CN101388254B - 存储装置的测试方法 - Google Patents

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Abstract

一种存储装置的测试方法,预存数个存储装置类型及相对的存储装置效能期望值,接着接收输入待测存储装置类型及测试次数,并对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试,然后根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,进而依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果,最后并存储所有的效能测试结果及比较结果。

Description

存储装置的测试方法
技术领域
本发明涉及一种存储装置的测试方法,具体而言,是关于一种供计算机系统利用测试软件对与该计算机系统电性连接的存储装置完成效能测试的存储装置的测试方法。
背景技术
随着计算机技术的迅速发展,计算机操作系统功能越来越强大,应用程序也越来越多,而存储该操作系统及这些应用程序的硬盘也就扮演着重要角色。一旦硬盘执行不稳或负荷过重,都会造成整个系统效能大幅下降。因此,系统厂商或服务器管理者特别重视硬盘运转的稳定度,因为其稳定度与整个操作系统的效能有着莫大的关系,故有必要在服务器或硬盘出厂前作缜密的测试工作。
目前,在测试服务器的效能上,特别是硬盘,多以人工方式处理。其处理流程为记录待测硬盘资讯、选择测试工具、运行相关压力(stress)测试工具、输入需要测试硬盘的代号、察看效能测试值并记录下来、反复测试数十次以上、对所有测试结果求平均值、以及再把该平均值和客户要求的最低期望值进行比较,以判断是否符合测试要求,而获得最终测试结果(Pass/Fail)。其中该效能测试值是由系统自带的测试命令行Hdparm测试而得,且Hdparm一次只能测试一个硬盘,以及有一个返回值,例如,#hdparm-Td/dev/sda(可对sda硬盘作效能测试,而得到这颗硬盘的效能测试数据)、#hdparm/dev/sda(可察看目前sda的参数设定状态)、#hdparm-i/dev/sda(可察看详细资料状况与支援类型)。
然而,上述硬盘测试所面临的问题包括:需要测试工程师多次输入测试数据和比对数据。一般而言,一个硬盘测试所需时间大约需要18分钟,既浪费时间且易出错;若测试的次数不够,则测试结果不够准确;每次只能进行一个硬盘的测试,效率不高,如果需要测试多个硬盘,将浪费许多时间;所有的测试结果都是人工记录,不利于测试 结果的管理。故现行硬盘效能测试方式,着实增加硬盘厂商的测试成本。
因此,在检查硬盘的效能中,如何有效减少人力负荷,使硬盘所测试出的结果既准确又兼具高效率,即是目前亟需解决的问题。
发明内容
鉴于以上现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以确保测试结果的准确性。
本发明的另一目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以减轻工程师负担,并能节省测试时间。
本发明的又一目的在于提供一种存储装置的测试方法,其应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,以提高硬盘测试工作的效率。
为达上述目的或其他目的,本发明提供一种存储装置的测试方法,仅需输入待测的存储装置类型以及需要测试次数,即可对待测的存储装置进行测试。该测试方法包括:预存数个存储装置类型及相对的存储装置效能期望值,接着接收输入待测存储装置类型及测试次数,并对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试,然后根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,进而依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果,最后并存储所有的效能测试结果及比较结果。因此,工程师不必针对每一类型的存储装置输入不同的参数值,故可大幅缩减测试时间,并增加测试的准确性。
在一实施例中,可基于该平均值大于或等于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一通过测试的信息;在另一实施例中,还可基于小于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一未通过测试的信息。
通过本发明的存储装置的测试方法,使测试工程师不必多次输入测试数据和比对数据,自动计算出平均值且与期望值直接比较,进而判断该存储装置是否符合测试要求,因而得到较精确的测试结果,以及节省人工测试时间。
附图说明
图1显示本发明的存储装置的测试方法的运作流程示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此领域的技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明亦可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不悖离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
请参阅图1,其用以显示本发明的存储装置的测试方法的运作流程示意图。如图所示,本发明的存储装置的测试方法应用于具有输入装置及显示装置的计算机系统(在此未予以图示)中,用以自动测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能。
首先执行步骤S10,预先建立存储数个存储装置类型及存储装置效能期望值于一连接至该计算机系统的数据库中,该数据库可建立于该计算机系统中,或者建立于与该计算机系统网络连接的服务器或另一台计算机系统中,且该数据库中的存储装置类型及存储装置效能期望值是相对应的。本实施例中,数个存储装置类型为不同的硬盘类型,包括SAS、SATA、SCSI、FC、IDE等类型的硬盘,而该存储装置效能期望值是指客户对不同类型硬盘的效能的最低期望值,该期望值一般是不变的,但此期望值也可根据不同需求来进行修改。在此举例而言,该数据库中所存储的存储装置类型与存储装置效能期望值的对应关系,例如是SAS为60M/s、FC为50M/s的对应关系,接着进行步骤S12。
在步骤S12中,对该存储装置执行测试,具体而言,由该步骤S12至下列所述的步骤S24所执行的测试处理均是透过一测试软件完成。 换言之,本发明的存储装置的测试方法是透过一测试软件执行。在开始执行测试时,要求输入待测存储装置类型、测试次数、以及存储装置代码等存储装置资料,即透过该计算机系统的输入装置输入前述的存储装置资料,且于输入该存储装置资料后执行该测试软件所提供的测试指令。例如对硬盘进行测试时,即可以hdparm指令附加参数形成该测试指令,该测试指令例如#hdparm-Td/dev/sda、#hdparm/dev/sda、#hdparm-i/dev/sda或其它参数组成的指令,以对上述步骤所输入的存储装置类型以及存储装置代码相对应的存储装置进行数次效能测试。需说明的是,上述列举的hdparm指令与相关参数所组成指令仅示例之用,而非以此作为限制;而存储装置代码是用以供该计算机系统识别出与其电性连接(即安装)的存储装置。一般而言,该计算机系统所安装的存储装置数量并不限定为一个,亦可为两个或两个以上,故,通过该存储装置代码以供该计算机系统识别出欲执行测试的存储装置为何。换言之,若仅测试单一存储装置,则不须输入该存储装置代码。再者,须提出说明的是,于存储装置数据输入过程中,若计算机系统无法自该数据库中取得该输入待测存储装置类型(例如硬盘类型)来进行后续的比较处理时,该测试软件还提供另一输入界面(在此未予以图示),以供测试人员对于未存储的存储装置数据进行该存储装置类型及相对应的存储装置效能期望值的新增处理,然后接着输入测试次数。该测试次数可以是预设值(例如50次测试),亦可依实际需求进行变更,最后输入所欲测试存储装置代码,例如于计算机系统中的硬盘代码,sda,sdb,sdc等,接着进行步骤S14。
在步骤S14中,输出这些测试次数的效能测试的不同测试结果,并根据这些不同测试结果进行运算而得出这些测试结果的平均值(Ave)、最大值(Max)、以及最小值(Min),接着进行步骤S16。
在步骤S16中,获取这些测试结果的平均值(Ave)与该数据库中所输入的存储装置效能期望值(亦即客户最低期望值)进行比较,接着进行步骤S18。
在步骤S18中,若该平均值(Ave)大于或等于客户最低期望值,则进至步骤S20中,若该平均值(Ave)小于客户最低期望值,则进至步骤S22中。
在步骤S20中,令该计算机系统的显示装置输出一通过测试(Pass)的信息,藉此表示所测试的硬盘的效能符合客户的需求,就本实施例而言,该显示装置例如发出绿色光源的发光二极体,接着进行步骤S24。
在步骤S22中,令该计算机系统的显示装置输出一不通过测试(Fail)的信息,藉此表示所测试的硬盘的效能不符合客户的需求,就本实施例而言,该显示装置例如发出红色光源的发光二极体,接着进行步骤S24。
在步骤S24中,将该步骤S20及该步骤S22所取得的通过/不通过的比对结果予以存储,例如存储该计算机系统的特定目录下,例如/temp/result,或者是,存储于与该计算机系统网络连接的服务器或另一台计算机系统等电子装置中,该测试资料及结果的存储处理将可便于工程师察看、复制及管理。通过上述的处理步骤以完成所有存储装置类型的测试。
虽然本实施例中是以步骤S18至S20表示实际进行比较后的具体判断方式,但是并无特定限制,亦非据此限制本发明的实施方式。举例而言,在步骤S16获取这些测试结果的平均值(Ave)与该数据库中所输入的存储装置效能期望值(亦即客户最低期望值)进行比较之后,即可输出比较结果,接着进行步骤S24予以存储,后续透过察看、复制及管理该测试数据及结果即可分辨测试结果,同样达到提高测试效能及准确性的目的,绝非以进行步骤S18至S20而显示结果为限。
综上所述,本发明的存储装置的测试方法,是先建立存储装置类型与相对应的客户最低期望值于数据库中,再根据显示装置所提示的信息输入存储装置类型、输入测试测试次数、输入存储装置代码,依次输入相关数值,接着便可依据待测存储装置种类,例如用以测试硬盘效能的指令Hdparm,利用可控制该存储装置执行效能测试的控制指令以及测试参数来执行一连串的测试工作,计算机系统再将所得出的测试结果计算及比较而得出最大值(Max)、最小值(Min)、以及平均值(Ave),该平均值即是所有测试次数测试后所得到的效能测试结果的平均,获取先前所输入且与存储装置类型相对应的客户最低期望值与该平均值进行比较,若平均值大于或等于该客户最低期望值,则输出通过测试(Pass)的信息。若平均值小于该客户最低期望值,则输出不通过 测试(Fail)的信息,最后将这些测试结果存储于预设目录中,藉此可快速完成存储装置的测试工作,并提高测试的效能及准确性。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉本领域的手机用户人员均可在不违背本发明饿精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本发明的权利保护范围,应如后述的权利要求所列。

Claims (9)

1.一种存储装置的测试方法,应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,该测试方法至少包括:
预存数个存储装置类型及与各存储装置类型相对应的存储装置效能期望值于一连接至该计算机系统的数据库中;
提供一输入界面,以接收透过该输入装置所输入的待测存储装置类型及测试次数;
对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试;
根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,并依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果;以及
存储所有的效能测试结果及比较结果。
2.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,该计算机系统连接数个存储装置,该计算机系统提供该输入界面另接收相对的存储装置代码,通过各存储装置代码以供该计算机系统识别欲执行测试的存储装置,并令该计算机系统依据该待测存储装置类型及测试次数对所识别欲执行测试的存储装置执行符合该测试次数的效能测试。
3.如权利要求1或2所述的存储装置的测试方法,其中,该存储装置为硬盘。
4.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,还包括基于该平均值大于或等于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一通过测试的信息。
5.如权利要求1或4所述的存储装置的测试方法,其中,还包括基于该平均值小于该存储装置效能期望值的比较结果而透过该显示装置输出一未通过测试的信息。
6.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,该计算机系统中具有测试软件以执行该效能测试。
7.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,当该数据库未存储该存储装置类型而无法供该计算机系统依据该输入界面所接收到的存储装置类型自该数据库进行获取处理时,该计算机系统提供另一输入界面,从而对未存储的存储装置类型进行该存储装置类型及相对应的存储装置效能期望值的新增处理。
8.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,该计算机系统是将该所有的效能测试结果及比较结果存储至该计算机系统中。
9.如权利要求1所述的存储装置的测试方法,其中,该计算机系统是将各效能测试结果以及比较结果存储至与该计算机系统网络连接的一电子装置中。
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