JP4027459B2 - ハードディスクドライブのテスト装置及びテスト方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明はハードディスクドライブの性能を試験するためのテスト装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般にハードディスクドライブは、組立工程によりメカの組み立てが終わると、性能をテストするために、サーボ書込工程、機能テスト工程、バーンイン工程、該バーンイン工程を経たハードディスクドライブセットの不良処理が正常かどうかを確認する最終テスト工程の各試験工程を経て出荷されることになる。その中でもバーンイン工程は、ハードディスクドライブの製造工程中で一番長い時間(通常8時間〜16時間)を占める工程である。このバーンイン工程は、ディスクに潜在する欠陥部分を予め探し出し、ドライブ使用時にはその欠陥部分を避けていくことができるように処置する試験工程で、バーンインルーム内のラックに収めてのセルフプログラムによって別途のテストシステムを使用することなく実施される。
【0003】
ハードディスクドライブのテスト工程では、図1に示すように、1台のハードディスクドライブ20を1台のテスト用コンピュータ10に接続したシステムを使用して各種のテストが実施される。2台のハードディスクドライブ20を1台のテスト用コンピュータ10に接続してテストすることもあるが、この場合には、2台のうち一方をマスタ(master)、他方をスレーブ(slave) として一度に1台ずつテストを実施するようにしている。
【0004】
このようなハードディスクドライブのテスト装置は、1台のハードディスクドライブと1台のテスト用コンピュータを上下一体的につなぎ、このテスト構造を多数、ハードディスク着脱のための間隔を適宜設けてマトリックス状に配列し、1つのチャンバ(テストチャンバ)内に位置させるようにしてある。バーンイン工程では、このようなテスト構造が単一の高温テストチャンバ内に構成されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来のテスト装置では、多数のハードディスクドライブをテストする場合、テスト用コンピュータとハードディスクドライブを1:1で接続してテストする構造になっているため、同時にテストするハードディスクドライブの数量だけテスト用コンピュータも必要となる。このため、テストするハードディスクドライブ及びテスト用コンピュータを装填し得るだけの広い着脱空間を設けなければならないなど、コスト高につながる不具合がある。このような問題から、一度にテストする数量を制限すれば、生産工程が延びてしまうので好ましくない。
【0006】
また、バーンイン工程では単一の高温テストチャンバ内にテスト用コンピュータも位置することになるため、テスト用コンピュータ自体の故障が誘発される可能性を否定することはできない。この他にも、専用のテスト用装置によるものであるため、実際の使用者が使用している一般コンピュータによるテスト環境とはやや離れることになり、高信頼性の点で問題がないとは言い切れない。
【0007】
従って本発明の目的は、多数のハードディスクドライブを1つのホストコンピュータに接続してテストし得るテスト装置及び方法を提供することにある。また、最適容積で多数のハードディスクドライブをテストでき、更にハードディスクドライブは高温チャンバでテスト用コンピュータは常温チャンバでテストできるようなテスト装置及び方法を提供する。そして、多数のハードディスクドライブを一般使用者のテスト環境と同様の状態で効率的に同時にテスト可能であるテスト装置を提供する。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この目的のために本発明のハードディスクドライブのテスト装置は、多数のハードディスクドライブを収容する高温のバーンインチャンバと、分離壁によって前記バーンインチャンバと分離され、前記バーンインチャンバ内のハードディスクドライブに接続するテスト用コンピュータを多数収容する制御チャンバと、前記バーンインチャンバの内部環境制御及び前記テスト用コンピュータの制御を行うホストコンピュータと、を備えてなることを特徴とする。その分離壁には、ハードディスクドライブとテスト用コンピュータを接続するコネクタを通す貫通孔を多数形成し、1台のテスト用コンピュータにつき複数台のハードディスクドライブを接続することができるようにしておく。また、分離壁の制御チャンバ側に多数の位置ガイド突起を突設し、これを受ける位置ガイド溝をテスト用コンピュータに設けて着脱時に摺動させるようにしてあるとよい。
【0009】
また本発明のハードディスクドライブのテスト装置は、多数のハードディスクドライブを同時にテストするようにテスト制御信号を発生するホストコンピュータと、このホストコンピュータに多数接続され、前記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブをテストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホストコンピュータへ伝える複数のテスト用コンピュータと、このテスト用コンピュータ1台につき複数ずつ接続され、該テスト用コンピュータとハードディスクドライブとのデータ伝送動作を制御するIDEアダプタと、を備え、1台の前記テスト用コンピュータで複数のハードディスクドライブをテスト可能であることを特徴とする。
【0010】
或いは、本発明によれば、1台のホストコンピュータに多数のテスト用コンピュータを接続し、そしてその各テスト用コンピュータにそれぞれ複数のIDEアダプタを接続し、更にその各IDEアダプタにそれぞれ複数台のハードディスクドライブを接続して行うハードディスクドライブのテスト方法として、テスト実行命令を入力したホストコンピュータから複数のテスト用コンピュータへテスト制御信号を発生する第1過程と、ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプログラムをダウンロードした複数のテスト用コンピュータそれぞれが、そのプログラムに基づいてテスト命令を複数のIDEアダプタを通じて複数のハードディスクドライブへ伝送する第2過程と、そのテスト命令を受信したハードディスクドライブが該当テストを行った結果をIDEアダプタを通じてテスト用コンピュータが受け取る第3過程と、ハードディスクドライブからテスト結果を受信したテスト用コンピュータがホストコンピュータへそのテスト結果を報告する第4過程と、を遂行することを特徴とするテスト方法が提供される。
【0011】
その第1過程は、テスト実行命令を入力したホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複数のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、そのブートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを形成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェックした後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行することができる。また、第4過程の後、テスト用コンピュータがホストコンピュータからのテスト終了メッセージを確認し、該テスト終了メッセージが受信されたときにテスト結果をハードディスクドライブのメンテナンスシリンダに記録するように制御する第5過程を遂行することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態につき添付の図面を参照して詳細に説明する。
