JPH1064173A - ハードディスクドライブのテスト装置及びテスト方法 - Google Patents
ハードディスクドライブのテスト装置及びテスト方法Info
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- JPH1064173A JPH1064173A JP9121255A JP12125597A JPH1064173A JP H1064173 A JPH1064173 A JP H1064173A JP 9121255 A JP9121255 A JP 9121255A JP 12125597 A JP12125597 A JP 12125597A JP H1064173 A JPH1064173 A JP H1064173A
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Abstract
ピュータでテストし得るテスト装置を提供する。 【解決手段】 テスト装置200は、多数のハードディ
スクドライブを収容する高温のバーンインチャンバ30
と、分離壁80によってバーンインチャンバ30と分離
され、バーンインチャンバ内のハードディスクドライブ
に接続するテスト用コンピュータ50を多数収容する制
御チャンバ40と、バーンインチャンバ30の内部環境
制御及びテスト用コンピュータ50の制御を行うホスト
コンピュータと、を備えてなる。
Description
イブの性能を試験するためのテスト装置に関する。
工程によりメカの組み立てが終わると、性能をテストす
るために、サーボ書込工程、機能テスト工程、バーンイ
ン工程、該バーンイン工程を経たハードディスクドライ
ブセットの不良処理が正常かどうかを確認する最終テス
ト工程の各試験工程を経て出荷されることになる。その
中でもバーンイン工程は、ハードディスクドライブの製
造工程中で一番長い時間(通常8時間〜16時間)を占
める工程である。このバーンイン工程は、ディスクに潜
在する欠陥部分を予め探し出し、ドライブ使用時にはそ
の欠陥部分を避けていくことができるように処置する試
験工程で、バーンインルーム内のラックに収めてのセル
フプログラムによって別途のテストシステムを使用する
ことなく実施される。
は、図1に示すように、1台のハードディスクドライブ
20を1台のテスト用コンピュータ10に接続したシス
テムを使用して各種のテストが実施される。2台のハー
ドディスクドライブ20を1台のテスト用コンピュータ
10に接続してテストすることもあるが、この場合に
は、2台のうち一方をマスタ(master)、他方をスレーブ
(slave) として一度に1台ずつテストを実施するように
している。
ト装置は、1台のハードディスクドライブと1台のテス
ト用コンピュータを上下一体的につなぎ、このテスト構
造を多数、ハードディスク着脱のための間隔を適宜設け
てマトリックス状に配列し、1つのチャンバ(テストチ
ャンバ)内に位置させるようにしてある。バーンイン工
程では、このようなテスト構造が単一の高温テストチャ
ンバ内に構成されることになる。
は、多数のハードディスクドライブをテストする場合、
テスト用コンピュータとハードディスクドライブを1:
1で接続してテストする構造になっているため、同時に
テストするハードディスクドライブの数量だけテスト用
コンピュータも必要となる。このため、テストするハー
ドディスクドライブ及びテスト用コンピュータを装填し
得るだけの広い着脱空間を設けなければならないなど、
コスト高につながる不具合がある。このような問題か
ら、一度にテストする数量を制限すれば、生産工程が延
びてしまうので好ましくない。
トチャンバ内にテスト用コンピュータも位置することに
なるため、テスト用コンピュータ自体の故障が誘発され
る可能性を否定することはできない。この他にも、専用
のテスト用装置によるものであるため、実際の使用者が
使用している一般コンピュータによるテスト環境とはや
や離れることになり、高信頼性の点で問題がないとは言
い切れない。
スクドライブを1つのホストコンピュータに接続してテ
ストし得るテスト装置及び方法を提供することにある。
また、最適容積で多数のハードディスクドライブをテス
トでき、更にハードディスクドライブは高温チャンバで
テスト用コンピュータは常温チャンバでテストできるよ
うなテスト装置及び方法を提供する。そして、多数のハ
ードディスクドライブを一般使用者のテスト環境と同様
の状態で効率的に同時にテスト可能であるテスト装置を
提供する。
のハードディスクドライブのテスト装置は、多数のハー
ドディスクドライブを収容する高温のバーンインチャン
バと、分離壁によって前記バーンインチャンバと分離さ
れ、前記バーンインチャンバ内のハードディスクドライ
ブに接続するテスト用コンピュータを多数収容する制御
チャンバと、前記バーンインチャンバの内部環境制御及
び前記テスト用コンピュータの制御を行うホストコンピ
ュータと、を備えてなることを特徴とする。その分離壁
