CN104198871A - 一种电子器件测试仪及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子器件测试仪及其测试方法，所述电子器件测试仪，包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块；该测试方法包括如下步骤：1）将待测电子器件的测试端与检测接口模块相连；2）检测端口对应电路的被接通，并将该接通信号传递给功能检测模块；3）中央处理模块驱动可调电源模块，并对测试数据进行采集；4）中央处理器模块将该测试数据转传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块；5）上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出。本发明能够实现智能化的实现对电子器件的检测，并且能将检测数据存储、调用和打印。

Description

一种电子器件测试仪及其测试方法

技术领域

本发明涉及应用在电气工业领域用的一种检测设备，尤其涉及一种能实现自动测试的电子器件测试仪及其测试方法。

 

背景技术

目前所用的电子器件或电子半成品为了确保使用的可靠性，一般都要求检测单个产品的电流/电压值，以及装配完成后的整机的电流/电压/负载值测试和电源波动性试验。但在检测过程中，由于电流/电压测试和负载测试设备是相互独立的，不能同时使用。因此测试效率低下。同时，测试过程中需要对电源进行调节，这样又会造成测试较为麻烦，从而直接影响到电子器件的检测速度。另外，单独制作的检测设备所显示的测试数据，不具备被上位机读写的功能，导致测试数据不能被存储、调用和打印等，导致无法读取使用。因此，每个电子器件的检测数据都必须需要人工抄写，而且会发生忘记数据后重复测的情况，整个测试过程效率非常低下。

 

发明内容

针对现有技术存在的上述不足，本发明的目的在于怎样解决现有电子器件测试效率低、测试数据处理较为麻烦的问题，提供一种电子器件测试仪及其测试方法，能够实现智能化的实现对电子器件的检测，并且能将检测数据存储、调用和打印。 

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是这样的：一种电子器件测试仪，其特征在于：包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块；

所述上位机、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块以及功能检测模块均与中央处理器模块相连；

所述功能检测模块包括可调电源模块、控制继电器、电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块；所述可调电源模块为直流稳压电源模块，其为电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块供电；

所述检测接口模块包括电流检测端口、电压检测端口以及负载检测端口。

进一步地，所述继电器为转换型继电器K1和K2，可调电源模块的供电端的负极分别与电流测试模块、电压测试模块和负载测试模块相连接；可调电源模块的供电端的正极与继电器K1的动触点相连，继电器K1的一个静触点与电流测试模块的相连，另一个静触点与继电器K2的动触点相连；同时，继电器K2的动触点与电压测试模块相连，其一个静触点与负载测试模块相连，另一静触点置空，所述继电器K1与K2由继电器电源供电；其中，所述电流检测端口与电流测试模块串联；电压检测端口一端与继电器K2的置空静触点相连，另一端与可调电源模块的负极相连；负载检测端口与负载检测模块串联。

进一步地，所述中央处理器模块由单片机和外围电路构成，用于对各种输入信号的分析处理，其中，所述单片机采用MSP430系列芯片。

上述电子器件测试仪的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

1）将待测电子器件的测试端与检测接口模块的电流检测端口、电压检测端口或负载检测端口相连； 

2）待测电子器件与检测端口连接后，该检测端口对应电路的被接通，并将该接通信号传递给功能检测模块；再由功能检测模块传输至中央处理模块；

3）中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，根据收到的端口接通信号，驱动可调电源模块，并对测试数据进行采集；

4）中央处理器模块采集到功能检测模块检测到的测试数据后，在外围电路和单片机作用下，将该测试数据转化为数字信号，然后把该数字信号传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块；

5）上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出，当数据输出模块连接打印设备时，通过上位机能够对测试数据进行打印。

与现有技术相比，本发明具有如下优点：

1、中央处理器模块的输入端与功能检测模块输出端相连，中央处理器模块的输出端与上位机和储存器模块连接，通过中央处理器将检测信号转换后，不仅能实现将电子器件的检测数据存储、调用和显示，并且能将存储的数据通过数据输出模块打印等；减少测试数据的记录工作和翻查工作，并且和现在相比，大大减少工作时间。

2、功能检测模块由可调电源模块，电流检测模块，电压检测模块和负载检测模块构成；中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，自动将与该端口相对应的电压波动范围命令和可调电源模块驱动命令输出，从而驱动可调电源模块工作，以实现对应端口的检测。

3、具有可调的电源模块输出，不仅能测试整机的电源波动性试验，而且能依据待测的电子器件型号测试单个器件的电源波动性试验；测试方式更加简便，效率更高。

 

附图说明

图1为本发明的原理框图；

图2为功能检测模块一种具体实施电路结构图。

 

具体实施方式

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明。

实施例：参见图1、图2，一种电子器件测试仪，包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块；所述中央处理器模块由单片机和外围电路构成，用于对各种输入信号的分析处理，其中，所述单片机采用MSP430系列芯片；所述外围电路包括信号采集电路和A/D转换电路，通过A/D转换电路将信号采集电路采集到的信号转换成数字信号，从而便于单片机进行识别及处理。

所述上位机、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块以及功能检测模块均与中央处理器模块相连，通过驱动电源模块对中央处理器模块进行供电；具体实施时，功能检测模块通过RS485总线与中央处理器模块相连，中央处理器模块通过数据线与上位机相连。

所述功能检测模块包括可调电源模块、控制继电器、电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块；所述可调电源模块为直流稳压电源模块，其为电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块供电。

所述继电器为转换型继电器K1和K2，可调电源模块的供电端的负极分别与电流测试模块、电压测试模块和负载测试模块相连接；可调电源模块的供电端的正极与继电器K1的动触点相连，继电器K1的一个静触点与电流测试模块的相连，另一个静触点与继电器K2的动触点相连；同时，继电器K2的动触点与电压测试模块相连，其一个静触点与负载测试模块相连，另一静触点置空，所述继电器K1与K2由继电器电源供电，且继电器K1与K2的控制端分别由一控制开关进行控制。

所述检测接口模块包括电流检测端口、电压检测端口以及负载检测端口，所述电流检测端口、电压检测端口和负载检测端口分别对应与电流检测模块、电压检测模块和负载检测模块相连，其中，所述电流检测端口与电流测试模块串联；电压检测端口一端与继电器K2的置空静触点相连，另一端与可调电源模块的负极相连；负载检测端口与负载检测模块串联。当电流检测模块、电压检测模块和负载检测模块供电后，能够对连接在电流检测端口、电压检测端口和负载检测端口进行测试。该检测接口模块还包括端口接通检测电路，该端口接通检测电路经功能检测模块后通过RS485总线与中央处理器模块相连。

具体制作时，所述负载测试模块能够进行多种电流的负载测试，通过手动进行负载的选择，能够进行不同电流负载下的测试。

上述电子器件测试仪的测试方法，包括如下步骤：

1）将待测电子器件的测试端与检测接口模块的电流检测端口、电压检测端口或负载检测端口相连；同时控制继电器：当进行电流测试时，使继电器K1的动触点和与电流检测模块相连的静触点相连；当进行电压测试时，使继电器K1的动触点和与继电器K2的动触点相连的静触点相连，同时继电器K2的动触点和与电压检测端口相连的静触点相连；当进行负载测试时，使继电器K1的动触点和与继电器K2的动触点相连的静触点相连，同时继电器K2的动触点和与负载检测模块相连的静触点相连。

2）待测电子器件与具体的检测端口连接后，该检测端口对应电路的被接通，并将该接通信号传递给功能检测模块；再由功能检测模块传输至中央处理模块；具体实施时，在检测接口模块中对应各个检测端口均设有端口接通检测电路，当检测端口接通后，对应的端口接通检测电路向功能检测模块发送端口接通信号，再由功能检测模块传输至中央处理模块。

