CN100458966C - 硬盘综合测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明一种硬盘综合测试系统，可一次对大量硬盘进行综合测试，包括一测试主机及若干待测硬盘。所述硬盘综合测试系统还包括连接测试主机的集线组及若干连接于集线组的控制电路板。每一控制电路板可同时与若干硬盘建立测试通讯。每一控制电路板包括一硬盘测试适配电路、一连接测试主机的微处理单元及一与微处理单元总线连接的硬盘供电电路与状态显示电路。所述硬盘供电电路在微处理单元的控制下为被测硬盘提供工作电压。测试信令从主机经由集线组扩展为若干分路信号，信号从控制电路板的测试适配电路分别传送到指定硬盘进行测试。

Description

硬盘综合测试系统
【技术领域】
本发明涉及一种可对硬盘进行盘面测试或者整机老化测试的综合硬盘测试系统，具体是涉及一种硬盘生产制造过程中可同时大量测试硬盘并且使用方便的硬盘测试系统。
【背景技术】
现有的硬盘在生产组装完毕以后，需要对硬盘进行一系列的单步指令测试，如通电、断电、马达转动、伺服定位、写入指定轨等等，或者进行盘面测试找出盘面损规率计算硬盘容量或者进行综合仿真测试或者进行老化测试。每一硬盘都设有串口，以便传输硬盘测试的指令。通常各种硬盘测试过程都分步进行。如老化测试在老化测试炉内进行，盘面测试中，每一硬盘分别连接测试主机操作等等。但是，在硬盘工业化生产过程中，传统分散、单一的测试方法使得硬盘生产效率难以提高。传统硬盘分散、单一的测试方法一次测试的硬盘数量很少，一般仅能对单个硬盘操作，大量待测硬盘不仅要耗费很长的工时并且频繁不断更换测试硬盘也使得整个硬盘测试的操作性非常差，工人工作起来也非常不方便，硬盘检测的效率非常低。
【发明内容】
本发明的目的是提出一种硬盘生产制造过程中可同时大量测试硬盘并且使用方便的硬盘测试系统。
实现上述目的的技术方案是：一种硬盘综合测试系统，可一次对大量硬盘进行综合测试，包括一测试主机及若干待测硬盘。所述硬盘综合测试系统还包括连接测试主机的集线组及若干连接于集线组的控制电路板。每一控制电路板可同时与若干硬盘建立测试通讯。每一控制电路板包括一硬盘测试适配电路、一连接测试主机的微处理单元及一与微处理单元总线连接的硬盘供电电路。所述硬盘供电电路在微处理单元的控制下为被测硬盘提供工作电压。测试信令从主机经由集线组扩展为若干分路信号，信号从控制电路板的测试适配电路分别传送到指定硬盘进行测试，同时每一硬盘反馈信号从控制电路板的测试适配电路回传到测试主机。
所述硬盘测试适配电路包括接受集线组信号的接口(J1、J2)、电平转换芯片组(U1-U8)及若干连接接口(SJ1-SJ8、BSJ1-BSJ8)，所述电平转换芯片组将信号接口(J1、J2)传来的信号转化为硬盘识别的工作电压后，由对应连接接口传递给信号指定的测试硬盘。
所述硬盘综合测试系统进一步包括一状态显示电路，所述状态显示电路与微处理单元总线连接。所述状态显示电路共有若干路输出端，每一输出端都对应一测试硬盘并连接一LED显示装置。所述微处理单元用来判断被测硬盘性能指标是否合格并将结果输出到由状态显示电路驱动的LED显示装置。所述LED显示装置包括合格显示灯、不合格显示灯、测试显示灯及电源显示灯。
所述集线组包括一以太网集线器及连接以太网集线器的两扩展集线器，两扩展集线器将以太网集线器传来的信号扩展为若干分路信号。
所述硬盘供电电路有若干输出端，每一输出端连接一测试硬盘并设有一限流电阻，保证硬盘稳定供电。
本发明采用上述技术方案，其有益的技术效果在于：1)利用本发明硬盘综合测试系统可以同时对大量硬盘进行测试。2)利用本发明硬盘综合测试系统，只要将若干硬盘连入测试系统即可同时对大量硬盘进行不同种类的硬盘测试，而无需要将硬盘从一测试设备转移到另一测试设备，简化了测试工序，方便了工人操作，提高了测试效率。
【附图说明】
下面通过实施例并结合附图，对本发明作进一步的详细说明：
图1是本发明硬盘综合测试系统的拓扑示意框图。
图2是本发明硬盘综合测试系统的控制电路板的构成框图。
【具体实施方式】
一种硬盘综合测试系统，结合图1及图2，可一次对大量硬盘进行综合测试。所述硬盘综合测试系统包括一测试主机10一集线组及若干待测硬盘80。所述测试主机10安装有硬盘测试软件。所述集线组包括一以太网集线器E-HUB及若干可连接以太网集线器的扩展集线器。本实施方式中，所述以太网集线器E-HUB具有8组扩展口，每一扩展口连接一对扩展集线器，从N-HUB1-1、N-HUB1-2到N-HUB8-1、N-HUB8-2。每一对扩展集线器N-HUB1-1、N-HUB1-2将以太网集线器E-HUB传来的信号扩展为16分路信号P1-P8与Q1-Q8。这样，8对扩展集线器可将以太网集线器E-HUB传来的信号扩展为128分路信号，亦即可以同时对128个硬盘80进行测试。
为了能够大量测试硬盘，在所述集线组的每对扩展集线器和对应测试的若干个硬盘80之间还设置有一控制电路板20，控制电路板由电源22提供工作电压。本实施方式中，每一控制电路板20可同时与16个硬盘建立测试通讯。每一控制电路板20包括一硬盘测试适配电路30、一连接测试主机10的微处理单元50及一与微处理单元50总线连接的硬盘供电电路与状态显示电路。
所述硬盘供电电路在微处理单元50的控制下为被测硬盘80提供工作电压。其包括一与微处理单元50总线连接的供电控制电路。所述供电控制电路输出16路控制电平信号(P1-P16)，所述16路控制电平信号(P1-P16)控制一具有16路电压(PJ1-PJ8、BPJ1-BPJ8)输出的电压输出电路。电压输出电路的每一输出电压端口均连接一测试硬盘80。每一电压输出电路的输出端(PJ1-PJ8、BPJ1-BPJ8)连接设有一限流电阻(图未示)，用来保证给硬盘提供稳定的工作电压。
所述硬盘测试适配电路包括接受信号的接口、一电平转换芯片组及若干连接接口，从而实现大量测试硬盘。本实施方式中，所述接受信号的接口(J1、J2)分别对应连接集线组的一对扩展集线器(如N-HUB1-1、N-HUB1-2)，接收其传送的信号。所述电平转换芯片组具有8个电平转换芯片(U1-U8)。每一电平转换芯片对两路输入进行转换，所以电平转换芯片组(U1-U8)的输出仍为16路，每一路输出连接一连接接口SJ1-SJ8、BSJ1-BSJ8。所述16个连接接口各自对应连接一测试硬盘80的串口。所述电平转换芯片组(U1-U8)将信号接口(J1、J2)传来的信号转化为硬盘识别的工作电压后，由对应连接接口(SJ1-SJ8、BSJ1-BSJ8)传递给信号指定的测试硬盘80。
为了达成智能显示的目的，每一硬盘状态的LED显示装置(图未示)包括表示合格的绿色LED灯、表示不合格的红色LED灯、表示硬盘测试中的黄色LED灯及电源显示灯。所述状态显示电路包括一绿灯控制电路及一红灯控制电路，对应绿灯控制电路及红灯控制电路输出端都为高电平时，即驱动表示测试中的黄色LED灯(图未示)。电源显示灯由微处理单元50单独控制。所述绿灯控制电路与红灯控制电路依次与微处理单元50总线连接。本实施方式中，所述绿灯控制电路有16位输出端口G1-G16，分别对应一测试硬盘80，表示合格状态。所述红灯控制电路也有16位输出端口R1-R16，分别对应一测试硬盘80，表示不合格状态。所述绿灯控制电路的每一输出端G1-G16连接一绿色LED灯。所述红灯控制电路的每一输出端R1-R16连接一红色LED灯。
测试时，所述测试信令从测试主机10经由集线组一对扩展集线器(如N-HUB1-1、N-HUB1-2)扩展为16分路信号后，经由接口J1、J2分别输入电平转换芯片组，电平转换芯片组将从测试主机传来的测试信令转换为硬盘识别的信号，或者将硬盘识别的信号转换为测试主机识别的信号，从而达成测试主机10与每一被测硬盘80的通讯，或者传输测试信令。亦即通过控制电路板的测试适配电路分别对指定硬盘进行测试或者通讯。
同时，所述微处理单元50接收测试主机10的讯息，并判断确定是否对被测硬盘供电及硬盘的不同状态。微处理单元50确定给硬盘供电的，即指令供电控制电路输出硬盘工作电压并给的LED显示装置的电源显示灯供电。微处理单元50确定每一硬盘80状态之后，指令红、绿灯控制电路将结果输出到LED显示装置上。

Claims (7)

1、一种硬盘综合测试系统，通过一测试主机可一次对大量硬盘进行综合测试，其特征在于：包括连接测试主机的集线组，所述集线组包括一以太网集线器及若干连接以太网集线器的成对扩展集线器，成对扩展集线器将以太网集线器传来的信号扩展为若干分路信号，所述成对的扩展集线器连接一控制电路板，每一控制电路板可同时与若干硬盘建立测试通讯，每一控制电路板包括一硬盘测试适配电路、一连接测试主机的微处理单元及一与微处理单元总线连接的硬盘供电电路，所述硬盘供电电路在微处理单元的控制下为被测硬盘提供工作电压，测试信令从主机经由集线组扩展为若干分路信号，信号从控制电路板的测试适配电路分别传送到指定硬盘进行测试，同时每一硬盘反馈信号从控制电路板的测试适配电路回传到测试主机。
2、根据权利要求1所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述硬盘测试适配电路包括接受集线组信号的接口(J1、J2)、电平转换芯片组(U1-U8)及若干连接接口(SJ1-SJ8、BSJ1-BSJ8)，所述电平转换芯片组将信号接口(J1、J2)传来的信号转化为硬盘识别的工作电压后，由对应连接接口传递给信号指定的测试硬盘。
3、根据权利要求1所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述硬盘综合测试系统进一步包括一状态显示电路，所述状态显示电路与微处理单元总线连接。
4、根据权利要求3所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述状态显示电路共有若干路输出端，每一输出端都对应一测试硬盘并连接一LED显示装置。
5、根据权利要求4所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述微处理单元用来判断被测硬盘性能指标是否合格并将结果输出到由状态显示电路驱动的LED显示装置。
6、根据权利要求5所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述LED显示装置包括合格显示灯、不合格显示灯、测试显示灯及电源显示灯。
7、根据权利要求1-6任意一项所述的硬盘综合测试系统，其特征在于：所述硬盘供电电路有若干输出端，每一输出端连接一测试硬盘并设有一限流电阻，保证硬盘稳定供电。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101388254B (zh) * 2007-09-13 2010-12-15 英业达股份有限公司 存储装置的测试方法
CN102012478A (zh) * 2010-12-02 2011-04-13 上海华岭集成电路技术股份有限公司 特殊封装芯片的测试方法
CN102012479A (zh) * 2010-12-02 2011-04-13 上海华岭集成电路技术股份有限公司 特殊封装芯片的测试系统
CN102411071B (zh) * 2011-08-03 2013-12-04 忆正存储技术（武汉）有限公司 一种高低温测试机
CN104536854A (zh) * 2014-11-29 2015-04-22 江门市未来之星网络科技有限公司 一种希捷硬盘固件故障的深度检测设备及其检测方法
CN107870834B (zh) * 2016-09-28 2024-03-29 达丰(上海)电脑有限公司 一种硬盘背板的测试治具
CN108710046A (zh) * 2018-07-09 2018-10-26 延锋伟世通电子科技（上海）有限公司 一种车载仪表耐久测试装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1177187A (zh) * 1996-05-11 1998-03-25 三星电子株式会社 用于测试硬盘驱动器的系统
JP2000019224A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Hitachi Ltd プリント回路基板のテスト方法
CN1573707A (zh) * 2003-05-15 2005-02-02 三星电子株式会社 测试硬盘驱动器的方法
CN1573708A (zh) * 2003-05-15 2005-02-02 三星电子株式会社 利用单个计算机测试多个硬盘驱动器的设备和方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1177187A (zh) * 1996-05-11 1998-03-25 三星电子株式会社 用于测试硬盘驱动器的系统
JP2000019224A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Hitachi Ltd プリント回路基板のテスト方法
CN1573707A (zh) * 2003-05-15 2005-02-02 三星电子株式会社 测试硬盘驱动器的方法
CN1573708A (zh) * 2003-05-15 2005-02-02 三星电子株式会社 利用单个计算机测试多个硬盘驱动器的设备和方法

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