CN100399285C - 两用硬盘测试适配器 - Google Patents

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Abstract

本发明一种两用硬盘测试适配器，可分别用于电脑与被测硬盘之间的通讯或者硬盘测试装置与被测硬盘之间的信令传输。所述两用硬盘测试适配器包括一串口适配接口板、一给硬盘供电的供电电路及一并口适配接口板。所述串口适配接口板一端连接硬盘测试装置的串口，一端连接测试硬盘串口，传输测试信令。所述并口适配接口板连接电脑与被测硬盘，其包括一对IDE接口，其中一IDE接口连接电脑数据接口，另一IDE接口连接被测硬盘的IDE数据端口，实现电脑与被测硬盘的通讯。

Description

两用硬盘测试适配器
【技术领域】
本发明涉及一种硬盘测试装置，具体是涉及一种硬盘生产制造过程中可测试与试用硬盘的两用适配装置。
【背景技术】
现有的硬盘在生产组装完毕以后，需要对硬盘进行一系列的单步指令测试与综合仿真测试，如通电、断电、马达转动、伺服定位、写入指定轨等等。每一硬盘都设有串口，以便传输硬盘测试的指令。通常在硬盘测试并参数优化以后，需要在电脑上试用从而确定所调试的硬盘功能及运行情况。传统的硬盘在诊断测试以后，需要从测试装置上取下，再装入电脑试用。在硬盘产量较大的情况下，频繁拆取硬盘的动作降低了硬盘检测效率，并且工人从测试装置拆卸硬盘再装入电脑试用不仅耗时而且操作起来也非常不方便。
【发明内容】
本发明的目的是提出一种硬盘生产制造过程中可测试与试用硬盘的两用适配装置。
实现上述目的的技术方案是：一种两用硬盘测试适配器，可分别用于电脑与被测硬盘之间的通讯或者硬盘测试装置与被测硬盘之间的信令传输。所述两用硬盘测试适配器包括一串口适配接口板、一给硬盘供电的供电电路及一并口适配接口板。所述串口适配接口板一端连接硬盘测试装置的串口，一端连接硬盘测试串口，传输测试信令。所述并口适配接口板连接电脑与被测硬盘，所述并口适配接口板包括一对IDE接口(J3、J4)，其中一IDE接口(J3)与电脑主板的IDE接口相连，另一IDE接口(J4)与被测硬盘的IDE数据端口相连，实现电脑与被测硬盘的通讯。
所述供电电路在输出接口(J2)与输入接口(J1、JR1)之间设有滤波、稳压的电容。所述供电电路连接测试装置与硬盘，所述串口适配接口板工作时，由所述硬盘测试装置通过供电电路为硬盘提供工作电压。所述并口适配接口板连接电脑与硬盘，所述并口适配接口板工作时，由所述电脑通过供电电路为硬盘提供工作电压。所述供电电路可所述供电电路包括一电源，被测硬盘由供电电路的电源提供工作电压。硬盘测试电压为5V及12V的其中之一时，选择供电电路的电压输入端J1。硬盘测试电压仅为5V时，可选择供电电路电压输入端JR1。
本发明采用上述技术方案，其有益的技术效果在于：1)利用本发明两用硬盘测试适配器可以同时实现电脑与被测硬盘之间的通讯或者硬盘测试装置与被测硬盘之间的信令传输。2)通过本发明两用硬盘测试适配器作为测试桥路，可分别对硬盘测试与试用，可实现待测硬盘在不同测试工位的快速插拔，简化了测试工序，方便了工人操作，提高了测试效率。
【附图说明】
下面通过实施例并结合附图，对本发明作进一步的详细说明：
图1是本发明两用硬盘测试适配器的构成框图。
【具体实施方式】
一种两用硬盘测试适配器10，结合图1，可分别用于电脑20与被测硬盘30之间的通讯或者硬盘测试装置40与被测硬盘30之间的信令传输。本实施方式中，硬盘采用ATAPI接口。也可采用其它诸如1394、USB等接口。
所述两用硬盘测试适配器10包括一串口适配接口板12、一并口适配接口板14及一给硬盘供电的供电电路18。
所述串口适配接口板12遵循TX/RX的串口数据传输标准，其包括两数据接口J5、J6。数据接口J5连接硬盘测试装置的串口SP2，数据接口J6连接测试硬盘串口SP1。当所述串口适配接口板12工作时，测试信令通过数据接口在硬盘测试装置40与硬盘30之间传输。
所述并口适配接口板14连接电脑20与被测硬盘30，其包括一对IDE数据接口J3、J4。IDE数据接口J3、J4之间直通。IDE数据接口J3与电脑主板的IDE接口相连，另一IDE数据接口J4与被测硬盘30的IDE数据端口相连。当所述并口适配接口板14工作时，数据信号通过IDE数据接口J3、J4实现电脑20与被测硬盘30的通讯。
所述供电电路18包括两电源输入端J1、JR1，一电源输出端J2。所述供电电路18在电源输入端J1、JR1与所述电源输出端J2之间设有滤波、稳压的电容C。所述电源输出端J2连接硬盘30电源输入端PWR3，两电源输入端J1、JR1之一连接正在工作的硬盘测试装置40或者电脑20。硬盘测试所需电压为5V或者12V时，选择供电电路的电压输入端J1。为方便使用硬盘测试所需电压仅为5V时，选择供电电路电压输入端JR1。
为使用方便，所述供电电路18还可进一步包括一电源50，当所述连接测试装置40的串口适配接口板12传输测试信令时，或者所述连接电脑2014的并口适配接口板14进行通讯时，所述供电电路18的电源50为被测硬盘30供电。
测试时，当所述串口适配接口板12工作时，测试信令通过数据接口在硬盘测试装置40与硬盘30之间传输，此时，电源输入端J1或电源输入端JR1连接所述硬盘测试装置40通过供电电路18为硬盘30提供工作电压。或者由一独立电源50通过供电电路18为硬盘30提供工作电压。当所述并口适配接口板14工作时，数据信号通过IDE数据接口J3、J4实现电脑20与被测硬盘30的通讯，此时，电源输入端J1或电源输入端JR1连接所述电脑20通过供电电路18为硬盘30提供工作电压。或者由电源工电电路18的电源50为硬盘30提供工作电压。

Claims (8)

1.一种两用硬盘测试适配器，可分别用于电脑与被测硬盘之间的通讯或者硬盘测试装置与被测硬盘之间的信令传输，其特征在于：包括一串口适配接口板及一并口适配接口板，所述串口适配接口板作为桥路连接硬盘测试装置与被测试硬盘串口，传输测试信令；所述并口适配接口板连接电脑与被测硬盘，所述并口适配接口板包括一对IDE接口(J3、J4)，其中一IDE接口(J3)连接电脑IDE接口，另一IDE接口(J4)连接被测硬盘的IDE数据端口，实现电脑与被测硬盘的通讯。
2.根据权利要求1所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：所述两用硬盘测试适配器进一步包括一给被测硬盘供电的供电电路。
3.根据权利要求2所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：所述供电电路在输出端(J2)与第一、第二输入端(J1、JR1)之间设有滤波、稳压的电容。
4.根据权利要求2所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：所述供电电路连接硬盘测试装置与被测硬盘，所述串口适配接口板工作时，由所述硬盘测试装置通过供电电路为被测硬盘提供工作电压。
5.根据权利要求2所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：所述供电电路连接电脑与被测硬盘，所述并口适配接口板工作时，由所述电脑通过供电电路为硬盘提供工作电压。
6.根据权利要求2所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：所述供电电路包括一电源，被测硬盘由供电电路的电源提供工作电压。
7.根据权利要求2-6任意一项所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：硬盘测试电压为5V及12V其中之一时，选择供电电路的第一输入端(J1)。
8.根据权利要求2-6任意一项所述的两用硬盘测试适配器，其特征在于：硬盘测试电压为5V时，选择供电电路的第二输入端(JR1)。
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