JP2006068338A - 放射線撮影装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】クロストークによる断層画像のコントラストの低下やアーチファクトの発生を防止し、断層画像の画像品質を向上する。
【解決手段】検出器アレイ23の第1検出素子23iによる投影データSiと第2検出素子23jによる投影データSjとにおいて相違する投影データ相違率Rijをクロストーク補正部41が算出する。その後、クロストーク補正部41は、クロストーク率記憶部51が記憶する第1クロストーク率Cijおよび第2クロストーク率Cjiと、算出した投影データ相違率Rijとを用いて、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDiを算出する。
【選択図】図1

Description

本発明は、放射線撮影装置に関する。
放射線撮影装置として、放射線であるX線を用いて被検体の断層面の画像を生成するX線CT(Computed Tomography)装置が知られている。X線CT装置は、人体や物体などを被検体とし、医療用途や産業用途などの広範な用途で利用されている。
X線CT装置は、X線管が被検体の周囲を回転して、被検体の周囲から複数のビュー方向に沿ってX線を照射する。そして、X線管から照射され被検体を透過するX線を、検出器アレイがビュー方向ごとに検出して投影データを得る。そして、その投影データに基づいて、被検体の断層面の画像を再構成して生成する。
X線CT装置は、被検体の撮影部位や撮影する目的が多様化してきており、解像度などの画像品質の向上や撮影の高速化が要求されている。このような要求に応えるために、X線CT装置は、複数の検出素子がマトリクス状に配列された検出器アレイを用いて、被検体を走査する間に複数の断層面の画像を得るように構成されている。
複数の検出素子がマトリクス状に配列された検出器アレイにおいては、複数の検出素子が互いに近接して配置されているため、所定の検出素子が得る投影データの一部が、その所定の検出素子に近接している他の検出素子の投影データに含まれてしまう現象が発生する場合がある。この現象は、クロストーク(cross talk)と呼ばれる。たとえば、検出器アレイが固体検出器の場合、複数の検出素子の間でのX線の散乱や、検出素子のフォトダイオード間で発生する電荷のリークや、検出素子のシンチレータにより生成される光が他の検出素子のダイオードへのリークすることによって、クロストークが発生する。
このため、X線CT装置は、クロストーク成分を含む投影データに基づいて断層像を再構成して生成することになり、画像のコントラストの低下やアーチファクト(artifact)が発生し、画像品質が劣化する場合があった。
このようなクロストークによって画像品質が劣化することを防止するために、さまざまな方法が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
特開平2−13436号公報
しかしながら、従来においては、所定の検出素子による投影データは、その所定の検出素子に近接する他の検出素子から与えられるクロストーク成分のみを補正しており、他の検出素子へ与えるクロストーク成分については補正していない。このように、近接する他の検出素子へのクロストーク成分が補正されないため、再構成後の被検体の画像においては、クロストークによる画像のコントラストの低下やアーチファクトの発生する場合があり、画像品質を向上することが困難であった。
したがって、本発明の目的は、クロストークによる画像のコントラストの低下やアーチファクトの発生を防止し、画像品質を向上可能な放射線撮影装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の放射線撮影装置は、被検体に放射線を照射する照射部と、前記照射部から照射され前記被検体を透過する前記放射線を検出して投影データを得る検出素子がマトリクス状に複数配置されている検出部と、前記検出部における複数の前記検出素子のそれぞれが得る前記投影データから前記複数の検出素子の間におけるクロストーク成分を除去するように補正するクロストーク補正部と、前記クロストーク補正部により補正された前記投影データに基づいて、前記被検体の断層面の画像を生成する画像生成部とを有する放射線撮影装置であって、前記複数の検出素子における第1検出素子が前記第1検出素子と異なる第2検出素子に与えるクロストーク成分の割合である第1クロストーク率と、前記第1検出素子が前記第2検出素子によって与えられるクロストーク成分の割合である第2クロストーク率とを、前記複数の検出素子ごとに記憶するクロストーク率記憶部を含み、前記クロストーク補正部は、前記第1検出素子による投影データから前記第2検出素子による投影データを差し引いた差を前記第1検出素子による投影データで割り算をすることによって投影データ相違率を算出した後に、前記第1検出素子による投影データと100との積を、前記第1クロストーク率と前記投影データ相違率との積と100との和から、前記第2クロストーク率と前記投影データ相違率との積を差し引いた差分値で割ることによって、前記第1検出素子における補正後の投影データを算出する。
したがって、本発明によれば、クロストークによる画像のコントラストの低下やアーチファクトの発生を防止し、画像品質を向上可能な放射線撮影装置を提供することができる。
以下より、本発明にかかる実施形態について説明する。
まず、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置の構成について説明する。
