的另一种检测方法流程图。图24为图23实施例提供的检测方法的一种时序图。如22图所示，非显示区BA包括第一非显示区BA1、第二非显示区BA2、第三非显示区BA3和第四非显示区BA4，非显示区还包括扇出区SC，扇出区SC位于第一非显示区BA1。扇出区SC包括多条扇出走线70，非显示区还包括多个多路分配器80，扇出走线70的一端连接通过多路分配器80与至少两条数据线10相连接，一个多路分配器80包括至少两个分配开关，一个分配开关对应一条数据线10；图22中以多路分配器80包括三个分配开关(图中未标示)进行示意。非显示区还包括分配控制线，在一个多路分配器80中的不同的分配开关的控制端连接不同的分配控制线，图中示意出了三条分配控制线CKH1、CKH2和CKH3。图中还示意出了多条扫描线S，位于非显示区的第一驱动电路50和第二驱动电路60。其中，信号线包括扇出走线70，多路分配器80复用为开关单元，分配控制线复用为开关控制线。
图22实施例中的扇出走线能够采用图23实施例提供的检测方法进行检测。如图23所示，检测方法，包括：
步骤S601：向扇出走线70提供脉冲信号；
步骤S602：在扇出走线70上脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制多路分配器80中相应的分配开关开启一次，以将扇出走线70与数据线10导通，向数据线10写入数据信号。
结合图22示意的显示面板的结构、以及图24示意的时序图进行理解，图24示意了在扇出走线70上存在微裂纹时，其传输的脉冲信号的时序。以一个多路分配器80的工作过程为例，多路分配器80与三条数据线连接，分别为数据线10-1、10-2和10-3。
分配控制线CKH1首先提供有效电平信号，控制与其连接的分配开关开启，将扇出走线70与数据线10-1导通，则将截取的由高电平信号向低电平信号跳变时段的数据信号写入数据线10-1；分配控制线CKH2提供有效电平信号，控制与其连接的分配开关开启，将扇出走线70与数据线10-2导通，则将截取的由高电平信号向低电平信号跳变时段的数据信号写入数据线10-2；分配控制线CKH3提供有效电平信号，控制与其连接的分配开关开启，将扇出走线70与数据线10-3导通，则将截取的由高电平信号向低电平信号跳变时段的数据信号写入数据线10-3。也即在分配控制线CKH1、CKH2和CKH3分别提供一次有效电平信号之后，数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3中分别接入一次数据信号。在数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3完成数据信号的写入之后，扫描线S再提供扫描信号，以控制数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3向与它们分别连接且均与该扫描线S连接的三个子像素sp写入数据信号。数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3分别控制与它们连接的子像素发光。
步骤S603：根据数据信号控制与数据线10连接的子像素sp发光，其中，当扇出走线70对应的数据线10连接的子像素sp亮度与参考亮度不同时，判断扇出走线70上存在微裂纹。
以图24示意的均在由高电平信号向低电平信号跳变时段截取数据信号为例，当扇出走线70上存在微裂纹时，向数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3写入的数据信号均大于脉冲信号的低电平信号，则与数据线10-1、数据线10-2和数据线10-3分别连接的子像素的亮度均小于参考亮度，由此判断扇出走线70存在微裂纹。
图24以在由高电平信号向低电平信号跳变时段截取数据信号为例。
在另一种实施例中，结合图10实施例进行理解，在对扇出走线进行检测时，在扇出走线上由低电平信号向高电平信号跳变时段，分配控制线提供有效电平信号控制与其连接的分配开关打开，以向相应的数据线写入数据信号。该实施方式中，当与数据线连接的子像素的亮度大于参考亮度时，判断扇出走线存在微裂纹。
在另一种实施例中，结合图13实施例进行理解，在对扇出走线进行检测时，在扇出走线上由低电平信号向高电平信号跳变时段，部分分配控制线提供有效电平信号控制与其连接的分配开关打开一次，向相应的数据线写入数据信号；在扇出走线上由高电平信号向低电平信号跳变时段，部分分配控制线提供有效电平信号控制与其连接的分配开关打开一次，向相应的数据线写入数据信号。当在由高电平信号向低电平信号跳变时段截取的数据信号控制的子像素的亮度小于第一参考亮度，且在由低电平信号向高电平信号跳变时段截取的数据信号控制的子像素的亮度大于第二参考亮度时，判断扇出走线存在微裂纹。
具体的，在一种实施例中，与数据线10-1连接的子像素为第一颜色子像素，与数据线10-2连接的子像素为第二颜色子像素，与数据线10-3连接的子像素为第三颜色子像素。在对显示面板中的扇出走线70进行检测时，可以控制三条分配控制线中的一条分配控制线在扇出走线70上信号跳变的时段提供有效电平信号，以通过三条数据线中的一条控制的子像素的亮度情况来判断扇出走线70是否存在微裂纹。
