KR100486225B1 - 하드디스크드라이브의검사시스템 - Google Patents
하드디스크드라이브의검사시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100486225B1 KR100486225B1 KR1019970072010A KR19970072010A KR100486225B1 KR 100486225 B1 KR100486225 B1 KR 100486225B1 KR 1019970072010 A KR1019970072010 A KR 1019970072010A KR 19970072010 A KR19970072010 A KR 19970072010A KR 100486225 B1 KR100486225 B1 KR 100486225B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- hard disk
- disk drive
- frame
- inspection system
- stand
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
- G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
- G11B2220/2508—Magnetic discs
- G11B2220/2516—Hard disks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
하드 디스크 드라이브 검사 시스템에 관해 개시된다. 개시된 하드 디스크 드라이브 검사 시스템은 나란하게 설치되며 그 상면에 하드 디스크 드라이브가 적재되는 다수의 지지플레이트와, 상기 지지플레이트들의 모서리를 지지하는 프레임과, 상기 프레임의 하단에 부착된 다수의 롤러를 구비하는 하드 디스크 드라이브 적치대; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 적재된 각각의 하드 디스크 드라이브의 연결핀과 대응되게 대응핀이 형성된 다수의 테스트용 인터페이스가 적재되는 하드 디스크 드라이브 검사대;를 구비하는 것으로서, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 분리형 구조를 이루고, 상기 하드 디스크 드라이브의 검사시 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 결합되며, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대의 결합이 정확히 이루어질 수 있도록, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대의 상기 프레임에는 다수의 가이드 핀이 형성되고, 상기 하드 디스크 드라이브 검사대에는 상기 가이드 핀들에 대응되는 부위에 결합홈이 형성되는 것을 특징으로 한다. 이로써, 하드 디스크 드라이브의 검사시간이 단축되어 작업효율이 향상되는 이점이 있다.
Description
본 발명은 하드 디스크 드라이브 검사 시스템에 관한 것으로, 검사 효율이 향상되도록 그 구조가 개선된 하드 디스크 드라이브 검사 시스템에 관한 것이다.
통상적으로, 하드 디스크 조립후에, 검사과정을 거치고 이상이 있는 하드디스크 드라이브는 골라내고 이상이 없는 것만 출하하게 되는데, 조립된 상기 하드 디스크 드라이브를 검사하기 위해서는 우선, 작업자에 의해 하드 디스크 드라이브가 운반 트레이에 적재된다. 작업자는 하드 디스크 드라이브가 적재된 운반 트레이를 검사 시스템이 위치한 곳으로 이동시켜 운반 트레이로부터 하드 디스크 드라이브를 하나씩 꺼내어 검사 시스템에 안착시킨다. 검사 시스템에 안착된 하드 디스크 드라이브들은 검사되고, 검사된 하드 디스크 드라이브는 하나씩 검사 시스템으로부터 운반 트레이에 다시 적재된다. 검사 과정을 마치고 운반 트레이에 적재된 하드 디스크 드라이브는 포장 공정으로 이동되어 포장되고 출하된다.
그러나, 상기한 하드 디스크 드라이브의 검사 과정은 작업자가 하드 디스크 드라이브를 한 개씩 운반 트레이에 적재하고 검사 공정으로 이동시킨후, 하나씩 검사 시스템의 지그에 장착하기 때문에 작업시간이 많이 소요되고, 작업자의 피로도가 증가되는 문제점이 발생된다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 작업시간을 단축시키고 작업효율을 증가시킬 수 있도록 그 구조가 개선된 하드 디스크 드라이브 검사 시스템을 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브의 검사 시스템은 나란하게 설치되며 그 상면에 하드 디스크 드라이브가 적재되는 다수의 지지플레이트와, 상기 지지플레이트들의 모서리를 지지하는 프레임과, 상기 프레임의 하단에 부착된 다수의 롤러를 구비하는 하드 디스크 드라이브 적치대; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 적재된 각각의 하드 디스크 드라이브의 연결핀과 대응되게 대응핀이 형성된 다수의 테스트용 인터페이스가 적재되는 하드 디스크 드라이브 검사대;를 구비하는 것으로서, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 분리형 구조를 이루고, 상기 하드 디스크 드라이브의 검사시 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 결합되며, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대의 결합이 정확히 이루어질 수 있도록, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대의 상기 프레임에는 다수의 가이드 핀이 형성되고, 상기 하드 디스크 드라이브 검사대에는 상기 가이드 핀들에 대응되는 부위에 결합홈이 형성되는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브의 실시예를 상세히 설명한다. 도 1은 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템의 하드 디스크 드라이브 적치대를 개략적으로 도시한 사시도이다. 도 2는 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템의 하드 디스크 드라이브의 검사대를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 1과 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템은 하드 디스크(12)가 장착되는 하드 디스크 드라이브 적치대(10)와, 상기 적치대(10)에 장착된 하드 디스크(12)를 검사하는 하드 디스크 드라이브 검사대(20)를 포함한다.
