KR20040098684A - 하드디스크 드라이브의 테스트 장치 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 147
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 71
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 39
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 29
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 5
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000013515 script Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 101000746134 Homo sapiens DNA endonuclease RBBP8 Proteins 0.000 description 1
- 101000969031 Homo sapiens Nuclear protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 102100021133 Nuclear protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 238000013142 basic testing Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B2005/0002—Special dispositions or recording techniques
- G11B2005/0005—Arrangements, methods or circuits
- G11B2005/001—Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
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Abstract
본 발명은 하드디스크 드라이브의 제조 공정 중의 테스트 공정에서 사용되는 하드디스크 드라이브 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 번인 테스트 공정(burn in test process)에서 한 대의 호스트 컴퓨터를 사용하여 다수개의 하드디스크 드라이브들을 테스트함으로써 테스트 효율을 극대화할 수 있는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트 장치는 적어도 두 개의 직렬 통신 포트를 구비하며, 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행하는 컴퓨터와 연동하여 복수의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 장치에 있어서, 상기 하드디스크 드라이브들 각각에 선택적으로 동작 전원을 제공하는 파워카드; 및 상기 컴퓨터의 직렬 통신 포트들에 접속되며, 제1직렬 통신 포트를 통하여 제공되는 채널선택 명령에 응답하여 하드디스크 드라이브들 및 상기 파워카드와 상기 컴퓨터의 제2직렬 통신 포트들 사이의 직렬 통신 채널을 선택적으로 확립하는 직렬 통신 교환기를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 호스트 컴퓨터가 하드디스크 드라이브들을 직접 컨트롤하여 테스트할 수 있게 함으로써 별도의 테스트 컴퓨터가 요구되지 않아 설비 비용을 감소시킬 수 있는 효과를 가진다.
Description
본 발명은 하드디스크 드라이브의 제조 공정 중의 테스트 공정에서 사용되는 하드디스크 드라이브 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 번인 테스트 공정(burn in test process)에서 한 대의 호스트 컴퓨터를 사용하여 다수개의 하드디스크 드라이브들을 테스트함으로써 테스트 효율을 극대화할 수 있는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치에 관한 것이다.
주지하는 바와 같이 하드디스크 드라이브(HDD: Hard Disc Drive)는 기구적인 구성 요소들로 이루어진 HDA(head disc assembly)와 회로적인 구성요소들로 이루어진 PCBA(printed circuit board assembly)를 결합하여 구성된다. 이러한 하드디스크 드라이브는 회전하는 자기 디스크 위를 헤드가 미세한 간극을 유지한 채 부상 및 주행하며, 데이터를 자기적으로 기록/독출하여 대량의 데이터를 고속으로 액세스(access)할 수 있기 때문에 컴퓨터 시스템의 보조 기억 장치로서 널리 사용되고 있다.
이러한 하드디스크 드라이브는 대체적으로 기구 조립 공정, 서보 라이트 공정, 기능 테스트 공정, 번인 테스트 공정을 거쳐서 제조되며, 이후 번인 테스트 공정을 통과한 하드디스크 드라이브 세트가 정상적으로 디펙 처리가 되었는가를 확인하는 최종 테스트공정(final test process)등과 같은 후공정을 거쳐 출하된다.
하드디스크 드라이브의 제조공정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 제1 단계인 기구 조립 공정은 기구적인 구성 요소들로 이루어진 HDA를 제조하는 공정으로서, 통상 클린 룸(clean room)내에서 이루어진다.
상기 제 2 단계인 서보 라이트공정은 액추에이터(actuator)의 서보제어를 위한 서보기록패턴(servo write pattern)을 디스크 상에 기록하는 공정으로서, 통상 서보 라이터(servo writer)에 의해 수행된다.
제 3 단계인 기능 테스트 공정은 기구 조립 공정에서 만들어진 HDA와 PCBA를결합시키고 이들이 정상적으로 매칭되어 동작하는 지를 테스트한다. 이때, 약 20분∼25분간 기본 테스트를 거쳐 특정 테스트 시스템과 결합하여 수행된다.
제 4 단계인 번인 테스트 공정은 하드디스크 드라이브의 제조 공정 중에서 가장 긴 시간(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정이며, 소비자가 하드디스크 드라이브를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크 상에 존재하는 디펙 부분을 미리 찾아내며, 드라이브 사용할 때 디펙 부분을 피해 갈 수 있도록 미리 조치한다.
제 5 단계인 최종 테스트공정은 상기 번인 공정에서 통과한 하드디스크 드라이브 세트가 정상적으로 디펙 처리되었는가를 확인하기 위한 공정으로서, 특정 테스트 시스템을 이용하여 하드디스크 드라이브 세트마다의 디펙 처리 상태를 테스트한다.
최종 테스트 공정에서는 사용자 환경에 맞게 각 테스트 컴퓨터에 하드디스크 드라이브를 1:1로 접속하여 놓고, 근거리 통신망을 통해 호스트 컴퓨터와 연결되어 있는 각 테스트 컴퓨터는 테스트 프로그램에 따라 하드디스크 드라이브를 테스트하며, 그 결과를 호스트 컴퓨터로 출력한다.
호스트 컴퓨터는 각 테스트 컴퓨터로부터 입력되는 상태 데이터를 디스플레이 장치에 표시하며, 라인 상에 위치한 작업자는 모니터링된 상태 데이터를 보고 합격여부를 결정한다. 최종 테스트 공정에서 합격된 하드디스크 드라이브는 출하검사공정, 포장 및 출하공정 등을 거쳐서 하나의 완성된 제품으로 출하된다.
상기한 바와 같이 번인 테스트 공정은 하드디스크 드라이브의 제조 공정 중에서 가장 많은 시간을 소요하게 되는 것이기 때문에, 제한된 시간 및 공간에서 될수록 많은 하드디스크 드라이브를 신뢰성 있게 테스트할 수 있는 테스트 장치가 요구된다. 이러한 테스트 장치는 대한민국 특허공개 1997-76738호(1997.12.12 공개), 대한민국 특허공개 1998-35445호(1998. 8. 5 공개), 대한민국 특허공개 1999-60619(1999. 7. 26 공개), 대한민국 특허공개 1999-65516(1999. 8. 5 공개), US 6,434,498(2002. 8. 13 공개), US 6,208,477(2001. 3. 27 공개), US 6,434,499(2002. 8. 13 공개) 등에 개시된다.
도 1은 종래의 하드디스크 드라이브의 테스트 장치의 외관을 보이는 사시도로서, 본 출원인에 의해 출원된 대한민국 특허공개 1997-76738호에 개시된 것이다.
도 1에 도시된 장치는 하드디스크 드라이브들이 종횡으로 적층되도록 구성된 번인 챔버(burn-in chamber)(30)가 전방 쪽으로 위치하고, 각각이 6개의 하드디스크 드라이브를 컨트롤 및 모니터링하는 20 ∼ 24대의 테스트 컴퓨터(50)들과 번인 챔버(30)에 적재된 각 하드디스크 드라이브에의 전원 공급을 제어하는 파워카드들이 정렬되어 위치되도록 구성된 제어 챔버(40)가 분리벽(80)에 의해 구분되어져 일체형으로 장치의 후방 쪽으로 위치한다.
제어 챔버(40)의 상단에는 테스트 컴퓨터(50)들을 관리하고 관리자의 입출력을 받아들이는 호스트 컴퓨터와 파워카드들에 전원을 분배하는 전원 분배부가 탑재되며, 제어 챔버(40)의 하단에는 테스트될 하드디스크 드라이브들에 전원을 공급하는 DC 전원 공급기가 탑재된다.
또한, 번인 챔버(40)의 상단 전면부에는 유저 인터페이스를 위한 디스플레이장치, 키보드 등이 부착되고, 번인 챔버(40)의 상하단에 고온 유지를 위한 히터 및 블로워(hitter & blower)가 탑재된다.
도 2는 도 1에 도시된 장치의 내부 구성을 보이는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 도 1에 도시된 장치는 한 대의 호스트(600)와 20 ∼ 24대의 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)들이 제1 제어버스(660)를 통해 연결되고, 그 각각의 테스트 컴퓨터에는 다시 세 개의 듀얼 채널 IDE어댑터(622,624,626)들이 제 2 제어버스(630)를 통해 연결된다. 그리고 각각의 듀얼 채널 IDE어댑터에는 2대의 하드디스크 드라이브들이 접속된다.
호스트 컴퓨터(600)가 부팅되면, 호스트 컴퓨터(600)는 제1 제어버스(660)를 통해 통신 네트워크를 구축한다. 이 제1 제어버스(660)는 통상의 랜(LAN)등으로 구현된다.
이 제1 제어버스(660)를 통해 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)들이 부팅되며, 테스트 컴퓨터(612 ∼ 618)들이 테스트 프로그램을 실행시킴으로써 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)와 호스트 컴퓨터(600)간의 통신 채널이 형성된다.
테스트 컴퓨터(612 ~ 618)와 호스트 컴퓨터(600)간의 통신 채널이 형성되면, 호스트 컴퓨터(600)는 각 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)로부터 상태를 보고 받고 이를 디스플레이 장치의 화면에 디스플레이하며, 또한 히터를 이용하여 번인 챔버(30)안의 온도를 조절한다.
테스트될 하드디스크 드라이브가 테스트 장치의 번인 챔버(30)에 삽입되면, 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)가 이를 감지하고, 듀얼 채널 IDE 어댑터를 통해 테스트코드와 스크립트(script)를 하드디스크 드라이브로 다운로드한다.