在另一种实施例中，在对显示面板中的扇出走线70进行检测时，可以控制三条分配控制线中的两条分配控制线在扇出走线70上信号跳变的时段分别提供有效电平信号，以通过三条数据线中的两条控制的子像素的亮度情况来判断扇出走线70是否存在微裂纹。
进一步的，多条扇出走线包括第一扇出走线71和第二扇出走线72；第一扇出走线71通过多路分配器80与第一数据线11相连接，第二扇出走线72通过多路分配器80与第二数据线12相连接；其中，第一扇出走线11复用为参考信号线。在对显示面板进行检测时，
步骤S601包括：向第一扇出走线71和第二扇出走线72提供相同的脉冲信号。
步骤S602包括：在第一扇出走线71上脉冲信号在信号跳变的时段控制多路分配器80中相应的分配开关开启一次，以将第一扇出走线71与第一数据线11导通，向第一数据线11写入数据信号。且在第二扇出走线72上脉冲信号信号跳变的时段控制多路分配器80中相应的分配开关开启一次，以将第二扇出走线72与第二数据线12导通，向第二数据线12写入数据信号。以分配控制线CKH1提供有效电平信号的时刻为例，分配控制线CKH1提供有效电平信号，则与第一扇出走线71连接的多路分配器80中的一个分配开关开启，同时与第二扇出走线72连接的多路分配器80中的一个分配开关也开启。也就是说，向与第一扇出走线71连接的一条数据线10和与第二扇出走线72连接的一条数据线10上写入相同的数据信号。由此，当第一扇出走线71和第二扇出走线72中一条存在微裂纹、另一条不存在微裂纹时，与第一扇出走线71对应的数据线10连接的子像素sp的亮度和与第二扇出走线72对应的数据线10连接的子像素sp的亮度不同。
步骤S603包括：第一扇出走线71对应的第一数据线11连接的像素列中子像素sp的亮度为参考亮度；当第二扇出走线72对应的第二数据线12连接的像素列中子像素sp的亮度与第一扇出走线71对应的第一数据线11连接的像素列中子像素sp的亮度不同时，判断第二扇出走线72上存在微裂纹。
该实施方式通过向多条扇出走线提供相同的脉冲信号，当存在有微裂纹的扇出走线时，多条扇出走线中的不存在微裂纹的扇出走线能够作为参考信号线。在检测时，能够直观的通过显示面板中不同区域位置处子像素的亮度对比，实现对扇出走线中微裂纹的检测。
在一种实施例中，图25为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图，如图25所示，非显示区BA包括在第一方向x上位于显示区AA两侧的第一非显示区BA1和第二非显示区BA2，还包括在第二方向y上位于显示区AA两侧的第三非显示区BA3和第四非显示区BA4，第一方向x和第二方向y交叉；数据线10沿所述第一方向x延伸。非显示区还包括扇出区SC，扇出区SC位于第一非显示区BA1；信号线20在第三非显示区BA3内沿第一方向x延伸。该实施方式提供的显示面板能够采用上述图2至图18任意实施例的检测方法，来检测信号线20上是否存在微裂纹。实现对显示面板左右两侧信号线上微裂纹的检出。
继续参考图25所示的，开关单元30位于第二非显示区BA2。在实际应用中，第二非显示区对应产品的上边框，第三非显示区和第四非显示区分别对应产品的左右边框，将开关单元设置在第二非显示区内，能够减少对显示面板左右边框的占用，避免增加左右边框的宽度。
在一种实施例中，图26为本发明实施例提供的另一种显示面板的示意图，如图26所示，信号线20包括第一位置点20a和第二位置点20b，其中，第二位置点20b位于第一位置点20a的远离第一非显示区BA1的一侧；开关单元30包括第一开关单元31和第二开关单元32，其中，第一开关单元31的输入端连接到第一位置点20a，第二开关单元32的输入端连接到第二位置点20b，且第一开关单元31的输出端和第二开关单元32的输出端连接不同的数据线10。信号线20在第三非显示区BA3内延伸，并延伸到第一非显示区BA1内，然后连接到显示面板的驱动芯片(图中未示出)，在显示面板工作时，有驱动芯片向信号线20输出信号。
其中，信号线20可以采用本发明上述实施例提供的检测方法进行检测。在检测时，通过对比与第一位置点20a对应的数据线连接的子像素的亮度与参考亮度的差异，能够判断信号线20上第一位置点20a至连接到驱动芯片的部分线段上是否存在微裂纹。通过对比与第二位置点20b对应的数据线连接的子像素的亮度与参考亮度的差异，能够判断信号线20上第二位置点20b至连接到驱动芯片的部分线段上是否存在微裂纹。当信号线上存在微裂纹时，能够检测信号线上存在微裂纹的具体位置。
在一种实施例中，信号线通过多个开关单元与N条数据线电连接，N≥2，且N为整数，一条数据线对应一个开关单元。具体的，图27为本发明实施例提供的另一种显示面板的局部示意图，如图27所示，以N＝3为例，信号线通过三个开关单元30与三条数据线10电连接。该实施例提供的显示面板能采用上述实施例提供的检测方法对信号线上的微裂纹进行检测，一条信号线对应多条数据线，在检测时利用多条数据线连接的多个子像素的亮度与参考亮度对比，来判断信号线上是否存在微裂纹，在对比亮度差异时差异效果更加明显，检测准确率更高。
继续参考图27所示的，与同一条信号线20连接的开关单元30的控制端连接到同一条开关控制线40。即一条开关控制线40对多个开关单元30的开关状态进行控制，能够减少开关控制线40的设置条数，节省非显示区的空间。
本发明实施例还提供一种显示装置，图28为本发明实施例提供的显示装置示意图，如图28所示，显示装置包括本发明任意实施例提供的显示面板100。本发明实施例中显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书、电视机、智能穿戴产品等任何具有显示功能的设备。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (22)

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述显示区包括多条数据线，一条所述数据线与一个像素列中的至少一个子像素电连接；
所述非显示区包括至少一条信号线、至少一个开关单元和至少一条开关控制线，所述信号线通过所述开关单元与至少一条所述数据线电连接，其中，所述开关单元的控制端与所述开关控制线电连接，所述开关单元的输入端与所述信号线电连接，所述开关单元的输出端与至少一条所述数据线电连接；所述检测方法包括：
向所述信号线提供脉冲信号；
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述开关单元对应开启一次，以将所述信号线与所述数据线导通，且通过所述信号线向所述数据线写入数据信号，所述数据信号为在所述脉冲信号跳变时段截取的所述脉冲信号；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，其中，当所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素亮度与参考亮度不同时，判断所述信号线上存在微裂纹。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述开关单元开启一次，包括：控制所述开关单元的开启时间为T'；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：当所述开启时间为T'时，所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素亮度与参考亮度不同，判断所述信号线上存在微裂纹；
在控制所述开关单元的开启时间为T'之前，还包括：控制所述开关单元的开启时间为T"，其中，T'<T"；当所述开启时间为T"时，所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素的亮度与参考亮度相同。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段，控制所述开关单元开启一次，包括：在所述信号线上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段，控制所述开关单元开启一次；
所述数据信号包括第一数据信号，所述第一数据信号为由高电平信号跳变到低电平信号的时段截取的所述脉冲信号；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，当所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素亮度与参考亮度不同时，判断所述信号线上存在微裂纹，包括：
根据所述第一数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，当所述子像素的亮度小于所述参考亮度时，判断所述信号线上存在微裂纹，其中，所述参考亮度为将所述脉冲信号中的低电平信号写入到所述子像素时该所述子像素的发光亮度。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述开关单元开启一次，包括：在所述信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次；
所述数据信号包括第二数据信号，所述第二数据信号为由低电平信号跳变到高电平信号的时段截取的所述脉冲信号；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，当所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素亮度不同时，判断所述信号线上存在微裂纹，包括：
根据所述第二数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，当所述子像素的亮度大于所述参考亮度时，判断所述信号线上存在微裂纹，其中，所述参考亮度为将所述脉冲信号中的高电平信号写入到所述子像素时该所述子像素的发光亮度。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述开关单元开启一次，包括：在所述信号线上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制所述开关单元开启一次，且在所述信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次；
