KR19980035445A - 하드디스크 드라이브의 테스트장치 - Google Patents

하드디스크 드라이브의 테스트장치 Download PDF

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Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속하는 기술분야.
본 발명은 하드디스크 드라이브의 제조공정중 번인공정에서 사용하는 하드디스크 드라이브의 테스트장치에 관한것이다.
나. 발명이 해결하려는 기술적 과제.
본 발명의 목적은 테스트용 컴퓨터 1대로 다수개의 하드 디스크 드라이브를 동시에 테스트할 수 있어 테스트의 효율성을 향상시킬 수 있고, 두체임버가 일체형으로 구성되어져 안전성을 구비한 고 신뢰성의 장치를 제공하며, 일반사용자의 입장에서 사용자의 테스트환경과 동일한 테스트환경을 제공하여 테스트결과의 신뢰성을 제공한다.
다. 발명의 해결방법의 요지.
본 발명의 기술적사상에 따른 일실시예는 최적의 공간내에서 다수개의 하드디스크 드라이브를 효율적으로 테스트하기 위하여 다수개의 하드디스크 드라이브가 종횡방향으로 정렬되게 적층되는 구조인 고온의 번인 체임버와, 상기 다수개의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 차탈가능한 테스트용 컴퓨터가 종횡방향으로 정렬되게 위치하는 제어 체임버가 분리벽에 의해 구분되어져 일체형으로 구성되어짐을 특징으로한다.
라. 발명의 중요한 용도.
본 발명은 하드디스크의 번인공정에서 하드디스크 드라이브의 테스트 효율성을 증가시 킬 수 있으며, 최적의 공간과 시간으로 동시에 다수개의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 데 효과적이며, 저가의 비용으로 고효율성의 장치를 제공하는 잇점이 있고, 번인체임버와 제어체임버가 일체형의 구조를 구비함으로서, 기기의 안전성을 향상시키고, 일반사용자에게 테스트환경과 동일한 환경을 제공함으로서, 테스트결과의 신뢰성을 높일 수 있다.

Description

하드디스크 드라이브의 테스트장치
본 발명은 하드 디스크 드라이브(HDD)의 테스트장치(test system)에 관한 것으로, 특히 하드디스크 드라이브(HDD)의 제조공정중 번인 테스트공정(burn in test process)에서 한 대의 테스트용 컴퓨터를 사용하여 다수개의 조립된 하드디스크 드라이브들을 동시에 테스트할 수 있는 테스트장치에 관한 것이다.
통상적으로, 하드 디스크 드라이브(HDD:hard disc drive)는 기구적인 구성요소들로 이루어진 HDA(head disc assembly)와 회로적인 구성요소들로 이루어진 PCBA(printed circuit board assembly)를 결합한 하나의 시스템으로서, 회전하는 자기 디스크상을 헤드가 미세한 간극을 유지한 채 부상함으로서 데이타를 자기적으로 기록/독출하여 대량의 데이타를 고속으로 악세스(access)할 수 있기 때문에 컴퓨터 시스템의 보조기억장치로서 널리 사용된다. 그러한, 하드 디스크 드라이브를 조립하여 제품 출하할 시 여러가지 테스트를 수행하도록 되어있다.
하드디스크 드라이브의 제조공정을 간략하게 설명하면, 기구조립공정이후 완전하게 조립된 하드디스크를 성능을 테스트하기 위하여는 서보라이트 공정, 다음으로 기능 테스트공정, 다음으로 번인 공정, 다음으로 번인 공정을 통과한 하드디스크 드라이브 세트가 정상적으로 디펙처리가 되었는가를 확인하는 최종 테스트공정(final test process)등과 같은 후공정을 거쳐 제품을 출하한다.
하드디스크 드라이브의 제조공정을 상세히 설명하면, 제 1 단계인 상기 기구조립공정은 하드디스크 드라이브의 기계파트인 헤드 디스크 어셈블리(head disk assembly)를 조립하는 공정으로서, 클린 룸(clean room)내에서 이루어진다.
상기 제 2 단계인 서보 라이트공정은 액추에이터의 서보제어를 위한 서보기록패턴을 디스크상에 기록하는 공정으로서, 서보라이터에 의해 수행된다.
제 3 단계인 기능테스트공정은 상기 헤드 디스크 어셈블리 조립공정에서 만들어진 헤드 디스크 어셈블리(HDA)와 인쇄회로기판 어셈블리(PCBA)를 결합시켜 행해지는 최초의 테스트로서, 헤드디스크 어셈블리와 인쇄회로기판 어셈블리가 정상적으로 매칭되어 동작하는 것을 테스트한다. 이때, 약 20분∼25분간 기본 테스트를 거쳐 특정테스트 시스템과 결합하여 수행한다.
제조공정의 제 4 단계인 번인 공정은 하드디스크 드라이브의 제조공정중 가장 긴 시간(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정으로서, 별도의 테스트 시스템없이 번인 룸내의 래크상에서 자체 프로그램으로 수행된다. 이러한 번인 공정은 소비자가 하드디스크 드라이브를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기위해 디스크상에 존재하는 디펙부분을 미리 찾아내어 드라이브 사용할 때, 디펙부분을 피해 갈 수 있도록 선조치하는 공정을 말한다.
제 5 단계인 최종 테스트공정은 상기 번인 공정에서 통과한 하드디스크 드라이브 세트가 정상적으로 디펙처리 되었는가를 확인하기 위한 공정으로서, 특정 테스트 시스템을 이용하여 하드디스크 드라이브 세트마다의 디펙처리상태를 테스트한다. 이는 사용자환경에 맞게 각 퍼스널 컴퓨터에 하드디스크 드라이브를 1:1로 접속하여 놓고, 근거리 통신망을 통해 호스트 컴퓨터와 연결되어 있는 각 퍼스널 컴퓨터는 테스트 프로그램에 따라 세트를 테스트하며, 그 결과를 통해 호스트 컴퓨터로 출력한다. 이후, 호스트 컴퓨터는 각 퍼스널 컴퓨터로부터 입력되는 상태데이타를 디스플레이장치에 표시함으로서, 라인상에 위치한 작업자는 모니터링된 상태데이타로 합격여부를 결정한다. 마지막으로, 출하검사공정, 포장 및 출하공정을 통하여 하나의 완성된 제품으로 출하된다.
그러므로, 상기와 같은 각각의 테스트 공정에서 번인 공정의 테스트를 통과하는 종래의 과정을 간단하게 설명하면 하기와 같다.
통상적으로 종래의 하드디스크 드라이브의 테스트장치는 테스트보드 한 대에 하드드시크 드라이브 한 대 또는 두 대를 연결하여 테스트를 하는 구조로 되어있다. 또한 상기 테스트보드는 퍼스널 컴퓨터를 사용할 경우, 코스트측면을 고려하여 하드디스크 드라이브를 테스트 할 수 있도록 별도의 산업용 CPU 및 테스트에 필요한 구성부분만을 고려하여 제작되어 사용하였다.
또한, 종래의 하드디스크 드라이브의 테스트장치는 하드디스크 드라이브 한 대와 테스트 보드 한 대가 하나의 체임버내에 상하부 일체형으로 위치한 구조로, 다수 적층배열되는 구조로 이루어져 있으며, 하드디스크 드라이브의 착탈을 위해서 일체 구조간의 간격이 용이함만큼 이격되어 있는 구조를 갖는다. 또한, 상기 구조물의 단일의 고온 테스트 체임버내에 구성되어 있다.