이후 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)는 IDE 인터페이스를 통해 테스트 결과 또는 진행 상황을 모니터링하고 이를 호스트 컴퓨터(600)에 전송하면, 호스트 컴퓨터(600)는 이를 디스플레이 장치의 화면에 표시한다.
도 1 및 2에 도시된 바와 같은 종래의 테스트 장치는 각각의 테스트 컴퓨터와 하드디스크 드라이브들을 1:6 으로 연결하여 테스트하는 구조로, 그 이전의 1:1 테스트 방식보다는 효율적이라고 하나, 여전히 테스트 장치당 20~24대의 테스트 컴퓨터가 탑재되어야 하기 때문에 효율이 낮다는 문제점이 있다.
또한 고가의 듀얼 IDE 어댑터가 테스트 컴퓨터당 3개씩 탑재되어야 함으로 실제적으로 1:1 테스트방식과 비용적 측면에서 크게 득을 보지 못하는 문제점이 있다.
다른 한편으로는 테스트될 하드디스크 드라이브가 삽입되는 번인 챔버(30) 이외에도 테스트 컴퓨터들을 위치시키기 위한 제어 챔버(40)가 필요하며, 또한, 테스트 장치에서 이 제어 챔버(40)가 상당한 공간을 차지하기 때문에 공간 이용 효율면에서도 문제점이 있다.
또한 호스트 컴퓨터(600)와 다수의 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)를 통신 네트워크로 연결하고, 이들 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)가 다시 듀얼 IDE 어댑터를 통해 하드디스크 드라이브를 컨트롤하는 3계층의 복잡한 통신 구조는 오류 발생 가능성이 높고, 문제 발생시 디버깅에도 어려움이 있다.
또한, 하드디스크 드라이브의 인터페이스 규격이 교체될 경우, IDE 어댑터를모두 교체하여야 하며, 테스트 컴퓨터(612 ~ 618)에 적재되는 테스트 프로그램도 수정하여야 하는 등의 문제점들이 있다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 고안된 것으로서 하나의 호스트 컴퓨터로 대량의 하드디스크 드라이브를 테스트할 수 있는 테스트 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
도 1은 종래의 하드디스크 드라이브의 테스트 장치의 외관을 보이는 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 장치의 내부 구성을 보이는 블록도이다.
도 3 내지 도 5는 각각 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브 테스트 장치의 외관, 측면, 그리고 후면을 보이는 사시도들이다.
도 6은 도 3에 도시된 착탈 지그의 상세한 구성을 보이는 사시도이다.
도 7은 도 3 내지 도 5에 도시된 장치의 내부 구성을 보이는 블록도이다.
도 8은 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브 테스트 장치의 동작을 도식적으로 보이는 블록도이다.
상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트 장치는
적어도 두 개의 직렬 통신 포트를 구비하며, 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행하는 컴퓨터와 연동하여 복수의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 장치에 있어서,
상기 하드디스크 드라이브들 각각에 선택적으로 동작 전원을 제공하는 파워카드;
상기 컴퓨터의 직렬 통신 포트들에 접속되며, 제1직렬 통신 포트를 통하여 제공되는 채널선택 명령에 응답하여 하드디스크 드라이브들 및 상기 파워카드와 상기 컴퓨터의 제2직렬 통신 포트들 사이의 직렬 통신 채널을 선택적으로 확립하는 직렬 통신 교환기를 포함하며, 상기 컴퓨터가 상기 하드디스크 드라이브와 직렬 통신 채널에 의해 통신하여 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행할 수 있게 하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예의 구성 및 동작을 상세히 설명하기로 한다. 여기서, 공지의 기능 및 구성에 대한 설명이 본 발명의 요지를 흐리게 할 수 있다고 판단되는 경우 이를 생략하기로 한다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트 장치는 1대의 호스트 컴퓨터와 직렬 통신 채널 교환기를 이용하여, 대량의 하드디스크 드라이브를 컨트롤하여 테스트 공정을 진행함으로써 설비 비용을 낮추고 공간 효율을 높이는 것을 특징으로 한다.
또한, 종래의 고온 유지 시스템을 배제하고, 2대의 테스트 장비를 양면 1세트로 합체시키고 그 사이 공간을 팬을 이용해 하드디스크 드라이브 자체의 동작 온도를 순환시켜, 상온 하에서 하드디스크 드라이브를 테스트하는 방식을 채용하여 설비 비용을 낮추고 공간 이용 효율을 높인다.
또한, 하드디스크 드라이브 테스트 장치와 하드디스크 드라이브간의 통신 방식으로 직렬 통신을 사용함으로써 통신의 신뢰성을 높이며, 하드디스크 드라이브 인터페이스 규격의 변화하더라도 장비의 변경 없이 하드디스크 드라이브를 테스트하는 것을 가능하게 한다.
