JP2004063035A - 光ディスク用パワーキャリブレーション方法及び装置 - Google Patents
光ディスク用パワーキャリブレーション方法及び装置 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】ＰＣＡを複数使用することなく、最小エリアの使用だけで精度の高いパワーキャリブレーション処理にて最適パワーを決定する。
【解決手段】粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであるかを検証する。それぞれの処理の記録パワーの変化及びβの検出は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０とデコードＥＦＭカウント制御回路１５とにより、１フレームを９８分割したＥＦＭフレームを最小単位として行う。
【選択図】 図１
【解決手段】粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであるかを検証する。それぞれの処理の記録パワーの変化及びβの検出は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０とデコードＥＦＭカウント制御回路１５とにより、１フレームを９８分割したＥＦＭフレームを最小単位として行う。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ）に情報を記録する際には、予めパワーキャリブレーションエリア（以下「ＰＣＡ」という。）に“試し書き”をすることによって、記録パワーを最適化する。図８は、ＣＤ−Ｒ規格における従来のＰＣＡの構成を示す説明図である。図９は、従来のパワーキャリブレーション処理における記録パワーのレベルを示すグラフである。以下、これらの図面に基づき説明する。
【０００３】
図８に示すように、ＰＣＡ８１は、カウントエリア８２とテストエリア８３とに分かれている。カウントエリア８３は１００個のカウントフレーム（ＣＦ０１〜ＣＦ１００）からなる。テストエリア８２は１００個のパーティション８４（ＴＡ０１〜ＴＡ１００）からなる。パーティション８４は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用される領域であり、１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）からなる。また、図９に示すように、従来技術では、１回分すなわち１個分のパーティション内の１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）に、それぞれ１段階ずつ記録パワーを変化させて合計１５段階の記録パワーで所定の情報を記録し、それらの中から最適な記録パワーを選択していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
国内及び海外で非常に多くの種類のある光ディスクは、記録感度もさまざまである。そのため、記録感度の低いものから高いものまでの全てに対して、１５段階だけの記録パワーに基づいて最適パワーを決定することは難しい。そこで、従来技術では、複数個のパーティション８４を使用してパワーキャリブレーション処理をすることにより、最適パワー決定の精度を上げるものもあった。
【０００５】
このように、最適パワー決定の精度を上げるためには、複数個のパーティション８４を使用して複数回のパワーキャリブレーション処理をすることが必要となる。しかし、そうすると、ＰＣＡ８１は１００回分（すなわち１００個のパーティション８４）しかないので、ＰＣＡ８１が足りなくなって光ディスクが途中で使用できなくなる場合が生ずる。
【０００６】
一方、ＰＣＡ８１を節約するために、パーティション８４を更に複数の領域に分割して、各領域で一回のパワーキャリブレーション処理をする技術が開示されている（特開平７−２８７８４７号公報等）。しかし、この場合は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用する領域が狭くなる分だけ、最適パワー決定の精度が落ちてしまうので、有用性に欠けていた。また、一般の光ディスク装置との互換性を考慮すると、一回のパワーキャリブレーション処理には一個のパーティション８４（すなわち１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５））を使用することが好ましい。
【０００７】
【発明の目的】
そこで、本発明の目的は、どのような記録感度の光ディスクに対しても一個のパーティションを使って最適パワーを精度よく決定することができる、パワーキャリブレーション方法及び装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。
【０００９】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１０】
請求項２記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを変化させて第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定する。続いて、この最適な記録パワーで第二の領域に記録することにより、この最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１１】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１２】
請求項３記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一乃至第三の領域に分割し、更にこれらの第一乃至第三の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第二の最適な記録パワーで第三の領域に記録することにより、当該第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１３】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１４】
請求項４記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、粗調キャリブレーション手段及び微調キャリブレーション手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。粗調キャリブレーション手段は、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。微調キャリブレーション手段は、第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。
【００１５】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１６】
請求項５記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、キャリブレーション手段及び検証手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。キャリブレーション手段は、記録パワーを変化させて第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定する。検証手段は、この最適な記録パワーで第二の領域に記録することにより、当該最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１７】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１８】
請求項６記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。粗調キャリブレーション手段は、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。微調キャリブレーション手段は、第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。検証手段は、第二の最適な記録パワーで第三の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１９】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００２０】
また、本発明に係るパワーキャリブレーション装置は、以下の構成を採り得る。更に、本発明に係るパワーキャリブレーション方法は、本発明に係るパワーキャリブレーション装置に使用されるものであるので、以下と同様の構成を採り得る。
【００２１】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を１個のパーティションとすると、パワーキャリブレーションエリアは１００個の当該パーティションからなり、この１個のパーティションは１５個のテストフレームからなり、この１個のテストフレームは９８個のＥＦＭフレームからなり、試し書きの最小単位は１個以上かつ４９個以下のいずれかの個数のＥＦＭフレームからなる（請求項７）。ここで、ＥＦＭ（８ ｔｏ １４ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）とは、８ビットの信号を１４ビットに変換してなおかつ１と０の数が平均的に出現するようにビットを付加する変調方式をいう。検証手段はβ値に基づき検証する（請求項８）、
【００２２】
記録時に記録データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したら記録パワーを変化させる手段と、読み出し時に再生データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したらβを検出する手段と、を更に備えた（請求項９）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で使用する記録データをエンコードデータに変換する手段を、更に備えた（請求項１０）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で使用する記録パワー及び記録パワー変化量によって記録パワーを制御する手段を更に備えた（請求項１１）。光ディスクから読み出された再生信号をデコードデータに変換する手段を更に備えた（請求項１２）。光ディスクから読み出された再生信号の極大値をＲ１、極小値をＲ２としたときに、β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）としてβを検出する手段を更に備えた（請求項１３）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で検出されたβから最適パワーを算出する手段を、更に備えた（請求項１４）。記録データを記録するアドレス及び再生データを読み出すアドレスへ、スピンドルモータ及びスレッドモータを制御することにより、光ヘッドをシークさせるサーボ制御手段を更に備えた（請求項１５）。光ディスクから光ピックアップを介して再生信号として検出する手段を更に備えた（請求項１６）。光ディスクへ光ピックアップを介して記録データを記録する手段を更に備えた（請求項１７）。光ディスクからスピンドルモータ制御信号とスレッドモータ制御信号とをサーボ制御手段へ送信する手段を更に備えた（請求項１８）。