3）中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，根据收到的端口接通信号，驱动可调电源模块，使电源电压进行波动性调整（电子器件的工作电压最低值和最高值之间），并对测试数据进行采集；在采集测试数据中：当进行电流检测时，中央处理器模块直接采集电流检测模块所检测到的电流数据；当进行电压检测时，中央处理器模块直接采集电压检测模块所检测到的电压数据；当进行负载检测时，中央处理器模块采集接通负载后，电压检测模块所检测到的电压数据。

4）中央处理器模块采集到功能检测模块检测到的测试数据后，在外围电路和单片机作用下，将该测试数据转化为数字信号，然后把该数字信号传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块；从而便于工作人员对数据进行读取或其他操作。

5）上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出，当数据输出模块连接打印设备时，通过上位机能够对测试数据进行打印。

 

作为一种具体实施例，在中央处理器模块中预存有对应各检测端口接通状态的电压波范围命令和可调电源模块驱动命令；待测电子器件与检测端口连接后，接通该检测端口的对应电路。此时，检测端口的电路接通信号自动传送到功能检测模块，再通过RS485总线传输至中央处理模块。中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，自动调取与该端口相对应的电压波范围命令和可调电源模块驱动命令；然后输出电压波动范围并驱动可调电源模块，可调电源模块启动后，实现对应端口的检测和电源波动实验测试。

存储器模块和上位机均与处理器模块相连，共同构成检测数据的存储和读取功能。当中央处理器模块接收到功能检测模块的传回的测试信号后，在外围电路和单片机作用下，将这个信号转化为数字信号，并可把数字信号传输给上位机；此时，不仅可以通过液晶显示器将数字显示出来，还可以通过数据输出模块将数字信号输出；由于存储器模块和处理器模块相连，所以存储器模块还能实现对数字信号的存储等功能，从而实现电子器件检测数据的存储、读取和打印功能，从而大大减少数据读取和记录的时间。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制技术方案，本领域的普通技术人员应当理解，那些对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (4)

1.一种电子器件测试仪，其特征在于：包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块；

所述上位机、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块以及功能检测模块均与中央处理器模块相连；

所述功能检测模块包括可调电源模块、控制继电器、电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块；所述可调电源模块为直流稳压电源模块，其为电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块供电；

所述检测接口模块包括电流检测端口、电压检测端口以及负载检测端口。

2.根据权利要求1所述的一种电子器件测试仪，其特征在于：所述继电器为转换型继电器K1和K2，可调电源模块的供电端的负极分别与电流测试模块、电压测试模块和负载测试模块相连接；可调电源模块的供电端的正极与继电器K1的动触点相连，继电器K1的一个静触点与电流测试模块的相连，另一个静触点与继电器K2的动触点相连；同时，继电器K2的动触点与电压测试模块相连，其一个静触点与负载测试模块相连，另一静触点置空，所述继电器K1与K2由继电器电源供电；其中，所述电流检测端口与电流测试模块串联；电压检测端口一端与继电器K2的置空静触点相连，另一端与可调电源模块的负极相连；负载检测端口与负载检测模块串联。

3.根据权利要求1所述的一种电子器件测试仪，其特征在于：所述中央处理器模块由单片机和外围电路构成，用于对各种输入信号的分析处理，其中，所述单片机采用MSP430系列芯片。

4.利用如权利要求1所述的电子器件测试仪的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

1）将待测电子器件的测试端与检测接口模块的电流检测端口、电压检测端口或负载检测端口相连； 

2）待测电子器件与检测端口连接后，该检测端口对应电路的被接通，并将该接通信号传递给功能检测模块；再由功能检测模块传输至中央处理模块；

3）中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，根据收到的端口接通信号，驱动可调电源模块，并对测试数据进行采集；

4）中央处理器模块采集到功能检测模块检测到的测试数据后，在外围电路和单片机作用下，将该测试数据转化为数字信号，然后把该数字信号传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块；

5）上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出，当数据输出模块连接打印设备时，通过上位机能够对测试数据进行打印。