図1は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのX線CT装置1の全体構成を示すブロック図であり、図2は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのX線CT装置1の要部を示す構成図である。
図1に示すように、本実施形態のX線CT装置1は、走査ガントリ2と操作コンソール3と撮影テーブル4とを有している。
走査ガントリ2は、X線管20とX線管移動部21とコリメータ22と検出器アレイ23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26と回転部27と回転コントローラ28とを有する。走査ガントリ2は、撮影テーブル4により撮影空間29に移動された被検体6を走査する。
X線管20は、たとえば、回転陽極型であり、X線コントローラ25からの制御信号CTL251に基づいて、所定強度のX線5を、コリメータ22を介して被検体6に照射する。また、X線管20は、撮影空間29を挟むように検出器アレイ23と対向しており、撮影空間29の被検体6の周囲をチャネル方向iに沿って回転する。そして、X線管20は、被検体6の周囲から被検体6への複数のビュー方向に沿ってX線5を照射する。
X線管移動部21は、X線コントローラ25からの制御信号CTL252に基づいて、被検体6の周囲をX線管20が回転する軌道により囲われる面に対して略垂直な被検体6の体軸方向zにX線管20の放射中心を移動する。
コリメータ22は、X線管20と検出器アレイ23との間に配置されている。コリメータ22は、コリメータコントローラ26からの制御信号CTL261に基づいて、X線管20から放射されたX線5をチャネル方向iと体軸方向zとのそれぞれにおいて遮る。そして、コリメータ22は、チャネル方向iと体軸方向zとに所定の幅を有するコーン状のX線5に成形するように、X線5の照射範囲を調整する。ここで、X線5の照射範囲は、制御信号CTL261に基づいてコリメータ22のアパーチャ221の開度を調節することにより設定される。コリメータ22のアパーチャ221の開度調節は、たとえば、チャネル方向iと体軸方向zとにそれぞれ設けられた2枚の板を独立して移動させることにより行われる。
検出器アレイ23は、X線管20から照射され被検体6を透過するX線5を検出して投影データを得る。検出器アレイ23は、複数のX線検出モジュール23A,23B,23C,…23Iを有しており、複数のX線検出モジュール23A,23B,23C,…,23Iが、チャネル方向iに隣接して並列し配置されている。
図3は、本実施形態における検出器アレイ23を構成する複数のX線検出モジュール23A,23B,23C,…23Iのうち、一つのX線検出モジュール23Aを示す構成図である。
図3に示すように、X線検出モジュール23Aは、X線管20から照射され被検体6を透過するX線5を検出して投影データを得る検出素子23aを複数備える。X線検出モジュール23Aにおいては、複数の検出素子23aが、被検体6の周囲をX線管20が回転する軌道に沿ったチャネル方向iと、被検体6の周囲をX線管20が回転する軌道により囲われる面に対して略垂直な被検体6の体軸方向zとにマトリクス状に配置されており、検出素子による投影データをビュー方向ごとに得る。2次元的にマトリクス状に配列された複数の検出素子23aは、全体として、円筒凹面状に湾曲したX線入射面を形成している。
検出素子23aは、たとえば、検出したX線5を光に変換するシンチレータ(図示なし)と、シンチレータが変換した光を電荷に変換するフォトダイオード(図示なし)とを有する固体検出器を用いて構成されている。なお、検出素子23aは、これに限定されるものではなく、たとえば、カドミウム・テルル(CdTe)等を利用した半導体検出素子、あるいはキセノン(Xe)ガスを利用した電離箱型の検出素子23aであって良い。
図4,図5は、X線管20とコリメータ22と検出器アレイ23の配置関係を示す図である。図4において、図4(a)は体軸方向zを視線とした状態を示す図であり、図4(b)はチャネル方向iを視線とした状態を示す図である。また、図5は、図4(b)と同様にチャネル方向iを視線とした状態において、被検体6を撮影する様子を示す図である。
図4(a),図4(b)に示すように、X線管20から放射されたX線5は、コリメータ22によって所定のコーン角を有するコーン状のX線5となるように成形され、検出器アレイ23の所定領域に照射されるようになっている。そして、図5に示すように、被検体6を撮影する場合においては、撮影テーブル4に載置された被検体6が撮影空間29に搬入され、被検体6の体軸方向zを軸としてX線管20が被検体6の周囲を回転し、それぞれのビュー方向ごとに沿って、被検体6にX線5を照射する。そして、X線管20から照射されたX線5は、コリメータ22を介して被検体6を透過して検出器アレイ23に検出される。そして、検出器アレイ23は、被検体6を透過して検出されるX線5に基づいて投影データを出力する。
データ収集部24は、検出器アレイ23の個々の検出素子23aによる投影データを収集し、操作コンソール3に出力する。図2に示すように、データ収集部24は、たとえば、選択・加算切換回路(MUX,ADD)241とアナログ−デジタル変換器(ADC)242とを有する。選択・加算切換回路241は、検出器アレイ23の検出素子23aによる投影データを、操作コンソール3の中央処理装置30からの制御信号CTL303に応じて選択し、あるいは組み合わせを変えて足し合わせ、その結果をアナログ−デジタル変換器242に出力する。アナログ−デジタル変換器242は、選択・加算切換回路241において選択あるいは任意の組み合わせで足し合わされた投影データをアナログ信号からデジタル信号に変換して、操作コンソール3の中央処理装置30に出力する。