【0013】
図2及び図3に、ハードディスクドライブのテスト装置の前後面を斜視図で示す。図示のようにこのテスト装置200は、最適容量で多数のハードディスクドライブ60(図5)を効率的にテストするために、多数のハードディスクドライブ60を縦横に整列させて積層状態で収容する高温のバーンインチャンバ(burn in chamber) 30が前方に設けられている。そして、その多数のハードディスクドライブ60を装着してテストするテスト用コンピュータ50を縦横に整列させて配置するための制御チャンバ40が、バーンインチャンバ30との一体形で且つ分離壁80により区分して装置後方に設けられている。
【0014】
図4の内部構造に示すように、バーンインチャンバ30の内部環境つまり温度や湿度を制御し、制御チャンバ40に位置したテスト用コンピュータ50の制御信号を発生するホストコンピュータは、チャンバの上部に位置する。即ち、バーンインチャンバ30は前方に位置し、制御チャンバ40は後方に位置し、ホストコンピュータは制御チャンバ40の上部に位置するようにして、1つのシステムにまとめた構造である。
【0015】
テスト装置200の前面部には吸気口90が設けられ、後面部には空気を吸入する多数の吸気口、フィルタ及び排気口が設けられる。バーンインチャンバ30では、ハードディスクドライブ60が縦横に整列するように、中空の支持ダクト31によって多数のハードディスクドライブ治具70が縦横に配列され、バーンインチャンバ30を密閉するフロントドア10が前面に開閉可能に設けてられている。また、テスト装置200の前面上部にはディスプレイが配設され、その横にキーボードが配置してあって入力指示を行えるようにしてあり、テスト結果を容易に確認することができる。更に、電圧表示部も配設されており、容易にチャンバの電源状態を確認することができる。
【0016】
分離壁80によって区分されたバーンインチャンバ30と制御チャンバ40のうちバーンインチャンバ30は、ハードディスクドライブ60の高温信頼性テストを行うことのできる環境を提供する。そして、ハードディスクドライブ60をテスト時に装着して完了時に取り出すことのできる着脱可能な構造である。更に、バーンインチャンバ30では、1台のテスト用コンピュータ50に対して複数のハードディスクドライブ60を接続して積層する構造とされ、このような構造が繰り返されることにより、最適容量で効率的に多数のハードディスクドライブ60を同時テストすることができる。
【0017】
ハードディスクドライブ60は、バーンインチャンバ30内に配列された治具70に装着される。この治具70は、よく知られたポゴピン(pogo pin)70をその内側に有し、該ポゴピン71にハードディスクドライブ60のパワーコネクタに位置したパワーピン及び信号ピンを接続することができる。そして、治具70の外側にポゴピン71に接続したコネクタ72が配設され、これが分離壁80の貫通孔81を通してテスト用コンピュータ50のコネクタ52に接続される。図5に示してある例は、1台のテスト用コンピュータ50で6台のハードディスクドライブ60をテストし得る構造である。即ち、1台のコンピュータ50には6つのコネクタ52が上下方向に並べて設けられ、これに対応して分離壁80に6つの貫通孔81が開けられて6台のハードディスクドライブ60を装着してテストすることができる。
【0018】
また一例として図5に示すように、テスト用コンピュータ50の着脱時に正確に摺動させて固定できるよう分離壁80の所定位置に、位置ガイド突起82を制御チャンバ40側へ向けて突設し、この突起82に相応する位置ガイド溝53をコンピュータ50の後面角部に形成することもできる。
【0019】
テスト装置200のバーンインチャンバ30に対しては、図4に示すように、チャンバ30内の温度を調節するため上下部それぞれに、高温環境を設定するヒータ及び該ヒータの熱風を加圧するブロワ(blower)が設置されている。そして、制御チャンバ40の上部には、バーンインチャンバ30の内部環境を制御し、テスト用コンピュータ50の制御信号を発生するホストコンピュータが設置され、また制御チャンバ40の下部には、装置電源を供給する電源供給部(DC-power supply) が設置される。更に、電源供給部による電源を効率的に分配し得る電源分配部(power distributor) も制御チャンバ40上部に配置してある。
【0020】
制御チャンバ40に装填されるテスト用コンピュータ50は、メンテナンスの着脱をし易いように後面側に把手51を有し、その内部には電源部、メインボード部及び複数のコネクタ52が設置される。このテスト用コンピュータ50の1台に多数のハードディスクドライブ60を接続することが可能で、コンピュータ50のメンテナンスがより効率的となり、テスト用コンピュータ50の単純交換によるテスト装置の交換修理が容易である。
【0021】
この例のテスト装置200では、分離壁80で一体形の2つのチャンバ30,40を区分してあり、前面側のバーンインチャンバ30に配列した治具70のポゴピン71にハードディスクドライブ60を装着すれば、ポゴピン71に接続したコネクタ72が分離壁80の貫通孔81を貫通して制御チャンバ40のテスト用コンピュータ50に接続されているので、より正確で便利にハードディスクドライブ60を着脱して性能試験を実施することができる。
【0022】
図6は、上記形態のテスト装置200におけるテストシステムのブロック図である。本システムの構成では、1台のホスト、或いは主コンピュータ600に、サブコンピュータ610を構成する20台のテスト用コンピュータ612〜618が第1制御バス660を通じて接続されている。各テスト用コンピュータ612〜618には、3つのデュアルチャンネルIDEアダプタ622〜626が第2制御バス630を通じて接続され、その各IDEアダプタ622〜626にそれぞれハードディスクドライブ642〜652が2台ずつ接続される。この場合、テスト用コンピュータ612〜618間の伝送データ衝突防止はホストコンピュータ600で、そして3つのIDEアダプタ622〜626間の伝送データ衝突防止は該当のテスト用コンピュータ612〜618で行うようにする。
【0023】
ホストコンピュータ600は、第1制御バス660を介し接続された20台のテスト用コンピュータ612〜618からテスト結果データを受け付け、また、テスト装置200の各チャンバ30,40内の温度を調節する。テスト用コンピュータ612〜618は、第1制御バス660を通じてホストコンピュータ600からブーティングプログラムを受けてブート(立上)し、下位のIDEアダプタ622,624,626を制御してハードディスクドライブテスト命令を発生する。そして、デバイスドライバプログラム(divice driver program) を実行し、テストするハードディスクドライブの間の命令を行い且つ情報を伝達する媒介体としての役割を果たす。IDEアダプタ622〜626は、一種のバスマスタ素子であって、テスト用コンピュータ612〜618の内部に備えられた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行う。従って、テスト用コンピュータ612〜618とハードディスクドライブ642〜652との間のデータ伝送を高速化させることができる。
【0024】