그러나, 상기와 같은 종래의 테스트장치는 다수의 하드 디스크 드라이브를 테스트할 경우 테스트용 컴퓨터와 하드디스크 드라이브를 1:1로 연결하여 테스트 하는 구조로 되어있기 때문에 동시에 테스트를 필요로 하는 하드 디스크 드라이브의 수량만큼 상기 테스트용 컴퓨터를 필요로 하는 문제점이 있었다. 더욱이, 다른 문제점으로서, 상기와 같이 테스트할 하드 디스크 드라이브의수량만큼의 테스트용컴퓨터를 구비해야 하기 때문에 불필요한 생산바용의 낭비와, 상기 테스트할 하드 디스크 드라이브들과 다수의 테스트용컴퓨터들을 장착할 수 있는 착탈공간을 확대해야 하는 문제점이 있었다. 더욱이, 상기와 같은 문제점들로 인해 한번에 테스트 할 수량을 제한하는 경우 전체 생산공정이 지연되기 때문에 시간적인 손실을 줄 수 있는 문제점이 있었다. 그리고, 또다른 문제점으로서, 단일의 고온테스트 챔버(chamber)내에 테스트용 컴퓨터가 위치되기 때문에 테스트용컴퓨터 자체의 부품손상 등에 의한 고장을 유발할 수 있는 문제점이 있었다.
그리고, 또다른 문제점으로서, 별도의 테스트용 컴퓨터에 의해 이루어짐으로써 신뢰성 측면을 고려할 때 실제 사용자가 사용하는 일반 컴퓨터에 의해 테스트되는 환경과는 조금 떨어지는 문제점을 가진다.
상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명의 목적은 테스트용 컴퓨터 1대로 다수개의 하드 디스크 드라이브를 동시에 테스트할 수 있는 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 최적의 공간내에서 다수의 하드 디스크 드라이브들을 고온신뢰성 테스트 및 기능테스트를 수행할 수 있는 상기 다수의 하드 디스크 드라이브가 위치하는 고온 챔버와 상기 테스트용 컴퓨터가 위치하는 상온 챔버를 가지는 고신뢰성의 테스트장치를 제공함에 있다.
본 발명의 또다른 목적은 최적의 공간내에서 다수의 하드 디스크 드라이브를 일반사용자의 테스트환경과 동일한 상태에서 효율적으로 동시에 고온 신뢰성 및 기능 테스트할 수 있는 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 또다른 목적은 최적의 공간내에서 테스트용컴퓨터 1대와 다수의 하드 디스크 드라이브들이 장착된 두 체임버들간에 서로 일체형으로 연결될 수 있는 안전구조를 갖는 장치를 제공한다.
상기한 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 기술적사상에 따른 일실시예는 최적의 공간내에서 다수개의 하드디스크 드라이브를 효율적으로 테스트하기 위하여 다수개의 하드디스크 드라이브가 종횡방향으로 정렬되게 적층되는 구조인 고온의 번인 체임버와, 상기 다수개의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 칙탈가능한 테스트용 컴퓨터가 종횡방향으로 정렬되게 위치하는 제어 체임버가 분리벽에 의해 구분되어져 일체형으로 구성되어짐을 특징으로한다.
도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트장치의 전면을 나타내는 외관사시도
도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트장치의 후면을 나타내는 외관사시도
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트장치의 내부를 나타내는 측면도
도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트장치에서 다수개의 하드디스크 드라이브가 테스트용 컴퓨터에 접속되는 상태를 나타내는 분리사시도
*도면의주요부분에대한부호의설명*
10,20:도어30:번인 체임버
40:제어 체임버50:테스트용 컴퓨터
60:하드디스크 드라이브70:번인 테스트용 착탈지그
80:분리벽100:테스트장치
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명의 가장 바람직한 일실시예를 상세히 설명하기로 한다. 우선 각 도면을 설명함에 있어, 동일한 구성요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 도시되더라도 가능한 한 동일한 참조부호를 갖는다. 그리고, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 하드디스크 드라이브의 테스트장치의 전후면을 나타내는 사시도이다. 상기 도면을 참조하면,
본 발명의 하드디스크 드라이브의 테스트장치(100)는 최적의 공간내에서 다수개의 하드디스크 드라이브를 효율적으로 테스트하기 위하여 다수개의 하드디스크 드라이브가 종횡으로 정렬되게 적층되는 구조인 고온의 번인 체임버(30:burn in chamber)가 전방쪽으로 위치한다. 또한, 상기 다수개의 하드디스크 드라이브를 장착하여 테스트하는 테스트용 컴퓨터(50)가 종횡으로 정렬되게 위치하는 제어 체임버(40)가 분리벽(80)에 의해 구분되어져 일체형으로 장치의 후방에 구성되어진다.
상기 하드디스크 드라이브가 종횡으로 정렬되게 장착되기 위하여 다수개의 받침판(32)이 종횡으로 파티션(31)에 의해 고정되는 구조이고, 전면에 프런트도어(10)가 설치되어 개페가능하다. 또한, 장치의 상부전면에는 디스플레이부가 위치하여 제어체임버의 테스트결과를 용이하게 확인할 수 있으며, 하부에는 환기구(90)가 설치되어 온도조절이 가능한 히터등의 열기가 배출되는 통로역할을 한다. 이때, 상기 히터의 덕트에는 블로어가 설치되어 고온의 환경을 균형있게 제공한다.
상기 하드디스크 드라이브의 내부구성을 도 3, 도 4를 참조하여 상세하게 설명하면, 이미 기술하였듯이, 분리벽(80)에 의해 번인 체임버(30)와 제어 체임버(40)가 구분되어 있다. 상기 체임버(30)는 하드디스크 드라이브(60)의 고온 신뢰성 테스트를 할 수 있는 환경을 제공한다. 또한, 하드디스크 드라이브의 테스트시 장착되고 완료시 꺼낼 수 있도록 착탈가능한 구조이다. 더욱이, 상기 번인 체임버(30)에는 테스트용 컴퓨터 한 대에 대해서 다수개의 하드디스크 드라이브가 연결되고, 적층되는 구조이고, 이런한 구조가 반복됨으로서 최적의 공간에서 효율적으로 다수개의 하드디스크 드라이브를 동시에 테스트를 할 수 있다.
이때, 상기 하드디스크 드라이브(60)가 장착되는 각각의 공간에는 번인 테스트용 착탈지그(70)가 각각 설치되어져 테스트용 컴퓨터(50)에 연결하기 전에 먼저 하드디스크(60) 장착시, 상기 지그(70)에 장착한다. 상기 착탈지그(70)는 통상의 자라면 용이하게 이해할 수 있듯이, 하드디스크 드라이브의 파워콘넥터에 위치한 파워핀과 신호핀을 접속할 수 있는 콘넥터(71)가 지그의 내측방향으로 접속되어 있으며, 외측에는 상기 콘넥터(71)와 접속된 포고 핀(72)이 위치한다. 이러한 콘넥터가 접속된 상기 착탈지그(70)는 분리벽(80)에 고정된 콘넥터(81)에 의해 접속되어 하드디스크 드라이브의 콘넥터(52)에 연결되는 구조이다. 도 4에서는 한 대의 테스트용 컴퓨터(50)에 6개의 하드디스크 드라이브(60)를 테스트 할 수 있는 구조이다. 즉, 한 대의 컴퓨터(50)에는 6개의 콘넥터(52)가 종방향으로 적층되게 위치하고, 이와 상응하게 분리벽(80)에는 6개의 콘넥터(81)가 설치되고, 결과적으로, 6대의 하드디스크 드라이브(60)를 장착하여 테스트할 수 있다. 부가적으로, 상기 분리벽(80)에는 상기 테스트용 컴퓨터(50)가 착탈시 정확히 슬라이딩이동을 하여 서로 고정되도록 소정의 위치에 다수개의 위치가이드 돌기(82)를 제어 체임버(40)쪽으로 향하게 형성하고, 상기 돌기(82)에 상응하게 위치가이드 홀(53)을 컴퓨터(50)의 후면모서리부에 형성한다.
상기 테스트장치(100)의 상하부 번인 체임버(30)에는 도 3에 도시된 바와같이, 체임버(30)내의 온도를 조절할 수 있도록 상하부에 각각 고온의 환경을 제공하기 위하여 히터(heater)와 상기 히터의 열풍을 가압하는 블로어(blower)가 설치되어 있고, 상기 제어 체임버의 상부에는 다수개의 테스트용 컴퓨터를 제어하는 서버 컴퓨터(Sever computer)부와 그의 하부에는 본 장치에 전원을 공급하는 전원공급부(DC-power supply)가 설치되어 전원을 공급하는 구조이다. 또한, 상기 전원부의 전원을 효율적으로 분배할 수 있는 전원분배부(power distribution)등이 위치한다.
상기 제어 체임버(40)에 장착되는 테스트용 컴퓨터(50)는 유지보수를 위해 착탈이 가능하도록 손잡이(51)가 설치되고, 그의 내부는 전원부, 메인보드부 및 하드디스크와 연결되도록 종방향으로 위치한 다수개의 콘넥터가 설치된다. 따라서, 단 한 대의 테스트용 컴퓨터에는 다수개의 하드디스크 드라이브를 접속하여 테스트가능하다. 따라서, 상기 컴퓨터는 유지보수를 보다 효율적으로 할 수 있고, 해당 테스트 컴퓨터의 단순교환에 의해 테스트장치의 교환수리를 할 수 있다.
결과적으로, 두 개로 구성된 일체형의 체임버(30,40)를 구분해 주는 분리벽(80)에 케이블에 연결된 콘넥터(80)를 설치함으로서, 번인 체임버(30)에 설치된 각각의 착탈지그(70)에 하드디스크 드라이브(60)가 상기 콘넥터(71,81)에 접속되고, 이어서 상기 콘넥터(81)는 테스트용 컴퓨터(50)에 접속되어 짐으로서 보다 정확하고, 편리하게 하드디스크의 제조공정중 번인공정에서 하드디스크 드라이브의 성능을 테스트할 수 있다.
이상으로 살펴본 바와같이, 본 발명은 하드디스크의 번인공정에서 하드디스크 드라이브의 테스트 효율성을 증가시 킬 수 있으며, 최적의 공간과 시간으로 동시에 다수개의 하드디스크 드라이브를 테스트하는 데 효과적이며, 저가의 비용으로 고효율성의 장치를 제공하는 잇점이 있다. 또한, 번인체임버와 제어체임버가 일체형의 구조를 구비함으로서, 기기의 안전성을 향상시키고, 일반사용자에게 테스트환경과 동일한 환경을 제공함으로서, 테스트결과의 신뢰성을 높일 수 있다. 한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도내에서 여러 가지 변형이 가능함은 당해분야에서 통상의 지식을 가진자에게 있어 자명한 사실이다.

Claims (4)

  1. 하드디스크 드라이브 일련의 제조공정중 번인 공정에서 사용하는 테스트장치에 있어서,
    최적의 공간내에서 다수개의 하드디스크 드라이브(60)를 효율적으로 테스트하기 위하여 다수개의 하드디스크 드라이브가 종횡방향으로 정렬되게 적층되는 구조인 고온의 번인 체임버(30)와, 상기 다수개의 하드디스크 드라이브(60)를 테스트하는 착탈가능한 테스트용 컴퓨터(50)가 종횡방향으로 정렬되게 위치하는 제어 체임버(40)가 분리벽(80)에 의해 구분되어져 일체형으로 구성되어짐을 특징으로하는 하드디스크 드라이브의 테스트장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트용 컴퓨터(50) 한 대와 상기 다수개의 하드디스크 드라이브(60)가 각각 체임버내에 설치되어 효율적으로 연결되어지도록 상기 컴퓨터(50)에 종방향으로 다수개의 콘넥터(52)가 위치하는 구조임을 특징으로하는 하드디스크 드라이브의 테스트장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트용 컴퓨터(50)가 착탈시 분리벽(80)에 정확히 슬라이딩이동을 하여 서로 고정되도록 소정의 위치에 다수개의 위치가이드 돌기(82)를 제어 체임버(40)쪽으로 향하게 형성하고, 상기 돌기(82)에 상응하게 위치가이드 홀(53)을 컴퓨터(50)의 전면에 형성함을 특징으로하는 하드디스크 드라이브의 테스트장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 각각의 테스트용 컴퓨터(50)의 착탈이 용이하도록 전면에 손잡이(51)를 설치함을 특징으로하는 하드디스크 드라이브의 테스트장치.
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KR1019970014867A KR100214308B1 (ko) 1996-05-11 1997-04-22 하드디스크 드라이브의 테스트장치
MYPI97001932A MY119177A (en) 1996-05-11 1997-05-02 System for testing hard disk drives
CN97113226A CN1114109C (zh) 1996-05-11 1997-05-11 用于测试硬盘驱动器的系统和方法
JP12125597A JP4027459B2 (ja) 1996-05-11 1997-05-12 ハードディスクドライブのテスト装置及びテスト方法
GB9709491A GB2312984B (en) 1996-05-11 1997-05-12 System for testing hard disk drives
GB9822724A GB2328782B (en) 1996-05-11 1997-05-12 System for testing hard disk drives
US08/854,723 US6169413B1 (en) 1996-05-11 1997-05-12 System for testing hard disk drives

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KR1019960053789A KR19980035445A (ko) 1996-11-13 1996-11-13 하드디스크 드라이브의 테스트장치

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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486225B1 (ko) * 1997-12-22 2005-07-29 삼성전자주식회사 하드디스크드라이브의검사시스템
US7219028B2 (en) 2003-05-15 2007-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for testing hard disk drive
US7243043B2 (en) 2003-05-15 2007-07-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of testing hard disk drive and computer readable medium therefor
KR100779114B1 (ko) * 2006-10-04 2007-11-27 (주)명정보기술 스카시 인터페이스 변환 기술을 적용한 하드디스크 다중테스트장치
US7401168B2 (en) 2003-05-15 2008-07-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for communication via serial multi-port, and recording medium
WO2009129102A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8964361B2 (en) 2010-07-21 2015-02-24 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
KR102309452B1 (ko) * 2021-01-11 2021-10-07 밸류플러스테크놀러지 주식회사 Ssd 테스트용 멀티 인터페이스 장치
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
US12007411B2 (en) 2021-06-22 2024-06-11 Teradyne, Inc. Test socket having an automated lid

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486225B1 (ko) * 1997-12-22 2005-07-29 삼성전자주식회사 하드디스크드라이브의검사시스템
US7219028B2 (en) 2003-05-15 2007-05-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus for testing hard disk drive
US7243043B2 (en) 2003-05-15 2007-07-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of testing hard disk drive and computer readable medium therefor
US7401168B2 (en) 2003-05-15 2008-07-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for communication via serial multi-port, and recording medium
KR100779114B1 (ko) * 2006-10-04 2007-11-27 (주)명정보기술 스카시 인터페이스 변환 기술을 적용한 하드디스크 다중테스트장치
WO2009129102A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US8964361B2 (en) 2010-07-21 2015-02-24 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
KR102309452B1 (ko) * 2021-01-11 2021-10-07 밸류플러스테크놀러지 주식회사 Ssd 테스트용 멀티 인터페이스 장치
US12007411B2 (en) 2021-06-22 2024-06-11 Teradyne, Inc. Test socket having an automated lid

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