상기 하드 디스크 드라이브 적치대(10)는 전면과 후면이 개방된 프레임(15)을 구비한다. 상기 프레임(15)의 전면에는 돌출된 다수개의 가이드 핀(11)이 부착되어 있고 프레임의 하부에는 네 개의 롤러(16)가 부착되어 있다. 특히, 상기 가이드 핀(11)은 프레임으로부터 연장되어 일체로 형성되는 것이 바람직하다. 전면과 후면이 개방된 프레임(15)의 내부에는 상부에서 하방으로 나란하게 배열된 다수개의 지지플레이트(14)가 설치된다. 이 지지플레이트(14)의 상면에 하드 디스크 드라이브가 장착된다.
상기 하드 디스크 드라이브 검사대(20)는 상기 가이드 핀(11)들에 대응되는 부위에 결합홈(21)이 형성되며 상기 가이드 플레이트(14)의 상면에 적재된 각각의 하드 디스크 드라이브(12)의 연결핀(13)과 대응되게 대응핀(22)이 형성된 다수의 테스트용 인터페이스가 적재되어 있다.
상기한 하드 디스크 드라이브 검사대와 적치대를 포함한 하드 디스크 드라이브 검사 시스템의 사용법은 다음과 같다.
먼저, 조립된 하드 디스크 드라이브들이 하드 디스크 드라이브 적치대(10)의 지지플레이트(14) 상면에 장착된다. 이때, 컨베이어 벨트를 사용하여 자동으로 적재하는 것이 바람직하다. 하드 디스크 드라이브 적치대(10)에 하드 디스크 드라이브가 장착되면, 하드 디스크 드라이브 적치대(15)를 테스트실로 이동시킨 후, 적치대(10)의 가이드핀(11)을 하드 디스크 드라이브 검사대(20)의 결합홈(21)에 삽입시킴으로써 하드 디스크 드라이브 검사대(20)와 결합시킨다. 이때, 하드 디스크 드라이브의 연결핀(22)들은 검사대(20)에 장착된 인터페이스 대응핀(22)들에 결합되어 고정된다. 인터페이스에 전기도통 가능하게 연결된 상기 하드 디스크 드라이브(12)는 인터페이스에 의해 검사되어지고, 검사가 완료된 하드 디스크 드라이브(12)는 적치대(10)에 적재된 상태에서 상기 검사대(20)의 인터페이스와 분리되어지고 포장공정으로 이동되어 포장된 후 출하된다.
상기한 하드 디스크 드라이브 검사 시스템은 다음과 같은 효과가 수반된다.
첫째, 하드 디스크 드라이브의 검사 시간이 단축된다.
본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템은 다수의 하드 디스크 드라이브를 적치대에 장착한 상태에서 적치대와 검사대가 결합되어 전체적으로 일시에 검사을 하게 되므로 적치대에 하드 디스크 드라이브를 하나씩 싣고 내리는 과정이 종래에 비해 줄어들어 하드 디스크 드라이브 검사 시간이 단축되는 이점이 있다.
둘째, 작업 효율이 종래에 비해 향상된다.
하드 디스크 드라이브의 조립이 완료된후, 검사과정과 포장과정을 거쳐 출하되는데, 상기 검사과정의 작업 시간이 종래에 비해 단축되기 때문에 전체적으로 작업 효율이 향상되는 이점이 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나. 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허 청구범위에 한해서 정해져야 할 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템의 하드 디스크 드라이브 적치대를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브 검사 시스템의 하드 디스크 드라이브 검사대를 개략적으로 도시한 사시도이다.
