CN203037782U - 批量测试发光二极管器件寿命的设备结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，包括机柜、设置在机柜内的多层滑动式抽屉、信号转接模块以及用于控制器件工作的计算机，所述计算机通过第一线缆与信号转接模块连接，所述每一层抽屉内固定有器件测试模块，在所述每块器件测试模块上安装有若干个用于放置待测试器件的测试盒，所述每一层抽屉内的器件测试模块通过第二线缆与信号转接模块连接。本实用新型可以同时对批量的发光二极管器件进行测试，且结构简单，布局紧凑，实施方便，易于维修检查，解决了现有设备器件安装及取下器件不方便，难以满足批量测试要求的技术问题，具有良好的应用前景。

Description

批量测试发光二极管器件寿命的设备结构

技术领域

本实用新型涉及一种测试发光二极管器件寿命的设备结构，尤其是一种可以批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，属于发光二极管测试领域。

背景技术

现有发光二极管寿命测试的设备，是通过给器件提供电压或者电流，使器件发光。通过采集器件工作的电压，电流以及亮度信号的值，从而分析得出器件的寿命。在测试时，将器件固定于安装器件的测试盒内，通过盒内的电极与器件电极接触，从而给器件提供电压或者电流。有现在有设备中，器件在安装时需要取下测试盒，安装完成后，再将其连接入设备中，这样的设备操作复杂，安装器件的过程容易对系统造成影响，不适用于批量器件的连续测试。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决上述现有技术的缺陷，提供一种结构简单、布局紧凑、实施方便的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构。

本实用新型的目的可以通过采取如下技术方案达到：

批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：包括机柜、设置在机柜内的多层滑动式抽屉、信号转接模块以及用于控制器件工作的计算机，所述计算机通过第一线缆与信号转接模块连接，所述每一层抽屉内固定有器件测试模块，在所述每块器件测试模块上安装有若干个用于放置待测试器件的测试盒，所述每一层抽屉内的器件测试模块通过第二线缆与信号转接模块连接。

作为一种优选方案，所述机柜内左右两侧设置有导轨，所述每一层抽屉通过导轨滑动连接在机柜上。

作为一种优选方案，所述机柜内安装有散热风扇，在机柜的门上开有用于辅助散热的通风孔。

作为一种优选方案，所述机柜内安装有用于记录器件工作中的温度及湿度的温度及湿度传感模块。

作为一种优选方案，所述计算机包括主机、显示器以及安装于主机上的数据采集模块与数字信号输出模块。

作为一种优选方案，所述每一层抽屉内的器件测试模块上安装有第一连接器；所述信号转接模块上安装有若干个第二连接器，其中一个第二连接器通过第一线缆与计算机连接，其余的第二连接器通过第二线缆分别与器件测试模块上的第一连接器连接。

作为一种优选方案，所述第二线缆为可随着器件测试模块一起运动的可弯曲线缆。

本实用新型相对于现有技术具有如下的有益效果：

1、本实用新型的抽屉通过导轨滑动连接在机柜上，利用这种滑动式抽屉，方便用户在测试的过程中安装及卸载发光二极管器件，在安装发光二极管器件的时候不再与系统断开，实现连续测试。

2、本实用新型由于在机柜中安装有多层抽屉，在每一层抽屉内的器件测试模块中放置多个器件测试盒，而每个测试盒的控制及数据采集均是独立的，因此可以同时对批量的发光二极管器件进行测试。

3、本实用新型利用信号转接模块分发来自计算机的信号，并汇总发光二极管器件的测试信息返回给计算机，简化了系统的结构。

4、本实用新型结构简单，布局紧凑，实施方便，易于维修检查，解决了现有设备器件安装及取下器件不方便，难以满足批量测试要求的技术问题，具有良好的应用前景。

附图说明

图1为本实用新型机柜开启的结构示意图。

图2为本实用新型计算机与信号转接模块的连接示意图。

具体实施方式

实施例1：

如图1和图2所示，本实施例的设备结构包括机柜1、多层滑动式抽屉2、信号转接模块3以及计算机4，所述多层滑动式抽屉2设置在机柜1内，所述机柜1内左右两侧设置有导轨9，所述每一层抽屉2通过导轨9滑动连接在机柜1上，所述每一层抽屉2内固定有器件测试模块6，在所述每块器件测试模块6上安装有若干个测试盒7，所述每一层抽屉2内的器件测试模块6上安装有第一连接器11；所述信号转接模块3上安装有若干个第二连接器12，其中一个第二连接器12通过第一线缆5与计算机4连接，其余的第二连接器12通过第二线缆8分别与器件测试模块6上的第一连接器11连接。

其中，所述机柜1内安装有散热风扇10，机柜1的门上还开有通风孔，用于辅助散热。所述机柜1内还安装有温度及湿度传感模块，用于记录器件工作中的温度及湿度。所述计算机4包括主机、显示器以及安装于主机上的数据采集模块与数字信号输出模块，在主机中还安装有相应的控制软件，通过操作软件界面实现数据的采集和显示。所述第二线缆8为柔软可弯曲线缆，可以随着器件测试模块6一起运动。所述测试盒7可以根据待测器件的形状进行设计。

本实施例的工作过程如下：

1）打开测试盒7的盒盖，放入待测的发光二极管器件，合上盒盖即完成的器件的安装；

2）在计算机4中的软件界面设置好待测器件的工作模式和参数，点击开始后，控制信号通过信号转接模块3分发到器件测试模块6，通过器件测试模块6驱动器件工作，器件工作时的信息再通过信号转接模块3送回到计算机4中进行处理并显示；

3）器件测试完成后，打开测试盒7，取出器件，即完成一个器件的寿命测试。类似的，可以将其它的器件放置于其它的测试盒7中，完成对批量器件的测试。

以上所述，仅为本实用新型优选的实施例，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型所公开的范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都属于本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：包括机柜（1）、设置在机柜（1）内的多层滑动式抽屉（2）、信号转接模块（3）以及用于控制器件工作的计算机（4），所述计算机（4）通过第一线缆（5）与信号转接模块（3）连接，所述每一层抽屉（2）内固定有器件测试模块（6），在所述每块器件测试模块（6）上安装有若干个用于放置待测试器件的测试盒（7），所述每一层抽屉（2）内的器件测试模块（6）通过第二线缆（8）与信号转接模块（3）连接。

2.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述机柜（1）内左右两侧设置有导轨（9），所述每一层抽屉（2）通过导轨（9）滑动连接在机柜（1）上。

3.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述机柜（1）内安装有散热风扇（10），在机柜（1）的门上开有用于辅助散热的通风孔。

4.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述机柜（1）内安装有用于记录器件工作中的温度及湿度的温度及湿度传感模块。

5.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述计算机（4）包括主机、显示器以及安装于主机上的数据采集模块与数字信号输出模块。

6.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述每一层抽屉（2）内的器件测试模块（6）上安装有第一连接器（11）；所述信号转接模块（3）上安装有若干个第二连接器（12），其中一个第二连接器（12）通过第一线缆（5）与计算机（4）连接，其余的第二连接器（12）通过第二线缆（8）分别与器件测试模块（6）上的第一连接器（11）连接。

7.根据权利要求1所述的批量测试发光二极管器件寿命的设备结构，其特征在于：所述第二线缆（8）为可随着器件测试模块（6）一起运动的可弯曲线缆。

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