テスト用コンピュータ612〜618にデバイスドライバプログラムの構成モジュールについて図7に示してある。図示のようにデバイスドライバ720の構成ルーチンは、インタラプトサービスルーチン730、ドライバ分岐ルーチン740、ドライバ初期化ルーチン750、チャンネル選択ルーチン760、チャンネル状態チェックルーチン770、テスト遂行ルーチン780、チャンネルリセットルーチン790の7つのルーチンから構成される。これらルーチンは、ホストコンピュータ600内のハードディスクに貯蔵されており、テストプログラム初期化時にテスト用コンピュータ612〜618のメモリに転送され、テスト用コンピュータ612〜618によって実行される。
【0025】
ドライバ初期化ルーチン750は、テスト用コンピュータ内中央処理部の制御でドライブの初期化を行う役割をもつ。インタラプトサービスルーチン730は、3つのIDEアダプタ622,624,626がもつチャンネルCH1〜CH6のうちいずれか1つのチャンネルから発生したインタラプトを受け取った後、テスト用コンピュータ内中央処理部によって実行される。ドライバ分岐ルーチン740は、テスト用コンピュータ内メモリのテストプログラム710によるテスト命令を、下位実行モジュールのチャンネル選択ルーチン760、チャンネル状態チェックルーチン770、テスト遂行ルーチン780、チャンネルリセットルーチン790にそれぞれ該当命令が伝達し得るように、分岐する。
【0026】
下位実行ルーチンであるチャンネル選択ルーチン760は、ドライバ初期化ルーチン実行時にテスト用コンピュータを検査し、接続されたIDEアダプタ622,624,626のチャンネル番号を初期化ルーチンに知らせる。チャンネル状態チェックルーチン770は、チャンネル選択ルーチン760によって選択されたチャンネルの状態をチェックする。テスト遂行ルーチン780は、チャンネル選択ルーチン760によって選択されたチャンネルに対して実際のテスト遂行命令を伝達するモジュールである。チャンネルリセットルーチン790は、エラーの発生したチャンネルをリセットするルーチンである。
【0027】
このデバイスドライバ720は、テスト用コンピュータ612〜618とハードディスクドライブ642〜652との間の命令を行い、且つ情報を伝達する媒介体としての役割を果たす。
【0028】
ホストとして用いられるIDEアダプタ622〜626は、図8に示すような構成をもつ。この図8は、IDEアダプタ内のPCI IDEバスマスタコントローラのブロック図である。その構成は大きく分けて6つの部分、即ち読出/書込制御部830,860、PCIインタフェース部800、PCI環境設定部840、FIFOメモリ810,870、仲裁回路部850、HDDインタフェース部820,880からなる。
【0029】
PCIインタフェース部800は、テスト用コンピュータ612〜618とIDEアダプタ622〜626との間を接続するPCIバス830に対するインタフェースであり、自分のアドレスに該当する伝送データを選択して送受信する。PCI環境設定部840は、テスト用コンピュータがデバイスドライバ720をロードしてテストプログラムを実行するとき、初めにIDEアダプタ内の環境を初期化する役割を果たす。第1,第2FIFOメモリ810,870は、2つ備えられることにより2台のハードディスクドライブ用にそれぞれ使用され、テスト用コンピュータとハードディスクドライブ間の処理速度差を補償するためのメモリである。
【0030】
第1,第2読出/書込制御部830,860は、2つ備えられて2台のハードディスクドライブ用にそれぞれ使用され、PCI環境設定部840により初期環境設定されて第1,第2FIFOメモリ810,870を制御し、第1,第2HDDインタフェース部820,880の状態をチェックする。第1,第2HDDインタフェース部820,880は、第1,第2読出/書込制御部830,860の制御でハードディスクドライブとIDEアダプタとの間のバス870(670)に対しインタフェースを行う。そして、テスト用コンピュータ612〜618から伝送されるテスト命令をハードディスクドライブ642〜652へ伝送し、そのテスト結果を第1,第2FIFOメモリ810,870へ伝送する。仲裁回路部850は、第1,第2HDDインタフェース部820,880に送受信されるデータの衝突を防止するために、2つの第1,第2読出/書込制御部830,860の優先順位を与える役割を果たす。
【0031】
このような構成及び動作をもつIDEアダプタ622〜626を備えることにより、テスト用コンピュータ612〜618の内部に備えた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行うようにする。従って、テスト用コンピュータ612〜618とハードディスクドライブ642〜652との間のデータ伝送度を高速化させることができる。
【0032】
図9は、多数のハードディスクドライブをテストするためのホストコンピュータの制御フローチャートである。
【0033】
まず、900〜902段階で使用者からテスト実行命令が入力されるとホストコンピュータ600がブートし、通信ネットワークが構築される。その後、904〜906段階でホストコンピュータ600は、20台のテスト用コンピュータ612〜618をブートさせ、自体のホストプログラムを実行する。次いで908〜910段階でホストコンピュータ600は、20台のテスト用コンピュータ612〜618との各通信チャンネルを形成し、各テスト用コンピュータ612〜618の初期状態をチェックする。このときのテスト用コンピュータ612〜618の初期状態とは、各テスト用コンピュータのブーティングの可否、各テスト用コンピュータ内のデバイスドライバのローディングの可否、3つのIDEアダプタの動作の可否をいう。
【0034】
その後、912〜914段階でホストコンピュータ612〜618は、チェックした初期状態をモニタに表示し、テスト対象のハードディスクドライブのモデル選択を要求する。次に916段階でホストコンピュータ600は、ハードディスクドライブのモデル選択キーが入力されるのに応じて該当のテストプログラムをテスト用コンピュータ612〜618へダウンロードする。
【0035】
そして、918段階でホストコンピュータ600は、テスト用コンピュータ612〜618からのメッセージを監視し、メッセージが検出されると920段階でまず、そのメッセージがテスト終了メッセージかどうかを確認する。テスト終了メッセージであれば928段階を行ってテスト用コンピュータ612〜618から以後に伝送されるテスト結果をモニタに表示する。
【0036】
920段階で確認した結果、テスト用コンピュータ612〜618からのメッセージがテスト終了メッセージでなかった場合は、922段階でホスト用コンピュータ600は、そのメッセージの内容がエラーメッセージかどうかを確認する。エラーメッセージであればホストコンピュータ600は924段階で、エラーメッセージ数を確認し、予め設定されたエラー臨界値以上であれば926〜928段階を行う。926段階ではテスト終了メッセージをテスト用コンピュータ612〜618へ送り、928段階でテスト結果を表示する。
【0037】
922段階でエラーメッセージでないか、或いは924段階でエラーメッセージ数がエラー臨界値よりも少なければホストコンピュータ600は、930段階で該当メッセージを処理した後、918段階へ戻って以後の過程を再び行う。
【0038】
図10は、多数のハードディスクドライブをテストするテスト用コンピュータの制御フローチャートである。多数のテスト用コンピュータ612〜618は全て同じ制御を行う。
【0039】
1000〜1002段階で、ホストコンピュータ600に従いテスト用コンピュータがブートし、テスト用コンピュータの内部メモリにあるテストプログラムが初期化される。その後、1004段階でテスト用コンピュータは、デバイスドライバ720を構成するインタラプトサービスルーチン730、ドライバ分岐ルーチン740、ドライバ初期化ルーチン750をローディングする。そして、1006〜1008段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ600からの状態チェック要求に従ってデバイスドライバローディング状況を伝える。
【0040】
続いてテスト用コンピュータは、ハードディスクドライブテストモードを行って1010段階で、各チャンネルCH1〜CH6にハードディスクドライブがそれぞれ接続されたかどうかを確認する。チャンネルCH1〜CH6のハードディスクドライブ接続状態を確認すると1012段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ内のハードディスクに貯蔵されたテストプログラムをダウンロードする。そして、テスト用コンピュータは1014〜1016段階で、デバイスドライバ720のチャンネル選択ルーチン760、チャンネル状態チェックルーチン770、テスト遂行ルーチン780、チャンネルリセットルーチン790を実行するようにした後、それによるテスト結果データをホストコンピュータ600へ伝送する。このとき、チャンネル状態チェックルーチン770を通じて選択されたチャンネルの状態をチェックした後、テスト遂行ルーチン780内の1つの命令コードを選択して実行するようにする。実行される命令コードは、テスト用コンピュータ内のデバイスドライバ720の制御に従い3つのIDEアダプタ622,624,626を通じてテストするハードディスクドライブ642〜652へ伝送される。
【0041】
次いで1018段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ600からのテスト終了メッセージをチェックし、テスト終了メッセージを受信した場合は1022〜1024段階で、テスト終了メッセージをホストコンピュータ600へ報告し、テスト結果をハードディスクドライブのメインテナンスシリンダに記録する。続いて1026段階でテスト用コンピュータは、テストしたハードディスクドライブが取り外されたかどうかを確認し、外されれば1010段階へルーチンを戻して他のハードディスクドライブの装着を待って以降の段階を引き続き行うようにする。
【0042】
一方、1018段階でホストコンピュータ600からのテスト終了メッセージが受信されなければテスト用コンピュータは、1020段階を行ってテスト遂行ルーチン780内の後続の命令コードを選択実行するようにした後、1014段階へルーチンを戻して以降の段階を再び行う。しかし、1020段階で選択実行する命令コードがないときには、1022段階で、ホストコンピュータ600へテスト終了メッセージを伝送した後、1024〜1026段階を行うようにする。
【0043】
以上のように、1台のホストコンピュータ600に20台のテスト用コンピュータ612〜618を接続し、その各テスト用コンピュータ612〜618に3つずつのIDEアダプタ222,224,226を接続するようにしたうえに、その各IDEアダプタ222,224,226に2台ずつのハードディスクドライブ642〜652を接続してテストし得るシステムが構築される。従って、1台のホストコンピュータ600で同時に120台のハードディスクドライブ642〜652をテストすることができ、単位時間当たりテストを行えるハードディスクドライブの数量を増加させることができるようになっている。
【0044】
【発明の効果】
本発明によれば、テスト工程におけるハードディスクドライブのテスト効率を上げることができ、最適の容量及び時間で同時に多数のハードディスクドライブをテストするのに効果的で、低コストで高効率の装置を提供する利点がある。また、バーンインチャンバと制御チャンバが分けられているので、高温のチャンバからテスト用コンピュータ(ボード)が保護され、装置の安全性が高い。更に、一般使用者のテスト環境と同一の環境を提供することによりテスト結果の信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のハードディスクドライブのテスト装置を説明するブロック図。
【図2】本発明に係るテスト装置の前面側を示す斜視図。
【図3】本発明に係るテスト装置の後面側を示す斜視図。
【図4】本発明に係るテスト装置の内部構造を示す概略断面図。
【図5】本発明に係るテスト用コンピュータとハードディスクドライブの接続状態を示す分離斜視図。
【図6】本発明に係るテスト装置に搭載されるテストシステムのブロック図。
【図7】本発明に係るテスト用コンピュータ内部のデバイスドライブの構成ルーチンを示すブロック図。
【図8】本発明に係るIDEアダプタ内のPCI IDEバスマスタコントローラのブロック図。
【図9】本発明に係るテスト方法を説明するホストコンピュータの制御フローチャート。
【図10】本発明に係るテスト方法を説明するテスト用コンピュータの制御フローチャート。
Claims (7)
- 多数のハードディスクドライブを同時にテストするようにテスト制御信号を発生し、前記多数のハードディスクドライブが縦横方向に整列されるように積層される構造を有する高温のバーンインチャンバの内部環境を制御するホストコンピュータと、このホストコンピュータに多数接続され、前記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブをテストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホストコンピュータへ伝え、分離壁により前記バーンインチャンバと分離される制御チャンバ内に位置する複数のテスト用コンピュータと、このテスト用コンピュータ1台につき複数ずつ接続され、該テスト用コンピュータとハードディスクドライブとのデータ伝送動作を制御し、前記制御チャンバ内に位置するIDEアダプタと、を含み、前記バーンインチャンバと、前記制御チャンバと、前記ホストコンピュータとが一のシステムで構成され、1台の前記テスト用コンピュータで複数のハードディスクドライブをテスト可能であることを特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。
- 前記ホストコンピュータおよび前記テスト用コンピュータと、前記ハードディスクドライブとは、前記分離壁によって分離されることを特徴とする、請求項1に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
- 前記IDEアダプタは、前記テスト用コンピュータの内部に備えられた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行うことを特徴とする、請求項1または2に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
- 前記IDEアダプタは、前記ハードディスクドライブに送受信されるデータの衝突を防止する仲裁回路部を備えたことを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載のハードディスクドライブのテスト装置。
- 多数のハードディスクドライブが縦横方向に整列されるように積層される構造を有する高温のバーンインチャンバと、ホストコンピュータと、多数のテスト用コンピュータと、多数のIDEアダプタとを含むテスト装置を接続し、そしてその各テスト用コンピュータにそれぞれ複数のIDEアダプタを接続し、更にその各IDEアダプタにそれぞれ複数のハードディスクドライブを接続して行うハードディスクドライブのテスト方法であって、テスト実行命令の入力を受けたホストコンピュータが、分離壁により前記バーンインチャンバと分離される制御チャンバ内に位置する複数のテスト用コンピュータへテスト制御信号を発生し、前記バーンインチャンバの内部環境を制御する制御信号を発生する第1過程と、ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプログラムをダウンロードした複数のテスト用コンピュータそれぞれが、そのプログラムに基づいてテスト命令を前記制御チャンバ内に位置する複数のIDEアダプタを通じて複数のハードディスクドライブへ伝送する第2過程と、そのテスト命令を受信したハードディスクドライブが該当テストを行った結果をIDEアダプタを通じてテスト用コンピュータが受け取る第3過程と、ハードディスクドライブからテスト結果を受信したテスト用コンピュータがホストコンピュータへそのテスト結果を報告する第4過程と、を遂行することを特徴とするテスト方法。
- 第1過程は、テスト実行命令を入力したホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複数のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、そのブートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを形成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェックした後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行する請求項5記載のテスト方法。
- 第4過程の後、テスト用コンピュータがホストコンピュータからのテスト終了メッセージを確認し、該テスト終了メッセージが受信されたときにテスト結果をハードディスクドライブのメンテナンスシリンダに記録するように制御する第5過程を遂行する請求項5又は請求項6記載のテスト方法。
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1064173A JPH1064173A (ja) | 1998-03-06 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12125597A Expired - Lifetime JP4027459B2 (ja) | 1996-05-11 | 1997-05-12 | ハードディスクドライブのテスト装置及びテスト方法 |
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---|---|
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Families Citing this family (99)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6434498B1 (en) * | 1998-06-26 | 2002-08-13 | Seagate Technology Llc | Hard disc drive verification tester |
US6434499B1 (en) * | 1998-06-26 | 2002-08-13 | Seagate Technology Llc | Hard disc drive verification tester |
US6526841B1 (en) * | 1999-08-02 | 2003-03-04 | Pemstar, Inc. | Environmental test chamber and a carrier for use therein |
GB9928211D0 (en) | 1999-11-29 | 2000-01-26 | Havant International Ltd | Disk drive kit |
KR100362375B1 (ko) * | 2000-01-10 | 2002-11-23 | 삼성전자 주식회사 | 씨디-롬 드라이브의 노이즈 검사장치 및 그 방법 |
US6331770B1 (en) * | 2000-04-12 | 2001-12-18 | Advantest Corp. | Application specific event based semiconductor test system |
JP4475618B2 (ja) * | 2000-07-07 | 2010-06-09 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 装置の起動制御方法、装置の自己診断試験方法、制御基板、機器、検査システム |
US6446517B1 (en) * | 2000-11-20 | 2002-09-10 | Samsung Electronics Company | Controlled particle deposition in drives and on media for thermal asperity studies |
US6472895B2 (en) * | 2000-12-06 | 2002-10-29 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and system for adapting burn-in boards to multiple burn-in systems |
US6806700B2 (en) | 2001-04-25 | 2004-10-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
US7062423B1 (en) | 2001-08-22 | 2006-06-13 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for testing a system on a chip (SOC) integrated circuit comprising a hard disk controller and read channel |
AU2003236935A1 (en) * | 2002-07-05 | 2004-01-23 | Xyratex Technology Limited | Mounting device for a disk drive unit, releasable fastener and method of testing a disk drive unit |
TW577542U (en) * | 2002-10-23 | 2004-02-21 | Quanta Comp Inc | Thermal testing control system |
US7634375B1 (en) * | 2002-10-31 | 2009-12-15 | Western Digital Technologies, Inc. | Multi-drive adaptor for use in a slot of a disk drive test system |
CN1307425C (zh) * | 2003-03-13 | 2007-03-28 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 老化台车测试监控改良装置 |
KR100498499B1 (ko) * | 2003-05-15 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 테스트 장치 |
KR100498498B1 (ko) * | 2003-05-15 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브의 테스트 방법 및 이에 적합한 기록매체 |
KR100518572B1 (ko) | 2003-05-15 | 2005-10-04 | 삼성전자주식회사 | 직렬 멀티 포트 통신 방법, 이에 적합한 장치, 이 장치를제어하는 방법, 그리고 이 제어 방법에 적합한 기록 매체 |
US7232101B2 (en) * | 2003-11-26 | 2007-06-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
US20050225338A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Sands Richard L | Hard drive test fixture |
US7729107B2 (en) * | 2004-09-17 | 2010-06-01 | Xyratex Technology Limited | Housings and devices for disk drives |
JP2006179050A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | 磁気ディスク装置の製造方法、試験/調整装置及び搬送容器 |
US8015568B2 (en) * | 2005-02-28 | 2011-09-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Disk drive/CPU architecture for distributed computing |
JP2006318362A (ja) * | 2005-05-16 | 2006-11-24 | Win System:Kk | 表示器のテスト方法 |
KR100767060B1 (ko) * | 2005-07-11 | 2007-10-18 | 김병천 | 다기능 조명 오디오 장치 |
JP2007066126A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法 |
WO2007031729A1 (en) * | 2005-09-16 | 2007-03-22 | Xyratex Technology Limited | Method and apparatus for controlling the temperature of a disk drive during manufacture |
US7912666B1 (en) * | 2005-11-28 | 2011-03-22 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive grouping in a multi-cell disk drive test system |
CN100399285C (zh) * | 2005-12-29 | 2008-07-02 | 深圳易拓科技有限公司 | 两用硬盘测试适配器 |
CN100458966C (zh) * | 2005-12-29 | 2009-02-04 | 深圳易拓科技有限公司 | 硬盘综合测试系统 |
JP2007184027A (ja) * | 2006-01-05 | 2007-07-19 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | データ記憶装置の機能試験装置 |
US20070162796A1 (en) * | 2006-01-10 | 2007-07-12 | Mediatek Inc. | Method and portable device for testing electronic device |
CN100387998C (zh) * | 2006-02-06 | 2008-05-14 | 友达光电股份有限公司 | 烧机设备 |
US7596722B1 (en) | 2006-02-14 | 2009-09-29 | Western Digital Technologies, Inc. | Asynchronous automatic software module updates in a multi-cell disk drive test system |
KR100855982B1 (ko) * | 2007-02-23 | 2008-09-02 | 삼성전자주식회사 | 번인 공정에서 온도에 따른 헤드 부상 높이 산출 방법 및헤드 부상 높이 제어 방법 |
US7880987B2 (en) * | 2007-03-30 | 2011-02-01 | Seagate Technology Llc | Media servowriter/certifier |
US7716408B2 (en) * | 2007-05-22 | 2010-05-11 | Dell Products L.P. | Burn rack docking apparatus for an information handling system |
CN101388254B (zh) * | 2007-09-13 | 2010-12-15 | 英业达股份有限公司 | 存储装置的测试方法 |
US20090082907A1 (en) * | 2007-09-21 | 2009-03-26 | Seagate Technology Llc | Mechanically isolated environmental test chamber |
JP2009140589A (ja) * | 2007-12-07 | 2009-06-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | データ記憶装置のテスト装置及びデータ記憶装置のテスト方法 |
US8549912B2 (en) | 2007-12-18 | 2013-10-08 | Teradyne, Inc. | Disk drive transport, clamping and testing |
US20090153993A1 (en) * | 2007-12-18 | 2009-06-18 | Teradyne, Inc. | Disk Drive Testing |
US7996174B2 (en) | 2007-12-18 | 2011-08-09 | Teradyne, Inc. | Disk drive testing |
US8102173B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-24 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit |
US8095234B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-01-10 | Teradyne, Inc. | Transferring disk drives within disk drive testing systems |
US20090262455A1 (en) | 2008-04-17 | 2009-10-22 | Teradyne, Inc. | Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems |
US7945424B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-05-17 | Teradyne, Inc. | Disk drive emulator and method of use thereof |
US8305751B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-11-06 | Teradyne, Inc. | Vibration isolation within disk drive testing systems |
US20110123301A1 (en) * | 2008-04-17 | 2011-05-26 | Scott Noble | Bulk feeding storage devices to storage device testing systems |
US7848106B2 (en) | 2008-04-17 | 2010-12-07 | Teradyne, Inc. | Temperature control within disk drive testing systems |
US8117480B2 (en) * | 2008-04-17 | 2012-02-14 | Teradyne, Inc. | Dependent temperature control within disk drive testing systems |
US8160739B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-04-17 | Teradyne, Inc. | Transferring storage devices within storage device testing systems |
US8238099B2 (en) | 2008-04-17 | 2012-08-07 | Teradyne, Inc. | Enclosed operating area for disk drive testing systems |
US8041449B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-10-18 | Teradyne, Inc. | Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems |
JP2011524060A (ja) | 2008-06-03 | 2011-08-25 | テラダイン、 インコーポレイテッド | 記憶デバイスを処理する方法 |
US8499611B2 (en) | 2008-10-06 | 2013-08-06 | Teradyne, Inc. | Disk drive emulator and method of use thereof |
US7995349B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-08-09 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US7920380B2 (en) | 2009-07-15 | 2011-04-05 | Teradyne, Inc. | Test slot cooling system for a storage device testing system |
US8466699B2 (en) | 2009-07-15 | 2013-06-18 | Teradyne, Inc. | Heating storage devices in a testing system |
US8628239B2 (en) | 2009-07-15 | 2014-01-14 | Teradyne, Inc. | Storage device temperature sensing |
US8547123B2 (en) | 2009-07-15 | 2013-10-01 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system with a conductive heating assembly |
US8687356B2 (en) | 2010-02-02 | 2014-04-01 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US8116079B2 (en) | 2009-07-15 | 2012-02-14 | Teradyne, Inc. | Storage device testing system cooling |
US8218256B1 (en) | 2009-10-30 | 2012-07-10 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk spindle assembly cartridge |
US8270118B1 (en) | 2009-10-30 | 2012-09-18 | Western Digital Technologies, Inc. | Head stack assembly cartridge |
KR101090167B1 (ko) * | 2010-06-07 | 2011-12-06 | (주)밸류플러스 | 하드 디스크 드라이브 테스트 장치 |
US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
US8432630B1 (en) | 2010-06-30 | 2013-04-30 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive component test system |
US8687349B2 (en) | 2010-07-21 | 2014-04-01 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
CN102446558A (zh) * | 2010-10-09 | 2012-05-09 | 智微科技股份有限公司 | 可自动化测试的固态硬盘与固态硬盘的自动化测试方法 |
US8499198B1 (en) * | 2010-12-14 | 2013-07-30 | Western Digital Technologies, Inc. | Testing data storage devices running different versions of an operating system |
CN102411071B (zh) * | 2011-08-03 | 2013-12-04 | 忆正存储技术(武汉)有限公司 | 一种高低温测试机 |
US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