【００２３】
換言すると、本発明のパワーキャリブレーション装置は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する粗調キャリブレーションを制御する手段（図１の２２）と、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する微調キャリブレーションを制御する手段（図１の２３）と、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであると判断されるある範囲に入っているかどうかを検証する、β検証を制御する手段（図１の２４）と、それらを制御するＭＰＵ（図１の２８）と、記録時にデータをエンコードデータに変換する際に、１フレームからＥＦＭフレームを検出し、９８ＥＦＭフレームに分割する、そしてそのカウント数が指定のカウント数に達したら通知する、エンコードＥＦＭカウント制御手段（図１の２０）と、エンコードＥＦＭカウント制御手段からの通知をきっかけに記録パワーを変化させて光ピックアップ（図１の１２）から光ディスク（図１の１１）へ記録する、ＬＤ制御手段（図１の１８）と、光ディスク（図１の１１）から光ピックアップ（図１の１２）を介して読み出された信号をデコードする際に、１フレームからＥＦＭフレームを検出し、９８ＥＦＭフレームに分割する、そしてそのカウント数が指定のカウント数に達したら通知する、デコードＥＦＭカウント制御手段（図１の１５）と、読み出された再生信号の極大値Ｒ１と極小値Ｒ２とからβ値（β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２））を算出するβ検出手段（図１の１７）と、目標βと検出βとから最適パワーを算出する、最適パワー算出手段（図１の１６）と、粗調キャリブレーション処理と微調キャリブレーション処理とβ検証処理とにおいて記録パワーの変化量を変える、設定パワー算出手段（図１の２１）と、スピンドルモータ（図１の２５）と光ピックアップのスレッドモータ（図１の２６）を制御する、サーボ制御手段（図１の２７）とを有する。
【００２４】
更に換言すると、本発明のパワーキャリブレーション装置では、従来技術での記録パワーを変化させる最小単位である１テストフレームを更に９８ＥＦＭフレームに分割し、その分割したＥＦＭフレームの指定したカウント数を最小単位とすることができる。そのため、ＰＣＡのパワーキャリブレーション処理を行う最小エリアの１５フレームにて、従来の１５個のβのサンプル数に比べて、１５〜１４７０（１５×９８）のサンプル数を取得することができるので、１つのＰＣＡで決定した最適記録パワーの精度を上げることができる。更に粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理、及びβ検証処理を行うことにより、パワーキャリブレーション処理のリトライを減らすことができ、しかも決定された最適記録パワーの記録検証を行うことで決定した最適記録パワーの精度を上げることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係るパワーキャリブレーション装置の一実施形態を示すブロック図である。以下、この図面に基づき、パワーキャリブレーション装置１０について説明する。
【００２６】
粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーに基づき、更に細かく記録パワーを変化させることにより最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが、最適であると判断されるある範囲に入っているか否かを検証する。ＭＰＵ２８は、粗調キャリブレーション制御回路２２、微調キャリブレーション制御回路２３及びβ検証制御回路２４を総合的に制御する。
【００２７】
記録時にデータをエンコードデータに変換する際に、１テストフレームからＥＦＭフレームを検出し、１テストフレームを９８ＥＦＭフレームに分割する。エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は、ＥＦＭフレームのカウント数が指定の値に達したことを、ＬＤ制御回路１８等に通知する。ＬＤ制御回路１８は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０からの通知を契機に、記録パワーを変化させて光ピックアップ１２へ出力する。これにより、光ピックアップ１２は光ディスク１１へテスト用の情報を記録する。
【００２８】
光ディスク１１から光ピックアップ１２を介して読み出された信号をデコードする際に、１テストフレームからＥＦＭフレームを検出し、１テストフレームを９８ＥＦＭフレームに分割する。デコードＥＦＭカウント制御回路１５は、ＥＦＭフレームのカウント数が指定値に達したら、β検出回路１７等へ通知する。β検出回路１７は、読み出された再生信号の極大値Ｒ１及び極小値Ｒ２からβ値（β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２））を算出する。最適パワー算出回路１６は、目標β及び検出βに基づき最適パワーを算出する。設定パワー算出回路２１は、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及びβ検証処理において、記録パワーの変化量を変える。サーボ制御回路２７は、スピンドルモータ２５と光ピックアップ１２のスレッドモータ２６とを制御する。
【００２９】
次に、パワーキャリブレーション装置１０の動作の概要を説明する。
【００３０】
ＭＰＵ２８は、まず、粗調キャリブレーション制御回路２２に粗調キャリブレーション処理の指示を出す。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にデフォルト記録パワー及び粗調記録パワー変化量を指示する。続いて、ＭＰＵ２８はサーボ制御回路２７へＰＣＡにシークの指示を出す。サーボ制御回路２７は、スピンドルモータ２５及びスレッドモータ２６を制御して、ＰＣＡのパワーキャリブレーションを行うアドレスへ光ピックアップ１２をシークさせる。
【００３１】
続いて、粗調キャリブレーション制御回路２２は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０にＥＦＭカウント数を指示し、エンコード制御回路１９にエンコード開始を指示する。エンコード制御回路１９からエンコードされた記録データは、設定パワー算出回路２１によってＬＤ制御回路１８に設定された記録パワーで、光ピックアップ１２から光ディスク１１に記録される。
【００３２】
記録が開始されると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は、エンコードされた記録データのＥＦＭフレームをカウントし、指定のカウント数になったら粗調キャリブレーション制御回路２２へ通知する。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にて記録パワーを変化させる。
【００３３】
指定のＥＦＭフレーム分の記録が終了したら、サーボ制御回路２７は再度同じＰＣＡのアドレスに光ピックアップ１２をシークさせる。粗調キャリブレーション制御回路２２は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５にＥＦＭカウント数を指示し、再生信号検出回路１３からの再生信号のデコードをデコード制御回路１４へ指示する。
【００３４】
デコードが開始されると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５は、デコードされた再生データのＥＦＭフレームをカウントし、指定のカウント数になったら粗調キャリブレーション回路２２に通知する。粗調キャリブレーション回路２２は、β検出回路１７に指示を出すことによりβの検出を行う。指定のＥＦＭフレーム分のβが検出できたら、最適パワー算出回路１６にて最適パワーの計算を行う。以上で粗調キャリブレーション処理が終了する。
【００３５】
続いて、ＭＰＵ２８は、微調キャリブレーション制御回路２３に微調キャリブレーション処理の指示を出す。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定した最適パワーと微調記録パワー変化量とを指示する。エンコード及びデコードの制御は粗調キャリブレーション処理と同様である。
【００３６】
微調キャリブレーション処理が終了すると、ＭＰＵ２８はβ検証制御回路２４にβ検証処理の指示を出す。β検証制御回路２４は微調キャリブレーション処理で決定した最適パワーを指示する。記録パワー変化量は０とする。エンコード及びデコードの制御は、粗調及び微調キャリブレーション処理と同様である。指定のＥＦＭフレーム分のβが検出できたら、そのβの平均値又は各βが最適な記録パワーで書かれたものか否かを検証する。このとき、検出βが目標βのある範囲に入っているか否かで検証する。検証結果が異常な場合は、再度粗調キャリブレーション処理からリトライをする。検証結果が正常であればβ検証処理を終了とする。
【００３７】
最後に、ＭＰＵ２８は、カウントエリアを１フレーム記録するよう指示して、処理を終了する。
【００３８】
図２は、パワーキャリブレーション装置１０で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。以下、この図面に基づき説明する。
【００３９】
ＰＣＡ３１は、カウントエリア３２とテストエリア３３とに分かれている。カウントエリア３３は１００個のカウントフレーム（ＣＦ０１〜ＣＦ１００）からなる。テストエリア３２は１００個のパーティション３４（ＴＡ０１〜ＴＡ１００）からなる。パーティション３４は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用される領域であり、１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）からなる。テストフレーム３５を更に９８に分割したものが、ＥＦＭフレーム（ＥＦ０１〜ＥＦ９８）である。このように、１回分すなわち１個分のパーティション３４内の１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）が、それぞれ９８個のＥＦＭフレーム（ＥＦ０１〜ＥＦ９８）に分割されている。
【００４０】
図３は、パワーキャリブレーション装置１０のパワーキャリブレーション処理（第一例）における記録パワーの変化を示すグラフである。以下、この図面に基づき説明する。
【００４１】
パワーキャリブレーション処理の最小単位は、１ＥＦＭフレームである。そのため、最も記録パワーを細かく変化させる場合は、１テストフレームに９８段階まで記録パワーを変化させることができる。なお、図９に示す従来技術では、パワーキャリブレーション処理の最小単位が１テストフレームであるので、１５段階までしか記録パワーを変化させることができない。