〈 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 〉
10...하드 디스크 드라이브의 적치대
11...가이드 핀 12...하드 디스크 드라이브
13...연결핀 14...지지플레이트
15...프레임 16...프레임
20...하드 디스크 드라이브의 검사대
21...결합홈 22...테스트용 인터페이스
23...대응핀
Claims (1)
- 나란하게 설치되며 그 상면에 하드 디스크 드라이브가 적재되는 다수의 지지플레이트와, 상기 지지플레이트들의 모서리를 지지하는 프레임과, 상기 프레임의 하단에 부착된 다수의 롤러를 구비하는 하드 디스크 드라이브 적치대; 및 상기 지지 플레이트의 상면에 적재된 각각의 하드 디스크 드라이브의 연결핀과 대응되게 대응핀이 형성된 다수의 테스트용 인터페이스가 적재되는 하드 디스크 드라이브 검사대;를 구비하는 하드 디스크 드라이브 검사 시스템에 있어서,상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 분리형 구조를 이루고,상기 하드 디스크 드라이브의 검사시 상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대는 결합되며,상기 하드 디스크 드라이브 적치대와 상기 하드 디스크 드라이브 검사대의 결합이 정확히 이루어질 수 있도록, 상기 하드 디스크 드라이브 적치대의 상기 프레임에는 다수의 가이드 핀이 형성되고, 상기 하드 디스크 드라이브 검사대에는 상기 가이드 핀들에 대응되는 부위에 결합홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브의 검사 시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970072010A KR100486225B1 (ko) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 하드디스크드라이브의검사시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019970072010A KR100486225B1 (ko) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 하드디스크드라이브의검사시스템 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR19990052519A KR19990052519A (ko) | 1999-07-15 |
| KR100486225B1 true KR100486225B1 (ko) | 2005-07-29 |
Family
ID=37303815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019970072010A KR100486225B1 (ko) | 1997-12-22 | 1997-12-22 | 하드디스크드라이브의검사시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100486225B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100788817B1 (ko) * | 2007-01-18 | 2007-12-27 | (주)이오텍 | 하드디스크 검사장치의 디스크 지그 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01259271A (ja) * | 1988-04-07 | 1989-10-16 | Awa Eng Co | 記録媒体検査装置 |
| US4888549A (en) * | 1987-10-30 | 1989-12-19 | Wilson Laboratories, Inc. | System for testing individually a plurality of disk drive units |
| US4967155A (en) * | 1988-04-08 | 1990-10-30 | Micropolis Corporation | Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives |
| US5268637A (en) * | 1991-12-16 | 1993-12-07 | Venturedyne, Ltd. | Carrier for testing circuit boards |
| JPH06274943A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録媒体の自動検査装置 |
| KR19980035445A (ko) * | 1996-11-13 | 1998-08-05 | 김광호 | 하드디스크 드라이브의 테스트장치 |
-
1997
- 1997-12-22 KR KR1019970072010A patent/KR100486225B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4888549A (en) * | 1987-10-30 | 1989-12-19 | Wilson Laboratories, Inc. | System for testing individually a plurality of disk drive units |
| JPH01259271A (ja) * | 1988-04-07 | 1989-10-16 | Awa Eng Co | 記録媒体検査装置 |
| US4967155A (en) * | 1988-04-08 | 1990-10-30 | Micropolis Corporation | Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives |
| US5268637A (en) * | 1991-12-16 | 1993-12-07 | Venturedyne, Ltd. | Carrier for testing circuit boards |
| JPH06274943A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記録媒体の自動検査装置 |
| KR19980035445A (ko) * | 1996-11-13 | 1998-08-05 | 김광호 | 하드디스크 드라이브의 테스트장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19990052519A (ko) | 1999-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI601965B (zh) | Component Processor | |
| US11105841B2 (en) | Flying probe electronic board tester, and test method thereof | |
| KR101175770B1 (ko) | 렌즈 검사 시스템 및 이를 이용한 렌즈 검사 방법 | |
| TW201945089A (zh) | 電子部件測試用分選機 | |
| KR100486225B1 (ko) | 하드디스크드라이브의검사시스템 | |
| KR100295786B1 (ko) | Ic 패키지 전송 및 재배치 장치 | |
| KR100522084B1 (ko) | 핸들러용 트레이 로딩/언로딩장치 | |
| CN116430206A (zh) | 用于整板电子元件的自动测试设备 | |
| KR100776814B1 (ko) | 전자부품 테스트용 핸들러 | |
| KR100380962B1 (ko) | 반도체 소자 실장 테스트 핸들러 | |
| KR102584213B1 (ko) | 배터리 클램프 조립불량 검사용 용접검사장치 | |
| KR100344240B1 (ko) | 불량모듈아이씨수거 트레이 이송장치 | |
| CN214767089U (zh) | 一种全自动老化测试系统 | |
| JPS5963576A (ja) | 汎用パツケ−ジ試験用フイクスチヤ | |
| CN219574154U (zh) | Fct测试系统 | |
| CN108957285A (zh) | 电子部件试验装置用的载体 | |
| KR100893141B1 (ko) | 테스트 핸들러 | |
| CN216595193U (zh) | 一种芯片质量检测的测试机用放置台 | |
| KR20030016060A (ko) | 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커 | |
| CN217506303U (zh) | 一种偏光片贴合后超玻璃边检测治具 | |
| KR20000042989A (ko) | 번인 테스터용 번인보드 | |
| KR200302342Y1 (ko) | 기판 모듈 검사 장치의 테스터 | |
| KR20010084288A (ko) | 알파칩 핸들러 | |
| JP2599036Y2 (ja) | Ｉｃデバイス搬送トレイを用いたｉｃハンドラ | |
| KR200291726Y1 (ko) | 소켓가이드및소켓가이드조립체 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |