KR20070035928A - 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (33)
- 해당 어드레스를 읽기 구동클럭을 기준으로 애디티브레이턴시에 대응되는 내부 읽기 어드레스, 또는 쓰기 구동클럭을 기준으로 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제1 내지 제N 컬럼 어드레스 생성수단;해당 어드레스를 밴드폭-읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 내부 읽기 어드레스, 또는 밴드폭-쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 모드 컬럼 어드레스 생성수단; 및상기 애디티브레이턴시, 데이터의 출력 비트 수를 결정하는 밴드폭신호, 및 쓰기 구동시 활성화되는 쓰기구간신호를 인가받아 내부클럭을 상기 읽기 구동클럭, 상기 쓰기 구동클럭, 상기 밴드폭-읽기 구동클럭, 또는 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 생성하기 위한 구동클럭 생성수단을 구비하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제1항에 있어서,상기 구동클럭 생성수단은,애디티브레이턴시 정보신호의 활성화에 응답하여 상기 내부클럭을 상기 읽기 구동클럭으로 출력하기 위한 읽기 구동클럭 생성부와,상기 애디티브레이턴시 정보신호 및 상기 밴드폭신호의 활성화에 응답하여 상기 내부클럭을 상기 밴드폭-읽기 구동클럭으로 출력하기 위한 밴드폭 읽기 구동클럭 생성부와,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 쓰기 구동클럭으로 출력하기 위한 쓰기 구동클럭 생성부와,상기 애디티브레이턴시 정보신호 및 상기 밴드폭신호의 활성화에 응답하여 상기 내부클럭을 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 출력하기 위한 밴드폭 쓰기 구동클럭 생성부를 구비하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항에 있어서,상기 읽기 구동클럭 생성부는,상기 애디티브레이턴시 정보신호가 제1 논리레벨로 활성화되면, 상기 읽기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 애디티브레이턴시 정보신호의 비활성화 시에는 상기 내부클럭을 상기 읽기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제3항에 있어서,상기 읽기 구동클럭 생성부는,상기 애디티브레이턴시 정보신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 내부클럭을 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와,상기 제1 낸드게이트의 출력신호를 지연시켜 상기 읽기 구동클럭으로 출력하기 위한 인버터 체인를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제1 내지 제N 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제1 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제1 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제5항에 있어서,상기 모드 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 밴드폭-읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제2 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제2 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제6항에 있어서,상기 제1 읽기 어드레스 생성부는,상기 해당 어드레스의 인가로 부터 상기 읽기 구동클럭 기준으로 1클럭 씩 지연되어 순차적으로 활성화되는 복수의 지연 어드레스를 출력하기 위한 AL 지연부와,상기 해당 어드레스와 상기 복수의 지연 어드레스 중 상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호에 대응되는 어드레스를 선택하여 출력하기 위한 제1 선택부와,상기 제1 선택부의 출력 어드레스를 지연시켜 상기 내부 읽기 어드레스로 출력하기 위한 제1 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제7항에 있어서,상기 제1 쓰기 어드레스 생성부는,상기 내부 읽기 어드레스의 인가로 부터 상기 쓰기 구동클럭 기준으로 1클럭 씩 지연되어 순차적으로 활성화되는 복수의 지연 어드레스를 출력하기 위한 CL 지연부와,상기 내부 읽기 어드레스와 상기 복수의 지연 어드레스 중 상기 해당 카스레이턴시 정보신호에 대응되는 어드레스를 선택하여 출력하기 위한 제2 선택부와,상기 제2 선택부의 출력 어드레스를 지연시켜 상기 내부 쓰기 어드레스로 출력하기 위한 제2 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제8항에 있어서,상기 AL 지연부는,직렬 연결되어 앞단의 출력 어드레스를 상기 읽기 구동클럭에 동기시켜 상기 지연 어드레스로 출력하기 위한 복수의 플립플롭을 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제9항에 있어서,상기 복수의 플립플롭은,상기 읽기 구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 입력 어드레스를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하기 위한 제1 래치와,상기 읽기 구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하기 위한 제2 래치를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제10항에 있어서,상기 선택부는,상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호의 활성화에 응답하여 상기 해당 어드레스 또는 상기 복수의 지연 어드레스를 전달하기 위한 복수의 트랜스퍼 게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제11항에 있어서,상기 출력부는 상기 선택부의 출력신호를 지연시켜 출력하기 위한 인버터 체인으로 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 밴드폭 읽기 구동클럭 생성부는,상기 애디티브레이턴시 정보신호의 활성화, 또는 상기 밴드폭신호의 비활성화 시 상기 읽기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 애디티브레이턴시 정보신호의 비활성화 및 상기 밴드폭신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 밴드폭-읽기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제13항에 있어서,상기 밴드폭 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호 또는 상기 밴드폭신호의 비활성화 시 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 쓰기구간신호 및 상기 밴드폭신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제14항에 있어서,상기 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호의 비활성화 시 상기 쓰기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 쓰기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제15항에 있어서,상기 제1 내지 제N 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제1 읽기 어 드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제1 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제16항에 있어서,상기 모드 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 밴드폭-읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제2 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제2 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제17항에 있어서,상기 밴드폭 읽기 구동클럭 생성부는,상기 애디티브레이턴시 정보신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 내부클럭을 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와,상기 제1 낸드게이트의 출력신호와 상기 밴드폭신호를 입력으로 갖는 제2 낸드게이트와,상기 제2 낸드게이트의 출력신호를 반전시켜 상기 밴드폭-읽기 구동클럭으로 출력하기 위한 제2 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제18항에 있어서,상기 읽기 구동클럭 생성부는,상기 애디티브레이턴시 정보신호를 반전시키기 위한 제3 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 내부클럭을 입력으로 갖는 제3 낸드게이트와,상기 제3 낸드게이트의 출력신호를 지연시켜 상기 읽기 구동클럭으로 출력하기 위한 제1 인버터 체인를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제19항에 있어서,상기 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 내부클럭과 상기 쓰기구간신호를 입력으로 갖는 제4 낸드게이트와,상기 제4 낸드게이트의 출력신호를 지연시켜 상기 쓰기 구동클럭으로 출력하기 제4 및 제5 인버터로 구현된 제2 인버터 체인을 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제20항에 있어서,상기 밴드폭 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 내부클럭과 상기 쓰기구간신호를 입력으로 갖는 제5 낸드게이트와,상기 제5 낸드게이트의 출력신호와 상기 밴드폭신호를 입력으로 갖는 제6 낸드게이트와,상기 제6 낸드게이트의 출력신호를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 출력하기 위한 제6 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제21항에 있어서,상기 제1 및 제2 읽기 어드레스 생성부는,상기 해당 어드레스의 인가로 부터 해당 구동클럭 기준으로 1클럭 씩 지연되어 순차적으로 활성화되는 복수의 지연 어드레스를 출력하기 위한 AL 지연부와,상기 해당 어드레스와 상기 복수의 지연 어드레스 중 상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호에 대응되는 어드레스를 선택하여 출력하기 위한 제1 선택부와,상기 제1 선택부의 출력 어드레스를 지연시켜 상기 내부 읽기 어드레스로 출력하기 위한 제1 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제22항에 있어서,상기 제1 및 제2 쓰기 어드레스 생성부는,상기 내부 읽기 어드레스의 인가로 부터 상기 해당 구동클럭 기준으로 1클럭 씩 지연되어 순차적으로 활성화되는 복수의 지연 어드레스를 출력하기 위한 CL 지연부와,상기 내부 읽기 어드레스와 상기 복수의 지연 어드레스 중 상기 해당 카스레이턴시 정보신호에 대응되는 어드레스를 선택하여 출력하기 위한 제2 선택부와,상기 제2 선택부의 출력 어드레스를 지연시켜 상기 내부 쓰기 어드레스로 출력하기 위한 제2 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제23항에 있어서,상기 AL 및 CL 지연부는,직렬 연결되어 앞단의 출력 어드레스를 상기 해당 구동클럭에 동기시켜 상기 지연 어드레스로 출력하기 위한 복수의 플립플롭을 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제24항에 있어서,상기 복수의 플립플롭은,상기 해당 구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 입력 어드레스를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하기 위한 제1 래치와,상기 해당 구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하기 위한 제2 래치를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호의 비활성화 시 상기 쓰기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 쓰기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제26항에 있어서,상기 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 내부클럭과 상기 쓰기구간신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와,상기 제1 낸드게이트의 출력신호를 지연시켜 상기 쓰기 구동클럭으로 출력하기 제1 및 제2 인버터로 구현된 인버터 체인을 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제27항에 있어서,상기 제1 내지 제N 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴 시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제1 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제1 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제28항에 있어서,상기 모드 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 밴드폭-읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제2 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제2 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 밴드폭 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호 또는 상기 밴드폭신호의 비활성화 시 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 제1 논리레벨로 유지시켜 출력하며,상기 쓰기구간신호 및 상기 밴드폭신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제30항에 있어서,상기 밴드폭 쓰기 구동클럭 생성부는,상기 내부클럭과 상기 쓰기구간신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와,상기 제1 낸드게이트의 출력신호와 상기 밴드폭신호를 입력으로 갖는 제2 낸드게이트와,상기 제2 낸드게이트의 출력신호를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭으로 출력하기 위한 제1 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제31항에 있어서,상기 제1 내지 제N 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제1 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제1 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제32항에 있어서,상기 모드 컬럼 어드레스 생성수단은,상기 해당 어드레스를 상기 밴드폭-읽기 구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 읽기 어드레스로 생성하기 위한 제2 읽기 어드레스 생성부와,상기 내부 읽기 어드레스를 상기 밴드폭-쓰기 구동클럭을 기준으로 상기 카스레이턴시에 대응되는 지연을 갖는 상기 내부 쓰기 어드레스로 생성하기 위한 제2 쓰기 어드레스 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101103068B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7558146B2 (en) * | 2005-09-29 | 2009-07-07 | Hynix Semiconductor, Inc. | Internal address generator for use in semiconductor memory device |
JP4953348B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2012-06-13 | ハイニックス セミコンダクター インク | 半導体メモリ素子の内部アドレス生成装置 |
KR100753081B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2007-08-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 |
US7796462B2 (en) * | 2007-02-22 | 2010-09-14 | Mosaid Technologies Incorporated | Data flow control in multiple independent port |
US7844798B2 (en) * | 2007-12-13 | 2010-11-30 | Qimonda Ag | Command protocol for integrated circuits |
KR100945802B1 (ko) * | 2008-06-24 | 2010-03-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭을 생성하는 반도체 집적 회로 |
KR101103066B1 (ko) * | 2010-02-26 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
KR20180119071A (ko) * | 2017-04-24 | 2018-11-01 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 전자장치 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0172781B1 (ko) * | 1995-12-31 | 1999-03-30 | 김주용 | 반도체 메모리의 내부 어드레스 발생장치 |
JP2000011638A (ja) | 1998-06-23 | 2000-01-14 | Sony Corp | 半導体記憶装置およびメモリアクセス方法 |
JP2000030456A (ja) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Fujitsu Ltd | メモリデバイス |
JP2000057777A (ja) | 1998-08-04 | 2000-02-25 | Samsung Electronics Co Ltd | 同期型バースト半導体メモリ装置 |
JP3948141B2 (ja) * | 1998-09-24 | 2007-07-25 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
JP3604291B2 (ja) * | 1998-10-08 | 2004-12-22 | 富士通株式会社 | ダブルレートの入出力回路を有するメモリデバイス |
KR100324820B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2002-02-28 | 박종섭 | 싱크로너스 메모리 소자 |
KR100355229B1 (ko) * | 2000-01-28 | 2002-10-11 | 삼성전자 주식회사 | 카스 명령의 동작 지연 기능을 구비한 반도체 메모리 장치및 이에 적용되는 버퍼와 신호전송 회로 |
KR100374637B1 (ko) * | 2000-10-24 | 2003-03-04 | 삼성전자주식회사 | Jedec 규격의 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식반도체 메모리 장치 |
JP2002157880A (ja) * | 2000-11-15 | 2002-05-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
KR100416622B1 (ko) * | 2002-04-27 | 2004-02-05 | 삼성전자주식회사 | 동기식 반도체 메모리장치의 컬럼 디코더 인에이블 타이밍제어방법 및 장치 |
KR100513365B1 (ko) * | 2002-12-30 | 2005-09-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 어드레스 카운터 스트로브 테스트 모드 장치 |
KR100532421B1 (ko) * | 2003-02-17 | 2005-11-30 | 삼성전자주식회사 | (n/2)스테이지를 갖는 어드레스 버퍼 |
KR100590855B1 (ko) * | 2003-10-14 | 2006-06-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전류 소모의 감소를 위한 반도체 메모리 소자 |
JP4152308B2 (ja) * | 2003-12-08 | 2008-09-17 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体集積回路装置 |
KR100596435B1 (ko) * | 2003-12-17 | 2006-07-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 어드레스 억세스타임을 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치 |
KR100673904B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-01-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자 |
-
2005
- 2005-12-29 KR KR1020050133961A patent/KR100744042B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-06-30 JP JP2006181466A patent/JP4915692B2/ja active Active
- 2006-06-30 US US11/478,083 patent/US7379376B2/en active Active
-
2008
- 2008-04-15 US US12/081,317 patent/US20080192552A1/en not_active Abandoned
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101103068B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
US8339894B2 (en) | 2010-03-31 | 2012-12-25 | SK Hynix Inc. | Address delay circuit of semiconductor memory apparatus |
Also Published As
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