【００４２】
図４及び図５は、パワーキャリブレーション装置１０のパワーキャリブレーション処理（第二例及び第三例）における記録パワーの変化を示すグラフである。以下、この図面に基づき説明する。
【００４３】
本発明では、システムに応じて、パワーキャリブレーション処理の最小単位を２ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり４９段階）や、８ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり１２段階）等と変更することができる。図４は、最小単位を３２ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり３段階）に設定したときの、記録レーザパワーの変化を示す。図５は、最小単位を４９ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり２段階）に設定したときの、記録レーザパワーの変化を示す。
【００４４】
図６及び図７は、パワーキャリブレーション装置１０の動作を示すフローチャートである。以下、図１乃至図７に基づき説明する。
【００４５】
ＭＰＵ２８は、まず粗調キャリブレーション制御回路２２に粗調キャリブレーション処理の指示を出すことにより、粗調ライト処理を行う（ステップ２０２）。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にデフォルト記録パワー及び粗調記録パワー変化量を設定し（ステップ２０４）、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０に粗調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０７）。
【００４６】
ＥＦＭカウント値はシステムに応じてさまざまに設定できる。図５の例では、ＥＦＭカウント値が４９ＥＦＭフレーム（１／２テストフレーム）での記録パワーの変化を表している。もう少し高速のＣＰＵの場合は、図４の例のように、ＥＦＭカウント値を３２ＥＦＭフレーム（１／３テストフレーム）と設定することにより、βのサンプル数を更に多く取得できるので、決定した最適パワーの精度を上げることができる。ここでは、図５の例に沿って説明を続ける。図５の例では、粗調キャリブレーション５３の記録パワーを４段として、記録パワーの変化量を大きくしてある。
【００４７】
続いて、粗調キャリブレーションによって、ある程度の最適パワーを決定する。まず、ＭＰＵ２８は、サーボ制御回路２７に指示を出すことにより、ＰＣＡ３１の指定アドレスへ光ピックアップ１２をシークさせる（ステップ２１０）。指定アドレスへのシークが完了すると、デフォルト記録パワーを中心にして算出された最小記録パワーを設定パワー算出回路２１によってＬＤ制御回路１８に設定し（図５の粗調キャリブレーション５３参照）、エンコード制御回路１９によって記録が開始される（ステップ２１１）。エンコードデータは光ピックアップ１２から光ディスク１１に記録される。記録が開始されると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０はＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント（ここでは４９ＥＦＭフレーム）になるか否かをモニタする。ＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウントに達すると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は粗調キャリブレーション制御回路２２に通知し（ステップ２１２）、粗調キャリブレーション制御回路２２は記録パワーを１段変化させる（ステップ２１３）。４段の記録パワーを変化させ、２テストフレーム分（図５のＴＦ１４，１５）のエンコードが終了したら、粗調ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００４８】
続いて、粗調リード処理を行う（ステップ２１５）。粗調キャリブレーション制御回路２２は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５に粗調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１７）。ここでのＥＦＭカウント値は粗調ライト処理と同じ値を設定する。ＭＰＵ２８は、サーボ制御回路２７に指示を出すことにより、ＰＣＡ３１の指定アドレスへ光ピックアップ１２をシークをさせる（ステップ２２０）。指定アドレスへのシークが完了すると、再生信号が光ディスク１１から光ピックアップ１２によって出力される。これにより、再生信号は再生信号検出回路１３からデコード制御回路１４に入り、再生信号のデコードが開始される（ステップ２２１）。デコードが開始されると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５はＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント数（ここでは４９ＥＦＭフレーム）になるか否かをモニタする。
【００４９】
ＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント数になると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５が粗調キャリブレーション制御回路２２に通知し（ステップ２２２）、β検出回路１７がβを算出する（ステップ２２３）。βは、再生信号の極大値Ｒ１及び極小値Ｒ２を使い、β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）において算出する。４段階のβが検出できれば、デコードを終了し（ステップ２２４）、最適パワー算出回路１６が最適パワーを決定する。（ステップ２２５，２２７）。最適パワーは、予め決められた目標βに近い２つの粗調βを使って、直線近似で算出する。この目標βは、例えば商品名「ＣＤ−Ｃａｔ’ｓ」、「ＤＶＤ−Ｃａｔ’ｓ」等のβ測定器を用い、最適に記録された光ディスクを測定したときに得られたβを用いる。以上で粗調リード処理を終了する（ステップ２２８）。
【００５０】
続いて、粗調キャリブレーション処理の最適パワーを使って微調キャリブレーション処理を行う。ＭＰＵ２８は、微調キャリブレーション制御回路２３に微調キャリブレーション処理の指示を出し、微調ライト処理を行う（ステップ２０３）。微調キャリブレーション制御回路２３は、設定パワー算出回路２１に粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーと、微調記録パワー変化量とを設定する（ステップ２０５）。
【００５１】
続いて、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０８）。図５の例で微調キャリブレーション５２の記録パワーの変化は８段×２ある。変化量は、粗調キャリブレーション処理よりも幅を小さくすることにより、粗調キャリブレーション処理よりも更に絞り込んで最適パワーを決定できるようにする。また、ＣＤ−Ｒには周内の感度変動が大きいものが稀にある。ＣＤ−ＲのＰＣＡ付近では１周約８フレームあるので、図５の例では８段（４フレーム）の記録パワーの変化と同じ処理を２回繰り返し、それらを平均することで周内の感度変化の影響をキャンセルできるようにする。シークからエンコード開始までは粗調ライト処理と同等である（ステップ２１０〜２１３）。８段×２の記録パワーを変化させ、８フレームのエンコードが終了したら、微調ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００５２】
続いて、微調リード処理を行う（ステップ２１６）。微調キャリブレーション制御回路２３はデコードＥＦＭカウント制御回路１５に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１８）。ここではＥＦＭカウント値は微調ライト処理と同じ値を設定する。シークからデコード開始までは粗調リード処理と同等である（ステップ２２０〜２２３）。８段階×２のβが検出できたならば、デコードを終了し（ステップ２２４）、最適パワー算出回路１６は、１６個のβを各記録パワーに該当するもの同士で平均値をとり、８個のβにする。そこから粗調キャリブレーション処理と同様に最適パワーを決定する（ステップ２２５，２２７）。以上で微調リード処理を終了する（ステップ２２８）
【００５３】
続いて、微調キャリブレーション処理の最適パワーを使って、そのパワーが本当に最適なものかを検証するβ検証処理を行う。ＭＰＵ２８は、β検証制御回路２４にβ検証処理の指示を出し、β検証ライト処理を行う。β検証制御回路２４は、パワー算出回路２１に微調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを設定する（ステップ２０６）。なお、β検証処理では、記録パワー変化させないので、記録パワー変化量は設定しない。
【００５４】
続いて、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０にβ検証ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０９）。図５の例におけるβ検証５１では、記録パワーは変化させないが、記録単位は１０段にしている。シークからエンコード開始までは、粗調ライト処理及び微調ライト処理と同等である（ステップ２１０〜２１３）。５テストフレームのエンコードが終了したら、β検証ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００５５】
続いて、β検証リード処理を行う。β検証制御回路２４は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１９）。ここでは、ＥＦＭカウント値はβ検証ライト処理と同じ値を設定する。シークからデコード開始までは、粗調リード処理及び微調リード処理と同等である（ステップ２２０〜２２３）。１０段階のβが検出できたら、デコードを終了し（ステップ２２４）、β検証制御回路２４は、それらの平均値が、目標βを中心に許容できる範囲に入っているか否かを検証する（ステップ２２５，２２６）。もし入っていなかったならば、次のＰＣＡでステップ２０１からリトライを行う。
【００５６】
β検証処理が終了したら、キャリブレーション処理は終了する（ステップ２２８）。最後に、ＰＣＡのカウントエリアを１フレーム記録して（ステップ２２９）、終了する（ステップ２３０）。
【００５７】
次に、本発明を要約する。まず、粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであるかを検証する。それぞれの処理の記録パワーの変化及びβの検出は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０とデコードＥＦＭカウント制御回路１５とにより、１フレームを９８分割したＥＦＭフレームを最小単位として行う。これにより、記録パワーの変化点及び検出βのサンプル数を増やして、パワーキャリブレーション処理の精度を上げる。したがって、ＰＣＡを複数使用することなく、最小エリアの使用だけで、精度の高いパワーキャリブレーション処理にて最適パワーを決定することができる。
【００５８】
【発明の効果】
請求項１又は４記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００５９】
請求項２又は５記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００６０】
請求項３又は６記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００６１】
換言すると、本発明の第一の効果は、記録パワーを変化させる従来の最小単位である１テストフレームを更に分割したことで粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理、及びβ検証処理という複雑なパワーキャリブレーション処理方式が実現できることである。つまり、複雑なパワーキャリブレーション処理を行ってもＰＣＡのエリアを複数使うことなく最小エリアで実現できることである。
【００６２】
第二の効果は、粗調キャリブレーション処理で大体のパワーを決定し、微調キャリブレーション処理で粗調キャリブレーション処理で決定した記録パワーを元に更に細かく記録パワーを変化させることにより、あらゆる記録感度の光ディスクの最適パワーを決定できることである。更に、その決定された最適パワーが本当に目標の記録パワーであるかを検証することにより、非常に精度の高いパワーキャリブレーション処理が実現できることである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るパワーキャリブレーション装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１のパワーキャリブレーション装置で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。
【図３】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第一例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図４】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第二例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図５】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第三例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図６】図１のパワーキャリブレーション装置の動作（その１）を示すフローチャートである。
【図７】図１のパワーキャリブレーション装置の動作（その２）を示すフローチャートである。
【図８】従来のパワーキャリブレーション装置で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。
【図９】図８のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理における記録パワーの変化を示すグラフである。
【符合の説明】
１０ パワーキャリブレーション装置
１１ 光ディスク
１２ 光ピックアップ
１３ 再生信号検出回路
１４ デコード制御回路
１５ デコードＥＦＭカウント制御回路
１６ 最適パワー算出回路
１７ β検出回路
１８ ＬＤ制御回路
１９ エンコード制御回路
２０ エンコードＥＦＭカウント制御回路
２１ 設定パワー算出回路
２２ 粗調キャリブレーション制御回路
２３ 微調キャリブレーション制御回路
２４ β検証制御回路
２５ スピンドルモータ
２６ スレッドモータ
２７ サーボ制御回路
２８ ＭＰＵ
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ）に情報を記録する際には、予めパワーキャリブレーションエリア（以下「ＰＣＡ」という。）に“試し書き”をすることによって、記録パワーを最適化する。図８は、ＣＤ−Ｒ規格における従来のＰＣＡの構成を示す説明図である。図９は、従来のパワーキャリブレーション処理における記録パワーのレベルを示すグラフである。以下、これらの図面に基づき説明する。
【０００３】
図８に示すように、ＰＣＡ８１は、カウントエリア８２とテストエリア８３とに分かれている。カウントエリア８３は１００個のカウントフレーム（ＣＦ０１〜ＣＦ１００）からなる。テストエリア８２は１００個のパーティション８４（ＴＡ０１〜ＴＡ１００）からなる。パーティション８４は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用される領域であり、１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）からなる。また、図９に示すように、従来技術では、１回分すなわち１個分のパーティション内の１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）に、それぞれ１段階ずつ記録パワーを変化させて合計１５段階の記録パワーで所定の情報を記録し、それらの中から最適な記録パワーを選択していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
国内及び海外で非常に多くの種類のある光ディスクは、記録感度もさまざまである。そのため、記録感度の低いものから高いものまでの全てに対して、１５段階だけの記録パワーに基づいて最適パワーを決定することは難しい。そこで、従来技術では、複数個のパーティション８４を使用してパワーキャリブレーション処理をすることにより、最適パワー決定の精度を上げるものもあった。
【０００５】
このように、最適パワー決定の精度を上げるためには、複数個のパーティション８４を使用して複数回のパワーキャリブレーション処理をすることが必要となる。しかし、そうすると、ＰＣＡ８１は１００回分（すなわち１００個のパーティション８４）しかないので、ＰＣＡ８１が足りなくなって光ディスクが途中で使用できなくなる場合が生ずる。
【０００６】
一方、ＰＣＡ８１を節約するために、パーティション８４を更に複数の領域に分割して、各領域で一回のパワーキャリブレーション処理をする技術が開示されている（特開平７−２８７８４７号公報等）。しかし、この場合は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用する領域が狭くなる分だけ、最適パワー決定の精度が落ちてしまうので、有用性に欠けていた。また、一般の光ディスク装置との互換性を考慮すると、一回のパワーキャリブレーション処理には一個のパーティション８４（すなわち１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５））を使用することが好ましい。
【０００７】
【発明の目的】
そこで、本発明の目的は、どのような記録感度の光ディスクに対しても一個のパーティションを使って最適パワーを精度よく決定することができる、パワーキャリブレーション方法及び装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。
【０００９】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１０】
請求項２記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを変化させて第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定する。続いて、この最適な記録パワーで第二の領域に記録することにより、この最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１１】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１２】
請求項３記載のパワーキャリブレーション方法は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものである。まず、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一乃至第三の領域に分割し、更にこれらの第一乃至第三の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割する。そして、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。続いて、この第二の最適な記録パワーで第三の領域に記録することにより、当該第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１３】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１４】
請求項４記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、粗調キャリブレーション手段及び微調キャリブレーション手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。粗調キャリブレーション手段は、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。微調キャリブレーション手段は、第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。
【００１５】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１６】
請求項５記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、キャリブレーション手段及び検証手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。キャリブレーション手段は、記録パワーを変化させて第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定する。検証手段は、この最適な記録パワーで第二の領域に記録することにより、当該最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１７】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００１８】
請求項６記載のパワーキャリブレーション装置は、光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するものであって、粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段を備えている。そして、パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割されている。粗調キャリブレーション手段は、記録パワーを粗く変化させて第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する。微調キャリブレーション手段は、第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する。検証手段は、第二の最適な記録パワーで第三の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する。
【００１９】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００２０】
また、本発明に係るパワーキャリブレーション装置は、以下の構成を採り得る。更に、本発明に係るパワーキャリブレーション方法は、本発明に係るパワーキャリブレーション装置に使用されるものであるので、以下と同様の構成を採り得る。
【００２１】
一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を１個のパーティションとすると、パワーキャリブレーションエリアは１００個の当該パーティションからなり、この１個のパーティションは１５個のテストフレームからなり、この１個のテストフレームは９８個のＥＦＭフレームからなり、試し書きの最小単位は１個以上かつ４９個以下のいずれかの個数のＥＦＭフレームからなる（請求項７）。ここで、ＥＦＭ（８ ｔｏ １４ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）とは、８ビットの信号を１４ビットに変換してなおかつ１と０の数が平均的に出現するようにビットを付加する変調方式をいう。検証手段はβ値に基づき検証する（請求項８）、
【００２２】
記録時に記録データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したら記録パワーを変化させる手段と、読み出し時に再生データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したらβを検出する手段と、を更に備えた（請求項９）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で使用する記録データをエンコードデータに変換する手段を、更に備えた（請求項１０）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で使用する記録パワー及び記録パワー変化量によって記録パワーを制御する手段を更に備えた（請求項１１）。光ディスクから読み出された再生信号をデコードデータに変換する手段を更に備えた（請求項１２）。光ディスクから読み出された再生信号の極大値をＲ１、極小値をＲ２としたときに、β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）としてβを検出する手段を更に備えた（請求項１３）。粗調キャリブレーション手段、微調キャリブレーション手段及び検証手段で検出されたβから最適パワーを算出する手段を、更に備えた（請求項１４）。記録データを記録するアドレス及び再生データを読み出すアドレスへ、スピンドルモータ及びスレッドモータを制御することにより、光ヘッドをシークさせるサーボ制御手段を更に備えた（請求項１５）。光ディスクから光ピックアップを介して再生信号として検出する手段を更に備えた（請求項１６）。光ディスクへ光ピックアップを介して記録データを記録する手段を更に備えた（請求項１７）。光ディスクからスピンドルモータ制御信号とスレッドモータ制御信号とをサーボ制御手段へ送信する手段を更に備えた（請求項１８）。
【００２３】
換言すると、本発明のパワーキャリブレーション装置は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する粗調キャリブレーションを制御する手段（図１の２２）と、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する微調キャリブレーションを制御する手段（図１の２３）と、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであると判断されるある範囲に入っているかどうかを検証する、β検証を制御する手段（図１の２４）と、それらを制御するＭＰＵ（図１の２８）と、記録時にデータをエンコードデータに変換する際に、１フレームからＥＦＭフレームを検出し、９８ＥＦＭフレームに分割する、そしてそのカウント数が指定のカウント数に達したら通知する、エンコードＥＦＭカウント制御手段（図１の２０）と、エンコードＥＦＭカウント制御手段からの通知をきっかけに記録パワーを変化させて光ピックアップ（図１の１２）から光ディスク（図１の１１）へ記録する、ＬＤ制御手段（図１の１８）と、光ディスク（図１の１１）から光ピックアップ（図１の１２）を介して読み出された信号をデコードする際に、１フレームからＥＦＭフレームを検出し、９８ＥＦＭフレームに分割する、そしてそのカウント数が指定のカウント数に達したら通知する、デコードＥＦＭカウント制御手段（図１の１５）と、読み出された再生信号の極大値Ｒ１と極小値Ｒ２とからβ値（β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２））を算出するβ検出手段（図１の１７）と、目標βと検出βとから最適パワーを算出する、最適パワー算出手段（図１の１６）と、粗調キャリブレーション処理と微調キャリブレーション処理とβ検証処理とにおいて記録パワーの変化量を変える、設定パワー算出手段（図１の２１）と、スピンドルモータ（図１の２５）と光ピックアップのスレッドモータ（図１の２６）を制御する、サーボ制御手段（図１の２７）とを有する。
【００２４】
更に換言すると、本発明のパワーキャリブレーション装置では、従来技術での記録パワーを変化させる最小単位である１テストフレームを更に９８ＥＦＭフレームに分割し、その分割したＥＦＭフレームの指定したカウント数を最小単位とすることができる。そのため、ＰＣＡのパワーキャリブレーション処理を行う最小エリアの１５フレームにて、従来の１５個のβのサンプル数に比べて、１５〜１４７０（１５×９８）のサンプル数を取得することができるので、１つのＰＣＡで決定した最適記録パワーの精度を上げることができる。更に粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理、及びβ検証処理を行うことにより、パワーキャリブレーション処理のリトライを減らすことができ、しかも決定された最適記録パワーの記録検証を行うことで決定した最適記録パワーの精度を上げることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係るパワーキャリブレーション装置の一実施形態を示すブロック図である。以下、この図面に基づき、パワーキャリブレーション装置１０について説明する。
【００２６】
粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーに基づき、更に細かく記録パワーを変化させることにより最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが、最適であると判断されるある範囲に入っているか否かを検証する。ＭＰＵ２８は、粗調キャリブレーション制御回路２２、微調キャリブレーション制御回路２３及びβ検証制御回路２４を総合的に制御する。
【００２７】
記録時にデータをエンコードデータに変換する際に、１テストフレームからＥＦＭフレームを検出し、１テストフレームを９８ＥＦＭフレームに分割する。エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は、ＥＦＭフレームのカウント数が指定の値に達したことを、ＬＤ制御回路１８等に通知する。ＬＤ制御回路１８は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０からの通知を契機に、記録パワーを変化させて光ピックアップ１２へ出力する。これにより、光ピックアップ１２は光ディスク１１へテスト用の情報を記録する。
【００２８】
光ディスク１１から光ピックアップ１２を介して読み出された信号をデコードする際に、１テストフレームからＥＦＭフレームを検出し、１テストフレームを９８ＥＦＭフレームに分割する。デコードＥＦＭカウント制御回路１５は、ＥＦＭフレームのカウント数が指定値に達したら、β検出回路１７等へ通知する。β検出回路１７は、読み出された再生信号の極大値Ｒ１及び極小値Ｒ２からβ値（β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２））を算出する。最適パワー算出回路１６は、目標β及び検出βに基づき最適パワーを算出する。設定パワー算出回路２１は、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及びβ検証処理において、記録パワーの変化量を変える。サーボ制御回路２７は、スピンドルモータ２５と光ピックアップ１２のスレッドモータ２６とを制御する。
【００２９】
次に、パワーキャリブレーション装置１０の動作の概要を説明する。
【００３０】
ＭＰＵ２８は、まず、粗調キャリブレーション制御回路２２に粗調キャリブレーション処理の指示を出す。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にデフォルト記録パワー及び粗調記録パワー変化量を指示する。続いて、ＭＰＵ２８はサーボ制御回路２７へＰＣＡにシークの指示を出す。サーボ制御回路２７は、スピンドルモータ２５及びスレッドモータ２６を制御して、ＰＣＡのパワーキャリブレーションを行うアドレスへ光ピックアップ１２をシークさせる。
【００３１】
続いて、粗調キャリブレーション制御回路２２は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０にＥＦＭカウント数を指示し、エンコード制御回路１９にエンコード開始を指示する。エンコード制御回路１９からエンコードされた記録データは、設定パワー算出回路２１によってＬＤ制御回路１８に設定された記録パワーで、光ピックアップ１２から光ディスク１１に記録される。
【００３２】
記録が開始されると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は、エンコードされた記録データのＥＦＭフレームをカウントし、指定のカウント数になったら粗調キャリブレーション制御回路２２へ通知する。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にて記録パワーを変化させる。
【００３３】
指定のＥＦＭフレーム分の記録が終了したら、サーボ制御回路２７は再度同じＰＣＡのアドレスに光ピックアップ１２をシークさせる。粗調キャリブレーション制御回路２２は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５にＥＦＭカウント数を指示し、再生信号検出回路１３からの再生信号のデコードをデコード制御回路１４へ指示する。
【００３４】
デコードが開始されると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５は、デコードされた再生データのＥＦＭフレームをカウントし、指定のカウント数になったら粗調キャリブレーション回路２２に通知する。粗調キャリブレーション回路２２は、β検出回路１７に指示を出すことによりβの検出を行う。指定のＥＦＭフレーム分のβが検出できたら、最適パワー算出回路１６にて最適パワーの計算を行う。以上で粗調キャリブレーション処理が終了する。
【００３５】
続いて、ＭＰＵ２８は、微調キャリブレーション制御回路２３に微調キャリブレーション処理の指示を出す。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定した最適パワーと微調記録パワー変化量とを指示する。エンコード及びデコードの制御は粗調キャリブレーション処理と同様である。
【００３６】
微調キャリブレーション処理が終了すると、ＭＰＵ２８はβ検証制御回路２４にβ検証処理の指示を出す。β検証制御回路２４は微調キャリブレーション処理で決定した最適パワーを指示する。記録パワー変化量は０とする。エンコード及びデコードの制御は、粗調及び微調キャリブレーション処理と同様である。指定のＥＦＭフレーム分のβが検出できたら、そのβの平均値又は各βが最適な記録パワーで書かれたものか否かを検証する。このとき、検出βが目標βのある範囲に入っているか否かで検証する。検証結果が異常な場合は、再度粗調キャリブレーション処理からリトライをする。検証結果が正常であればβ検証処理を終了とする。
【００３７】
最後に、ＭＰＵ２８は、カウントエリアを１フレーム記録するよう指示して、処理を終了する。
【００３８】
図２は、パワーキャリブレーション装置１０で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。以下、この図面に基づき説明する。
【００３９】
ＰＣＡ３１は、カウントエリア３２とテストエリア３３とに分かれている。カウントエリア３３は１００個のカウントフレーム（ＣＦ０１〜ＣＦ１００）からなる。テストエリア３２は１００個のパーティション３４（ＴＡ０１〜ＴＡ１００）からなる。パーティション３４は、一回のパワーキャリブレーション処理に使用される領域であり、１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）からなる。テストフレーム３５を更に９８に分割したものが、ＥＦＭフレーム（ＥＦ０１〜ＥＦ９８）である。このように、１回分すなわち１個分のパーティション３４内の１５個のテストフレーム（ＴＦ０１〜ＴＦ１５）が、それぞれ９８個のＥＦＭフレーム（ＥＦ０１〜ＥＦ９８）に分割されている。
【００４０】
図３は、パワーキャリブレーション装置１０のパワーキャリブレーション処理（第一例）における記録パワーの変化を示すグラフである。以下、この図面に基づき説明する。
【００４１】
パワーキャリブレーション処理の最小単位は、１ＥＦＭフレームである。そのため、最も記録パワーを細かく変化させる場合は、１テストフレームに９８段階まで記録パワーを変化させることができる。なお、図９に示す従来技術では、パワーキャリブレーション処理の最小単位が１テストフレームであるので、１５段階までしか記録パワーを変化させることができない。
【００４２】
図４及び図５は、パワーキャリブレーション装置１０のパワーキャリブレーション処理（第二例及び第三例）における記録パワーの変化を示すグラフである。以下、この図面に基づき説明する。
【００４３】
本発明では、システムに応じて、パワーキャリブレーション処理の最小単位を２ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり４９段階）や、８ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり１２段階）等と変更することができる。図４は、最小単位を３２ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり３段階）に設定したときの、記録レーザパワーの変化を示す。図５は、最小単位を４９ＥＦＭフレーム（すなわち１テストフレーム当たり２段階）に設定したときの、記録レーザパワーの変化を示す。
【００４４】
図６及び図７は、パワーキャリブレーション装置１０の動作を示すフローチャートである。以下、図１乃至図７に基づき説明する。
【００４５】
ＭＰＵ２８は、まず粗調キャリブレーション制御回路２２に粗調キャリブレーション処理の指示を出すことにより、粗調ライト処理を行う（ステップ２０２）。粗調キャリブレーション制御回路２２は、設定パワー算出回路２１にデフォルト記録パワー及び粗調記録パワー変化量を設定し（ステップ２０４）、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０に粗調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０７）。
【００４６】
ＥＦＭカウント値はシステムに応じてさまざまに設定できる。図５の例では、ＥＦＭカウント値が４９ＥＦＭフレーム（１／２テストフレーム）での記録パワーの変化を表している。もう少し高速のＣＰＵの場合は、図４の例のように、ＥＦＭカウント値を３２ＥＦＭフレーム（１／３テストフレーム）と設定することにより、βのサンプル数を更に多く取得できるので、決定した最適パワーの精度を上げることができる。ここでは、図５の例に沿って説明を続ける。図５の例では、粗調キャリブレーション５３の記録パワーを４段として、記録パワーの変化量を大きくしてある。
【００４７】
続いて、粗調キャリブレーションによって、ある程度の最適パワーを決定する。まず、ＭＰＵ２８は、サーボ制御回路２７に指示を出すことにより、ＰＣＡ３１の指定アドレスへ光ピックアップ１２をシークさせる（ステップ２１０）。指定アドレスへのシークが完了すると、デフォルト記録パワーを中心にして算出された最小記録パワーを設定パワー算出回路２１によってＬＤ制御回路１８に設定し（図５の粗調キャリブレーション５３参照）、エンコード制御回路１９によって記録が開始される（ステップ２１１）。エンコードデータは光ピックアップ１２から光ディスク１１に記録される。記録が開始されると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０はＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント（ここでは４９ＥＦＭフレーム）になるか否かをモニタする。ＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウントに達すると、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０は粗調キャリブレーション制御回路２２に通知し（ステップ２１２）、粗調キャリブレーション制御回路２２は記録パワーを１段変化させる（ステップ２１３）。４段の記録パワーを変化させ、２テストフレーム分（図５のＴＦ１４，１５）のエンコードが終了したら、粗調ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００４８】
続いて、粗調リード処理を行う（ステップ２１５）。粗調キャリブレーション制御回路２２は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５に粗調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１７）。ここでのＥＦＭカウント値は粗調ライト処理と同じ値を設定する。ＭＰＵ２８は、サーボ制御回路２７に指示を出すことにより、ＰＣＡ３１の指定アドレスへ光ピックアップ１２をシークをさせる（ステップ２２０）。指定アドレスへのシークが完了すると、再生信号が光ディスク１１から光ピックアップ１２によって出力される。これにより、再生信号は再生信号検出回路１３からデコード制御回路１４に入り、再生信号のデコードが開始される（ステップ２２１）。デコードが開始されると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５はＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント数（ここでは４９ＥＦＭフレーム）になるか否かをモニタする。
【００４９】
ＥＦＭフレームが指定ＥＦＭカウント数になると、デコードＥＦＭカウント制御回路１５が粗調キャリブレーション制御回路２２に通知し（ステップ２２２）、β検出回路１７がβを算出する（ステップ２２３）。βは、再生信号の極大値Ｒ１及び極小値Ｒ２を使い、β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）において算出する。４段階のβが検出できれば、デコードを終了し（ステップ２２４）、最適パワー算出回路１６が最適パワーを決定する。（ステップ２２５，２２７）。最適パワーは、予め決められた目標βに近い２つの粗調βを使って、直線近似で算出する。この目標βは、例えば商品名「ＣＤ−Ｃａｔ’ｓ」、「ＤＶＤ−Ｃａｔ’ｓ」等のβ測定器を用い、最適に記録された光ディスクを測定したときに得られたβを用いる。以上で粗調リード処理を終了する（ステップ２２８）。
【００５０】
続いて、粗調キャリブレーション処理の最適パワーを使って微調キャリブレーション処理を行う。ＭＰＵ２８は、微調キャリブレーション制御回路２３に微調キャリブレーション処理の指示を出し、微調ライト処理を行う（ステップ２０３）。微調キャリブレーション制御回路２３は、設定パワー算出回路２１に粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーと、微調記録パワー変化量とを設定する（ステップ２０５）。
【００５１】
続いて、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０８）。図５の例で微調キャリブレーション５２の記録パワーの変化は８段×２ある。変化量は、粗調キャリブレーション処理よりも幅を小さくすることにより、粗調キャリブレーション処理よりも更に絞り込んで最適パワーを決定できるようにする。また、ＣＤ−Ｒには周内の感度変動が大きいものが稀にある。ＣＤ−ＲのＰＣＡ付近では１周約８フレームあるので、図５の例では８段（４フレーム）の記録パワーの変化と同じ処理を２回繰り返し、それらを平均することで周内の感度変化の影響をキャンセルできるようにする。シークからエンコード開始までは粗調ライト処理と同等である（ステップ２１０〜２１３）。８段×２の記録パワーを変化させ、８フレームのエンコードが終了したら、微調ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００５２】
続いて、微調リード処理を行う（ステップ２１６）。微調キャリブレーション制御回路２３はデコードＥＦＭカウント制御回路１５に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１８）。ここではＥＦＭカウント値は微調ライト処理と同じ値を設定する。シークからデコード開始までは粗調リード処理と同等である（ステップ２２０〜２２３）。８段階×２のβが検出できたならば、デコードを終了し（ステップ２２４）、最適パワー算出回路１６は、１６個のβを各記録パワーに該当するもの同士で平均値をとり、８個のβにする。そこから粗調キャリブレーション処理と同様に最適パワーを決定する（ステップ２２５，２２７）。以上で微調リード処理を終了する（ステップ２２８）
【００５３】
続いて、微調キャリブレーション処理の最適パワーを使って、そのパワーが本当に最適なものかを検証するβ検証処理を行う。ＭＰＵ２８は、β検証制御回路２４にβ検証処理の指示を出し、β検証ライト処理を行う。β検証制御回路２４は、パワー算出回路２１に微調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを設定する（ステップ２０６）。なお、β検証処理では、記録パワー変化させないので、記録パワー変化量は設定しない。
【００５４】
続いて、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０にβ検証ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２０９）。図５の例におけるβ検証５１では、記録パワーは変化させないが、記録単位は１０段にしている。シークからエンコード開始までは、粗調ライト処理及び微調ライト処理と同等である（ステップ２１０〜２１３）。５テストフレームのエンコードが終了したら、β検証ライト処理を終了する（ステップ２１４）。
【００５５】
続いて、β検証リード処理を行う。β検証制御回路２４は、デコードＥＦＭカウント制御回路１５に微調ＥＦＭカウント値を設定する（ステップ２１９）。ここでは、ＥＦＭカウント値はβ検証ライト処理と同じ値を設定する。シークからデコード開始までは、粗調リード処理及び微調リード処理と同等である（ステップ２２０〜２２３）。１０段階のβが検出できたら、デコードを終了し（ステップ２２４）、β検証制御回路２４は、それらの平均値が、目標βを中心に許容できる範囲に入っているか否かを検証する（ステップ２２５，２２６）。もし入っていなかったならば、次のＰＣＡでステップ２０１からリトライを行う。
【００５６】
β検証処理が終了したら、キャリブレーション処理は終了する（ステップ２２８）。最後に、ＰＣＡのカウントエリアを１フレーム記録して（ステップ２２９）、終了する（ステップ２３０）。
【００５７】
次に、本発明を要約する。まず、粗調キャリブレーション制御回路２２は、粗く記録パワーを変化させて大体の記録パワーを決定する。微調キャリブレーション制御回路２３は、粗調キャリブレーション処理で決定された記録パワーを使って更に細かくパワーを変化させ最適パワーを決定する。β検証制御回路２４は、微調キャリブレーション処理で決定された最適パワーが最適なものであるかを検証する。それぞれの処理の記録パワーの変化及びβの検出は、エンコードＥＦＭカウント制御回路２０とデコードＥＦＭカウント制御回路１５とにより、１フレームを９８分割したＥＦＭフレームを最小単位として行う。これにより、記録パワーの変化点及び検出βのサンプル数を増やして、パワーキャリブレーション処理の精度を上げる。したがって、ＰＣＡを複数使用することなく、最小エリアの使用だけで、精度の高いパワーキャリブレーション処理にて最適パワーを決定することができる。
【００５８】
【発明の効果】
請求項１又は４記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理及び微調キャリブレーション処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００５９】
請求項２又は５記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００６０】
請求項３又は６記載のパワーキャリブレーション方法又は装置によれば、一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が多数の試し書きの最小単位に分割されていることにより、粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理及び検証処理を実行できるので、最適パワーを精度よく決定することができる。
【００６１】
換言すると、本発明の第一の効果は、記録パワーを変化させる従来の最小単位である１テストフレームを更に分割したことで粗調キャリブレーション処理、微調キャリブレーション処理、及びβ検証処理という複雑なパワーキャリブレーション処理方式が実現できることである。つまり、複雑なパワーキャリブレーション処理を行ってもＰＣＡのエリアを複数使うことなく最小エリアで実現できることである。
【００６２】
第二の効果は、粗調キャリブレーション処理で大体のパワーを決定し、微調キャリブレーション処理で粗調キャリブレーション処理で決定した記録パワーを元に更に細かく記録パワーを変化させることにより、あらゆる記録感度の光ディスクの最適パワーを決定できることである。更に、その決定された最適パワーが本当に目標の記録パワーであるかを検証することにより、非常に精度の高いパワーキャリブレーション処理が実現できることである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るパワーキャリブレーション装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１のパワーキャリブレーション装置で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。
【図３】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第一例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図４】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第二例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図５】図１のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理（第三例）における記録パワーの変化を示すグラフである。
【図６】図１のパワーキャリブレーション装置の動作（その１）を示すフローチャートである。
【図７】図１のパワーキャリブレーション装置の動作（その２）を示すフローチャートである。
【図８】従来のパワーキャリブレーション装置で用いられるＰＣＡの構成を示す説明図である。
【図９】図８のパワーキャリブレーション装置のパワーキャリブレーション処理における記録パワーの変化を示すグラフである。
【符合の説明】
１０ パワーキャリブレーション装置
１１ 光ディスク
１２ 光ピックアップ
１３ 再生信号検出回路
１４ デコード制御回路
１５ デコードＥＦＭカウント制御回路
１６ 最適パワー算出回路
１７ β検出回路
１８ ＬＤ制御回路
１９ エンコード制御回路
２０ エンコードＥＦＭカウント制御回路
２１ 設定パワー算出回路
２２ 粗調キャリブレーション制御回路
２３ 微調キャリブレーション制御回路
２４ β検証制御回路
２５ スピンドルモータ
２６ スレッドモータ
２７ サーボ制御回路
２８ ＭＰＵ
Claims (18)
- 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション方法において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割し、
記録パワーを粗く変化させて前記第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定し、
この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて前記第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する、
ことを特徴とするパワーキャリブレーション方法。 - 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション方法において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一及び第二の領域に分割し、更にこれらの第一及び第二の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割し、
記録パワーを変化させて前記第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定し、
この最適な記録パワーで前記第二の領域に記録することにより、当該最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する、
ことを特徴とするパワーキャリブレーション方法。 - 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション方法において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を第一乃至第三の領域に分割し、更にこれらの第一乃至第三の領域をそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割し、
記録パワーを粗く変化させて前記第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定し、
この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて前記第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定し、
この第二の最適な記録パワーで前記第三の領域に記録することにより、当該第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する、
ことを特徴とするパワーキャリブレーション方法。 - 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション装置において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割され、
記録パワーを粗く変化させて前記第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する粗調キャリブレーション手段と、
この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて前記第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する微調キャリブレーション手段と、
を備えたことを特徴とするパワーキャリブレーション装置。 - 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション装置において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一及び第二の領域に分割され、更にこれらの第一及び第二の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割され、
記録パワーを変化させて前記第一の領域に記録することにより、最適な記録パワーを決定するキャリブレーション手段と、
この最適な記録パワーで前記第二の領域に記録することにより、当該最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する検証手段と、
を備えたことを特徴とするパワーキャリブレーション装置。 - 光ディスクのパワーキャリブレーションエリアにレーザ光を照射してテスト用の情報を書き込み、この書き込んだ情報を読み出すことにより、最適な記録パワーを決定するパワーキャリブレーション装置において、
前記パワーキャリブレーションエリアの一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域が第一乃至第三の領域に分割され、更にこれらの第一乃至第三の領域がそれぞれ多数の試し書きの最小単位に分割され、
記録パワーを粗く変化させて前記第一の領域に記録することにより、第一の最適な記録パワーを決定する粗調キャリブレーション手段と、
この第一の最適な記録パワーを基準にして記録パワーを細かく変化させて前記第二の領域に記録することにより、第二の最適な記録パワーを決定する微調キャリブレーション手段と、
この第二の最適な記録パワーで前記第三の領域に記録することにより、当該第二の最適な記録パワーが真に最適か否かを検証する検証手段と、
を備えたことを特徴とするパワーキャリブレーション装置。 - 前記一回分のパワーキャリブレーション処理に使われる領域を１個のパーティションとすると、前記パワーキャリブレーションエリアは１００個の当該パーティションからなり、この１個のパーティションは１５個のテストフレームからなり、この１個のテストフレームは９８個のＥＦＭフレームからなり、前記試し書きの最小単位は１個以上かつ４９個以下のいずれかの個数のＥＦＭフレームからなる、
請求項４乃至６のいずれかに記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記検証手段はβ値に基づき検証する、
請求項４乃至７のいずれかに記載のパワーキャリブレーション装置。 - 記録時に記録データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、
指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したら記録パワーを変化させる手段と、
読み出し時に再生データからＥＦＭフレームを検出しカウントする手段と、
指定されたＥＦＭフレームカウント数を検出したらβを検出する手段と、
を更に備えた請求項６記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記粗調キャリブレーション手段、前記微調キャリブレーション手段及び前記検証手段で使用する記録データをエンコードデータに変換する手段を、
更に備えた請求項６又は９記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記粗調キャリブレーション手段、前記微調キャリブレーション手段及び前記検証手段で使用する記録パワー及び記録パワー変化量によって記録パワーを制御する手段を、
更に備えた請求項６、９又は１０記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記光ディスクから読み出された再生信号をデコードデータに変換する手段を、
更に備えた請求項６、９、１０又は１１に記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記光ディスクから読み出された再生信号の極大値をＲ１、極小値をＲ２としたときに、
β＝（Ｒ１＋Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）
として前記βを検出する手段を、
更に備えた請求項９記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記粗調キャリブレーション手段、前記微調キャリブレーション手段及び前記検証手段で検出されたβから最適パワーを算出する手段を、
更に備えた請求項６又は９記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記記録データを記録するアドレス及び前記再生データを読み出すアドレスへ、スピンドルモータ及びスレッドモータを制御することにより、光ヘッドをシークさせるサーボ制御手段を、
更に備えた請求項６、９、１０、１１、１２、１３又は１４記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記光ディスクから光ピックアップを介して再生信号として検出する手段を、
更に備えた請求項６、９、１０、１１、１２、１３、１４又は１５記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記光ディスクへ光ピックアップを介して記録データを記録する手段を、
更に備えた請求項６、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５又は１６記載のパワーキャリブレーション装置。 - 前記光ディスクからスピンドルモータ制御信号とスレッドモータ制御信号とをサーボ制御手段へ送信する手段を、
更に備えた請求項６、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６又は１７記載のパワーキャリブレーション装置。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005101381A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光ディスクの記録方法及び光ディスク |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100545808B1 (ko) * | 2003-11-04 | 2006-01-24 | 엘지전자 주식회사 | 기록 장치에서의 최적 기록 파워 서치방법 및 이를 위한기록매체 |
| CN100481224C (zh) * | 2005-01-11 | 2009-04-22 | 威盛电子股份有限公司 | 光盘刻录功率调整方法 |
| US20080100833A1 (en) * | 2006-10-25 | 2008-05-01 | Hewlett-Packard Development Company Lp | Laser calibration |
| US20100128586A1 (en) * | 2008-11-25 | 2010-05-27 | Mediatek Inc. | Method and apparatus for accessing data from disc with linking area |
| JP2013242952A (ja) * | 2012-04-25 | 2013-12-05 | Funai Electric Co Ltd | 光ディスク記録装置および光ディスク記録方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3025622B2 (ja) | 1994-02-23 | 2000-03-27 | 太陽誘電株式会社 | 追記型光ディスクのパワーキャリブレーションエリアの使用方法及びパワーキャリブレーション方法 |
| JPH09212866A (ja) | 1996-02-08 | 1997-08-15 | Taiyo Yuden Co Ltd | 追記型光ディスクのパワーキャリブレーション方法及び光ディスク記録再生装置 |
| JPH11353686A (ja) | 1998-06-10 | 1999-12-24 | Nec Corp | 光ディスク装置のパワーキャリブレーション方式 |
| JP3534628B2 (ja) | 1998-11-24 | 2004-06-07 | 船井電機株式会社 | 光ディスク装置 |
| JP2000311341A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Ricoh Co Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
| KR100618548B1 (ko) * | 2000-01-06 | 2006-08-31 | 주식회사 엘지이아이 | 광기록재생장치의 기록 파워 제어 방법 |
| JP3765223B2 (ja) * | 2000-05-23 | 2006-04-12 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
| TW509928B (en) * | 2001-04-17 | 2002-11-11 | Via Tech Inc | Optimal writing power calibration method |
-
2002
- 2002-07-31 JP JP2002222810A patent/JP2004063035A/ja active Pending
-
2003
- 2003-07-23 US US10/624,613 patent/US7092319B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005101381A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光ディスクの記録方法及び光ディスク |
| EP1978511A3 (en) * | 2004-03-30 | 2009-07-22 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical disc recording method and optical disc |
| US7660217B2 (en) | 2004-03-30 | 2010-02-09 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical disc recording method and optical disc |
| US7969840B2 (en) | 2004-03-30 | 2011-06-28 | Mitsubishi Electric Corporation | Recording method for optimizing an optimal recording power |
| US8004943B2 (en) | 2004-03-30 | 2011-08-23 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical disc recording method and optical disc having multiple layers with non-overlapping test recording areas in adjacent layers |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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