KR20070102624A - 광 디스크의 기록 방법 - Google Patents

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KR20070102624A
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미쓰비시덴키 가부시키가이샤
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Abstract

3층 이상의 기록층(11, 12, 13, 14)을 갖는 광 디스크의 기록 방법에서, 홀수번째 기록층(11, 13)과 짝수번째 기록층(12, 14)의 테스트 기록 영역을 서로 광 디스크의 두께 방향으로 겹치지 않는 위치에 형성함과 아울러, 홀수번째 기록층의 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성하고, 짝수번째 기록층의 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성한다. 최적 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록을 위한 시간을 단축할 수 있다.

Description

광 디스크의 기록 방법{OPTICAL DISC RECORDING METHOD}
본 발명은 광 디스크의 기록 방법 및 광 디스크에 관한 것이다. 본 발명은 특히 복수의 기록층을 갖는 광 디스크의 기록 방법에 관한 것으로, 특히 각 기록층에서의 최적 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 데이터의 기록에 관한 것이다. 본 발명은 또, 상기 기록 방법에서 기록에 이용되는 광 디스크 및 상기 기록 방법으로 기록이 행해진 광 디스크에 관한 것이다.
종래의 복수의 기록층을 갖는 광 디스크의 기록 방법에서는, 각 기록층에 테스트 기록을 행할 때, 테스트 기록 영역을 서로 인접하는 기록층 사이에서 두께 방향으로 겹치는 위치에 형성하고 있었다. 그리고, 인접하는 기록층의 영향을 고려하지 않고 각 기록층마다 최적 기록 파워를 결정하고 있었다. 그 결과, 인접하는 층의 영향에 의해, 결정된 최적 기록 파워가 참값으로부터 약간 어긋나는 경우가 있었다.
이에 대한 개선책으로서, 정보(사용자 데이터)를 기록하는 층 이외의 기록층, 특히 바로 앞쪽(광 픽업이 마련된 쪽)에 위치하는 기록층의 테스트 영역의 사 용 상황을 확인한 후에, 상기 정보를 기록하는 층의 테스트 기록을 행하는 방법이 제안되었다(예컨대, 특허문헌 1 참조).
(특허문헌 1) 일본 공개 특허 공보 제 2000-311346호(도 1∼도 8)
그러나, 상기 특허문헌 1에 기재된 방법에서는, 하나의 기록층의 테스트 기록을 행할 때에, 다른 기록층의 테스트 기록 영역의 사용 상황을 확인하기 위해서, 기록을 개시할 때까지 긴 시간을 요한다고 하는 문제가 있었다.
본 발명은 기록을 개시하기까지의 시간을 단축하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 3층 이상의 기록층을 갖는 광 디스크의 기록 방법에서, 기록층의 각각에 사용자 데이터를 기록할 때의 최적 기록 파워를 결정하기 위해서 테스트 데이터를 기록하고, 재생하여, 재생 결과를 평가함으로써 상기 최적 기록 파워를 구하는 공정을 갖고, 상기 테스트 데이터의 기록에 의해 테스트 기록 영역을 형성하는데 있어서, 홀수번째 기록층의 테스트 기록 영역과 짝수번째 기록층의 상기 테스트 데이터가 기록되는 테스트 기록 영역이 서로 광 디스크의 두께 방향으로 겹치지 않도록 하고, 홀수번째 기록층의 상기 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬시키고, 짝수번째 기록층의 상기 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬시키는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 기록 방법을 제공한다.
이러한 기록 방법에 의하면, 서로 인접하는 층간에서는 테스트 기록 영역이 겹치지 않기 때문에, 테스트 기록시에 인접하는 기록층의 사용 상황을 조사할 필요가 없다. 따라서, 기록을 개시하기까지의 시간을 단축할 수 있다. 또한, 상기 테스트 기록 영역의 배치가, 짝수번째 기록층용의 배치와, 홀수번째 기록층용의 배치의 두 종류만으로 통일되어 있기 때문에, 일부에 재생 전용 영역을 구비한 광 디스크 등의 경우에 그 제조 공정을 간단히 할 수 있다고 하는 효과가 있다. 또한, 테스트 기록을 행하는 기록 재생 장치가 컴퓨터 프로그램으로 동작하는 제어 수단을 갖는 경우, 프로그램에 의한 처리도 홀수번째 기록층용과 짝수번째 기록층용의 두 종류만으로 대응 가능하기 때문에, 프로그램을 간단하게 할 수 있다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
(실시예 1)
도 1은 본 발명의 실시예 1의 기록 방법에 의해 테스트 데이터가 기록된 광 디스크를 나타내는 개략 평면도이고, 도 2는 도 1의 II-II선을 따른 개략 단면도이며, 도 1에서의 광 디스크상의 각 층의 테스트 기록 영역의 위치 관계를 나타내는 개략 단면도이다.
도 1 및 도 2에 나타내는 광 디스크(1)에는 기록층이 4층, 즉, 표면(광 픽업에 대향하는 쪽)에 가까운 쪽으로부터 순서대로, 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 기록층(11, 12, 13, 14)이 형성되어 있다. 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 기록층(11, 12, 13, 14)에는, 각각의 기록층에 대한 최적 기록 파워를 결정하기 위해서 테스트 데이터가 기록되고, 이 기록에 의해 테스트 기록 영역(21, 22, 23, 24)이 형성되어 있다.
표면측(도 2에서 아래쪽, 즉, 후술하는 광 픽업이 마련되는 쪽)으로부터 홀수번째 기록층(이하, 간단히 「홀수층」이라고 말하는 경우가 있음), 즉, 제 1 및 제 3 기록층(11, 13)에서는, 서로 두께 방향으로 정렬한 위치, 즉, 시점(始點)도 종점(終點)도 두께 방향으로 정렬하도록 테스트 기록 영역(21, 23)이 형성되고, 짝수번째 기록층(이하, 간단히 「짝수층」이라고 말하는 경우가 있음), 즉, 제 2 및 제 4 기록층(12, 14)에서는, 서로 두께 방향으로 정렬한 위치, 즉, 시점도 종점도 두께 방향으로 정렬하도록 테스트 기록 영역(22, 24)이 형성되어 있다.
또한, 홀수층의 테스트 기록 영역(21, 23)과 짝수층의 테스트 기록 영역(22, 24)은 서로 겹치지 않도록 배치되어 있다.
또한, 도 1에 나타낸 바와 같이, 홀수층의 테스트 기록 영역과 짝수층의 테스트 기록 영역이 함께 광 디스크의 최내주(最內周) 부근, 즉, 가장 안쪽 둘레(1a)의 근방에 형성되어 있다.
테스트 기록 영역(21, 22, 23, 24)에 마주보는 영역(대향 영역), 즉, 디스크의 두께 방향으로 정렬하고, 인접하는 기록층 내에 위치하는 영역(31, 32, 33, 34)은 광 기록 장치에 의한 기록을 하지 않는 영역(비기록 영역)으로 되어 있다. 환언하면, 비기록 영역(31∼34)과 테스트 기록 영역(11∼14)이 서로 대향하도록 테스트 기록 영역(11∼14)의 위치가 정해져 있다. 비기록 영역은 예컨대, 재생 전용 영역이다. 이 재생 전용 영역은 예컨대, 피트로 구성된 것이며, 예컨대, 디스크의 기록 조건, 예컨대, 권장 라이트 스트레티지 파라미터(recommended write strategy parameters), 권장 비대칭값(recommended asymmetry value), 권장 파장값(recommended wavelenth value) 등이 기록되어 있고, 통상, 테스트 기록에 앞서 이 재생 전용 영역에 기록된 상기 데이터가 판독되고, 이에 근거하여 테스트 기록의 조건이 정해진다.
대향 영역을 재생 전용 영역으로 하는 경우에는, 디스크의 제조에 있어서는, 상기한 바와 같은 테스트 기록 영역(21∼24)의 배치(형성 예정 위치)를 고려하여, 테스트 기록 영역(21∼24)에 대향하게 되는 위치에 재생 전용 영역을 형성한다.
테스트 기록 영역(21∼24)과 비기록 영역(31∼34) 사이의 영역(30)은 예컨대, 관리 데이터의 기록을 위한 영역으로서 이용된다.
비기록 영역(31∼34), 관리 데이터의 기록을 위한 영역(30) 및 테스트 기록 영역(21∼24) 이외의 대부분이 기록 가능 또는 추기 가능한 사용자 데이터 영역(20)이다.
도 3은 광 디스크의 기록에 이용되는 광 기록 장치를 나타내는 개략도이다.
도시한 바와 같이, 이 광 기록 장치는 광 디스크(1)의 선택된 기록층(11∼14 중 어느 하나)에 레이저 빔을 조사함과 동시에 그 반사광을 수광하는 광 픽업(52)과, 광 픽업(52)의 레이저(54)에 레이저 구동 신호를 공급하는 레이저 구동 회로(55)와, 광 픽업(52)에 대물 렌즈 구동 신호를 공급하는 서보 제어 회로(56)와, 레이저 구동 회로(55) 및 서보 제어 회로(56)를 제어하는 중앙 제어 회로(58)를 구 비하고 있다.
광 픽업(52)은 광 디스크(1)에 정보를 기록하거나 재생하기 위한 레이저 광을 출사하는 레이저(예컨대, 반도체 레이저)(54)의 외에, 콜리메이트 렌즈(61)와, 레이저(54)로부터의 레이저 광을 통과시키고 광 디스크(1)에 조사하여, 광 디스크(1)로부터의 반사광을 소정 방향으로 반사하는 빔 스플리터(62)와, 대물 렌즈(63)와, 검출 렌즈(64)와, 반사된 반사광을 광전 변환하는 광 검출기(65)를 갖는다.
서보 제어 회로(56)는 광 검출기(65)의 출력에 근거하여, 광 픽업(52)의 대물 렌즈(63)를 구동하여 트랙킹 제어 및 포커스 제어를 행한다.
레이저 구동 회로(55)는 레이저(54)에 공급하는 전류 레벨을 조정함으로써, 레이저(54)가 출사하는 레이저 광의 파워를 제어한다.
상기 광 기록 장치는 테스트 패턴 발생 회로(66)와, 광 검출기(65)에 의해 검출된 정보를 포함하는 신호를 재생하는 재생 회로(67)와, 재생 회로(67)로부터 출력되는 재생 신호의 지터를 검출하는 지터 검출 회로(68)를 더 갖는다.
기록, 판독시에, 서보 제어 회로(56)에 의한 포커스 제어에 의해, 소망하는 기록층이 선택된다. 즉, 소망의 기록층에 포커싱(합초(合焦))하도록 제어가 행해진다.
테스트 데이터 기록시에는, 테스트 패턴 발생 회로(66)로부터 테스트 패턴이 레이저 구동 회로(55)로 출력된다. 레이저 구동 회로(55)는 중앙 제어 회로(58)에 의해 기록 파워가 지시되고, 이 지시된 광 파워에 상당하는 테스트 패턴의 전류를 레이저(54)에 공급한다.
레이저(54)에서 출사된 테스트 패턴의 전류에 대응하는 레이저 광은 콜리메이트 렌즈(61), 빔 스플리터(62) 및 대물 렌즈(63)를 통과하여, 광 디스크(1)의 포커스 제어에 의해 선택된 기록층(11, 12, 13, 14 중 어느 하나)에 조사되고, 그 기록층에 테스트 패턴에 대응한 테스트 데이터가 기록된다.
기록된 테스트 데이터의 재생시에는, 레이저 구동 회로(55)는 중앙 제어 회로(58)에 의해 재생시의 파워가 지시되고, 이 재생 파워에 상당하는 전류를 레이저(54)에 공급한다. 레이저(54)에서 출사된 레이저 광은 콜리메이트 렌즈(61), 빔 스플리터(62), 대물 렌즈(63)를 통과하여, 광 디스크(1)의 선택된 기록층(11, 12, 13, 14 중 어느 하나)에 집광 조사된다.
그 선택된 기록층으로부터의 반사광은 대물 렌즈(63)를 통과하여, 빔 스플리터(62)에서 반사되고, 검출 렌즈(64)를 통과하여 광 검출기(65)에서 수광되고, 광전 변환된다. 광 검출기(65)로부터의 검출 신호는 서보 제어 회로(56) 및 재생 회로(67)로 출력된다.
서보 제어 회로(56)는 검출 신호에 근거하여 트랙킹 제어 및 포커스 제어를 행한다.
재생 회로(67)는 검출 신호에 대하여, 복조, 에러 정정 등의 처리를 행하여, 재생 신호를 출력한다. 재생 회로(67)로부터의 재생 신호는 지터 검출 회로(68)로 공급되고, 지터가 검출된다.
중앙 제어 회로(58)는 예컨대, CPU(중앙 처리 유닛)(58a)와, 그 CPU의 동작 을 위한 프로그램을 저장한 프로그램 메모리(58b)와, 데이터를 기억하는 데이터 메모리(58c)를 구비한 것으로 구성된다. 프로그램 메모리(58b)에 저장된 프로그램에는, 이하에 설명하는 동작을 제어하기 위한 프로그램이 포함된다.
상기 광 기록 장치는 사용자 데이터의 기록뿐만 아니라, 테스트 데이터의 기록도 행할 수 있는 것이다. 이하, 상기한 바와 같은 광 기록 장치를 이용하여 행해지는 테스트 기록에 대하여 설명한다.
테스트 기록은 각 기록층으로의 사용자 데이터의 기록에 앞서 행해지는 것이며, 각 기록층의 일부를 테스트 기록 영역으로 지정하여 행해진다. 테스트 기록 영역의 지정은 테스트 기록 영역이 도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같은 위치 관계가 되도록 행해진다.
이하, 도 4를 참조하여 기록의 순서를 설명한다.
최초에, 제 1 기록층(11)에 기록을 행하는 것으로서 설명한다.
우선, 기록을 행하는 기록층, 예컨대, 제 1 기록층(11)으로 초점(focal point)(광 스팟)을 이동한다(S1). 이것은 중앙 제어 회로(58)로부터 서보 제어 회로(56)로 포커스 제어의 목표(추종 대상)가 되는 기록층을 지정하는 정보를 부여하고, 서보 제어 회로(56)가 이에 따라 대물 렌즈(63)를 디스크의 기록면에 수직인 방향으로 이동시키는 것에 의해 이루어진다.
다음에, 그 기록층에 마련된 테스트 기록 영역, 예컨대, 테스트 기록 영역(21)으로 합초점을 이동한다(S2). 이것은 중앙 제어 회로(58)로부터 서보 제어 회로(56)로 탐색 동작 및 트랙킹의 목표가 되는 트랙을 지정하는 정보(트랙 어드레 스)를 부여하고, 서보 제어 회로(56)가 이에 따라 대물 렌즈(63)를 디스크의 기록면에 평행한 방향으로 이동시키고, 또한 섹터 어드레스에 근거하여 지정된 섹터를 검출함으로써 이루어진다.
다음에 그 테스트 기록 영역(21)에 테스트 데이터를 기록하고, 그 신호를 재생함으로써 최적 기록 파워를 결정한다(S3). 결정된 최적 기록 파워를 나타내는 정보는 중앙 제어 회로(58) 내의 데이터 메모리(58c)에 기억된다.