所述数据信号包括第一数据信号和第二数据信号，所述第一数据信号为由高电平信号跳变到低电平信号的时段截取的所述脉冲信号，所述第二数据信号为由低电平信号跳变到高电平信号的时段截取的所述脉冲信号；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：根据所述第一数据信号控制与所述数据线连接的第一子像素发光；根据所述第二数据信号控制与所述数据线连接的第二子像素发光；
当所述信号线对应的所述数据线连接的所述子像素亮度与参考亮度不同时，判断所述信号线上存在微裂纹，包括：
所述参考亮度包括第一参考亮度和第二参考亮度，所述第一参考亮度为将所述脉冲信号中的低电平信号写入到所述子像素时该所述子像素的发光亮度，所述第二参考亮度为将所述脉冲信号中的高电平信号写入到所述子像素时该所述子像素的发光亮度；
当所述第一子像素的亮度小于所述第一参考亮度，且所述第二子像素的亮度大于所述第二参考亮度时，判断所述信号线上存在微裂纹。
6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制所述开关单元开启一次，且在所述信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次；包括：
在所述信号线上由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制所述开关单元开启一次和在所述信号线上由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次交替执行。
7.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制所述开关单元开启一次，且在所述信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次；包括：
在所述信号线上两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段分别控制所述开关单元开启一次，且，在两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段之间，在所述信号线上至少两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段分别控制所述开关单元开启一次。
8.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，
在所述信号线上至少一次由高电平信号跳变到低电平信号的时段控制所述开关单元开启一次，且在所述信号线上至少一次由低电平信号跳变到高电平信号的时段控制所述开关单元开启一次；包括：
在所述信号线上两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段分别控制所述开关单元开启一次，且，在两次由低电平信号跳变到高电平信号的时段之间，在所述信号线上至少两次由高电平信号跳变到低电平信号的时段分别控制所述开关单元开启一次。
9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
一条所述数据线与一个所述像素列中的多个所述子像素电连接，
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：根据多个所述数据信号依次控制所述像素列中的多个所述子像素发光。
10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
一条所述数据线与一个所述像素列中的多个所述子像素电连接，一个所述像素列中的多个所述子像素包括检测子像素和非检测子像素，相邻的两个所述检测子像素之间设置有至少一个所述非检测子像素；
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：根据多个所述数据信号控制所述像素列中的所述检测子像素发光。
11.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
所述显示面板还包括多条扫描线，一条所述扫描线与一个像素行中的多个子像素电连接；
所述非显示区还包括第一驱动电路，所述第一驱动电路包括多个级联的第一移位单元，所述第一移位单元的输出端连接所述扫描线；
所述第一驱动电路包括所述信号线，所述信号线包括时钟信号线，所述信号线用于驱动多个级联的所述第一移位单元输出扫描信号；其中，
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：
所述信号线将所述脉冲信号提供给所述第一移位单元，所述第一移位单元在所述脉冲信号的控制下向所述扫描线提供所述扫描信号，根据所述扫描信号的控制将所述数据信号写入所述子像素以控制与所述数据线连接的所述子像素发光。
12.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
所述非显示区还包括扇出区，所述扇出区包括多条扇出走线，所述非显示区还包括多个多路分配器，所述扇出走线的一端连接通过所述多路分配器与至少两条所述数据线相连接，一个所述多路分配器包括至少两个分配开关，一个所述分配开关对应一条所述数据线；
所述非显示区还包括分配控制线，在一个所述多路分配器中的不同的分配开关的控制端连接不同的分配控制线，其中，所述信号线包括所述扇出走线，所述多路分配器复用为所述开关单元，所述分配控制线复用为所述开关控制线；
向所述信号线提供脉冲信号，包括：向所述扇出走线提供脉冲信号；
在所述信号线上的所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述开关单元开启一次，以将所述信号线与所述数据线导通，通过所述信号线向所述数据线写入数据信号，包括：在所述扇出走线上所述脉冲信号至少一次信号跳变的时段控制所述多路分配器中相应的所述分配开关开启一次，以将所述扇出走线与所述数据线导通，向所述数据线写入数据信号。
13.根据权利要求12所述的检测方法，其特征在于，
多条所述扇出走线包括第一扇出走线和第二扇出走线；所述第一扇出走线通过所述多路分配器与第一数据线相连接，所述第二扇出走线通过所述多路分配器与第二数据线相连接；其中，所述第一扇出走线复用为参考信号线；
当所述信号线对应的所述数据线连接的像素列中子像素的亮度与参考亮度不同时，判断所述信号线上存在微裂纹，包括：
所述第一扇出走线对应的所述第一数据线连接的像素列中子像素的亮度为所述参考亮度；
当所述第二扇出走线对应的所述第二数据线连接的像素列中子像素的亮度与所述第一扇出走线对应的所述第一数据线连接的像素列中子像素的亮度不同时，判断所述第二扇出走线上存在微裂纹。
14.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，
所述显示面板还包括多条扫描线，一条所述扫描线与一个像素行中的多个子像素电连接；
所述非显示区还包括第一驱动电路和第二驱动电路，所述第一驱动电路包括多个级联的第一移位单元，所述第二驱动电路包括多个级联的第二移位单元，所述扫描线的一端连接所述第一移位单元的输出端，所述扫描线的另一端连接所述第二移位单元的输出端；其中，
所述第一驱动电路包括所述信号线；所述信号线包括起始信号线、时钟信号线、恒定电平信号线中任意一种或多种，
根据所述数据信号控制与所述数据线连接的所述子像素发光，包括：
驱动所述第二驱动电路工作，以通过所述第二移位单元向所述扫描线提供扫描信号。
15.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区；所述显示区包括多条数据线，一条所述数据线与一个像素列中的至少一个子像素电连接；
所述非显示区包括至少一条信号线、至少一个开关单元和至少一条开关控制线，所述信号线通过所述开关单元与至少一条所述数据线电连接，其中，所述开关单元的控制端与所述开关控制线电连接，所述开关单元的输入端与所述信号线电连接，所述开关单元的输出端与至少一条所述数据线电连接；
其中，所述显示面板能够采用权利要求1所述的检测方法对所述信号线上的微裂纹进行检测。
16.根据权利要求15所述的显示面板，其特征在于，
所述非显示区包括在第一方向上位于所述显示区两侧的第一非显示区和第二非显示区，还包括在第二方向上位于所述显示区两侧的第三非显示区和第四非显示区，所述第一方向和所述第二方向交叉；所述数据线沿所述第一方向延伸；
所述非显示区还包括扇出区，所述扇出区位于所述第一非显示区；
所述信号线在所述第三非显示区内沿所述第一方向延伸。
17.根据权利要求16所述的显示面板，其特征在于，
所述开关单元位于所述第二非显示区。
18.根据权利要求16所述的显示面板，其特征在于，
所述信号线包括第一位置点和第二位置点，其中，所述第二位置点位于所述第一位置点的远离所述第一非显示区的一侧；
所述开关单元包括第一开关单元和第二开关单元，其中，所述第一开关单元的输入端连接到所述第一位置点，所述第二开关单元的输入端连接到所述第二位置点，且所述第一开关单元的输出端和所述第二开关单元的输出端连接不同的所述数据线。
19.根据权利要求16所述的显示面板，其特征在于，
所述显示区还包括多条扫描线，一条所述扫描线与一个像素行中的多个子像素电连接；
所述非显示区还包括位于所述第三非显示区的第一驱动电路和位于所述第四非显示区的第二驱动电路，所述第一驱动电路包括所述信号线，所述第一驱动电路还包括多个级联的第一移位单元，所述第二驱动电路包括多个级联的第二移位单元，所述扫描线的一端连接所述第一移位单元的输出端，所述扫描线的另一端连接所述第二移位单元的输出端，
所述信号线包括起始信号线、时钟信号线、恒定电平信号线中任意一种或多种。
20.根据权利要求16所述的显示面板，其特征在于，
所述信号线通过多个所述开关单元与N条所述数据线电连接，N≥2，且N为整数，一条所述数据线对应一个所述开关单元。
21.根据权利要求20所述的显示面板，其特征在于，
与同一条所述信号线连接的所述开关单元的控制端连接到同一条所述开关控制线。
22.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求15至21任一项所述的显示面板。
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