또한, 테스트 장치의 구조를 간단하게 함으로써 테스트 장치의 유지 보수가 용이하게 된다.
도 3 내지 도 5는 각각 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브 테스트 장치의 외관, 측면, 그리고 후면을 보이는 사시도들이다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 장치의 중앙부는 다수개의 하드디스크 드라이브가 종횡으로 적층되게 하는 구조를 가지는 번인 챔버(302)를 구성하며, 하드디스크 드라이브가 삽입되는 착탈 지그(304)에는 테스트 상태를 나타내는 LED가 부착되고, 그 후면은 테스트 드라이브 제어 신호인 RS-232 신호를 하드디스크 드라이브 TTL 신호 레벨로 변환시켜주는 RS-232 리시버 및 연결 커넥터(미도시), DC 전원 공급 커넥터들이 존재하는 PCB 기판 인터페이스보드(미도시)가 장착된다. 테스트 장치 상부(306)와 하부(308)로부터 나온 RS-232 신호선, LED 컨트롤 신호선, 전원 공급선들이 테스트 장치의 지지 덕트(310) 뒤로 따라 내려오며 각 인터페이스보드(미도시)의 해당 연결 커넥터에 연결된다.
테스트 장치의 하부(308)에는 흡기구(312)가 형성되어있고, 그것의 내부에는 DC 전원 공급기(미도시)와 하드디스크 드라이브에의 전원 공급을 on-off 하고 테스트 드라이브 상태 표시 LED 컨트롤 신호를 내보내는 파워카드(미도시)들이 탑재된다. 파워카드를 컨트롤하는 제어 신호를 공급하는 호스트 컴퓨터(314)의 신호선이 테스트 장치 상부(306)의 직렬 통신 교환기(316)를 통해 이들 파워카드들로 연결되며, 이 파워카드들로부터의 LED 컨트롤 신호선, 전원 공급선이 번인 챔버(302)의 인터페이스보드로 연결된다.
테스트 장치의 상부(306)에는 호스트 컴퓨터(314), 호스트 컴퓨터(314)로부터의 제어 신호를 원하는 인터페이스보드나 파워카드에 연결해주는 직렬 통신 교환기(316), 그리고 테스트 하드디스크 드라이브에서 발생되는 열을 배출시켜 테스트 하드디스크 드라이브 전체의 온도를 균등하게 유지시켜 주는 팬(318)이 위치한다.
테스트 장치의 상부(306) 전면부에는 호스트 컴퓨터(314)와 작업자간의 인터페이스를 위한 디스플레이 장치(320), 키보드, 마우스 등의 인터페이스부(322)가 설치되며, DC 전원 공급기, 호스트 컴퓨터(314), 팬(318) 등을 on-off하는 스위치들, 전원 상태를 확인할 수 있는 전원표시창 등을 구비하는 전원표시부(324)가 위치한다. 또한 테스트 장치의 상부(306)의 내부에는 테스트 장치 하부(308)의 내부와 같이 DC 전원 공급기와 파워카드들이 탑재되고, DC 전원 공급기의 작동 신호를 제공하는 전장보드(미도시)가 탑재된다.
도 4를 참조하면 본 발명의 하드디스크 드라이브 테스트 장치는 두 개의 장치가 후면을 마주 대고 결합될 수 있으며, 또한 유지보수를 위한 상호 착탈이 가능하다.
이하 도 3 내지 도 5에 도시된 장치의 동작을 상세히 설명하기로 한다.
번인 챔버(302)는 테스트 하드디스크 드라이브를 착탈하는 구조로 되어 있으며, 테스트 하드디스크 드라이브를 장착하기 위한 착탈 지그(304)가 지지 덕트(310)에 종횡으로 적층되어 있다.
도 6은 도 3에 도시된 착탈 지그의 상세한 구성을 보이는 사시도이다. 도 6에 도시된 바와 같이 착탈 지그(304)의 내측에는 하드디스크 드라이브의 파워 핀과 UART 2핀을 접속할 수 있는 포고 핀(pogo pin)(602, 604)들이 위치하고 있으며, 외측에는 포고 핀(602, 604)들과 접촉된 포고 핀 커넥터(606)가 위치한다. 이러한 착탈 지그(304)에 관한 것은 대한민국 특허공개 1999-70583(1999. 9. 15 공개), 대한민국 특허공개 1998-31599호(1998. 7. 25 공개), 대한민국 특허공개 1998-47465(1998. 9. 15) 등에 개시된다.