본 명세서에서는, 단계 S1로부터 단계 S3까지의 처리를 간단히 「테스트 기록」이라고 하는 경우가 있다.
그리고, 그 후, 상기 데이터 메모리(58c)에 기억된 최적 기록 파워를 이용하여 그 기록층상의 사용자 데이터 영역(20)에 사용자 데이터의 기록을 행한다(S4).
다른 기록층, 즉, 제 2∼제 4 기록층(12∼14)에 대해서도 단계 S1∼S4와 마찬가지로, 테스트 기록(단계 S1∼S3)을 행한 후에 사용자 데이터의 기록(단계 S4)이 행해진다. 하나의 기록층으로의 사용자 데이터의 기록(단계 S4)이 끝나기 전에, 다른 기록층에 대한 테스트 기록(단계 S1∼S3)을 행하도록 하여도 좋다.
예컨대, 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 기록층의 순서대로 기록을 행하는 경우에는, 제 1 기록층(11)으로의 사용자 데이터의 기록이 끝나기 전에, 예컨대, 제 1 기록층(11)으로의 사용자 데이터의 기록의 사이에, 제 2 기록층(12)에 대한 테스트 기록을 행하여도 좋다. 마찬가지로, 제 2 기록층(12)으로의 사용자 데이터의 기록이 끝나기 전에, 예컨대, 제 1 또는 제 2 기록층(11 또는 12)으로의 사용자 데이터의 기록의 사이에, 제 3 기록층(13)에 대한 테스트 기록을 행하여도 좋다. 마찬가 지로, 제 3 기록층(13)으로의 사용자 데이터의 기록이 끝나기 전에, 예컨대, 사용자 데이터의 기록의 사이에, 제 4 기록층(14)에 대한 테스트 기록을 행하여도 좋다.
단, 최적 기록 파워에 영향을 주는 기록 조건은 시시각각 변화하기 때문에, 그 관점에서 보면, 각 기록층에 대한 테스트 기록과, 그 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록 개시까지의 시간은 짧은 쪽이 좋고, 각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록 개시의 직전에, 그 기록층에 대한 테스트 기록을 행하는 것이 바람직하다.
제 1∼제 4 기록층에서 테스트 데이터를 기록하는 테스트 기록 영역은 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 바와 같은 배치가 되도록 정해진다. 이것은 예컨대, 중앙 제어 회로(58)에서 테스트 데이터의 기록을 행하는 영역을 트랙 어드레스 및 섹터 어드레스로 지정할 때에, 이들 영역이 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같은 배치가 되도록 트랙 어드레스 및 섹터 어드레스를 정하는 것에 의해 행해진다.
도 5는 도 4의 단계 S3의 처리, 즉, 테스트 기록 영역으로의 테스트 데이터의 기록, 재생 및 최적 기록 파워 결정 처리의 상세를 나타낸다.
도시한 바와 같이, 우선, 그 테스트 기록 영역에 테스트 데이터를 기록한다(S11∼S14). 다음에, 기록한 신호를 재생한다(S15). 그리고, 재생한 신호에 근거하여 최적 기록 파워를 결정한다(S16).
테스트 기록 영역으로의 테스트 데이터의 기록에 있어서는, 테스트 기록 영역에 대하여 기록을 행하면서 기록 파워를 단계적으로 변경한다. 예컨대, 도 6에 나타내는 바와 같이, 단계적으로 감소시킨다. 그 때문에, 최초에 기록 파워를 초 기값(Pi)으로 설정하고(S11), 테스트 기록 영역(테스트 데이터를 기록해야 할 영역) 중, 아직 테스트 데이터가 기록되어 있지 않은 부분(빈 영역) 중 소정 길이의 부분을 지정하여, 거기에 테스트 데이터를 기록하고(S12), 기록 파워를 변경하여, 예컨대, 소정의 구분폭(결정의 분해능 내지 단계) ΔP만큼 감소시킨다(S13). 그리고, 기록 파워의 변경이 소정 회수에 이르고 있지 않은 것을 확인하여(S14), 단계 S12로 되돌아가, 변경 후의 기록 파워로 테스트 기록 영역 중 빈 영역 중 소정 길이의 부분을 다시 지정하여, 거기에 테스트 데이터를 기록한다(S12). 기록 파워의 변경이 소정 회수에 이르렀을 때는(S14), 단계 S15로 진행한다. 단계 S12에서의 빈 영역 중 소정 길이의 부분의 지정은 빈 영역에 속하는 섹터의 어드레스를 지정함으로써 행해진다.
또, 단계 S14에서는, 기록 파워의 변경이 소정 회수에 이르렀는지 여부의 판정을 행하는 대신에, 기록 파워가 소정값에 이르렀는가(소정 최종값까지 내려갔는가) 여부의 판정을 행하는 것으로서도 좋다.
상기 단계적 기록 파워의 단계적 변경의 초기값은 디스크의 제조상의 편차나 기록 조건(온도 등)의 여하를 막론하고, 최적 기록 파워가 존재할 수 있다고 생각되는 범위(최대 범위) R1의 상한(최대값) Pomax이며, 기록 파워의 단계적 변경의 최종값은 상기 최대 범위의 하한(최소값) Pomin이다.
단계 S15에서는, 기록된 테스트 데이터를 재생하고, 도 7에 나타낸 바와 같이, 기록 파워와 재생 신호 품질(예컨대, 지터)의 관계를 구하여, 가장 재생 신호품질이 좋은 기록 파워(지터의 경우에는, 지터가 최소가 되는 기록 파워)를 최적 기록 파워로서 구한다(S16).
기록 파워와 지터의 관계를 구하는 대신에, 기록 파워와 재생 신호 진폭의 관계에 근거하여 최적의 기록 파워를 구하여도 좋다. 실제의 광 디스크 장치에서는 테스트 기록 영역의 용량이 한정되어 있기 때문이고, 또한 최적 기록 파워와 지터의 관계를 구하려면, 시간이 필요하기 때문이다. 또한, 기록 파워와 비대칭값의 관계에 근거하여, 최적 기록 파워를 구하여도 좋다. 이러한 경우에는, 도 3의 지터 검출 회로(68)의 대신에, 재생 신호 진폭 검출 회로, 비대칭값 검출 회로를 마련한다.
본 실시예에서는, 상기한 바와 같이, 인접한 기록층 사이에서는, 테스트 기록 영역이 서로 디스크의 두께 방향으로 겹치지 않도록 배치되어 있다. 그 이유는 이하와 같다. 즉, 테스트 기록 영역에서는 기록 파워가 최적값으로 상정되는 값보다도 작은 값으로부터 큰 값까지 변화시켜 기록을 행하기 때문에, 높은 기록 파워에서의 기록도 행해진다. 그 기록 파워는 광 디스크 장치에 의존하여 자유롭게 결정되고, 규정하는 것도 곤란하기 때문에, 테스트 기록 영역에 대향하는 영역, 즉, 인접하는 기록층의 두께 방향으로 서로 정렬한 영역에 영향을 미칠 가능성이 높다. 그래서, 이러한 영향을 피하기 위해서, 인접하는 기록층 사이에서는, 테스트 기록 영역이 서로 두께 방향으로 겹치지 않도록 했다.
예컨대, 도 8에 나타내는 바와 같이, 예컨대, 제 3 기록층(13)에 대하여 기록 파워를 조사할 때에, 전방, 즉, 광 픽업(52)이 마련된 쪽에 있는 제 2 기록층(12)에 대하여도 어느 정도의 기록 파워가 주어지게 된다. 그 영향의 정도는 기 록층간의 간격에 따라 달라, 간격이 클수록 광 스팟 직경이 커지고, 에너지 밀도가 작아지며, 받는 영향도 작아지지만, 인접하는 기록층(제 2 기록층(12))에서는 에너지 밀도도 꽤 커져 영향을 무시할 수 없다.
한편, 사이에 별도의 기록층이 개재되어 있는 기록층 상호간, 예컨대, 제 1 기록층(11)과 제 3 기록층(13) 사이에서는, 테스트 기록 영역끼리 서로 두께 방향으로 정렬하도록 하고 있지만, 그 이유는 이하와 같다.
우선, 사이에 별도의 기록층이 개재되어 있는 기록층간에서는, 상기한 바와 같이, 한 기록층에 기록을 행할 때 다른 기록층으로의 영향이 작다. 예컨대, 도 8에서, 광이 집속된 위치에 있는 제 3 기록층(13)으로부터, 인접하는 제 2 기록층(12)에 의해 가로막힌 제 1 기록층(11)으로의 영향은 제 2 기록층(12)으로의 영향에 비해 현저히 작아, 무시할 수 있는 정도이다. 이것은, 영향의 정도는 기록층간의 거리의 자승에 비례하여 감소하기 때문이다.
또한, 열의 확산로를 고려하더라도, 기록층은 금속막이나 색소 등의 비교적 열전도율이 큰 재료로 구성되어 있기 때문에, 도 8에 화살표 D1∼D4로 나타내는 바와 같이 각각의 기록층을 따라 열이 확산되는데, 그 중, 광이 집속된 위치에 있는 제 3 기록층(13)에서의 열확산 D3, 그에 인접하는 제 2 및 제 4 기록층(12, 14)에서의 열확산 D2, D4 때문에, 제 1 기록층(11)에 도달하는 열은 꽤 작아진다.
3층 이상의 기록 가능 광 디스크에서는 모든 기록층의 기록 영역이 서로 겹치지 않도록 하는 것도 생각되지만, 그것에는 이하의 문제가 있다. 예컨대, 제 3 기록층(13)의 테스트 기록 영역(23)의 배치 방법으로서, 테스트 기록 영역(23)을 제 1 기록층(11)의 테스트 기록 영역(21) 및 제 2 기록층(12)의 테스트 기록 영역(22)의 양쪽과 겹치지 않는 다른 위치에 배치하는 경우에는, 그들 테스트 기록 영역에 대향하는 영역이 증가하고, 이러한 대향 영역은 통상의 사용자 데이터의 기록에는 적합하지 않기 때문에, 기록 영역의 이용 효율이 감소한다.
또한, 예컨대, 재생 전용 영역과 테스트 기록 영역이 대향하는 배치로 하는 경우 등에는, 각 기록층의 디스크 구조(재생 전용 영역의 배치)가 기록층마다 달라지고, 디스크의 제조 공정이 복잡해진다. 또한 테스트 기록이나 사용자 데이터의 기록을 행하는 경우의 어드레스 지정을 위한 기록 재생 장치의 프로그램이 복잡해진다.
그에 비하여, 본 실시예에서는, 예컨대, 제 3 기록층(13)의 테스트 기록 영역(23)이 제 1 기록층(11)의 테스트 기록 영역(21)과 두께 방향으로 정렬한 위치에 배치되어 있고, 제 3 테스트 기록 영역(23)에 대응한 위치에 새롭게 대향 영역을 추가할 필요가 없다. 또한, 제 3 기록층(13) 내부의 배치는 제 1 기록층(11)과 마찬가지로 하는 것이 가능하고, 디스크의 제조 공정이나 기록 재생 장치의 프로그램이 간단해진다.
또한, 제 4 기록층(14)의 테스트 기록 영역(24)이 제 2 기록층(12)의 테스트 기록 영역(22)과 두께 방향으로 정렬한 위치에 배치되어 있고, 제 4 테스트 기록 영역(24)에 대응한 위치에 새롭게 대향 영역을 추가할 필요가 없다. 또한, 제 4 기록층(14) 내부의 배치는 제 2 기록층(12)과 마찬가지로 하는 것이 가능하고, 디스크의 제조 공정이나 기록 재생 장치의 프로그램이 간단해진다.
본 실시예 1에서는 기록층이 4층 있는 경우에 대하여 나타냈지만, 3층이나 5층 이상의 기록층을 갖는 디스크의 경우도 마찬가지로, 홀수층 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성하고, 짝수층 테스트 기록 영역을 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성하면 좋다.
또한, 상기한 바와 같이, 비기록 영역(31∼34)과 테스트 기록 영역(11∼14)이 서로 대향하도록 테스트 기록 영역(11∼14)의 위치를 정하는 것에 의해 이하의 효과를 얻을 수 있다. 즉, 서로 인접하는 층간에서, 테스트 기록 영역과 겹치면, 테스트 기록 영역과 대향하는 영역이 테스트 기록의 영향을 받아, 후에 그 영역에 테스트 기록을 행할 때, 올바른 테스트 기록을 행할 수 없게 될 가능성이 있다. 그래서, 기록 파워의 영향을 받지 않는 비기록 영역, 예컨대, 재생 전용 영역 등을 테스트 기록 영역에 대향하여 배치하는 것에 의해 상기 문제를 해결할 수 있다.
또, 상기 예에서는, 재생 전용 영역이 테스트 기록 영역의 대향 영역에 일치하고 있지만, 재생 전용 영역이 테스트 기록 영역에 대향하는 영역 이외의 영역도 차지하도록 구성되어 있어도 좋다. 그와 같은 구조의 일례를 도 9 및 도 10에 나타낸다. 도 9는 도 1과 동일하며, 단지, 디스크의 중심부를 확대하여 나타내는 평면도이고, 도 10은 도 2와 동일하며, 도 9의 X-X선을 따른 개략 단면도이다.
도 9 및 도 10의 광 디스크는 도 1 및 도 2의 광 디스크와 마찬가지이다. 그러나, 홀수번째 기록층(11, 13)의 재생 전용 영역(41, 43)이 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성되고, 짝수번째 기록층(12, 14)의 재생 전용 영역(42, 44)이 서로 두께 방향으로 정렬한 위치에 형성되어, 홀수번째 기록층(11, 13)에서의 재생 전용 영역(41, 43)의 일부(41a, 43a)와 짝수번째 기록층에서의 재생 전용 영역(42, 44)의 적어도 일부(42a, 44a)가 광 디스크의 두께 방향으로 서로 겹치지 않도록 형성되어 있다.
그리고, 홀수번째 기록층(11, 13)에서의 재생 전용 영역(41, 43) 중 상기 일부(41a, 43a)의 일부(41b, 43b)에 대향하는 위치에, 짝수번째 기록층(12, 14)에서의 테스트 기록 영역(22, 24)이 형성되고, 짝수번째 기록층(12, 14)에서의 재생 전용 영역(42, 44) 중 상기 일부(42a, 44a)의 일부(42b, 44b)에 대향하는 위치에, 홀수번째 기록층(11, 13)에서의 테스트 기록 영역(21, 23)이 형성되어 있다.
또, 홀수번째 기록층(11, 13)에서의 재생 전용 영역(41, 43) 중 상기 일부(41a, 43a)의 전체에 대향하는 위치에, 짝수번째 기록층(12, 14)에서의 테스트 기록 영역(22, 24)이 형성되고, 짝수번째 기록층(12, 14)에서의 재생 전용 영역(42, 44) 중 상기 일부(42a, 44a)의 전체에 대향하는 위치에, 홀수번째 기록층(11, 13)에서의 테스트 기록 영역(21, 23)이 형성되도록 하여도 좋다.