X線コントローラ25は、操作コンソール3の中央処理装置30からの制御信号CTL301に応じて、X線管20に対し制御信号CTL251を出力して、X線5の照射を制御する。また、X線コントローラ25は、操作コンソール3の中央処理装置30による制御信号CTL301に応じて、X線管移動部21に対し制御信号CTL252を出力して、X線管20の放射中心を体軸方向zに移動させる。
コリメータコントローラ26は、操作コンソール3の中央処理装置30による制御信号CTL302に応じて、コリメータ22に対して制御信号CTL261を出力しコリメータ22のアパーチャ221の開度を調整して、X線管20から放射されたX線5を成形させて検出器アレイ23の所望の領域に照射させる。
回転部27は、回転コントローラ28による制御信号CTL28に基づいて所定の方向に回転する。回転部27には、X線管20とX線管移動部21とコリメータ22と検出器アレイ23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26とが搭載されている。回転部27は、回転することによって、各部を撮影空間29の被検体6の周囲で旋回させる。
回転コントローラ28は、操作コンソール3の中央処理装置30による制御信号CTL304に応じて、回転部27に対し制御信号CTL28を出力して、所定の方向に所望の回転数だけ回転させる。
操作コンソール3は、中央処理装置30と入力装置31と表示装置32と記憶装置33とを主構成要素として有している。
中央処理装置30は、たとえば、マイクロコンピュータ等により構成され、各種の機能に応じたプログラムを有する。中央処理装置30は、オペレータにより入力されたスキャン条件を入力装置31から受け、そのスキャン条件に基づいて、各部を制御してスキャンを実行させる。具体的には、中央処理装置30は、撮影テーブル4に制御信号CTL30bを出力し、撮影テーブル4に被検体6を撮影空間29の内部と外部との間で移動させる。また、中央処理装置30は、回転コントローラ28に制御信号CTL304を出力して、回転部27が回転するように制御する。また、中央処理装置30は、X線コントローラ25に制御信号CTL301を出力し、X線管20がX線5を照射するように制御する。また、中央処理装置30は、コリメータコントローラ26に制御信号CTL302を出力し、X線管20からのX線5をコリメータ22が成形するように制御する。また、中央処理装置30は、データ収集部24に制御信号CTL303を出力して、検出器アレイ23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。
また、本実施形態の中央処理装置30は、図1に示すように、クロストーク率補正部41と画像生成部43とを有する。
クロストーク補正部41は、中央処理装置30にプログラムとして構成されている。クロストーク補正部41は、検出器アレイ23における複数の検出素子23aのそれぞれが得る投影データから、複数の検出素子の間におけるクロストーク成分を除去するように補正する。ここでは、記憶装置33のクロストーク率記憶部51は、検出器アレイ23の複数の検出素子23aにおける第1検出素子23iが、その第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jに与えるクロストーク成分の割合を百分率で示す第1クロストーク率Cijと、第1検出素子23iが第2検出素子によって与えられるクロストーク成分の割合を百分率で示す第2クロストーク率Cjiとを、複数の検出素子23aごとに記憶しており、クロストーク補正部41は、クロストーク率記憶部51が記憶している第1クロストーク率Cijと、第2クロストーク率Cjiとに基づいて、各検出素子23aによる投影データからクロストーク成分を除去するように補正する。
本実施形態においては、クロストーク補正部41は、検出器アレイ23を構成する複数の検出素子23aのうち、第1検出素子23iによる投影データSと、第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jによる投影データSとにおいて相違する投影データ相違率Rijを、以下の数式(1)に基づいて算出する。つまり、第1検出素子23iによる投影データSから第2検出素子23jによる投影データSを差し引いた差を、第1検出素子23iによる投影データSで割り算をすることによって、投影データ相違率Rijを算出する。
ij=(S−S)/S ・・・(1)
その後、クロストーク補正部41は、クロストーク率記憶部51が記憶する第1クロストーク率Cijと第2クロストーク率Cjiとを用いて、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDを以下の数式(2)に基づいて算出する。つまり、第1検出素子23iによる投影データSと100との積を、第1クロストーク率Cijと投影データ相違率Rijとの積と100との和から、第2クロストーク率Cjiと投影データ相違率Rijとの積を差し引いた差分値で割る割り算を実施することによって、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDを算出する。
=100・S/(100+Cij・Rij−Cji・Rij) ・・・(2)
画像生成部43は、中央処理装置30にプログラムとして構成されている。画像生成部43は、複数のビュー方向からの投影データに基づいて画像再構成を行い、複数の断層像の画像データを生成する。本実施形態においては、クロストーク補正部41により補正された投影データに基づいて、被検体6の断層面の画像を生成する。具体的には、画像生成部43は、スキャンによる複数のビュー方向からの投影データに対して、感度補正、ビームハードニング補正などの前処理を実施する。その後、画像生成部43は、フィルタ処理逆投影法によって画像再構成を行い、被検体6の断層面の画像を生成する。そして、画像生成部43によって生成された画像データは、表示装置32に出力されて表示される。
入力装置31は、たとえば、キーボードやマウスなどの入力デバイスにより構成されている。入力装置31は、オペレータの入力操作に基づいて、スキャン条件や被検体6の情報などの各種情報を中央処理装置30に入力する。
表示装置32は、たとえば、CRTで構成されている。表示装置32は、中央処理装置30からの指令に基づき、画像生成部43が再構成した被検体6の断層面の画像を表示する。
記憶装置33は、メモリにより構成されており、画像生成部43が再構成する被検体6の断層面の画像などの各種のデータや、プログラムなどを記憶する。記憶装置33は、その記憶されたデータが必要に応じて中央処理装置30にアクセスされる。
また、記憶装置33は、図1に示すように、クロストーク率記憶部51を有する。クロストーク記憶部51は、検出器アレイ23の複数の検出素子23aにおける第1検出素子23iが、その第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jに与えるクロストーク成分の割合である第1クロストーク率Cijと、第1検出素子23iが第2検出素子23jによって与えられるクロストーク成分の割合である第2クロストーク率Cjiとを、複数の検出素子23aごとに記憶する。ここでは、クロストーク記憶部51は、第1検出素子23iと、その第1検出素子23iに対して体軸方向zにて異なる位置に配置される第2検出素子23jとの間においての第1クロストーク率Cijと、第2クロストーク率Cjiとを記憶している。
撮影テーブル4は、載置面に被検体6が載置され、載置面の被検体6を支持する。そして、撮影テーブル4は、載置面で支持している被検体6を撮影空間29に移動する。そして、撮影テーブル4は、スキャン時においては、撮影空間29の外部から内部へ体軸方向zに沿ってスライドさせて被検体6を移動する。このように、撮影テーブル4は、スキャン時にX線管20が被検体6を照射する位置を体軸方向zで変える。
なお、上記の本実施形態におけるX線CT装置1は、本発明の放射線撮影装置に相当する。また、本実施形態のX線管20は、本発明の照射部に相当する。また、本実施形態の検出器アレイ23は、本発明の検出部に相当する。また、本実施形態の検出素子23aは、本発明の検出素子に相当する。また、本実施形態のクロストーク補正部41は、本発明のクロストーク補正部に相当する。また、本実施形態の画像生成部43は、本発明の画像生成部に相当する。また、本実施形態のクロストーク率記憶部51は、本発明のクロストーク率記憶部に相当する。
つぎに、上記の本実施形態のX線CT装置1において、クロストーク率記憶部51が記憶する第1クロストーク率Cijと第2クロストーク率Cjiとを含むクロストーク率を測定する際の動作について説明する。
図6,図7は、本実施形態において、クロストーク率を測定する動作を説明するための図である。
ここで、図6は、クロストーク率を測定する際の手順を示すフロー図である。また、図7は、クロストーク率を測定する際に用いる遮蔽プレートと、検出器アレイとの配置関係を示す図である。
クロストーク率を測定する際においては、まず、図6に示すように、検出器アレイ23へ照射されるX線5の範囲を規定するために、遮蔽プレートを設置する(ST10)。
ここでは、図7に示すように、検出器アレイ23の複数の検出素子23aのうちの1つの検出素子23aである第1検出素子23iのみに、X線5が照射されるように、X線管20と検出器アレイ23との間に遮蔽プレート61を設置する。具体的には、体軸方向zにおける所定の位置Zの検出素子23aを第1検出素子23iとし、その第1検出素子23iのみにX線5が照射されるように、遮蔽プレート61を配置する。
つぎに、図6に示すように、第1検出素子23iが検出したX線5による検出データと、第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jが第1検出素子23iとクロストークすることによって検出するクロストーク成分のデータとを取得する(ST11)。
ここでは、図7に示すように、体軸方向zにおける所定の位置Zの検出素子23aである第1検出素子23iのみにX線管20からX線5を照射する。そして、その第1検出素子23iが検出したX線5による検出データQを取得すると共に、第1検出素子23iに対して体軸方向zにおいて近接する位置Zi+1,Zi−1に配置された2つの第2検出素子23jのそれぞれが、その第1検出素子23iとクロストークすることによって検出するクロストーク成分K ,K をそれぞれ取得する。
つぎに、図6に示すように、第1検出素子23iが、当該第1検出素子23i自身と異なる第2検出素子23jに与えるクロストーク成分の割合を百分率で示すクロストーク率C ,C を算出する(ST12)。