이 포고 핀 커넥터(606)는 번인 챔버(302)의 뒤쪽에 위치한 분리대(326)를 통과해 인터페이스보드(706)와 연결되어 있다. 인터페이스보드(706)는 직렬 통신 교환기(316)로부터의 제어 신호를 받아들이며, 이를 하드디스크 드라이브에 적합한 전압 레벨로 변환하여 포고 핀 커넥터(606)에 제공한다. 이로써 하드디스크 드라이브는 호스트 컴퓨터(314)와 통신할 수 있게 된다.
그리고 착탈 지그(304)의 오른쪽에는 테스트 하드디스크 드라이브의 상태를 표시하는 2개의 3색 LED(608)들이 외부로 나와 있으며, 뒤쪽에 2개의 3색 LED(608)를 제어하기 위한 신호를 공급하는 LED 컨트롤 신호선이 지그 외측 커넥터(610)에 연결되어 있다. 이 LED 컨트롤 신호 커넥터(610)는 파워카드의 LED 컨트롤 신호선과 연결되어 있으며, LED(608)는 테스트 하드디스크 드라이브의 테스트 상태에 맞추어 점등된다.
테스트 장치의 상부(306)와 하부(308)에는 DC 전원 공급기를 위한 작동 신호를 보내는 전장보드, 하드디스크드라이브의 전원을 공급해 주고 LED를 컨트롤하는 DC 전원 공급기, 그리고 파워카드들이 탑재된다.
전장보드는 장치의 메인 전원이 인가된 후 호스트 컴퓨터(314)에 전원이 인가되면 작동을 시작하며, 직렬 통신 교환기(316)를 통해 호스트 컴퓨터(314)로부터의 DC 전원 인가 명령을 받아서 DC 전원 공급기를 작동시키며, DC 전압 레벨 조정 신호를 DC 전원 공급기에 제공하도록 구성된다. DC 전원 공급기로부터의 전원에 의해 파워카드가 동작하며, 또한 파워카드를 통해 각 착탈 지그(304)별로 테스트 하드디스크 드라이브에 DC 전원을 공급하게 된다.
파워카드는 번인 챔버(302)의 인터페이스보드(706)에 연결되는 전원 공급선을 통하여 전압차를 측정해 하드디스크 드라이브가 착탈 지그(304)에 장착되었는 지를 판별하며, 또한 공급 DC 전압을 측정할 수 있다. 파워카드는 직렬 통신 교환기(316)를 통해 호스트 컴퓨터(314)와 연결되어 호스트 컴퓨터(314)에게 테스트 하드디스크 드라이브의 착탈 상태, 파워 공급상태 등의 정보를 공급하고, 호스트 컴퓨터(314)로부터 제공되는 LED 표시 명령과 하드디스크 드라이브 전원공급 on-off 명령을 실행한다.
테스트 장치 전체를 컨트롤하는 호스트 컴퓨터(314)는 직렬 통신 교환기(316)를 통해 각 구성 장치들을 컨트롤한다. 직렬 통신 교환기(316)는 전장보드, 파워카드, 인터페이스보드(706)를 통해 호스트 컴퓨터(314)를 테스트 하드디스크 드라이브와 연결한다.
테스트 장치 상부(306) 전면부의 디스플레이 장치(320)는 호스트 컴퓨터(314)에 연결된다. 디스플레이 장치(320)에는 작업자가 각 테스트 하드디스크 드라이브의 상태를 모니터링할 수 있는 정보가 표시된다. 작업자는 키보드, 마우스 등의 인터페이스부(322)를 통해 호스트 프로그램 혹은 호스트 프로그램의 특정 기능을 실행시킬 수 있다.
전원표시부(324)에는 하드디스크 드라이브 테스트 장치 전체의 전원공급을 on-off할 수 있는 마스터 전원 버튼과, 호스트 컴퓨터(314)를 on-off하는 전원버튼, 테스트 장치 상부(306)와 하부(308)에 탑재되어 있는 DC 전원 공급기들을 on-off할 수 전원버튼, 팬(318)을 on-off하는 전원 버튼 등이 각각 장착된다. 그리고전력 디스플레이 장치(320)의 화면으로 전력 공급 상태를 바로 확인할 수 있다.
본 발명에 따른 하드디스크 드라이브 테스트 장치의 후면은 도 3 및 도 5에 도시되는 바와 같이 신호선들과 인터페이스보드같은 장치 내부의 구조물들이 그대로 노출된 상태이지만, 하드디스크 드라이브 테스트 장치 2개를 후면이 맞붙도록 1세트로 구성하면 후면을 덮은 커버가 없어도 장치 내부 구조물들을 외부로 노출시키지 않고 보호할 수 있다. 팬(318)은 테스트 하드디스크 드라이브의 작동에 의해 발생된 열을 테스트 장치의 외부로 배출시킨다.
도 7은 도 3 내지 도 5에 도시된 장치의 내부 구성을 보이는 블록도이다.