도 9 및 도 10에 나타내는 광 디스크를 형성하기 위해서는, 최초에 도 9 및 도 10에 나타내는 바와 같이, 재생 전용 영역(41∼44)이 형성된 광 디스크를 준비한다. 다음에, 각각의 기록층에 대하여, 상기한 바와 같은 수순으로 테스트 기록을 행하는 것에 의해, 각각의 기록층에 테스트 기록 영역(21∼24)을 도 9 및 도 10에 나타내는 위치에 형성한다.
그리고 또, 도 1 및 도 2에 나타낸 예에서는, 테스트 기록 영역(21∼24)에 대향하는 비기록 영역(31∼34)이 재생 전용 영역이지만, 재생 전용 영역 이외의 비 기록 영역으로 해도 좋다. 테스트 기록 영역에 대향하는 영역이 재생 전용 영역이면, 테스트 기록 영역으로의 기록이나 재생이 재생 전용 영역의 피트의 영향을 받을 우려가 있지만, 재생 전용 영역을 테스트 기록 영역에 대향하는 영역 이외의 영역에 배치하여, 테스트 기록 영역에 대향하는 영역을 재생 전용 영역 이외의 비기록 영역으로 하는 것으로 그와 같은 문제를 해결할 수 있다. 그와 같은 기록 영역의 배치의 일례를 도 11 및 도 12에 나타낸다. 도 11은 도 1과 동일한 평면도이고, 도 12는 도 2와 동일하며, 도 11의 XII-XII선을 따른 개략 단면도이다.
도 11 및 도 12의 광 디스크는 도 1 및 도 2의 광 디스크와 마찬가지이다. 그러나, 테스트 기록 영역(21∼24)에 대향하는 영역(31∼34)이 재생 전용 영역 이외의 비기록 영역이며, 테스트 기록 영역(21∼24) 및 대향 영역(31∼34)의 외측에, 이들에 인접한 위치에 재생 전용 영역(41∼44)이 형성되어 있다.
도 9 및 도 10의 광 디스크나, 도 11 및 도 12의 광 디스크의 경우, 기록 장치는 각 기록층(11∼14 중 어느 하나)의 테스트 기록에 앞서, 동일한 기록층의 재생 전용 영역(41∼44 중 어느 하나)으로부터 기록 조건 등을 판독하고, 그 후에, 광 픽업의 합초점을 테스트 영역으로 옮겨, 테스트 기록을 행한다. 그 때, 재생 전용 영역에서 판독된 기록 조건 등에 의해, 테스트 기록을 위한 기록 조건, 적어도 그 초기값을 설정한다.
상기한 바와 같이, 기록 조건 등을 기록한 재생 전용 영역이 테스트 기록 영역에 인접 내지 근접하고 있는 배치라고 하면, 기록 조건 등을 판독하는 처리를 행한 후 테스트 데이터를 기록하는 영역까지의 합초점의 이동이 적어지고, 테스트 기 록에 요하는 시간이 단축된다고 하는 이점이 있다.
(실시예 2)
도 13은 본 발명의 실시예 2의 기록 방법으로 기록된 광 디스크를 나타내는 개략 평면도이다. 도 13에 나타내는 광 디스크(2)는 도 1 및 도 2의 광 디스크(1)와 마찬가지로, 기록층이 4층, 즉, 표면에 가까운 쪽에서 순서대로 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 기록층(11, 12, 13, 14)이 형성되어 있다. 제 1∼제 4 기록층(11, 12, 13, 14)에는, 각각의 기록층에 대한 최적 기록 파워를 결정하기 위한 테스트 기록 영역(21, 22, 23, 24)이 마련되어 있다.
실시예 1에서는, 홀수층과 짝수층의 테스트 기록 영역을 모두 광 디스크(1)의 최내주 부근, 즉 가장 안쪽 둘레(1a)의 근방에 배치했었지만, 실시예 2에서는, 홀수층(11, 13)의 테스트 영역(21, 23)이 최내주 부근, 즉, 가장 안쪽 둘레(1a)의 근방에 위치하는 것에 대하여 짝수층(12, 14)의 테스트 영역(22, 24)이 최외주(最外周) 부근, 즉, 가장 바깥쪽 둘레(1b)의 근방에 배치되어 있다.
이러한 배치로 한 경우의 이점은 이하와 같다. 즉, 예컨대, 제 1 기록층(11)에서는, 테스트 기록 영역(21)을 최내주 부근에 형성하고 있기 때문에, 제 1 기록층(11)의 기록은 최내주측에서 시작되어, 최내주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하고, 그 후, 내주측에서 외주측으로 향하는 순서로 사용자 데이터의 기록을 행하며, 최외주측에 이르렀을 때에 제 1 기록층(11)의 기록이 끝난다.
또, 내주측에서의 테스트 기록시에, 사전에 그 외측이고 인접한 위치에 있는 재생 전용 영역으로 합초점을 옮겨 기록 조건 정보 등을 판독하기 때문에, 합초점이 약간 내측을 향하여 이동하거나 하지만, 이것은 작은(직경 방향의 이동량이 적은) 움직임이며, 이러한 움직임이 있었다 해도, 전체로서는 「내주측에서 외주측으로 기록이 진행한다」에 해당한다고 할 수 있다.
다음에, 제 2 기록층(12)의 기록을 개시하기 위해서는, 합초점을 제 1 기록층(11)에서 제 2 기록층(12)으로 이동시킬 필요가 있다. 이 때, 제 2 기록층(12)의 테스트 기록 영역(22)을 최내주 부근에 형성하는 경우에는, 합초점을 최외주측에서 최내주측으로 이동시킬 필요가 있고, 그 때문에 액세스 시간이 걸린다. 한편, 본 실시예와 같이, 테스트 기록 영역(22)을 최외주 부근에 형성하는 경우에는, 그와 같은 제 2 기록층(12)상에서의 이동(테스트 기록 영역(22)에 도달하기까지의 이동)이 필요가 없고, 제 1 기록층(11)의 기록이 끝난 시점에서 최외주측에 있는 합초점을 제 1 기록층(11)으로부터 제 2 기록층(12)으로 이동시켜, 최외주측의 테스트 기록 영역(21)에서 테스트 기록을 행하고, 그 후 최외주측에서 내주측으로 향하는 순서로 사용자 데이터의 기록을 행하면 좋다. 따라서, 테스트 기록을 위한 시간을 단축할 수 있다.
마찬가지로, 제 2 기록층(12)의 기록(테스트 기록 및 사용자 데이터의 기록)을 모두 완료하고, 합초점이 디스크의 최내주측에 있을 때, 합초점을 제 2 기록층(12)으로부터 제 3 기록층(13)으로 이동시키고, 제 3 기록층(13)으로의 기록을 시작하는 경우, 테스트 기록 영역(23)을 최내주 부근에 형성하기 때문에, 제 3 기록층(13)상에서의 이동의 필요가 없어져, 테스트 기록을 위한 시간을 단축할 수 있 다.
마찬가지로, 제 3 기록층(13)의 기록(테스트 기록 및 사용자 데이터의 기록)을 모두 완료하고, 합초점이 디스크의 최내주측에 있을 때, 합초점을 제 3 기록층(13)으로부터 제 4 기록층(14)으로 이동시키고, 제 4 기록층(14)으로의 기록을 시작하는 경우, 테스트 기록 영역(24)을 최외주 부근에 형성하기 때문에, 제 4 기록층(14)상에서의 이동의 필요가 없어져, 테스트 기록을 위한 시간을 단축할 수 있다.
이와 같이 제 1 및 제 3 기록층(11, 13), 즉, 홀수층의 테스트 기록 영역(21, 23)을 최내주 부근에 형성하고, 제 2 및 제 4 기록층, 즉, 짝수층의 테스트 기록 영역(22, 24)을 최외주 부근에 형성하는 것으로 테스트 기록을 위한 시간을 단축할 수 있다.
또, 상기한 바와 같이 하는 대신에, 제 1 및 제 3 기록층(11, 13), 즉, 홀수층의 테스트 기록 영역(21, 23)을 최외주 부근에 형성하고, 제 2 및 제 4 기록층, 즉, 짝수층의 테스트 기록 영역(22, 24)을 최내주 부근에 형성하는 것으로 해도 좋고, 그 경우도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
각 기록 영역을 이용하여 테스트 기록을 행하는 수순이나, 각 기록층에 대응하여 최적 기록 파워를 결정하는 수순은 실시예 1과 마찬가지이다.
(실시예 3)
도 14는 본 발명의 실시예 3의 기록 방법으로 기록된 광 디스크를 나타내는 개략 평면도이다. 도 14에 나타내는 광 디스크(2)는 도 1 및 도 2의 광 디스크(1)나, 도 13의 광 디스크와 마찬가지로, 기록층이 4층, 즉, 표면에 가까운 쪽에서 순서대로 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 기록층(11, 12, 13, 14)이 형성되어 있다. 도 1 및 도 2의 광 디스크(1)나 도 13의 광 디스크(2)와 다른 점은, 각 층에서 테스트 기록 영역이 최내주 부근, 즉, 가장 안쪽 둘레(1a)의 근방과 최외주 부근, 즉, 가장 바깥쪽 둘레(1b)의 근방의 양쪽에 배치되어 있는 점이다. 구체적으로는, 제 1 기록층(11)은 최내주 부근에 테스트 기록 영역(21A)을 가짐과 동시에, 최외주 부근에 테스트 기록 영역(21B)을 갖는다. 마찬가지로, 제 2, 제 3, 제 4 기록층(12, 13, 14)은 각각 최내주 부근에 테스트 기록 영역(22A, 23A, 24A)을 가짐과 동시에, 최외주 부근에 테스트 기록 영역(22B, 23B, 24B)을 갖는다.
이와 같이 각 층에서, 최내주 부근과 최외주 부근의 양쪽에 테스트 기록 영역을 마련하는 것의 이점은 이하와 같다. 즉, 디스크의 기록을 고속으로 행하는 경우, 같은 선속도를 얻기 위해서는 최내주에서는 최외주의 배에 가까운 회전수로 디스크를 회전시킬 필요가 있어, 디스크 모터의 사용 한계를 넘는 경우가 많다. 또한, 디스크의 기록을 고속으로 행하는 경우, 내주측과 외주측에서는 조건이 상당히 다르기 때문에, 최내주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워를 외주측에서의 사용자 데이터의 기록에 이용하면 적절하지 않은 경우가 있다. 또한, 최외주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워를 내주측에서의 사용자 데이터의 기록에 이용하면 적절하지 않은 경우가 있다. 그래서, 도 14에 나타내는 바와 같 이, 최내주 부근과 최외주 부근의 양쪽에 테스트 기록 영역을 마련하고, 최내주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워와 최외주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워의 양쪽을 이용하고, 또한 사용자 데이터가 기록되는 직경 방향상의 위치에 근거하여, 그 기록 위치에서의 최적 기록 파워를 결정함으로써, 상기의 문제를 해결할 수 있다. 예컨대, 최내주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워를 내주측, 즉, 소정 직경 방향상의 위치, 예컨대, 중간 위치보다도 내주측에서의 사용자 데이터의 기록에 이용하고, 최외주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워를 외주측, 즉, 소정 직경 방향상의 위치, 예컨대, 중간 위치보다도 외주측에서의 사용자 데이터의 기록에 이용하는 것으로 한다. 혹은, 사용자 데이터의 기록 위치(반경 방향상의 위치)에 따라서, 최내주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워와 최외주 부근의 테스트 기록 영역에서 테스트 기록을 행하는 것에 의해 구해진 최적 기록 파워를 가중 평균함으로써 얻어진 기록 파워를 이용하여 그 기록 위치에서의 사용자 데이터의 기록을 행하는 것으로 해도 좋다.
(실시예 4)
상기 실시예 1에 관련하여, 테스트 기록의 수순에 대하여 설명했지만, 실시예 1과 같은 수순 대신에, 이하와 같은 다른 수순으로 테스트 기록을 행할 수 있 다.
즉, 실시예 1에서는, 각 층에 대한 테스트 기록을 일련의 동작으로 행하고, 또한, 테스트 데이터의 기록에서의 기록 파워의 변경(도 5의 단계 S13)에서의 구분폭을 최적 기록 파워를 충분한 정밀도로 행하는데 필요한 값으로 설정하고 있지만, 상기 처리를 복수의 단계로 나눠 행해도 좋다.
이하에, 2단계로 나눠 행하는 경우에 대하여 설명한다. 이 경우, 최초의 단계는 말하자면, 대략 조정이며, 테스트 기록 영역에, 제 1 소정 구분폭씩 서로 다른 복수의 값의 기록 파워로 테스트 데이터의 기록을 행하고, 기록된 테스트 데이터를 재생하여, 재생 결과를 평가함으로써 최적 기록 파워의 개략값을 구한다. 제 2 단계는 말하자면, 미세 조정이며, 테스트 기록 영역에, 상기 제 1 소정 구분폭보다도 작은 제 2 소정폭씩 서로 다르고, 또한 상기 최적 기록 파워의 개략값에 가까운 범위 내의, 복수의 값의 기록 파워로 테스트 데이터의 기록을 행하고, 기록된 테스트 데이터를 재생하여, 재생 결과를 평가함으로써, 상기 최적 기록 파워의 보다 정확한 값을 구한다.
예컨대, 대략 조정에서는, 디스크의 제조 편차나 기록 조건(온도 등)의 여하를 막론하고, 최적 기록 파워가 존재할 수 있다고 생각되는 범위(최대 범위)의 전체에 걸쳐 비교적 큰 구분폭(단계)을 이용하여 기록 파워를 변화시켜, 이용되고 있는 기록 조건하에서 이용되고 있는 디스크의 각각의 층에 관해서 최적 기록 파워의 개략값에 가까운 범위, 즉, 최적 기록 파워가 포함된다고 판단되는 범위를 구한다. 미세 조정에서는, 상기 최적 기록 파워가 포함된다고 판단되는 범위 중 비교적 작 은 구분폭(단계)을 이용하여 기록 파워를 변화시켜, 최적 기록 파워를 구한다.
예컨대, 대략 조정에서는, 상기 최대 범위 R1에 걸쳐, 도 15 및 도 16에 나타내는 바와 같이, 비교적 큰 단계 ΔP1로 기록 파워를 단계적으로 변경하여 기록 파워 Pq와 기록 파워 (Pq-ΔP1)까지의 범위에 최적값 Po가 포함된다는 판단을 한다. 미세 조정에서는, 도 17 및 도 18에 나타내는 바와 같이, 기록 파워 Pq로부터 기록 파워 (Pq-ΔP1)까지의 범위에서, 단계 ΔP1보다 작은 단계 ΔP2로 기록 파워를 단계적으로 변경하여, 최적값 Po를 구한다.
상기 이들 처리를 흐름도로 나타내면 도 19 및 도 20과 같다. 이 중, 대략 조정을 나타내는 도 19의 처리는 대체로 도 5와 동일하며, 단계 S21∼S27이 각각 단계 S11∼S17에 대응하지만, 단계 S23에서의 기록 파워의 변경에서의 구분폭(단계)이 단계 S13의 구분폭보다도 크다. 또한, 단계 S26에서는, 단계 S16과 같은 최적 기록 파워의 결정이 행해지는 것이 아니라, 「최적 기록 파워가 포함되는 범위를 구한다」라고 하는 처리가 행해진다.
미세 조정을 나타내는 도 20의 처리는 대체로 도 5와 동일하며, 단계 S31∼S37이 각각 단계 S11∼S17에 대응하지만, 단계 S31의 기록 파워 초기 설정에서의 초기값이 단계 S26에서 구해진 범위의 상한으로 설정된다. 또한, 단계 S34의 소정 파워 변경이 완료했는지 여부의 판정 단계에서는, 기록 파워가 단계 S26에서 구해진 범위의 하한에 도달했는지 여부의 판정이 행해진다.
또한, 상기한 바와 같이 2단계로 나누는 경우, 대략 조정이 끝나면, 즉시 미세 조정을 행하는 것으로 해도 좋고, 대략 조정 후, 별도의 처리를 행하고, 그 후 미세 조정을 행하여도 좋다.
예컨대, 디스크가 복수의 기록층, 예컨대, 두 개의 기록층을 갖고, 그 중 하나의 기록층(제 1 기록층)에 사용자 데이터의 기록을 행하고, 그 후 다른 기록층(제 2 기록층)에 대한 사용자 데이터의 기록을 행하는 경우, 제 1 기록층에서의 사용자 데이터의 기록의 개시 전에, 제 1 기록층에 대한 테스트 기록과, 제 2 기록층에 대한 테스트 기록 중 상기 제 1 단계(대략 조정)를 행하고, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록이 끝나고 나서 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 개시 전에 상기 제 2 단계의 처리(미세 조정)를 행하는 것으로 해도 좋다.
제 1 기록층과 제 2 기록층에 걸쳐 연속 기록을 행하는 경우 등에는, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록이 끝나고 나서 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 개시까지의 시간은 짧은 것이 바람직하고, 한편, 기록 조건(온도 등)은 시시각각 변화하기 때문에, 미세 조정은 각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 개시 직전에 행하는 것이 바람직하지만, 상기 수순으로 함으로써, 상기 두 가지 요구에 응할 수 있다.
상기 수순에서, 제 2 기록층에 대한 제 1 단계의 처리(대략 조정)를 제 1 기록층에 대한 테스트 기록 전에 행하여도 좋고, 제 1 기록층에 대한 테스트 기록 후에 행하여도 좋다. 또한, 제 1 기록층에 대한 테스트 기록을 2단계로 나눠 행하여도 좋고, 도 5를 참조하여 설명한 바와 같이 1단계로 행하여도 좋다.
그리고 또, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록이 도중에 중단되는 경우로서, 그 중단 시간이 제 2 기록층에 대한 테스트 기록의 제 1 단계의 처리(대략 조정)를 행하는 데 충분한 길이를 갖는 경우, 그 중단 시간 중에 제 2 기록층에 대한 대략 조정을 행하는 것으로 해도 좋다. 요컨대, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 종료 전에 제 2 기록층에 대한 대략 조정을 행하여 두면, 제 1 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 종료와 제 2 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 개시 전에는 제 2 기록층에 대한 미세 조정만을 행하면 좋기 때문에, 시간을 단축할 수 있다.
(실시예 5)
실시예 1에서는, 각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록에 앞서, 해당 기록층에 대한 테스트 기록을 행하고 있지만, 이와 같이 하는 대신에, 복수의 기록층, 예컨대, 디스크의 모든 기록층에 대하여 테스트 기록(S1∼S3)을 행한 후, 그들 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록(S4)을 개시하는 것으로 해도 좋다.
이 경우, 한 기록층에 테스트 데이터를 기록하고(도 5의 단계 S11∼S14), 재생하여(S15), 최적 기록 파워를 결정(S16)한 후, 별도의 기록층으로의 테스트 데이터의 기록(S11∼S14)을 행하더라도 좋고, 복수의 기록층에 테스트 데이터의 기록(S11∼S14)을 행한 후, 그들 복수의 기록층으로부터 순서대로 테스트 데이터를 재생하고(S15), 각각의 기록층을 위한 최적 기록 파워의 결정(S16)을 행하도록 하더라도 좋다.
이와 같이 복수의 기록층에 대하여 테스트 기록을 행한 후, 그들 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록을 개시하는 것으로 하면, 한 기록층(제 1 기록층)과 별 도의 기록층(제 2 기록층)에 걸쳐 연속 기록을 행하는 경우 등에는, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록이 끝난 후, (테스트 기록을 행할 필요가 없기 때문에,) 즉시 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록을 개시할 수 있다고 하는 이점이 있다.
각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록에 앞서 해당 기록층에 대한 테스트 기록을 행할지, 상기한 바와 같이 복수의 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록에 앞서 해당 복수의 기록층의 전부에 대한 테스트 기록을 행할지를 선택 가능하게 할 수도 있다. 예컨대, 기록 장치에 선택을 위한 조작 입력 수단을 마련해 두고, 사용자가 조작 입력 수단의 조작에 의해 선택하도록 구성할 수 있다. 사용자는 예컨대, 복수의 기록층에 걸친다고 판단되는 기록을 행하는 경우에는, 조작 입력 수단을 조작하여, 복수의 기록층에 대한 테스트 기록을 행하게 한다.
또, 상기한 바와 같이 복수의 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록에 앞서 해당 복수의 기록층의 전부에 대한 테스트 기록을 행하는 경우에는, 도 1 및 도 2에 나타내는 바와 같이 모든 기록층의 테스트 기록 영역을 디스크의 최내주 부근에 집중하여 형성하거나, 혹은 반대로 모든 기록층의 테스트 기록 영역을 디스크의 최외주 부근에 집중하여 형성함으로써, 합초점을 최내주 부근 또는 최외주 부근에 위치시킨 채로, 기록층간의 이동만을 행하면 좋고, 테스트 기록 시간을 단축할 수 있다고 하는 효과를 얻을 수 있다.
(실시예 6)
이상의 실시예에서, 각 기록층에 대한 테스트 기록을 해당 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 개시 전에 실행하고, 결정된 최적 기록 파워를 이용하여 그 기록층으로의 사용자 데이터의 기록을 행하는 것을 설명했지만, 이것은 반드시, 그 기록층의 전체에 걸쳐 같은 기록 파워를 이용하는 것을 의미하지 않고, 각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 도중에, 온도의 변화 등을 검출하여 그것에 근거하는 보정을 행하는 것으로 해도 좋다.
또, 각 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 도중에, 예컨대, 사용자 데이터의 기록이 중단된 때에, 테스트 기록을 행하고, 새롭게 결정된 최적 기록 파워를 이용하여 그 이후의 사용자 데이터의 기록을 행하는 것으로 해도 좋다.
이 때, 전에 테스트 기록을 행하고 나서의 소정값 이상의 온도의 변화나 소정값 이상의 시간의 경과를 조건으로 하여, 상기한 각 기록층에 대한 테스트 기록을 행하도록 하더라도 좋다.
(실시예 7)
또한, 실시예 6에서 설명한 바와 같이, 복수의 기록층, 예컨대, 디스크의 모든 기록층에 대하여 테스트 기록(S1∼S3)을 행한 후, 그들 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록(S4)을 개시하는 경우에, 실시예 6에서 설명한 바와 같이, 한 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 도중에, 예컨대, 사용자 데이터의 기록이 중단된 때에, 테스트 기록을 행하고, 새롭게 결정된 최적 기록 파워를 이용하여 상기 한 기록층에 대한 그 이후의 사용자 데이터의 기록을 행한 경우로서, 상기 한 기록층의 기록이 끝나고 별도의 기록층으로의 사용자 데이터의 기록을 개시하는 때에는, 상기 한 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 종료시에 이용하고 있던 기록 파워와, 최초에 복수의 기록층에 대한 테스트 기록을 행한 결과 얻어진 각각의 기록층에 대한 최적 기록 파워 상호간의 비를 이용하여, 상기 별도의 기록층으로의 사용자 데이터의 기록을 개시하도록 하더라도 좋다.
예컨대, 제 1 및 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 개시 전에 제 1 및 제 2 기록층에 대한 테스트 기록을 행한 결과, 제 1 기록층의 최적 기록 파워가 Po1a, 제 2 기록층의 최적 기록 파워가 Po2a라 결정된 경우, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록은 기록 파워 Po1a를 이용하여 개시되지만, 도중에 기록이 중단되고, 재차 테스트 기록을 행한 결과, 최적 기록 파워가 Po1b라 결정되고, 그것을 이용하여 제 1 기록층의 그 이후의 기록이 실행된 경우, 제 1 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 종료시에 이용되고 있던 최적 기록 파워는 Po1b이다. 또한, 최초에 복수의 기록층에 대한 테스트 기록을 행한 결과 얻어진 각각의 기록층에 대한 최적 기록 파워 상호간의 비는 Po2a/Po1a이다. 이들을 이용하여, Po2b= Po1b×(Po2a/Po1a)의 계산을 행하고, 구해진 Po2b를 제 2 기록층에 대한 최적 기록 파워로서 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록을 개시한다.
이렇게 하는 것으로, 제 1 기록층과 제 2 기록층에 걸쳐 연속 기록을 행하는 경우 등에는, 제 1 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록이 끝난 후, (테스트 기록을 행할 필요가 없기 때문에,) 즉시 제 2 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록을 개시할 수 있다고 하는 이점이 있다.
또한, 한 기록층에 대한 사용자 데이터 기록 도중의 중단 시간이 비교적 길어, 한 기록층 및 다음 기록에 이용되는 별도의 기록층에 대한 테스트 기록을 행하는데 충분한 시간을 갖는 경우, 상기 한 기록층 및 상기 별도의 기록층에 대한 테스트 기록을 재차 행하여 두고, 한 기록층에 대한 사용자 데이터 기록 도중의 중단 시간이 비교적 짧아, 두 기록층에 대한 테스트 기록을 행하기 위해서는 불충분하지만, 상기 한 기록층에 대한 테스트 기록을 행하기 위해서는 충분한 경우에는, 상기 한 기록층에 대하여만 테스트 기록을 재차 행하여 두고, 상기 한 기록층에 대한 사용자 데이터의 기록의 종료시에 이용하고 있던 기록 파워와, 상기 한 기록층과 별도의 기록층의 양쪽에 대하여 동시에 또한 최후에 행한 테스트 기록을 행한 결과 얻어진 각각의 기록층에 대한 최적 기록 파워 상호간의 비를 이용하여, 상기 별도의 기록층으로의 사용자 데이터의 기록을 개시하도록 하더라도 좋다.
이 경우도, 상기한 형태에서의 기록을 행하는지 여부를 사용자가 조작 입력 수단의 조작에 의해 선택하도록 구성할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예 1의 기록 방법으로 기록된 광 디스크의 일례의 개략 평면도,
도 2는 도 1의 광 디스크의 II-II선을 따른 개략 단면도,
도 3은 본 발명의 실시예 1의 기록 방법의 실시에 이용되는 광 기록 장치의 일례를 나타내는 개략 블록도,
도 4는 본 발명의 실시예 1에서의 기록의 수순을 나타내는 흐름도,
도 5는 본 발명의 실시예 1에서의 테스트 기록의 수순을 나타내는 흐름도,
도 6은 테스트 기록 영역에서의 기록 위치와 기록 파워의 관계의 일례를 나타내는 도면,
도 7은 테스트 기록 위치와 지터의 관계를 나타내는 도면,
도 8은 집광 스팟으로부터 각 기록층으로의 열 전달을 나타내는 도면,
도 9는 본 발명의 실시예 1의 기록 방법으로 기록된 광 디스크의 다른 예의 개략 평면도,
도 lO은 도 9의 광 디스크의 X-X선을 따른 개략 단면도,
도 11은 본 발명의 실시예 1의 기록 방법으로 기록된 광 디스크의 또다른 예의 개략 평면도,
도 12는 도 11의 광 디스크의 XII-XII선을 따른 개략 단면도,
도 13은 본 발명의 실시예 2의 기록 방법으로 기록된 광 디스크를 나타내는 개략 평면도,
도 14는 본 발명의 실시예 3의 기록 방법으로 기록된 광 디스크를 나타내는 개략 평면도,
도 15는 본 발명의 실시예 4의 기록 방법의 대략 조정(粗調整)에서의 테스트 기록 영역 내의 기록 위치와 기록 파워의 관계의 일례를 나타내는 도면,
도 16은 본 발명의 실시예 4의 기록 방법의 대략 조정에서의 테스트 기록 위치와 지터의 관계를 나타내는 도면,
도 17은 본 발명의 실시예 4의 기록 방법의 미세 조정(微調整)에서의 테스트 기록 영역 내의 기록 위치와 기록 파워의 관계의 일례를 나타내는 도면,
도 18은 본 발명의 실시예 4의 기록 방법의 미세 조정에서의 테스트 기록 위치와 지터의 관계를 나타내는 도면,
도 19는 본 발명의 실시예 4의 대략 조정에서의 기록의 수순을 나타내는 흐름도,
도 20은 본 발명의 실시예 4의 미세 조정에서의 기록의 수순을 나타내는 흐름도이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1, 2 : 광 디스크 11, 12, 13, 14 : 기록층
20 : 사용자 데이터 영역 2l, 22, 23, 24 : 테스트 기록 영역
30 : 관리 영역 31, 32, 33, 34 : 비기록 영역
41, 42, 43, 44 : 재생 전용 영역 52 : 광 픽업
55 : 레이저 구동 회로 56 : 서보 제어 회로
58 : 중앙 제어 회로 66 : 테스트 패턴 발생 회로
67 : 재생 회로 68 : 지터 검출 회로

Claims (2)

  1. 기록층의 테스트 기록 영역에, 제 1 소정 구분폭씩 서로 다른 복수의 값의 기록 파워로 테스트 데이터의 기록을 행하고, 기록된 테스트 데이터를 재생하며, 재생 결과를 평가함으로써 최적 기록 파워의 개략값을 구하는 제 1 공정과,
    기록층의 테스트 기록 영역에, 상기 제 1 소정 구분폭보다 작은 제 2 소정폭씩 서로 다르고, 또한 상기 최적 기록 파워의 개략값에 가까운 범위 내의, 복수의 값의 기록 파워로 테스트 데이터의 기록을 행하고, 기록된 테스트 데이터를 재생하며, 재생 결과를 평가함으로써, 상기 최적 기록 파워의 보다 정확한 값을 구하는 제 2 공정과,
    상기 최적 기록 파워의 보다 정확한 값에 근거하여, 사용자 데이터의 기록을 행하는 제 3 공정
    을 갖는 광 디스크의 기록 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 광 디스크는 적어도 제 1 기록층과 제 2 기록층을 갖고,
    상기 제 1 기록층으로의 사용자 데이터의 기록 후에 상기 제 2 기록층으로의 사용자 데이터의 기록을 행하는 경우에,
    상기 제 1 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 종료 전에 상기 제 2 기록 층에 대하여 상기 제 1 공정을 행하고,
    상기 제 1 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 종료 후이고 상기 제 2 기록층으로의 사용자 데이터의 기록의 개시 전에, 상기 제 2 기록층에 대하여 상기 제 2 공정을 행하는
    것을 특징으로 하는 광 디스크의 기록 방법.
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