KR20060050602A - 피검체 이동 장치 및 촬영 장치 - Google Patents

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KR20060050602A
KR20060050602A KR1020050077705A KR20050077705A KR20060050602A KR 20060050602 A KR20060050602 A KR 20060050602A KR 1020050077705 A KR1020050077705 A KR 1020050077705A KR 20050077705 A KR20050077705 A KR 20050077705A KR 20060050602 A KR20060050602 A KR 20060050602A
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지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨
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Abstract

본 발명의 목적은 크레이들부(101:cradle)의 위치 정보를 높은 정밀도로 검출하여, 진단 효율을 향상시키며, 고속 이동을 구현하는 것이다. 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 크레이들부(101)의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되어 있으며 크레이들부(101)가 슬라이드할 수 있는 범위를 커버하도록 연장되고 있는 스케일부(131)와, 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라서 스케일부(131)가 연장되고 있는 방향으로 이동하여 스케일부(131)의 스케일을 검출하는 센서부(132)를 포함한다. 이 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 디지털 선형 인코더로서의 역할을 한다. 이 센서부(132)가 검출한 스케일의 판독에 기초하여, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 크레이들부(101)가 슬라이드하는 위치를 산출한다.

Description

피검체 이동 장치 및 촬영 장치{SUBJECT MOVING APPARATUS AND IMAGING APPARATUS}
도 1은 본 발명에 이러한 실시예의 촬영 장치의 전체구성을 나타내는 블록도,
도 2는 본 발명에 이러한 실시예의 촬영 장치의 주요부를 나타내는 구성도,
도 3은 본 발명에 이러한 실시예의 촬영 장치에 있어서, X 레이 검출기를 구성하는 X 레이 검출 모듈을 나타내는 구성도,
도 4는 본 발명에 이러한 실시예에 따른 촬영 장치에 포함된 피검체 이동부를 도시하는 측면도,
도 5는 본 발명에 이러한 실시예에 따른 촬영 장치에 포함된 피검체 이동부를 도시하는 정면도,
도 6은 본 발명에 이러한 실시예에 따른 촬영 장치에 포함된 크레이들 위치 검지 매커니즘에 포함되는 센서부와 센서 제어부와의 접속 상태를 나타내는 측면도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
32 : 표시 장치 31 : 입력 장치
30 : 중앙 처리 장치 41 : 제어부
51 : 화상 생성부 33 : 기억 장치
20 : X 레이관 22 : 콜리메이터
26 : 콜리메이터 컨트롤러 25 : X 레이 컨트롤러
23 : X 레이 검출기 24 : 데이터 수집부
28 : 갠트리 컨트롤러 4 : 피검체 이동부
133 : 센서 제어부
본 발명은 전반적으로 피검체 이동 장치 및 촬영 장치에 관한 것이며, 특히 촬영 공간 내에서 피검체의 화상을 촬영하는 촬영 장치와 그 촬영 장치의 촬영 공간에 피검체를 이동시키는 피검체 이동 장치에 관한 것이다.
X 레이 CT(Computed Tomography) 장치 등의 촬영 장치는 피검체를 촬영 공간으로 이동시키는 피검체 이동 장치를 구비하고 있다. 이러한 촬영 장치는 피검체 이동 장치에 의해서 촬영 공간으로 이동되는 피검체를 스캔하여 로우(raw) 데이터를 취득하여 피검체의 화상을 생성한다.
예컨대, X 레이 CT 장치의 경우에 피검체 이동 장치의 크레이들부에 피검체가 탑재된다. 그 후, 피검체 이동 장치가 촬영 공간으로 그 크레이들부를 이동시 킨다. 그리고, 예컨대, 헬리컬 스캔을 실시하는 경우에는 피검체 이동 장치가 크레이들부를 촬영 공간 내에서 슬라이드시키면서, X 레이관이 X 레이를 피검체에 조사한다. 피검체를 투과하는 X 레이를 X 레이 검출기가 검출하여 로우 데이터를 취득한다. 여기서는, X 레이관과 X 레이 검출기가 피검체의 몸축 방향을 회전축으로 해서 회전하여, 피검체의 주위의 관찰 방향으로 X 레이를 조사하여, 각각의 관찰 방향마다 로우 데이터를 취득한다. 또한, 이 때 피검체 이동 장치는 크레이들부의 위치 정보를 검지하여, 크레이들부가 스캔 조건에 따라 결정되는 위치에 위치되도록 이동된다. 그리고, 각 관찰 방향에서 취득된 로우 데이터 아이템은 소망하는 슬라이스 위치 및 슬라이스 두께 상태에서의 피검체의 단층면의 화상을 재편성하는데 사용된다(예컨대, 특허 문헌 1 참조).
[특허 문헌 1] 일본국 특허 공개 평성 제 10-314162호 공보
피검체가 탑재되는 크레이들부의 위치를 검출하기 위해서 예컨대, 크레이들부에 회전체를 접촉시킨다. 회전 인코더는 그 회전체가 만드는 회전수 등의 정보를 취득하는데 사용되어서 크레이들부의 위치를 검출하고 있다.
그러나, 스캔 범위의 확대나 스캔 시간의 단축화를 위해서, 크레이들부의 이동 스피드가 증가되어 동작이 고속화된다. 회전 인코더를 이용하는 경우에 있어서는, 백래시 등의 불량이 발생한다. 따라서 크레이들 위치에 대한 정보에 에러가 심각해질 수 있다. 결국, 피검체는 스캔 상태에 따라 결정된 위치에서 스캔될 수 없기 때문에 진단능률이 저하하는 경우가 있다.
특히, 최근에 있어서는, 크레이들부가 일정 속도로 이동하는 경우 외에, 가감속 중에도 로우 데이터를 취득하는 스캔 방법이 제안되어 있으며, 이 경우에 상기 불량이 현저하게 되는 경우가 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 피검체가 탑재되는 크레이들부의 위치를 높은 정밀도로 검출 가능하고, 진단 효율을 향상시켜서, 고속 이동을 가능하게 하는 피검체 이동 장치 및 촬영 장치를 제공하는 것이다.
이 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 피검체 이동 장치는 피검체를 촬영 공간 내로 이동시켜서 촬영 공간 내에서 피검체를 촬영하는 피검체 이동 장치를 제공한다. 이 피검체 이동 장치는 피검체가 탑재되는 크레이들부와, 크레이들부가 촬영 공간으로 슬라이드하여 이동하도록 상기 크레이들부를 지지하는 크레이들 지지부와, 크레이들부가 슬라이드한 위치를 검지하는 크레이들 위치 검지 매커니즘을 포함한다. 크레이들 위치 검지 매커니즘은, 크레이들부의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되어 있으며, 크레이들부가 슬라이드할 수 있는 슬라이딩 범위를 커버하도록 연장되고 있는 스케일부와, 크레이들부가 슬라이드함에 따라 스케일부가 연장되고 있는 방향으로 스케일부에 대하여 상대적으로 이동하여 스케일부의 스케일을 검출하는 센서부를 포함한다. 센서부가 검출한 스케일의 판독에 근거하여, 크레이들부가 슬라이드한 위치를 산출한다.
본 발명의 촬영 장치는 피검체의 화상을 촬영 공간 내에서 촬영하는 촬영 장 치로서, 피검체가 탑재되는 크레이들부와, 크레이들부가 촬영 공간으로 슬라이드하여 이동하도록 크레이들부를 지지하는 크레이들 지지부와, 크레이들부가 슬라이드한 위치를 검지하는 크레이들 위치 검지 매커니즘과, 크레이들부가 슬라이드하여 촬영 공간으로 이동된 피검체를 주사하여 로우 데이터를 취득하는 주사부와, 주사부가 취득하는 로우 데이터에 근거하여, 피검체의 화상을 생성하는 화상 생성부를 포함한다. 이 크레이들 위치 검지 매커니즘은 크레이들부의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되어 있으며 크레이들부가 슬라이드될 수 있는 슬라이드 범위를 커버하도록 연장하고 있는 스케일부와, 크레이들부가 슬라이드함에 따라 스케일부가 연장하고 있는 방향으로 스케일부에 대하여 상대적으로 이동하여 스케일부의 스케일을 검출하는 센서부를 포함한다. 크레이들 위치 검지 매커니즘은 이 센서부가 검출한 스케일의 판독에 근거하여, 크레이들부가 슬라이드된 위치를 산출한다.
본 발명에 따라서 피검체가 탑재되는 크래이들부의 위치를 높은 정밀도로 검출해서 진단 효율을 향상시키며, 고속 이동을 구현하는 피검체 이동 장치 및 촬영 장치가 제공된다.
본 발명의 다른 목적 및 장점은 첨부된 도면에 도시된 본 발명의 바람직한 실시예의 다음 설명으로부터 자명할 것이다.
본 발명의 실시예가 설명될 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 관한 촬영 장치로서의 X 레이 CT 시스템(1)의 전체 구성을 도시하는 블록도이며, 도 2는 본 발명의 실시예의 X 레이 CT 시스템(1)의 주요부를 나타내는 구성도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, X 레이 CT 시스템(1)은 스캐너 갠트리(2), 조작 콘솔(3), 피검체 이동부(4)를 포함한다. 각 부에 대하여 순차적으로 설명한다.
스캐너 갠트리(2)는 X 레이관(20), X 레이관 이동부(21), 콜리메이터(22), X 레이 검출기(23), 데이터 수집부(24), X 레이 컨트롤러(25), 콜리메이터 컨트롤러(26), 회전부(27), 갠트리 컨트롤러(28)를 갖는다. 스캐너 갠트리(2)는 피검체 이동부(4)에 의해 촬영 공간(29)으로 이동되는 피검체를 주사하여, 로우 데이터를 취득한다. 여기서, 스캐너 갠트리(2)에 포함된 X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23)는 피검체가 반입되는 촬영 공간(29)을 사이에 두고 대향하고 있다.
X 레이관(20)은, 예컨대 회전 애노드 타입으로, X 레이를 조사한다. X 레이관(20)은 도 2에 도시된 바와 같이 X 레이 컨트롤러(25)로부터의 제어 신호 (CTL251)에 따라서, 소정 강도의 X 레이를 피검체의 촬영 영역에 콜리메이터(22)를 통해서 조사한다. 또한, X 레이관(20)은, 피검체의 주위의 관찰 방향으로 X 레이를 조사하기 위해서, 회전부(27)에 의해서 피검체의 몸축 방향에 대응하는, 어레이 방향 z을 축으로 하여 주위를 회전한다.
X 레이관 이동부(21)는, 도 2에 도시된 바와 같이 X 레이 컨트롤러(25)로부터의 제어 신호(CTL252)에 근거하여 X 레이관(20)의 방사 중심을 스캐너 갠트리(2)에 있어서의 촬영 공간(29) 내의 피검체의 몸축 방향에 대응하는 어레이 방향 z으 로 이동시킨다.
콜리메이터(22)는 도 2에 도시된 바와 같이 X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23) 사이에 배치되어 있다. 콜리메이터(22)는, 예컨대 채널 방향 x으로 병렬 배치된 2개의 판과 어레이 방향 z으로 병렬 배치된 2개의 판에 의해 구성되어 있다. 콜리메이터(22)는 콜리메이터 컨트롤러(26)로부터의 제어 신호(CTL261)에 근거하여, 각 방향으로 병렬 배치된 판의 쌍을 서로 독립적으로 이동시켜서, X 레이관(20)으로부터 조사된 X 레이를 각각의 방향으로 차단하여 원뿔 형상을 성형한다. 이로써 X 레이의 조사 범위를 조정한다.
X 레이 검출기(23)는 X 레이관(20)으로부터 조사되어 피검체를 투과하는 X 레이를 피검체 이동부(4)에 포함된 크레이들부(101)를 거쳐서 검출하여, 피검체의 투영 데이터를 화상을 형성하는데 사용되는 로우 데이터로서 취득한다. 여기서, X 레이 검출기(23)는, X 레이관(20)과 함께 회전부(27)에 의해서 열 방향 z을 축으로 피검체의 주위를 회전한다. 피검체의 주위의 복수의 관찰 방향마다 피검체를 투과하는 X 레이를 검출하여 투영 데이터를 생성한다. X 레이 검출기(23)는 회전부(27)에 의해서 X 레이관(20)이 피검체의 몸축 방향을 축으로 하여 주위를 회전되는 방향에 대응하는 채널 방향 x과, 회전부(27)에 의한 X 레이관(20)의 회전에 의해 결정된 궤적에 의해 형성되는 면에 대하여 실질적으로 수직인 방향인 열 방향 z으로 검출 소자(23a)가 어레이 형상에 2차원적으로 배열되어 있다. 또한, X 레이 검출기(23)는, 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 X 레이 검출 모듈(23A)이 채널 방향 x와 열 방향 z 각각의 방향을 따라서 배치되어 구성되어 있다. X 레이 검출기(23) 는 X 레이 검출 모듈(23A)이 예컨대, 채널 방향 x으로 J개가 병렬 배치되며, 열 방향 z으로 I 개가 병렬 배치되어 있다.
도 3은, X 레이 검출기(23)를 구성하는 X 레이 검출 모듈(23A)을 나타내는 구성도이다. 도 3에 도시된 바와 같이 X 레이 검출 모듈(23A)은 X 레이를 검출하는 검출 소자(23a)가 채널 방향 x와 열 방향 z으로 어레이 형상에 배열되어 있다. 2차원적으로 배열된 복수의 검출 소자(23a)는, 원통 오목면 형상으로 만곡한 X 레이 입사면을 형성하고 있다. X 레이 검출 모듈(23A)은 예컨대, 채널 방향 x으로 i개의 검출 소자(23a)가 배열되어 있고, 열 방향 z으로는 j 개의 검출 소자(23a)가 배열되어 있다.
검출 소자(23a)는, 예컨대 고체 검출기이며, 피검체를 투과한 X 레이를 빛으로 변환하는 신틸레이터(도시 생략), 신틸레이터가 변환한 빛을 전하로 변환하는 광 다이오드(도시 생략)를 포함한다. 각각의 검출 소자(23a)에 포함된 광 다이오드는 각각의 X 레이 검출 모듈(23A)에 포함된 동일 기판 상에 형성되어 있다. 또한 검출 소자(23a)는 이에 한정되는 것이 아니라, 예컨대, 카드뮴 텔루라이드(CdTe) 등을 이용한 반도체 검출 소자, 혹은 크세논(Xe) 가스를 이용한 이온 챔버형 검출 소자(23a)여도 된다.
데이터 수집부(24)는 X 레이 검출기(23)가 검출한 X 레이로부터의 데이터를 취득하기 위해서 설치된다. 데이터 수집부(24)는 X 레이 검출기(23) 각각의 검출 소자(23a)가 검출한 X 레이에 의한 피검체의 투영 데이터를 수집하여, 조작 콘솔(3)로 출력한다. 도 2에 도시된 바와 같이 데이터 수집부(24)는 선택/가산 전환 회로(MUX, ADD:241)와 아날로그-디지털 변환기(ADC:242)를 포함한다. 선택/가산 전환 회로(241)는 X 레이 검출기(23)에 포함된 검출 소자(23a)에 의해 생성된 투영 데이터를 중앙 처리 장치(30)부터의 제어 신호(CTL303)에 따라 선택하거나, 혹은 투영 데이터 아이템을 합산하여, 임의의 선택 혹은 조합의 결과를 A/D 변환기(242)로 출력한다. A/D 변환기(242)는 선택/가산 전환 회로(241)에서 선택되거나 혹은 투영 데이터를 합산해서 계산된 투영 데이터를 아날로그 신호에서 디지탈 신호로 변환하여 중앙 처리 장치(30)에 출력한다.
X 레이 컨트롤러(25)는 도 2에 도시한 바와 같이 중앙 처리 장치(30)로부터전송된 제어 신호(CTL301)에 따라서, X 레이관(20)으로 제어 신호(CTL251)를 출력하여, X 레이의 조사를 제어한다. X 레이 컨트롤러(25)는, 예컨대 X 레이관(20)의 관 전류나 조사 시간 등을 제어한다. 또한, X 레이 컨트롤러(25)는 중앙 처리 장치(30)에 의한 제어 신호(CTL301)에 따라서, X 레이관 이동부(221)에 제어 신호(CTL252)를 출력하여, X 레이관(20)의 중심 방사 포트가 열 방향 z으로 이동하도록 제어한다.
콜리메이터 컨트롤러(26)는, 도 2에 도시된 바와 같이 중앙 처리 장치(30)로부터의 제어 신호(CTL302)에 따라 콜리메이터(22)에 제어 신호(CTL261)를 출력하여, X 레이관(20)으로부터 방사된 X 레이를 재성형하도록 콜리메이터(22)를 제어한다.
회전부(27)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 갠트리 컨트롤러(28)부터송신된 제어 신호(CTL28)에 따라서, 피검체의 몸축 방향에 대응하는 열 방향 z를 축 으로 회전한다. 회전부(27)에는, X 레이관(20), X 레이관 이동부(21), 콜리메이터(22), X 레이 검출기(23), 데이터 수집부(24), X 레이 컨트롤러(25), 콜리메이터 컨트롤러(26)가 탑재되어 있다. 회전부(27)는 각 부를 회전시켜 촬영 공간(29)으로 이동되는 피검체에 대한 위치를 변화시킨다. 회전부(27)가 회전될 때, 피검체 주위의 복수의 관찰 방향으로 X 레이가 조사된다. 각각의 관찰 방향마다 피검체를 투과한 X 레이를 X 레이 검출기(23)가 검출하는 것이 가능하게 된다. 또한, 회전부(27)는 갠트리 컨트롤러(28)로부터의 제어 신호(CTL28)에 따라 기울어진다. 회전부(27)는 피검체 이동부(4)에 의해 피검체가 촬영 공간(29)의 외부로 혹은 내부로 수평 이동시키는 수평 방향을 따라서, 촬영 공간(29)의 아이소센터를 축으로 기울어진다.
갠트리 컨트롤러(28)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 조작 콘솔(3)에 포함된 중앙 처리 장치(30)에 의한 제어 신호(CTL304)에 따라서 회전부(27)에 제어 신호(CTL28)를 출력하고, 따라서 회전부(27)를 회전 또는 경사지도록 이동한다. 즉, 갠트리 컨트롤러(28)는 회전부(27)를 회전시킴으로써 피검체의 열 방향 z을 축으로 해서 복수의 관찰 방향으로 X 레이를 조사시켜서 피검체를 투과한 X 레이를 검출한다. 또한, 갠트리 컨트롤러(28)는 피검체 이동부(4)에 의해 피검체가 촬영 공간(29) 외부로 혹은 내부로 수평 이동하는 수평 방향에 따라, 회전부(27)를 경사시켜 이동한다.
조작 콘솔(3)은 도 1에 도시된 바와 같이 중앙 처리 장치(30), 입력 장치(31), 표시 장치(32), 기억 장치(33)를 포함한다.
중앙 처리 장치(30)는 예컨대, 컴퓨터에 의해서 구성되며, 도 1에 도시된 바와 같이 제어부(41) 및 화상 생성부(51)를 포함한다.
제어부(41)는 피검체를 스캔하는 스캔 조건에 근거하여, X 레이관(20)으로부터 X 레이를 피검체에 조사하여 피검체를 투과하는 X 레이가 X 레이 검출기(23)에 의해 검출되도록, 각 부를 제어한다. 구체적으로는, 제어부(41)는 스캔 조건에 근거하여 제어 신호(CTL30a)를 각 부에 출력하여 스캔을 실행한다. 예컨대, 제어부(41)는 피검체 이동부(4)에 제어 신호(CTL30b)를 출력하여, 피검체 이동부(4)에 피검체를 촬영 공간(29) 내부로 혹은 외부로 이동시킨다. 또한, 제어부(41)는 갠트리 컨트롤러(28)에 제어 신호(CTL304)를 출력하여 스캐너 갠트리(2)의 회전부(27)를 회전시킨다. 또한, 제어부(41)는 X 레이관(20)으로부터 X 레이의 조사하도록 제어 신호(CTL301)를 X 레이 컨트롤러(25)로 출력한다. 그리고, 제어부(41)는 제어 신호(CTL302)를 콜리메이터 컨트롤러(26)로 출력하여, 콜리메이터(22)를 제어하여 X 레이를 성형한다. 또한, 제어부(42)는, 제어 신호(CTL303)를 데이터 수집부(24)로 출력하여 X 레이 검출기(23)에 포함된 검출 소자(23a)가 취득하는 투영 데이터를 수집하도록 제어한다.
화상 생성부(51)는 스캐너 갠트리(2)가 취득한 로우 데이터에 근거하여, 피검체의 단층면의 화상을 재편성한다. 화상 생성부(51)는, 예컨대 헬리컬 스캔 동안 복수의 관찰 방향부터 획득된 투영 데이터에 대하여, 감도보정 혹은 빔 빔 하드닝(hardening) 보정 등의 전처리를 실시한 후 필터 처리 역투영법에 따라서 재편성한다.
조작 콘솔(3)에 포함된 입력 장치(31)는, 예컨대 키보드나 마우스 등의 입력 장치에 의해 구성되어 있다. 입력 장치(31)는, 오퍼레이터의 입력 조작에 따라서 스캔 조건이나 피검체의 정보 등의 각종 정보를 중앙 처리 장치(30)에 입력한다.
중앙 처리 장치(30)로부터의 지령에 응답하여, 화상 생성부(51)가 재편성한 피검체의 단층면의 화상이 표시 장치(32)에 표시된다.
기억 장치(33)는 메모리에 의해 구성되어 있다. 화상 생성부(51)가 재구성하는 피검체의 단층면의 화상 등의 각종의 데이터나, 프로그램 등이 이 기억 장치(33)에 기억된다. 기억 장치(33)에 기억된 데이터는 필요에 따라서 중앙 처리 장치(30)에 의해 액세스된다.
피검체 이동부(4)는, 촬영 공간(29)의 내부로 혹은 외부로 피검체를 이동시키기 위해서 설치된다.
도 4 및 도 5는 피검체 이동부(4)를 도시하는 도면인다. 여기서, 도 4는 피검체 이동부(4)를 측면측에서 본 측면도이다. 도 4(a)은 피검체 이동부(4)의 크레이들부(101)가 촬영 공간(29)의 외부에 있는 상태를 도시하고 도 4(b)는 크레이들부(101)가 촬영 공간(29) 내부로 이동되는 상태를 도시하고 있다. 또한, 도 5는 피검체 이동부(4)를 정면으로부터 본 정면도이며, 도 4에 도시된 이송부(121)의 주변을 도시하고 있다.
도 4에 도시된 바와 같이 피검체 이동부(4)는 크레이들부(101), 크레이들 지지부(102), 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)을 포함한다.
크레이들부(101)는 피검체가 탑재되는 탑재면을 구비하여 그 탑재면에서 피 검체를 지지한다. 크레이들부(101)는 도 4에 도시된 바와 같이 크레이들 지지부(102)에 의해서 지지되어 있고, 탑재면에 대하여 거의 수평인 수평 방향 H과, 탑재면에 대하여 거의 수직인 수직 방향 V으로 이동 가능하여, 스캐너 갠트리(2)의 촬영 공간(29)의 내부측과 외부측 사이에서 이동한다. 도 4(b)에 도시된 바와 같이 크레이들부(101)는 크레이들 지지부(102)의 이송부(121)에 고정되어, 이송부(121)와 함께 수평 방향 H으로 슬라이드하여, 스캐너 갠트리(2)의 촬영 공간(29)의 내부로 이동한다. 또한, X 레이 검출기(23)는 크레이들부(101)의 피검체가 탑재되는 탑재면과 그 반대측의 면측에 배치된다.
크레이들 지지부(102)는 크레이들부(101)가 촬영 공간(29)으로 슬라이드하여 이동하도록 크레이들부(101)를 지지한다. 크레이들 지지부(102)는, 도 4(a)에 도시된 바와 같이 이송부(121), 가이드 레일부(122), 가이드 레일 지지부(123), 수평 구동부(124), 수직 구동부(125)를 갖는다.
이송부(121)는 크레이들부(101)를 지지하여, 촬영 공간(29)으로 슬라이드시키는 카트이며, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 가이드 레일부(122)에 의해 지지된다. 이송부(121)는 X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23) 사이의 X 레이 조사 경로에 중첩하지 않도록, 크레이들부(101)에서 촬영 공간(29)으로부터 먼 위치의 단부측에 고정된다. 그리고, 이송부(121)는 도 4(a) 및 도 4(b)에 도시된 바와 같이, 가이드 레일부(122)가 연장하는 방향으로 슬라이드함으로써, 크레이들부(101)를 촬영 공간(29)으로 슬라이드 이동한다. 또한, 이송부(121)에는, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)에 포함된 센서부(132)가 배치된다. 크레이들부(101)의 이동에 따라 이송부(121)에 배치된 센서부(132)가 슬라이드하여 이동한다.
가이드 레일부(122)는, 도 5에 도시된 바와 같이 가이드 레일 지지부(123)에 부착되어 크레이들부(101)가 슬라이드하는 방향으로 연장하도록 형성되어 있다. 가이드 레일부(122)는 이송부(121)를 지지하여 이송부(121)에 고정된 크레이들부(101)가 슬라이드 가능하게 한다.
가이드 레일 지지부(123)는 가이드 레일부(122)를 지지하기 위해서 포함된다. 가이드 레일 지지부(123)는, 예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이 서로 마주보는 1쌍의 구조체의 면에 부착하여 지지된다. 가이드 레일(123)에 의해 지지되는 이송부(122)는 서로 마주보는 한쌍의 구조체 사이에 위치된다. 또한 가이드 레일 지지부(123) 중 하나에는, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)의 스케일부(131)가 장착되며, 상세한 것은 후술한다.
수평 구동부(124)는 크레이들부(101)를 수평 방향 H으로 슬라이드하여 이동시키기 위해 포함된다. 수평 구동부(124)는 예컨대, 롤러식 구동 장치를 구비하고 있으며, 액츄에이터에 의해서 구동되는 롤러의 구동력을 크레이들부(101)에 전달하여 크레이들부(101)를 수평 방향 H으로 이동시킨다.
수직 구동부(125)는 크레이들 지지부(102)를 지지하여, 크레이들 지지부(102)에 지지된 크레이들부(101)를 수직 방향 V으로 이동한다. 수직 구동부(125)는 예컨대, 평행 링크식 구동 장치를 구비하고 있다. 수직 구동부(125)는 예컨대, 액츄에이터(도시 생략)를 사용해서 평행 제어 아암을 구동하고 이로써, 크레이들부(101)를 수직 방향 V으로 이동시킨다.
크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 크레이들부(101)가 슬라이드 이동하는 위치를 검지하기 위해서 포함된다. 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 디지털 선형 인코더이며, 도 4(a)에 도시된 바와 같이 스케일부(131), 센서부(132), 센서 제어부(133)를 포함한다. 센서부(131)가 검출한 스케일의 판독에 근거하여 크레이들부(101)가 슬라이드 이동된 위치를 산출한다.
도 6은 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)에 있어서, 센서부(132)와 센서 제어부(133)의 접속 상태를 나타내는 측면도이다. 도 6(a)는 크레이들부(101)가 촬영 공간(29)의 외부에 있을 때의 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)의 상태를 도시하고 있다. 도 6(b)는 크레이들부(101)가 촬영 공간(29)의 내부로 이동할 때의 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)을 도시하고 있다. 설명을 명확히 하기 위해서, 도 4에 도시된 이송부(121), 가이드 레일부(122), 수직 구동부(125)는 도 6에 있어서는 생략되어 있다.
도 6에 도시된 바와 같이, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 스케일부(131), 센서부(132), 센서 제어부(133) 외에, 또한 케이블부(134)와 케이블 가이드부(135)를 포함한다.
스케일부(131)는 크레이들부(101)의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되며, 크레이들부(101)가 슬라이드할 수 있는 슬라이드 범위를 커버하도록 연장된다. 여기서는, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이 스케일부(131)는 가이드 레일부(122)가 연재하고 있는 방향으로 크레이들 지지부(102)에 포함된 가이드 레일 지지부(123) 중 하나에 장착되어 있다. 스케일부(131)는 X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23) 사이의 X 레이의 조사 경로에 중복하지 않도록 배치되어 있다. 또한, 스케일부(131)는 자기 스케일로 형성된 스케일을 갖고 있다. 예컨대, 스케일부(131)는 크레이들부(101)가 이동하는 방향으로, N극과 S극이 일정 피지를 두고 배치되어 있는 자기 스케일을 이용하고 있다.
센서부(132)는 예컨대, 스케일부(131)에 포함된 자기스케일을 검출하는 자기센서를 포함한다. 센서부(132)는 스케일부(131)에 대하여 비접촉 상태가 되도록, 스케일부(131)와의 사이에서 일정 간격을 두고 이송부(121)에 배치된다. 즉, 센서부(132)는 X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23) 사이의 X 레이의 조사 경로에 중복하지 않도록 배치되어 있다. 그리고, 센서부(132)는 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라 스케일부(131)가 연장되고 있는 방향으로, 그 스케일부(131)에 대하여 상대적으로 이동되어, 스케일부(131)에 포함된 스케일을 검출한다. 센서부(132)는 도 6에 도시된 바와 같이 케이블부(134)를 거쳐서 센서 제어부(133)에 접속되어 있다. 센서부(132)는 센서 제어부(133)에 의해서 검출 동작이 제어된다.
센서 제어부(133)는 케이블부(134)를 거쳐서 센서부(132)에 접속되어 있다. 센서 제어부(133)는, 케이블부(134)를 거쳐서 센서부(132)에 제어 신호를 송신하여 센서부(132)의 검출 동작을 제어한다. 또한 센서부(132)가 검출한 스케일부(131)의 스케일 정보를 수신한다. 센서부(132)가 검출한 스케일의 판독에 근거하여, 크레이들부(101)가 슬라이드된 위치를 산출한다.
케이블부(134)는 도전 재료로 이루어지는 배선을 포함하도록 구성되어 있고, 센서부(132)와 센서 제어부(133) 사이를 연결시킨다. 케이블부(134)는 케이블 가 이드부(135)의 내부 공간에 수용되어, 케이블 가이드부(135)에 의해서 그 이동 범위가 규정된다.
케이블 가이드부(135)는 케이블부(134)를 수용하여, 케이블부(134)의 이동범위를 규정한다. 여기서는, 케이블 가이드부(135)는 복수의 링크 부재(도시생략)를 연결시킴으로써 구성되어 있다. 케이블 가이드부(135)는 한쪽 단부가 센서 제어부(133)에 고정되고, 다른쪽 단부가 센서부(131)에 고정되어 있다. 케이블 가이드부(135)를 구성하는 복수의 링크 부재가 직선상으로 뻗는 상태로부터, 결합된 연결부에서 굴절하여 구부러진다. 크레이들부(101)의 슬라이드에 따라 센서부(131)가 이동할 때에, 케이블부(134)가 소정 범위 내에서 이동하도록 가이드하여, 케이블부(134)를 보호한다.
또한, 상기 본 실시예에 있어서의 X 레이 CT 시스템(1)은 본 발명에 따른 촬영 장치에 상당한다. 또한, 본 실시예에 있어서의 스캐너 갠트리(2)는 본 발명의 주사부에 상당한다. 또한, 본 실시예에 포함된 피검체 이동부(4)는 본 발명의 피검체 이동 장치에 상당한다. 또한, 본 실시예에 있어서의 X 레이관(20)은 본 발명의 방사선 조사부에 상당한다. 또한, 본 실시예에 있어서의 X 레이 검출기(23)는 본 발명의 방사선 검출부에 상당한다. 본 실시예의 화상 생성부(51)는 본 발명의 화상 생성부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 크레이들부(101)는 본 발명의 크레이들부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 크레이들 지지부(102)는 본 발명의 크레이들 지지부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 본 발명의 크레이들 위치 검지 매커니즘에 상당한다. 또한, 본 실시예의 이송부(121) 는 본 발명의 이송부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 가이드 레일부(122)는 본 발명의 가이드 레일부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 스케일부(131)는 본 발명의 스케일부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 센서부(132)는 본 발명의 센서부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 센서 제어부(133)는 본 발명의 센서 제어부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 케이블부(134)는 본 발명의 케이블부에 상당한다. 또한, 본 실시예의 케이블 가이드부(135)는 본 발명의 케이블 가이드부에 상당한다.
이 본 실시예에 따른 X 레이 CT 시스템(1)을 사용해서 피검체를 촬영하기 위해서 수행될 동작이 설명된다.
피검체를 촬영하기 위해서, 크레이들부(101)에 피검체를 얹어 놓는다. 여기서는, 크레이들부(101)의 탑재면에 피검체를 얹어 놓아 크레이들부(101)에 피검체를 지지시킨다.
다음으로, 스캔 조건이 설정된다. 스캔 조건의 설정하기 위해서, 오퍼레이터가 입력 장치(31)를 사용해서 스캔 조건으로 설정된 다양한 파라미터를 입력한다. 예컨대, 스캔 조건으로서, 헬리컬 스캔 방식 등의 스캔방식, 촬상 화상 매수에 대응한 스캔 회수, X 레이관(20)의 관 전류값 및 관 전압값, X 레이 조사 시간, 슬라이스 위치, 슬라이스 두께 등의 스캔 파라미터를 들 수 있다.
다음으로, 피검체의 스캔을 실시한다. 스캔을 실시하기 위해, 상기한 바와 같이 설정된 스캔 조건에 근거하여, 제어부(41)가 스캐너 갠트리(2)와 피검체 이동부(4)로 제어 신호(CTL30a, CTL30b)를 출력한다.
결과적으로, 크레이들부(101)가 스캐너 갠트리(2)의 촬영 공간(29)의 높이에 대응하도록 피검체 이동부(4)에 포함된 수직 구동부(125)가 수직 방향 H에 크레이들부(101)를 이동한다. 이후에 수평 구동부(124)는 크레이들부(101)를 수평 방향으로 슬라이드시켜서 스캐너 갠트리(2)의 촬영 공간(29)으로 이동한다. 또한, X 레이 컨트롤러(25)가 X 레이관(20)에 제어 신호(CTL252)를 출력하여, X 레이관(20)으로부터 X 레이를 조사한다. 그리고, 콜리메이터 컨트롤러(26)가 제어 신호(CTL302)를 콜리메이터(22)로 출력하여, X 레이관(20)으로부터의 X 레이를 재구성한다. 결과적으로 갠트리 컨트롤러(28)가 제어 신호(CTL28)를 주사 갠트리(2)로 출력하여 스캐너 갠트리(2)의 회전부(27)를 회전시킨다. 또한, 제어부(41)가 제어 신호 (CTL303)를 데이터 수집부(24)로 출력하여, X 레이 검출기(23)에 포함된 검출 소자(23a)가 생성한 투영 데이터를 로우 데이터로서 수집한다.
구체적으로는, 헬리컬 스캔이 수행될 때, 피검체가 탑재된 크레이들부(101)를 가이드 레일(122)이 연재되는 방향으로 촬영 공간(29) 내에서 슬라이드된다. 그 피검체에 X 레이관(20)이 복수의 관찰 방향으로 X 레이를 조사하여, 피검체를 투과하는 X 레이를 X 레이 검출기(23)가 크레이들부(101)를 거쳐서 관찰 방향마다 검출한다. 그 결과 로우 데이터가 취득된다.
이 때, 피검체 이동부(4)에 포함된 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)이 로우 데이터의 취득시에 크레이들부(101)가 슬라이드한 위치를 검지한다. 도 4에 도시된 바와 같이 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라서, 스케일부(131)가 연장되고 있는 방향으로 센서부(132)가 스케일부(131)에 대하여 상대적으로 이동하여, 스케일부(131)에 포함된 스케일을 검출한다. 그리고, 센서부(132)가 검출한 스케일 의 판독에 근거하여, 크레이들부(101)가 슬라이드한 위치를 센서 제어부(133)가 산출한다. 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라 센서부(131)가 이동할 때, 케이블부(134)가 소정 범위 내에서 이동하도록 케이블 가이드부(135)가 케이블부(134)를 가이드하여 보호한다.
그 후, 각 관찰 방향부터 획득된 로우 데이터에 따라서, 소망하는 슬라이스위치 및 슬라이스 두께에서 피검체의 단층면의 화상을 화상 생성부(51)가 재편성한다. 여기서는, 복수의 관찰 방향부터의 투영 데이터에 대하여, 감도 보정, 빔 하드닝 보정 등의 전처리를 화상 생성부(51)가 실시한다. 필터 처리 역투영법에 의해서 재편성을 하여, 피검체의 단층면의 화상을 재편성한다.
이상과 같이 본 실시예에 의하면, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)에 포함된 센서부(132)는 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라 스케일부(131)가 연장되고 있는 방향으로 스케일부(131)에 대하여 상대적으로 이동한다. 센서부(132)는 스케일부(131)에 포함된 스케일을 검출한다. 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은, 센서부(132)가 검출한 스케일의 판독에 근거하여, 크레이들부(101)가 슬라이드한 위치를 산출한다. 그 결과, 본 실시예에 따라서 회전 인코더를 이용하는 경우보다, 백래시 등의 불량이 발생하는 것이 적다. 크레이들부(101)의 위치 정보를 높은 정밀도로 검출할 수 있다. 따라서, 진단 효율을 향상해서, 동작의 고속화를 가능하게 한다.
또한, 본 실시예에 의하면, 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)에 포함된 센서부(132)가 크레이들 지지부(102)의 이송부(121)에 배치되어 있다. 크레이들 위 치 검지 매커니즘(103)에 포함된 스케일부(131)는, 크레이들 지지부(102)에 포함된 가이드 레일부(122)가 연장되고 있는 방향에 따라서 연장된다. 상술한 바와 같이, 피검체를 투과하는 X 레이를 X 레이 검출기(23)가 크레이들부(101)를 거쳐서 검출하여 로우 데이터를 취득한다. 스케일부(131) 및 센서부(132)가 크레이들부(101)에 배치되지 않고, X 레이관(20)과 X 레이 검출기(23) 사이의 X 레이의 조사 경로에 중복하지 않는 위치에 배치되어 있기 때문에, 피검체를 투과하는 X 레이를 스케일부(131) 및 센서부(132)가 차단하지 않는다. 이 때문에, 본 실시예는 로우 데이터를 높은 정밀도로 취득할 수 있어, 진단 효율을 향상하며, 동작의 고속화를 가능하게 한다.
또한, 본 실시예에 의하면, 센서부(132)와, 그 센서부(132)를 제어하는 센서 제어부(133)를 접속시키는 케이블부(134)가, 케이블 가이드부(135)에 수용되어 있다. 케이블 가이드부(135)가 케이블부(134)의 이동 범위를 규정하고 있다. 이 때문에, 본 실시예에 따라서 크레이들부(101)의 슬라이드 이동에 의해서 케이블부(134)가 얽혀서 단선하는 것을 케이블 가이드부(135)가 방지한다. 그 결과 크레이들부(101)를 부드럽게 슬라이드할 수 있다. 따라서, 본 실시예는 크레이들부(101)의 위치 정보를 높은 정밀도로 검출할 수 있어, 진단 효율을 향상하여, 동작의 고속화를 가능하게 한다.
또한, 본 발명은 위의 실시예에 한정되는 것이 아니라, 여러 가지의 변형 형태를 채용할 수 있다.
예컨대, 위의 실시예의 크레이들 위치 검지 매커니즘은 스케일이 자기 스케 일로 형성된 스케일부와, 그 자기 스케일을 검출하는 자기 센서로 형성된 센서부를 이용하여 크레이들부의 슬라이드 위치를 검지하고 있지만, 이 모드에 한정되지 않는다. 예컨대, 크레이들 위치 검지 매커니즘은 스케일이 광학 센서로 형성된 스케일부와, 그 광학 스케일을 검출하는 광학 센서로 형성된 센서부를 이용하여, 크레이들부가 슬라이드하는 위치를 검지할 수도 있다. 예컨대, 크레이들 위치 검지 매커니즘은 크레이들부가 슬라이드하는 방향으로 병렬 배치된 스케일로서 고 반사면과 저 반사면이 교대로 나열된 스케일부와, 발광 소자와 수광 소자를 포함하는 센서부를 포함할 수 있다. 스케일부가 반사한 빛을 센서부에서 검지하며, 이로써 크레이들부가 슬라이드하는 위치를 검지한다.
예컨대, 이 실시예에 포함된 센서부는 스케일부에 대하여 비접촉 상태가 되고 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 다른 방안으로 센서부가 스케일부에 대하여 접촉 상태가 되도록 배치될 수도 있다.
또한, 예컨대 이 실시예는 방사선 조사부로부터 조사되는 방사선으로서 X 레이를 채택한다. 본 발명은 이것에 한정되지 않는다. 예컨대, 감마선 등의 방사선을 채택할 수도 있다.
본 발명의 많은 다양한 실시예가 본 발명의 사상 및 범주를 벗어남없이 구성될 수 있다. 본 발명이 첨부된 청구항에 개시된 것을 제외한 이 명세서에 설명된 특정 실시예에 한정되지 않는다는 점을 이해할 것이다.
본 발명에 의하며, 피검체가 탑재되는 크레이들부의 위치를 높은 정밀도로 검출 가능하고, 진단 효율을 향상하여, 동작의 고속화를 가능하게 하는 피검체 이동 장치 및 촬영 장치를 제공할 수 있다.

Claims (10)

  1. 촬영 공간(29) 내에서 피검체를 촬영하는 촬영 장치(1) 내에 포함되며, 상기 피검체를 상기 촬영 공간(29)으로 이동시키는 피검체 이동 장치(4)에 있어서,
    상기 피검체가 탑재되는 크레이들부(101)와,
    상기 크레이들부가 상기 촬영 공간(29)으로 슬라이드하도록 상기 크레이들부(101)를 지지하는 크레이들 지지부(102)와,
    상기 크레이들부가 슬라이드한 위치를 검지하는 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)을 포함하되,
    상기 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은
    상기 크레이들부(101)의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되어 있으며, 상기 크레이들부(101)가 슬라이드할 수 있는 슬라이딩 범위를 커버하도록 연장되고 있는 스케일부(131)와,
    상기 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라 상기 스케일부(131)가 연장되고 있는 방향으로 상기 스케일부(131)에 대하여 상대적으로 이동하여 상기 스케일부(131)의 상기 스케일을 검출하는 센서부(132)를 포함하며,
    상기 센서부(132)가 검출한 스케일의 판독에 근거하여, 상기 크레이들부(101)가 슬라이드한 위치를 산출하는
    피검체 이동 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 크레이들 지지부(102)는 상기 크레이들부(101)를 지지하는 이송부(121) 및 상기 크레이들부(101)가 슬라이드되는 방향으로 연장하면서 상기 이송부(121)를 지지하는 가이드 레일부(122)를 포함하고,
    상기 센서부(132)는 상기 이송부(121) 상에 장착되고,
    상기 스케일부(131)는 상기 크레이들 지지부(102) 상에 장착되어서 상기 가이드 레일부(122)가 연장되는 방향으로 연장되는
    피검체 이동 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 상기 센서부(132)를 제어하는 센서 제어부(133)와, 상기 센서부(132)와 상기 센서 제어부(133)를 연결시키는 케이블(134)과, 상기 케이블부(134)를 수용해서 그 이동 가능 범위를 규정하는 케이블 가이드부(135)를 포함하는
    피검체 이동 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 스케일부(131)는 자기 스케일로 형성된 스케일을 가지며,
    상기 센서부(132)는 상기 자기 스케일을 검출하는 자기 센서를 포함하는
    피검체 이동 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 센서부(131)는 광학 스케일로 형성된 스케일을 가지며,
    상기 센서부(132)는 상기 광학 스케일을 검출하는 광학 센서를 포함하는
    피검체 이동 장치.
  6. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 센서부(132)는 상기 스케일부(131)에 대하여 비접촉 상태가 되도록, 상기 스케일부(131)와의 사이에 일정 간격을 두고 이격되어 있는
    피검체 이동 장치.
  7. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 센서부(132)는 상기 스케일부(131)과 접촉 상태로 배치되는
    피검체 이동 장치.
  8. 피검체를 촬영 공간(29) 내에서 촬영하는 촬영 장치(1)에 있어서,
    상기 피검체가 탑재되는 크레이들부(101)와,
    상기 크레이들부(101)가 상기 촬영 공간(29)으로 슬라이드하도록 상기 크레이들부(101)를 지지하는 크레이들 지지부(102)와,
    상기 크레이들부(101)가 슬라이드한 위치를 검지하는 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)과,
    상기 크레이들부(101)를 슬라이드시켜서 상기 촬영 공간(29)으로 이동된 피검체를 주사하여 로우(raw) 데이터를 취득하는 주사부(2)와,
    상기 주사부(2)가 취득하는 로우 데이터에 따라서, 상기 피검체의 화상을 생성하는 화상 생성부(51)를 포함하되,
    상기 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은
    상기 크레이들부(101)의 위치 검출에 사용되는 스케일이 그 위에 형성되어 있으며 상기 크레이들부(101)가 슬라이드될 수 있는 슬라이드 범위를 커버하도록 연장하고 있는 스케일부(131)와,
    상기 크레이들부(101)가 슬라이드함에 따라서 상기 스케일부(131)가 연장하고 있는 방향으로 상기 스케일부(131)에 대하여 상대적으로 이동하여 상기 스케일부(131)의 상기 스케일을 검출하는 센서부(132)를 포함하며,
    상기 센서부(132)가 검출한 상기 스케일의 판독에 근거하여, 상기 크레이들부(101)가 슬라이드된 위치를 산출하는
    촬영 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 크레이들 지지부(102)는 상기 크레이들부(101)를 지지하는 이송부(121) 및 상기 크레이들부(101)가 슬라이드되는 방향으로 연장하면서 상기 이송부(121)를 지지하는 가이드 레일부(122)를 포함하고,
    상기 센서부(132)는 상기 이송부(121) 상에 장착되고,
    상기 스케일부(131)는 상기 크레이들 지지부(102) 상에 장착되어서 상기 가이드 레일부(122)가 연장되는 방향으로 연장되는
    촬영 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 크레이들 위치 검지 매커니즘(103)은 상기 센서부(132)를 제어하는 센서 제어부(133)와, 상기 센서부(132)와 상기 센서 제어부(133)를 연결시키는 케이블(134)과, 상기 케이블부(134)를 수용해서 그 이동 가능 범위를 규정하는 케이블 가이드부(135)를 포함하는
    촬영 장치.
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