호스트 컴퓨터(314)는 네트워크를 통해 공정이력 데이터 베이스(MES)와 통신하며, 직렬 통신 교환기(316)를 통해 132개의 하드디스크 드라이브, 전장보드(334), 18개의 파워카드(330)와 연결되어 통신한다.
먼저, 호스트 컴퓨터(314)가 부팅되면, 호스트 컴퓨터(314)는 하드디스크 드라이브를 테스트하기 위한 호스트 프로그램을 실행시킨다. 호스트 프로그램의 제어에 따라 호스트 컴퓨터(314)는 직렬 통신 교환기(316)를 통해 전장보드(334)에게 DC 전원 공급 명령을 내린다. 전장보드(334)의 제어에 의해 DC 전원 공급기(332)가 전원 공급을 시작하면, 파워카드(330)가 작동되며, 호스트 컴퓨터(314)는 계속적으로 각 파워카드(330)를 통해 착탈 지그(304)에서의 하드디스크 드라이브의 착탈 여부를 체크하게 된다. 여기서, 파워카드(330)는 하드디스크 드라이브에 연결되는 전원 라인에서의 전압 강하를 검출함에 의해 하드디스크 드라이브의 착탈 여부를 체크한다.
각 파워카드(330)는 호스트 컴퓨터(314)의 제어에 의해, 8개의 인터페이스 보드(328)들 각각에 DC 전원을 제공하는 것을 제어하며 또한, 착탈 지그(304)의 LED들(608)의 발광 상태를 제어한다.
새로운 하드드라이브가 장착된 것이 인식되면, 호스트 컴퓨터(314)는 직렬 통신 교환기(316)를 통해 하드디스크 드라이브와 직접 통신을 시작한다. 호스트 컴퓨터(314)는 하드디스크 드라이브로부터 드라이브 정보 예를 들어 인터페이스 규격, 모델명, 버전 정보 등을 얻어 이를 MES에 전송하고, MES로부터 그 하드디스크 드라이브에 맞는 테스트 스크립트와 테스트 코드를 다운로드받고, 이를 하드디스크 드라이브에 전송하여 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 시작시킨다.
호스트 컴퓨터(314)는 디스플레이 장치(320)를 통하여 테스트 상태를 표시하며, 파워카드(330)에게 LED 표시 명령을 내려 테스트 진행 상태에 맞게 착탈 지그(304)에 부착된 LED(608)들의 발광 상태를 제어한다. 테스트 완료 후 하드디스크 드라이브가 테스트 결과를 호스트 컴퓨터(314)로 전송하면, 호스트 컴퓨터(314)는 파워카드(330)에게 명령을 내려 하드디스크 드라이브의 전원 공급을 차단시키고나서, 테스트결과를 디스플레이 장치(320)와 착탈 지그(304)의 LED(608)를 통하여 표시하며 또한 MES에도 전송한다.
도 8은 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브 테스트 장치의 동작을 도식적으로 보이는 블록도이다.
도 8을 참조하면 호스트 컴퓨터(314)는 하드디스크 드라이브와 제2직렬 통신 포트(COM2)를 통하여 통신한다. 번인 챔버(302)인 번인 챔버에는 132개의 하드디스크 드라이브들이 장착될 수 있으며, 직렬 통신 교환기(316)는 호스트 컴퓨터(314)의 제2직렬 통신 포트(COM2)와 132개의 하드디스크 드라이브들 각각의 선택적으로 연결한다. 직렬 통신 교환기(316)에 의해 호스트 컴퓨터(314)와 하드디스크 드라이브들 중의 하나가 연결되면, 호스트 컴퓨터(314)와 하드디스크 드라이브 사이에 직렬 통신 채널이 형성되고, 이를 통하여 하드디스크 드라이브의 테스트를 수행한다. 직렬 통신 교환기(316)의 라우팅(routing) 동작은 제1직렬 통신 포트(COM1)를 통하여 제공되는 채널교환 명령에 의해 수행된다.
하드디스크 드라이브의 장착 여부는 파워카드(330)에 의해 검출된다. 파워카드(330)는 DC 전원 공급기(332)에서 발생된 DC 전원을 8개의 하드디스크 드라이브들에 선택적으로 제공할 수 있으며, 하드디스크 드라이브에 제공되는 DC 전원의 전압강하를 감시함에 의해 하드디스크 드라이브의 장착 여부를 검출한다. 또한, 파워카드(330)는 호스트 컴퓨터(314)로부터의 요청이 있을 경우 자신이 파악하고 있는 하드디스크 드라이브의 장착 여부에 관한 정보를 호스트 컴퓨터(314)로 전송한다. 한편, 파워카드(330)는 호스트 컴퓨터(314)의 제어에 의해 각 착탈 지그(304)에 취부된 LED(608)의 발광 상태를 제어한다. 호스트 컴퓨터(314)는 하드디스크 드라이브의 테스트 진행 상태에 따라 각각의 진행 상태를 표시하기 위하여 파워카드(330)에 LED 제어를 위한 신호를 전송한다. 호스트 컴퓨터(314)와 파워카드(330) 사이의 정보 송수신도 직렬 통신 채널을 통하여 수행되며, 필요한 경우 직렬 통신 교환기(316)가 호스트 컴퓨터(314)와 파워카드(330)사이의 직렬 통신 채널을 형성한다.
전장보드(334)는 테스트 장치의 초기화 동작 즉, DC 전원 공급기(332)를 기동시켜 각 파워카드(330)들에 DC 전원을 공급하는 동작을 수행한다. 또한, 전장보드(334)는 테스트 장치의 이상 여부를 나타내는 경광등을 포함한다.
호스트 컴퓨터(314)와 전장보드(334) 사이의 정보 송수신도 직렬 통신 채널을 통하여 수행되며, 필요한 경우 직렬 통신 교환기(316)가 호스트 컴퓨터(314)와 전장보드(334) 사이의 직렬 통신 채널을 형성한다.
작업자는 디스플레이 장치(320)를 통하여 테스트 결과를 확인할 수 있으며, 인터페이스부(322)를 통하여 포트별 상태를 점검하고, 하드디스크 드라이브에 적합한 스크립트 및 코드를 선택하는 등의 작업을 수행한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 테스트 장치는 하나의 호스트 컴퓨터(314)가 직렬 통신 포트를 통해 하드디스크드라이브, 전장보드(334), 18대의 파워카드(330)들을 직접 컨트롤하여 132대의 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트 장치는 최소 공간과 최소 설비 비용으로 대량의 하드디스크 드라이브를 테스트할 수 있게 한다.
본 발명에서와 같이 호스트 컴퓨터(314)가 직렬 통신 교환기(316)를 통해 다수의 하드디스크 드라이브와 파워카드(330), 전장보드(334)를 동일한 통신방식에 의해 컨트롤하는 간단하고 명료한 시스템은 테스트 공정의 변경 및 유지보수를 수월하게 하고, 테스트의 신뢰성을 높일 수 있다.
또한 본 발명에서와 같이 하드디스크 드라이브에 고정으로 지원되는 UARTPort로 하드디스크 드라이브를 테스트하는 방식은 앞으로의 하드디스크 인터페이스 규격 변화에 따른 추가 설비 투자를 줄여준다.
본 발명의 상세한 설명에서 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트 장치의 바람직한 실시 예에 관해서 설명하였으나, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 자명한 사실이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 호스트 컴퓨터가 하드디스크 드라이브들을 직접 컨트롤하여 테스트할 수 있게 함으로써 별도의 테스트 컴퓨터가 요구되지 않아 설비 비용을 감소시킬 수 있는 효과를 가진다.
본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 호스트 컴퓨터의 직렬 통신 포트와 하드디스크 드라이브의 디버깅용 직렬 통신 포트를 사용하여 하드디스크 드라이브를 컨트롤함으로써 별도의 IDE 인터페이스 어댑터가 요구되지 않아 설비 비용을 감소시킬 수 있으며, 하드디스크 드라이브 인터페이스 규격 변화에 관계없이 사용이 가능해 설비 변경을 위한 투자를 최소화할 수 있다.
본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 유니버셜한 직렬 통신 방식을 사용하기 때문에 소프트웨어 엔지니어의 특별한 교육 없이도 테스트프로그램의 제작 및 개선이 용이하고, 또한 장비의 유지 보수에도 편리함을 제공한다.
본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 번인 챔버 이외에 별도의 제어 챔버 공간을 필요로 하지 않으며, 테스트 장치 두 대가 후면을 등지고 1 세트로 착탈 가능한 형태로 후면부 구조물 제작이 필요치 않아, 최적의 공간효율과 설비 투자 효율을 창출할 수 있다.
본 발명에 따른 하드디스크 테스트 장치는 고온 온도유지 히터와 블로어를 사용하지 않고, 하드디스크 자체 동작 온도를 순환시켜 상온에서 하드디스크 드라이브 신뢰성을 테스트함으로써 설비비용을 감소시킨다.
Claims (13)
- 적어도 두 개의 직렬 통신 포트를 구비하며, 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행하는 컴퓨터와 연동하여 복수의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 장치에 있어서,상기 하드디스크 드라이브들 각각에 선택적으로 동작 전원을 제공하는 파워카드;상기 컴퓨터의 직렬 통신 포트들에 접속되며, 제1직렬 통신 포트를 통하여 제공되는 채널선택 명령에 응답하여 하드디스크 드라이브들 및 상기 파워카드와 상기 컴퓨터의 제2직렬 통신 포트들 사이의 직렬 통신 채널을 선택적으로 확립하는 직렬 통신 교환기를 포함하며, 상기 컴퓨터가 상기 하드디스크 드라이브와 직렬 통신 채널에 의해 통신하여 하드디스크 드라이브에 대한 테스트를 수행할 수 있게 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제1항에 있어서,상기 하드디스크 드라이브가 착탈되며, 상기 파워카드에서 제공되는 동작 전원을 상기 하드디스크 드라이브에 제공하는 커넥터 및 하드디스크 드라이브의 직렬 통신 포트와 상기 직렬 통신 교환기를 연결시키기 위한 커넥터를 구비하는 착탈 지그를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 파워카드는 하드디스크 드라이브가 상기 착탈 지그에 장착되었는 지의 여부를 검출하고, 상기 컴퓨터와의 사이에 통신 채널이 형성되면 하드디스크 드라이브의 착탈 여부에 관한 정보를 컴퓨터로 전송하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제2항에 있어서,상기 착탈 지그는 LED를 더 구비하며,상기 파워카드는 컴퓨터에서 제공되는 LED 컨트롤 신호에 응답하여 상기 발광 수단의 발광 상태를 제어하여 하드디스크 드라이브에 대한 테스트 상태의 진행 상황을 나타내는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 직렬 통신 교환기에서/로 제공되는 직렬 통신 신호의 레벨을 상기 하드디스크 드라이브에 적합한 신호 레벨로 변환시키는 인터페이스 보드를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제1항에 있어서,상기 파워카드에 하드디스크 드라이브의 동작 전원을 제공하는 DC 전원 공급기; 및상기 장치의 초기 동작시 상기 컴퓨터와 통신하여 상기 DC 전원 공급기를 기동시키는 전장보드를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제6항에 있어서, 상기 전장보드는상기 컴퓨터의 제어에 따라 테스트 장치의 이상 여부를 나타내는 경광등을 제어하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 다수 개의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 테스트 장치에 있어서,다수 개의 하드디스크 드라이브가 종횡으로 적층되는 구조의 번인 챔버;상기 번인 챔버에 적재된 하드디스크 드라이브들과 통신하여 테스트를 수행하는 호스트 컴퓨터; 및상기 호스트 컴퓨터의 제어에 따라 각각의 하드디스크 드라이브와 상기 호스트 컴퓨터 사이의 통신 채널을 확립시켜주는 직렬 통신 교환기를 포함하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제8항에 있어서,하드디스크 드라이브에 직렬 통신 신호와 동작 전원을 제공하기 위한 인터페이스보드가 상기 번인 챔버의 후면에 부착되는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 인터페이스 보드는상기 직렬 통신 교환기에저/로 제공되는 제어 신호의 전압 레벨을 상기 하드디스크 드라이브에 적합한 전압 레벨로 변환하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제8항에 있어서, 상기 번인 챔버에는 하드디스크 드라이브가 착탈되며, 상기 하드디스크 드라이브와 상기 인터페이스 보드의 접속을 허용하기 위한 커넥터들을 구비하는 착탈 지그가 장착되는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제11항에 있어서,하드디스크 드라이브의 동작 전원을 상기 인터페이스 보드에 제공하는 상기 파워카드를 더 구비하며,상기 파워카드는 하드디스크 드라이브가 상기 착탈 지그에 장착되었는 지의 여부를 검출하고, 상기 컴퓨터와의 사이에 통신 채널이 형성되면 하드디스크 드라이브의 착탈 여부에 관한 정보를 컴퓨터로 전송하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
- 제12항에 있어서,상기 착탈 지그는 LED를 더 구비하며,상기 파워카드는 컴퓨터에서 제공되는 LED 컨트롤 신호에 응답하여 상기 발광 수단의 발광 상태를 제어하여 하드디스크 드라이브에 대한 테스트 상태의 진행 상황을 나타내는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 테스트 장치.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2003-0030895A KR100498499B1 (ko) | 2003-05-15 | 2003-05-15 | 하드디스크 드라이브의 테스트 장치 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2003-0030895A KR100498499B1 (ko) | 2003-05-15 | 2003-05-15 | 하드디스크 드라이브의 테스트 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040098684A true KR20040098684A (ko) | 2004-11-26 |
KR100498499B1 KR100498499B1 (ko) | 2005-07-01 |
Family
ID=33536145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2003-0030895A KR100498499B1 (ko) | 2003-05-15 | 2003-05-15 | 하드디스크 드라이브의 테스트 장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7219028B2 (ko) |
JP (1) | JP2004342304A (ko) |
KR (1) | KR100498499B1 (ko) |
CN (1) | CN100456257C (ko) |
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US20050010836A1 (en) | 2005-01-13 |
KR100498499B1 (ko) | 2005-07-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120607 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130611 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |