CN102411071B - 一种高低温测试机 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种高低温测试机，包括测试单元、若干独立的测试腔，测试腔通过箱体壁上的通孔与外部连通，温度控制系统分别调整所述若干测试腔的温度；测试单元的一端设有置物板，待测物件置于所述置物板上；另一端为控制电路板，测试单元设有置物板的一端通过通孔插入所述测试腔，控制电路板在箱体之外。测试结束后，将测试单元从测试腔中抽出。本发明采用多测试腔独立温控系统，满足少量多样的测试需求，提高测试机的利用率；控制电路板置于箱体外，大大延长了其使用寿命；测试单元与箱体为插拔式连接，使用方便，整机外形美观。
Description
技术领域
本发明涉及一种工业产品高、低温的可靠性试验装置，具体地说，是一种对电子电工零部件产品在高低温控制下的性能指标测试装置。
背景技术
工业产品通常需要进行高、低温应用环境的可靠性试验。例如电子电工、汽车摩托等相关产品的零部件及材料，尤其是计算机硬盘，在高、低温交替变化的情况下,检验其各项性能指标。
现有的高低温测试机为内置温度控制系统的箱体结构，打开箱体门，将待若干测试物件放入箱体内，然后关上箱体们，通过温度控制系统对箱体内的高低温度变化设置，使物件处于高低温环境中。对于计算机硬盘的高低温测试，由于硬盘的使用需要驱动电路板的支持，因此现有的高低温测试机还内置有驱动电路板，以连接硬盘。
上述现有的高低温测试机存在这样的缺陷：一是整个箱体容积达，但是箱内为单一的温度环境，对于对环境温度耐受程度不同的物件的测试，无法同时置于测试机中，只能分开测试。对于零星的少量物件乃至单个物件，也必须独立占用测试机，这样既耽误时间，也浪费能源。二是对于用于计算机硬盘测试的高低温测试机，由于控制电路板位于测试箱体内，由于恶劣的测试环境，大大降低了控制电路板的使用寿命。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种高低温测试机，以克服现有技术的上述缺陷。
为解决上述技术问题，本发明提出了一种高低温测试机，包括箱体、温度控制系统，其特征在于，其特征在于，所述箱体内设置若干独立的测试腔，所述测试腔分别通过箱体壁上的通孔与外部连通，所述温度控制系统分别调整所述若干测试腔的温度；还包括测试单元，所述测试单元的一端设有置物板，待测物件置于所述置物板上；另一端为控制电路板，所述测试单元设有置物板的一端通过所述通孔插入所述测试腔，所述控制电路板在所述箱体之外。
作为优化，本发明还包括通孔框，所述通孔框为框体结构，该框体结构固定安装在所述通孔上，连接外界与所述测试腔，所述测试单元通过所述通孔框插入所述测试腔。
所述通孔框为隔热材料制作，以隔离所述测试腔与外界的热量交换。
所述通孔框内侧设有滑轨或滑槽，所述测试单元的外侧对应的滑槽或滑轨。
所述测试单元的置物板的数量为若干个，所述控制电路板上设有若干个电路接口，分别连接若干个放置置物板上的待测物件。
所述控制电路板上还安装显示屏，用于显示所述测试单元的状态。
所述测试单元还包括独立外部电源输入接口、外界网络通信输入接口以及电源与数据通信转换合并接口，所述电源与数据通信转换合并接口连接所述控制电路板。
所述独立外部电源输入接口、外界网络通信输入接口以及电源与数据通信转换合并接口分别安装在所述通孔框外侧。
所述测试单元还包括前面板、把手，所述覆盖安装在所述控制电路板上，所述把手安装在所述前面板上。
所述把手的安装端设有卡扣，当所述测试单元插入所述测试腔时，所述卡扣钩在所述通孔框上。
本发明有益效果包括：
1、本发明包括多个独立温控的测试腔，每个测试腔对应一个测试单元，每个测试单元具有独立的控制电路板，以及若干个待测物件。每个测试腔独立控制测试程式和测试时间，满足少量多样的测试需求，提高测试机的利用率，节能减碳。
2、控制电路板被置于箱体外，大大延长了其使用寿命。
3、现有技术取放待测物件的方式是整体开门，本发明取放待测物的方式是采用测试单元与箱体为插拔式连接，使用方便，整机外形美观。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案作进一步具体说明。
图1为高低温测试机的一个具体实施方式外观图。
图2为测试单元的主视图。
图3为图2的爆炸图。
图4为通孔框的主视图。
图5为测试单元与通孔框结合之前的主视图。
图6为测试单元与通孔框结合后的主视图。
具体实施方式
如图1所示一种高低温测试机，包括箱体1和内置的温度控制系统，温度控制系统显示以及控制屏2，箱体外壳上开有四个通孔3，每个通孔3连接的箱体1内的独立测试腔，通孔3上分别安装了通孔框4，通孔框为连接测试腔与外界的框体结构，分别对应四个测试单元5，温度控制系统分别设置和调整测试腔的温度。
如图2，并结合图3所示的测试单元的爆炸图，测试单元的一端设有若干个置物板20，待测物件7置于置物板20上。置物板20由上支架21，下支架22，左支架23，右支架24支撑，上支架21上设有滑槽19，下支架也设有滑槽，由于视图原因无法展示。测试单元的另一端设控制电路板，控制电路板包括基板25和控制电路模块8，控制电路模块8安装在基板25上，基板25与控制电路模块8之间连接总线连接。基板25上设有通信接口9，测试单元内靠近置物板20的一端还设有通信接口板10，通信接口9与通信接口板10通过电缆板11连接，通信接口板10分别与例如磁盘、电路板的待测物件连接。基板25上还安装显示屏12，显示屏12显示测试单元的状态。前面板6覆盖安装在控制电路模块8、基板25上，把手16安装在前面板6上,把手16安装端设有延伸的卡扣17。
如图4所示，通孔框4为隔热材料制作，以隔离测试腔与外界的热量交换。通孔框的内侧上设有滑轨18，分别与测试单元5的滑槽19对应，方便测试单元5与通孔框的插拔定位。通孔框的外周有一圈外围板27，外围板27上分别设有若干螺孔28，螺钉通过螺孔28将通孔框4固定安装在通孔3周围的箱体外壳上。通孔框4的前端设有前挡板29。前挡板29至外围板27之间的通孔框4外侧上分别安装独立外部电源输入接口13、外界网络通信输入接口14以及电源与数据通信转换合并接口26，电源与数据通信转换合并接口26与基板25连接，用于将外部电源输入接口13、外界网络通信输入接口14的信号分别转换后输入测试单元5上的基板25。
如图5、6所示，测试单元5设有置物板的一端插接入通孔框4，至测试单元5的卡扣17钩在通孔框4的前挡板29上，使测试单元5紧密结合在通孔框4上。结合图1，通孔框4的外围板27将通孔3覆盖，使测试腔成为封闭的测试环境。测试完毕，使钩在通孔框4上的测试单元5的卡扣17脱离通孔框4的前挡板29，就能够抽出测试单元5。
最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (9)
1.一种高低温测试机，包括箱体、温度控制系统，其特征在于，所述箱体内设置若干独立的测试腔，所述测试腔分别通过箱体壁上的通孔与外部连通，所述温度控制系统分别调整所述若干测试腔的温度；还包括测试单元，所述测试单元的一端设有置物板，待测物件置于所述置物板上；另一端为控制电路板，所述测试单元设有置物板的一端通过所述通孔插入所述测试腔，所述控制电路板在所述箱体之外；
所述测试单元还包括独立外部电源输入接口、外界网络通信输入接口以及电源与数据通信转换合并接口，所述电源与数据通信转换合并接口连接所述控制电路板。
2.根据权利要求1所述的高低温测试机，其特征在于，还包括通孔框，所述通孔框为框体结构，该框体结构固定安装在所述通孔上，连接外界与所述测试腔，所述测试单元通过所述通孔框插入所述测试腔。
3.根据权利要求2所述的高低温测试机，其特征在于，所述通孔框为隔热材料制作，以隔离所述测试腔与外界的热量交换。
4.根据权利要求3所述的高低温测试机，其特征在于，所述通孔框内侧设有滑轨或滑槽，所述测试单元的外侧对应的滑槽或滑轨。
5.根据权利要求4所述的高低温测试机，其特征在于，所述测试单元的置物板的数量为若干个，所述控制电路板上设有若干个电路接口，分别连接若干个放置置物板上的待测物件。
6.根据权利要求5所述的高低温测试机，其特征在于，所述控制电路板上还安装显示屏，用于显示所述测试单元的状态。
7.根据权利要求6所述的高低温测试机，其特征在于，所述独立外部电源输入接口、外界网络通信输入接口以及电源与数据通信转换合并接口分别安装在所述通孔框外侧。
8.根据权利要求7所述的高低温测试机，其特征在于，所述测试单元还包括前面板、把手，所述前面板覆盖安装在所述控制电路板上，所述把手安装在所述前面板上。
9.根据权利要求8所述的高低温测试机，其特征在于，所述把手的安装端设有卡扣，当所述测试单元插入所述测试腔时，所述卡扣钩在所述通孔框上。
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