具体的には、以下に示す数式(3)に示すように、所定の位置Zの第1検出素子23iが、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する第2検出素子23jにクロストークする割合であるクロストーク率C を算出する。詳細には、第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する第2検出素子23jにより得られたクロストーク量K を、第1検出素子23iが第2検出素子23jとクロストークしない場合の検出データで割って百分率を算出することにより、クロストーク率C を得る。
=100×K ÷(Q+K +K ) ・・・(3)
同様にして、以下に示す数式(4)に示すように、所定の位置Zの第1検出素子23iが、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する第2検出素子23jにクロストークする割合であるクロストーク率C を算出する。第1検出素子23iに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する第2検出素子23jにより得られたクロストーク量Kiを、第1検出素子23iが第2検出素子23jとクロストークしない場合の検出データで割って百分率を算出することにより、クロストーク率K を得る。
=100×K ÷(Q+K +K ) ・・・(4)
そして、算出したクロストーク率C ,C を記憶装置33に記憶させる。
その後、上記のようにして、所定の位置Z以外に配置された、他の検出素子23aのそれぞれを第1検出素子23iとし、それぞれについてクロストーク率を算出する。
たとえば、前述の所定位置Zの検出素子23aに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する検出素子23aを第1検出素子23iとした場合においては、その位置Zi+1の第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の所定位置Zにある検出素子23aと、他方側の位置Zi+2にある検出素子23aとをそれぞれ第2検出素子23jとし、以下の数式(5)と数式(6)とに示すようにして、第1クロストーク率Ci+1 ,Ci+1 をそれぞれ得る。なお、ここでは、前述の所定位置Zの検出素子23aに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する検出素子23aである第1検出素子23iのみにX線5を照射し、その第1検出素子23iが検出したX線5による検出データQi+1を取得すると共に、その第1検出素子23iに対して体軸方向zにおいて近接する位置Zi+2,Zとに配置された第2検出素子23jが、その第1検出素子23iとクロストークすることによって検出するクロストーク成分Ki+1 ,Ki+1 とを取得する。
i+1 =100×Ki+1 ÷(Qi+1+Ki+1 +Ki+1 ) ・・・(5)
i+1 =100×Ki+1 ÷(Qi+1+Ki+1 +Ki+1 ) ・・・(6)
また、たとえば、前述の所定位置Zの検出素子23aに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する検出素子23aを第1検出素子23iとした場合においては、その位置Zi−1の第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の所定位置Zにある検出素子23aと、他方側の位置Zi−2にある検出素子23aとを第2検出素子23jとし、以下の数式(7)と数式(8)とに示すようにして、第1クロストーク率Ci−1 ,Ci−1 を得る。なお、ここでは、前述の所定位置Zの検出素子23aに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する検出素子23aである第1検出素子23iのみにX線5を照射し、その第1検出素子23iが検出したX線5による検出データQi−1を取得すると共に、その第1検出素子23iに対して体軸方向zにおいて近接する位置Zi−2,Zとに配置された第2検出素子23jが、その第1検出素子23iとクロストークすることによって検出するクロストーク成分Ki−1 ,Ki−1 とを取得する。
i−1 =100×Ki−1 ÷(Qi−1+Ki−1 +Ki−1 ) ・・・(7)
i−1 =100×Ki−1 ÷(Qi−1+Ki−1 +Ki−1 ) ・・・(8)
以上のようにして、検出器アレイ23における複数の検出素子23aのそれぞれについてのクロストーク率を算出し、記憶装置33に複数の検出素子23aごとに記憶させる。ここでは、記憶装置33は、複数の検出素子23aにおける第1検出素子23iが、第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jにクロストークして検出データを与える割合であるクロストーク率を第1クロストーク率Cijとして記憶する。そして、その第1検出素子23iがその第2検出素子23jとクロストークして検出データを受ける割合であるクロストーク率を第2クロストーク率Cjiとして記憶する。
たとえば、所定の位置Zの第1検出素子23iが、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する第2検出素子23jにクロストークする割合であるクロストーク率C を第1クロストーク率Cijとして記憶装置33に記憶させる。そして、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの一方側の位置Zi+1に近接する第2検出素子23jが、所定の位置Zの第1検出素子23iにクロストークする割合であるクロストーク率Ci+1 を第2クロストーク率Cjiとして記憶装置33に記憶させる。