CN104678232A (zh) * | 2013-12-02 | 2015-06-03 | 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 | 一种光盘驱动器测试机的检测座 |
CN104678129A (zh) * | 2013-12-02 | 2015-06-03 | 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 | 一种光盘驱动器测试机的线板插针检测板 |
CN104678233A (zh) * | 2013-12-02 | 2015-06-03 | 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 | 一种光盘驱动器测试机的工作步骤 |
CN104678234A (zh) * | 2013-12-02 | 2015-06-03 | 苏州市吴中区临湖俊峰机械厂 | 一种光盘驱动器测试机 |
KR20160059691A (ko) * | 2014-11-19 | 2016-05-27 | 삼성전자주식회사 | 전자 디바이스 테스트 장치 |
CN104569506B (zh) * | 2014-11-19 | 2017-10-20 | 苏州欧康诺电子科技股份有限公司 | 一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器 |
US9628202B2 (en) | 2015-02-27 | 2017-04-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Testing front end modules, testing methods and modular testing systems for testing electronic equipment |
US10102092B2 (en) * | 2015-03-02 | 2018-10-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Testing front end module, testing methods and modular testing systems for testing electronic equipment |
CN105807157B (zh) * | 2016-03-10 | 2020-09-04 | 深圳市硅格半导体有限公司 | 高温老化测试系统 |
US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10649869B2 (en) * | 2018-04-30 | 2020-05-12 | Dell Products L. P. | Burn process data retrieval and notification |
CN108763008A (zh) * | 2018-05-31 | 2018-11-06 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种服务器存储硬盘性能批量测试系统、服务器及方法 |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
TWI714169B (zh) * | 2019-07-17 | 2020-12-21 | 美商第一檢測有限公司 | 記憶體測試方法 |
CN110515786A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-11-29 | 深圳市安信达存储技术有限公司 | 一种多硬盘批量对比测试系统及方法 |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4636726A (en) | 1982-01-04 | 1987-01-13 | Artronics Corporation | Electronic burn-in system |
DE3316101C1 (de) * | 1983-05-03 | 1984-08-23 | Forschungsgesellschaft für Biomedizinische Technik, 5100 Aachen | Redundante Kolbenpumpe zum Betrieb ein- oder mehrkammriger pneumatischer Blutpumpen |
US4683424A (en) | 1984-11-07 | 1987-07-28 | Wehr Corporation | Apparatus for use in testing circuit boards |
US4746995A (en) | 1986-04-17 | 1988-05-24 | Rauskolb Ruediger F | Disk certifier |
US4888549A (en) * | 1987-10-30 | 1989-12-19 | Wilson Laboratories, Inc. | System for testing individually a plurality of disk drive units |
US4967155A (en) | 1988-04-08 | 1990-10-30 | Micropolis Corporation | Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives |
US5223006A (en) | 1989-10-31 | 1993-06-29 | Moran Iii Charles H | Air cleaner box for a computer |
JP2830269B2 (ja) * | 1990-01-12 | 1998-12-02 | ソニー株式会社 | ディスク装置 |
US5126656A (en) | 1991-05-31 | 1992-06-30 | Ej Systems, Inc. | Burn-in tower |
JP2862154B2 (ja) * | 1991-07-22 | 1999-02-24 | 富士通株式会社 | バーンイン装置 |
US5333140A (en) | 1991-10-03 | 1994-07-26 | Helios Incorporated | Servowriter/certifier |
US5471634A (en) * | 1994-03-29 | 1995-11-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Network file server with automatic sensing means |
US5644705A (en) * | 1995-01-11 | 1997-07-01 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for addressing and testing more than two ATA/IDE disk drive assemblies using an ISA bus |
US5851143A (en) * | 1996-05-10 | 1998-12-22 | Thermal Industries | Disk drive test chamber |
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