同様に、所定の位置Zの第1検出素子23iが、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する第2検出素子23jにクロストークする割合であるクロストーク率C を第1クロストーク率Cijとして記憶装置33に記憶させる。そして、その第1検出素子23iに対して体軸方向zの他方側の位置Zi−1に近接する第2検出素子23jが、所定の位置Zの第1検出素子23iにクロストークする割合であるクロストーク率Ci−1 を第2クロストーク率Cjiとして記憶装置33に記憶させる。
つぎに、上記の本実施形態のX線CT装置1を用いて被検体6を撮影して、被検体6の断層面の画像を得る動作について説明する。
図8と図9とは、被検体6の断層面の画像を得る動作を説明するための図である。
ここで、図8は、被検体6の断層面の画像を得る動作を示すフロー図である。一方、図9は、被検体6の投影データを得る様子を示す図である。
被検体6の断層面の画像を得る場合においては、まず、図8に示すように、被検体6の投影データの取得を実施する(ST21)。
ここでは、投影データの取得に先がけて、撮影テーブル4に被検体6を載置し、そして、入力装置31にスキャン条件を入力する。そして、入力装置31に入力されたスキャン条件に基づいて、中央処理装置30は、撮影テーブル4に被検体6を走査ガントリ2の撮影空間29へ搬入させる。そして、被検体6へのX線5の放射をX線管20に実行させる。ここでは、X線管20が被検体6の周囲からX線5を被検体6に照射し、被検体6を透過するX線5を検出器アレイ23のそれぞれの検出素子23aにより検出し、投影データをビュー方向ごとに取得する。
具体的には、図9に示すように、検出器アレイ23のそれぞれの検出素子23aが、被検体6を透過したX線5をそれぞれ検出する。たとえば、体軸方向zにおける所定の位置Zの検出素子23aである第1検出素子23iについては、X線管20からのX線5を検出して、投影データSiを出力する。そして、取得された投影データは、データ収集部24を介して中央処理装置30に出力される。
なお、図9に示すように、所定の位置Zの検出素子23aである第1検出素子23iは、所定の位置Zに対して体軸方向zで近接する位置Zi+1,Zi−1の第2検出素子23jとクロストークすることによって、前述の第1クロストーク率Cijであるクロストーク率C ,C と、クロストークが無い場合の投影データDiとの積により導かれるクロストーク成分のデータを第2検出素子23jへ与える。また、さらに、所定の位置Zの検出素子23aである第1検出素子23iは、所定の位置Zに対して体軸方向zで近接する位置Zi+1,Zi−1の第2検出素子23jとクロストークすることによって、それぞれの第2検出素子23jの第2クロストーク率Cjiであるクロストーク率Ci+1 ,Ci−1 と、それぞれの第2検出素子23jがクロストークしない場合の投影データDi+1,Di−1との積により導かれるクロストーク分のデータを第2検出素子23jからデータを受ける。つまり、所定の位置Zの検出素子23aである第1検出素子23iによる投影データSiは、以下の数式(9)のように示される。
=D−Cij・D+Cji・D=D−C ・D−C ・D+Ci+1 ・Di+1+Ci−1 ・Di−1=D(1−C −C )+Ci+1 ・Di+1+Ci−1 ・Di−1 ・・・(9)
つぎに、ビュー方向ごとに取得した投影データに対して、クロストーク補正を実施する(ST23)。
ここでは、検出器アレイ23の複数の検出素子23aにおける第1検出素子23iが、その第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jに与えるクロストーク成分の割合である第1クロストーク率Cijと、第1検出素子23iが第2検出素子によって与えられるクロストーク成分の割合である第2クロストーク率Cjiとに基づいて、クロストーク補正部41は、投影データからクロストーク成分を除去するようにして、各検出素子23aによる投影データを補正する。
本実施形態においては、前述したように、まず、クロストーク補正部41が、検出器アレイ23を構成する複数の検出素子23aのうち、第1検出素子23iによる投影データSiと、第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jによる投影データSjとにおいて相違する投影データ相違率Rijを、以下の数式(1)に基づいて算出する。つまり、クロストーク補正部41は、第1検出素子23iによる投影データSiから第2検出素子23jによる投影データSjを差し引いた差を、第1検出素子23iによる投影データSiで割り算をすることによって、投影データ相違率Rijを算出する。
ij=(S−S)/S ・・・(1)
その後、クロストーク補正部41は、クロストーク率記憶部51が記憶する第1クロストーク率Cijと第2クロストーク率Cjiとを用いて、第1検出素子23iにおける補正後の投影データD1を以下の数式(2)に基づいて算出する。つまり、第1検出素子23iによる投影データSiと100との積を、第1クロストーク率Cijと投影データ相違率Rijとの積と100との和から、第2クロストーク率Cjiと投影データ相違率Rijとの積を差し引いた差分値で割る割り算を実施することによって、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDiを算出する。このようにして、それぞれの検出素子23aがビュー方向ごとに出力する投影データをそれぞれ補正する。なお、数式(2)においては、第1検出素子23iと第2検出素子23jとのそれぞれにてクロストークが無い場合の投影データD,Dを用いて、投影データ相違率RijがRij=(D−D)/Dのように定義されることによって導かれる。しかし、投影データ相違率Rijが数式(1)のように、クロストークを含む投影データS,Sで近似されるため、これを数式(2)に用いている。
=100・S/(100+Cij・Rij−Cji・Rij) ・・・(2)
具体的には、図9に示すように、検出器アレイ23における体軸方向zの端部の位置Zの検出素子23aを第1検出素子23iとして、その投影データの補正を実施する場合、以下の数式(10)と数式(11)とに基づいて、その第1検出素子23iに近接する位置Zの第2検出素子23jとの間におけるクロストーク成分を含まないように、補正後の投影データD1を算出する。
12=(S−S)/S ・・・(10)
=100・S/(100+C ・R12−C ・R12) ・・・(11)
また、同様に、検出器アレイ23における体軸方向zの所定の位置Zの検出素子23aを第1検出素子23iとして、その投影データの補正を実施する場合、以下の数式(12)と数式(13)と数式(14)とに基づいて、その第1検出素子23iに体軸方向zにおいて近接する2つの位置Zi+1,Zi−1の第2検出素子23jとの間におけるクロストーク成分を含まないように、補正後の投影データDを算出する。
i,i+1=(S−Si+1)/S ・・・(12)
i,i−1=(S−Si−1)/S ・・・(13)
=100・S/(100+C ・Ri,i+1−Ci+1 ・Ri,i+1+C ・Ri,i−1−Ci−1 ・Ri,i−1)=100・S/{100+(C −Ci+1 )・Ri,i+1+(C −Ci−1 )・Ri,i−1} ・・・(14)
つぎに、補正後の投影データに対して、中央処理装置30の画像生成部43が画像再構成を行い、被検体6の断層面の画像を生成する(ST25)。
ここでは、画像生成部43が、補正後の投影データに対して、たとえば、感度補正やビームハードニング補正などの各データ処理を実施する。その後、たとえば、フィルタード・バックプロジェクション法により、被検体6の断層面の画像を再構成して生成する。そして、その後、たとえば、レンダリングなどの処理を被検体6の画像に施す。
つぎに画像生成部43が生成した被検体6の画像のデータを中央処理装置30が表示装置32に出力し、表示装置32が被検体6の画像を表示する(ST27)。
以上のように、本実施形態においては、検出アレイ23における複数の検出素子23aのそれぞれが得る投影データから、複数の検出素子23aの間におけるクロストーク成分を除去するようにクロストーク補正部41が補正する。そして、そのクロストーク補正部41により補正された投影データに基づいて、被検体6の断層面の画像を画像生成部43が生成する。ここで、本実施形態においては、複数の検出素子23aにおける第1検出素子23iが、その第1検出素子23iと異なる第2検出素子23jに与えるクロストーク成分の割合である第1クロストーク率Cijと、その第1検出素子23iが第2検出素子23jによって与えられるクロストーク成分の割合である第2クロストーク率Cjiとを、複数の検出素子23aごとにクロストーク率記憶部51が記憶している。そして、クロストーク補正部41は、第1検出素子23iによる投影データSから第2検出素子23jによる投影データSを差し引いた差を、第1検出素子23iによる投影データSで割り算をすることによって、投影データ相違率Rijを算出する。その後、クロストーク補正部41は、第1検出素子23iによる投影データSと100との積を、第1クロストーク率Cijと投影データ相違率Rijとの積と100との和から、第2クロストーク率Cjiと投影データ相違率Rijとの積を差し引いた差分値で割ることによって、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDを算出する。
つまり、本実施形態においては、クロストーク補正部41は、第1検出素子23iによる投影データSiと第2検出素子23jによる投影データSjとにおいて相違する投影データ相違率Rijを算出した後に、クロストーク率記憶部が記憶する第1クロストーク率Cijおよび第2クロストーク率Cjiと、前述のようにして算出した投影データ相違率Rijとを用いて、第1検出素子23iにおける補正後の投影データDiを算出する。
このように、本実施形態は、所定の検出素子23aの投影データが、所定の検出素子23aに近接する他の検出素子23aから与えられるクロストーク成分と、他の検出素子23aへ与えるクロストーク成分との両者を補正している。このため、本実施形態は、再構成後の被検体6の画像において、クロストークによる画像のコントラストの低下やアーチファクトの発生を防止し、画像品質を向上することができる。また、本実施形態は、数式(1)のように投影データ相違率Rijを近似しているために、複雑な計算を必要としないで投影データを補正することができるため、容易に画像品質を向上することができる。
なお、本発明の実施に際しては、上記した実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することができる。
たとえば、上記の実施形態においては、照射部が放射線としてX線を照射する例について説明しているが、これに限定されない。たとえば、たとえば、ガンマ線等の放射線を照射しても良い。
また、たとえば、上記の実施形態においては、体軸方向におけるクロストーク成分について補正する場合について示しているが、これに限定されない。たとえば、チャネル方向におけるクロストーク成分について補正する場合に適用してもよい。
図1は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置としてのX線CT装置の全体構成を示すブロック図である。 図2は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置としてのX線CT装置の要部を示す構成図である。 図3は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置としてのX線CT装置におけるX線検出モジュールの構成図である。 図4は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置としてのX線CT装置において、X線管とコリメータと検出器アレイの相互関係を示す図であり、図4(a)は体軸方向を視線とした側から見た状態を示す図であり、図4(b)はチャネル方向を視線として側から見た状態を示す図である。 図5は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置としてのX線CT装置において、X線管とコリメータと検出器アレイの相互関係を示す図であり、チャネル方向を視線として側から見た状態にて被検体を撮影する状態を示している。 図6は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置において、クロストーク率を測定する際の手順を示すフロー図である。 図7は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置において、クロストーク率を測定する際に用いる遮蔽プレートと、検出器アレイとの配置関係を示す図である。 図8は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置において、被検体の断層面の画像を得る動作を示すフロー図である。 図9は、本発明の実施形態に係る放射線撮影装置において、被検体の投影データを得る様子を示す図である。
符号の説明
1…X線CT装置(放射線撮影装置)、
2…走査ガントリ、
3…操作コンソール、
4…撮影テーブル、
20…X線管照射部、
21…X線管移動部、
22…コリメータ、
23…検出器アレイ(検出部)、
23a…検出素子(検出素子)、
23i…第1検出素子(第1検出素子)、
23j…第2検出素子(第2検出素子)、
24…データ収集部、
241…選択・加算切換回路、
242…アナログ−デジタル変換器、
25…X線コントローラ、
26…コリメータコントローラ、
27…回転部、
28…回転コントローラ、
29…撮影空間、
30…中央処理装置、
31…入力装置、
32…表示装置、
33…記憶装置、
41…クロストーク補正部(クロストーク補正部)、
43…画像生成部(画像生成部)
51…クロストーク率記憶部(クロストーク率記憶部)

Claims (1)

  1. 被検体に放射線を照射する照射部と、
    前記照射部から照射され前記被検体を透過する前記放射線を検出して投影データを得る検出素子がマトリクス状に複数配置されている検出部と、
    前記検出部における複数の前記検出素子のそれぞれが得る前記投影データから前記複数の検出素子の間におけるクロストーク成分を除去するように補正するクロストーク補正部と、
    前記クロストーク補正部により補正された前記投影データに基づいて、前記被検体の断層面の画像を生成する画像生成部と
    を有する放射線撮影装置であって、
    前記複数の検出素子における第1検出素子が前記第1検出素子と異なる第2検出素子に与えるクロストーク成分の割合である第1クロストーク率と、前記第1検出素子が前記第2検出素子によって与えられるクロストーク成分の割合である第2クロストーク率とを、前記複数の検出素子ごとに記憶するクロストーク率記憶部
    を含み、
    前記クロストーク補正部は、前記第1検出素子による投影データから前記第2検出素子による投影データを差し引いた差を前記第1検出素子による投影データで割り算をすることによって投影データ相違率を算出した後に、前記第1検出素子による投影データと100との積を、前記第1クロストーク率と前記投影データ相違率との積と100との和から、前記第2クロストーク率と前記投影データ相違率との積を差し引いた差分値で割ることによって、前記第1検出素子における補正後の投影データを算出する
    放射線撮影装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012083277A (ja) * 2010-10-14 2012-04-26 Hitachi Ltd X線検出器及びそれを用いたx線ct装置並びにx線ct撮像方法
JP2015000102A (ja) * 2013-06-13 2015-01-05 株式会社東芝 X線コンピュータ断層撮影装置
CN104665859A (zh) * 2013-11-29 2015-06-03 通用电气公司 成像系统

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