には、ハードディスクドライブとテスト用コンピュータ
を接続するコネクタを通す貫通孔を多数形成し、1台の
テスト用コンピュータにつき複数台のハードディスクド
ライブを接続することができるようにしておく。また、
分離壁の制御チャンバ側に多数の位置ガイド突起を突設
し、これを受ける位置ガイド溝をテスト用コンピュータ
に設けて着脱時に摺動させるようにしてあるとよい。
スト装置は、多数のハードディスクドライブを同時にテ
ストするようにテスト制御信号を発生するホストコンピ
ュータと、このホストコンピュータに多数接続され、前
記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブをテ
ストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホスト
コンピュータへ伝える複数のテスト用コンピュータと、
このテスト用コンピュータ1台につき複数ずつ接続さ
れ、該テスト用コンピュータとハードディスクドライブ
とのデータ伝送動作を制御するIDEアダプタと、を備
え、1台の前記テスト用コンピュータで複数のハードデ
ィスクドライブをテスト可能であることを特徴とする。
ンピュータに多数のテスト用コンピュータを接続し、そ
してその各テスト用コンピュータにそれぞれ複数のID
Eアダプタを接続し、更にその各IDEアダプタにそれ
ぞれ複数台のハードディスクドライブを接続して行うハ
ードディスクドライブのテスト方法として、テスト実行
命令を入力したホストコンピュータから複数のテスト用
コンピュータへテスト制御信号を発生する第1過程と、
ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプログラムを
ダウンロードした複数のテスト用コンピュータそれぞれ
が、そのプログラムに基づいてテスト命令を複数のID
Eアダプタを通じて複数のハードディスクドライブへ伝
送する第2過程と、そのテスト命令を受信したハードデ
ィスクドライブが該当テストを行った結果をIDEアダ
プタを通じてテスト用コンピュータが受け取る第3過程
と、ハードディスクドライブからテスト結果を受信した
テスト用コンピュータがホストコンピュータへそのテス
ト結果を報告する第4過程と、を遂行することを特徴と
するテスト方法が提供される。
たホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複
数のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、その
ブートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを
形成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェック
した後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行する
ことができる。また、第4過程の後、テスト用コンピュ
ータがホストコンピュータからのテスト終了メッセージ
を確認し、該テスト終了メッセージが受信されたときに
テスト結果をハードディスクドライブのメンテナンスシ
リンダに記録するように制御する第5過程を遂行するこ
とができる。
添付の図面を参照して詳細に説明する。
のテスト装置の前後面を斜視図で示す。図示のようにこ
のテスト装置200は、最適容量で多数のハードディス
クドライブ60(図5)を効率的にテストするために、
多数のハードディスクドライブ60を縦横に整列させて
積層状態で収容する高温のバーンインチャンバ(burnin
chamber) 30が前方に設けられている。そして、その
多数のハードディスクドライブ60を装着してテストす
るテスト用コンピュータ50を縦横に整列させて配置す
るための制御チャンバ40が、バーンインチャンバ30
との一体形で且つ分離壁80により区分して装置後方に
設けられている。
チャンバ30の内部環境つまり温度や湿度を制御し、制
御チャンバ40に位置したテスト用コンピュータ50の
制御信号を発生するホストコンピュータは、チャンバの
上部に位置する。即ち、バーンインチャンバ30は前方
に位置し、制御チャンバ40は後方に位置し、ホストコ
ンピュータは制御チャンバ40の上部に位置するように
して、1つのシステムにまとめた構造である。
が設けられ、後面部には空気を吸入する多数の吸気口、
フィルタ及び排気口が設けられる。バーンインチャンバ
30では、ハードディスクドライブ60が縦横に整列す
るように、中空の支持ダクト31によって多数のハード
ディスクドライブ治具70が縦横に配列され、バーンイ
ンチャンバ30を密閉するフロントドア10が前面に開
閉可能に設けてられている。また、テスト装置200の
前面上部にはディスプレイが配設され、その横にキーボ
ードが配置してあって入力指示を行えるようにしてあ
り、テスト結果を容易に確認することができる。更に、
電圧表示部も配設されており、容易にチャンバの電源状
態を確認することができる。
チャンバ30と制御チャンバ40のうちバーンインチャ
ンバ30は、ハードディスクドライブ60の高温信頼性
テストを行うことのできる環境を提供する。そして、ハ
ードディスクドライブ60をテスト時に装着して完了時
に取り出すことのできる着脱可能な構造である。更に、
バーンインチャンバ30では、1台のテスト用コンピュ
ータ50に対して複数のハードディスクドライブ60を
接続して積層する構造とされ、このような構造が繰り返
されることにより、最適容量で効率的に多数のハードデ
ィスクドライブ60を同時テストすることができる。
ンチャンバ30内に配列された治具70に装着される。
この治具70は、よく知られたポゴピン(pogo pin)70
をその内側に有し、該ポゴピン71にハードディスクド
ライブ60のパワーコネクタに位置したパワーピン及び
信号ピンを接続することができる。そして、治具70の
外側にポゴピン71に接続したコネクタ72が配設さ
れ、これが分離壁80の貫通孔81を通してテスト用コ
ンピュータ50のコネクタ52に接続される。図5に示
してある例は、1台のテスト用コンピュータ50で6台
のハードディスクドライブ60をテストし得る構造であ
る。即ち、1台のコンピュータ50には6つのコネクタ
52が上下方向に並べて設けられ、これに対応して分離
壁80に6つの貫通孔81が開けられて6台のハードデ
ィスクドライブ60を装着してテストすることができ
る。
用コンピュータ50の着脱時に正確に摺動させて固定で
きるよう分離壁80の所定位置に、位置ガイド突起82
を制御チャンバ40側へ向けて突設し、この突起82に
相応する位置ガイド溝53をコンピュータ50の後面角
部に形成することもできる。
0に対しては、図4に示すように、チャンバ30内の温
度を調節するため上下部それぞれに、高温環境を設定す
るヒータ及び該ヒータの熱風を加圧するブロワ(blower)
が設置されている。そして、制御チャンバ40の上部に
は、バーンインチャンバ30の内部環境を制御し、テス
ト用コンピュータ50の制御信号を発生するホストコン
ピュータが設置され、また制御チャンバ40の下部に
は、装置電源を供給する電源供給部(DC-power supply)
が設置される。更に、電源供給部による電源を効率的に
分配し得る電源分配部(power distributor) も制御チャ
ンバ40上部に配置してある。
ンピュータ50は、メンテナンスの着脱をし易いように
後面側に把手51を有し、その内部には電源部、メイン
ボード部及び複数のコネクタ52が設置される。このテ
スト用コンピュータ50の1台に多数のハードディスク
ドライブ60を接続することが可能で、コンピュータ5
0のメンテナンスがより効率的となり、テスト用コンピ
ュータ50の単純交換によるテスト装置の交換修理が容
易である。
0で一体形の2つのチャンバ30,40を区分してあ
り、前面側のバーンインチャンバ30に配列した治具7
0のポゴピン71にハードディスクドライブ60を装着
すれば、ポゴピン71に接続したコネクタ72が分離壁
80の貫通孔81を貫通して制御チャンバ40のテスト
用コンピュータ50に接続されているので、より正確で
便利にハードディスクドライブ60を着脱して性能試験
を実施することができる。
けるテストシステムのブロック図である。本システムの
構成では、1台のホスト、或いは主コンピュータ600
に、サブコンピュータ610を構成する20台のテスト
用コンピュータ612〜618が第1制御バス660を
通じて接続されている。各テスト用コンピュータ612
〜618には、3つのデュアルチャンネルIDEアダプ
タ622〜626が第2制御バス630を通じて接続さ
れ、その各IDEアダプタ622〜626にそれぞれハ
ードディスクドライブ642〜652が2台ずつ接続さ
れる。この場合、テスト用コンピュータ612〜618
間の伝送データ衝突防止はホストコンピュータ600
で、そして3つのIDEアダプタ622〜626間の伝
送データ衝突防止は該当のテスト用コンピュータ612
〜618で行うようにする。
ス660を介し接続された20台のテスト用コンピュー
タ612〜618からテスト結果データを受け付け、ま
た、テスト装置200の各チャンバ30,40内の温度
を調節する。テスト用コンピュータ612〜618は、
第1制御バス660を通じてホストコンピュータ600
からブーティングプログラムを受けてブート(立上)
し、下位のIDEアダプタ622,624,626を制
御してハードディスクドライブテスト命令を発生する。
そして、デバイスドライバプログラム(divice driver p
rogram) を実行し、テストするハードディスクドライブ
の間の命令を行い且つ情報を伝達する媒介体としての役
割を果たす。IDEアダプタ622〜626は、一種の
バスマスタ素子であって、テスト用コンピュータ612
〜618の内部に備えられた中央処理部の制御でない別
の独立的なデータ伝送動作を行う。従って、テスト用コ
ンピュータ612〜618とハードディスクドライブ6
42〜652との間のデータ伝送を高速化させることが
できる。
バイスドライバプログラムの構成モジュールについて図
7に示してある。図示のようにデバイスドライバ720
の構成ルーチンは、インタラプトサービスルーチン73
0、ドライバ分岐ルーチン740、ドライバ初期化ルー
チン750、チャンネル選択ルーチン760、チャンネ
ル状態チェックルーチン770、テスト遂行ルーチン7
80、チャンネルリセットルーチン790の7つのルー
チンから構成される。これらルーチンは、ホストコンピ
ュータ600内のハードディスクに貯蔵されており、テ
ストプログラム初期化時にテスト用コンピュータ612
〜618のメモリに転送され、テスト用コンピュータ6
12〜618によって実行される。
用コンピュータ内中央処理部の制御でドライブの初期化
を行う役割をもつ。インタラプトサービスルーチン73
0は、3つのIDEアダプタ622,624,626が
もつチャンネルCH1〜CH6のうちいずれか1つのチ
ャンネルから発生したインタラプトを受け取った後、テ
スト用コンピュータ内中央処理部によって実行される。
ドライバ分岐ルーチン740は、テスト用コンピュータ
内メモリのテストプログラム710によるテスト命令
を、下位実行モジュールのチャンネル選択ルーチン76
0、チャンネル状態チェックルーチン770、テスト遂
行ルーチン780、チャンネルリセットルーチン790
にそれぞれ該当命令が伝達し得るように、分岐する。
ーチン760は、ドライバ初期化ルーチン実行時にテス
ト用コンピュータを検査し、接続されたIDEアダプタ
622,624,626のチャンネル番号を初期化ルー
チンに知らせる。チャンネル状態チェックルーチン77
0は、チャンネル選択ルーチン760によって選択され
たチャンネルの状態をチェックする。テスト遂行ルーチ
ン780は、チャンネル選択ルーチン760によって選
択されたチャンネルに対して実際のテスト遂行命令を伝
達するモジュールである。チャンネルリセットルーチン
790は、エラーの発生したチャンネルをリセットする
ルーチンである。
コンピュータ612〜618とハードディスクドライブ
642〜652との間の命令を行い、且つ情報を伝達す
る媒介体としての役割を果たす。
22〜626は、図8に示すような構成をもつ。この図
8は、IDEアダプタ内のPCI IDEバスマスタコ
ントローラのブロック図である。その構成は大きく分け
て6つの部分、即ち読出/書込制御部830,860、
PCIインタフェース部800、PCI環境設定部84
0、FIFOメモリ810,870、仲裁回路部85
0、HDDインタフェース部820,880からなる。
用コンピュータ612〜618とIDEアダプタ622
〜626との間を接続するPCIバス830に対するイ
ンタフェースであり、自分のアドレスに該当する伝送デ
ータを選択して送受信する。PCI環境設定部840
は、テスト用コンピュータがデバイスドライバ720を
ロードしてテストプログラムを実行するとき、初めにI
DEアダプタ内の環境を初期化する役割を果たす。第
1,第2FIFOメモリ810,870は、2つ備えら
れることにより2台のハードディスクドライブ用にそれ
ぞれ使用され、テスト用コンピュータとハードディスク
ドライブ間の処理速度差を補償するためのメモリであ
る。
0は、2つ備えられて2台のハードディスクドライブ用
にそれぞれ使用され、PCI環境設定部840により初
期環境設定されて第1,第2FIFOメモリ810,8
70を制御し、第1,第2HDDインタフェース部82
0,880の状態をチェックする。第1,第2HDDイ
ンタフェース部820,880は、第1,第2読出/書
込制御部830,860の制御でハードディスクドライ
ブとIDEアダプタとの間のバス870(670)に対
しインタフェースを行う。そして、テスト用コンピュー
タ612〜618から伝送されるテスト命令をハードデ
ィスクドライブ642〜652へ伝送し、そのテスト結
果を第1,第2FIFOメモリ810,870へ伝送す
る。仲裁回路部850は、第1,第2HDDインタフェ
ース部820,880に送受信されるデータの衝突を防
止するために、2つの第1,第2読出/書込制御部83
0,860の優先順位を与える役割を果たす。
プタ622〜626を備えることにより、テスト用コン
ピュータ612〜618の内部に備えた中央処理部の制
御でない別の独立的なデータ伝送動作を行うようにす
る。従って、テスト用コンピュータ612〜618とハ
ードディスクドライブ642〜652との間のデータ伝
送度を高速化させることができる。
テストするためのホストコンピュータの制御フローチャ
ートである。
スト実行命令が入力されるとホストコンピュータ600
がブートし、通信ネットワークが構築される。その後、
904〜906段階でホストコンピュータ600は、2
0台のテスト用コンピュータ612〜618をブートさ
せ、自体のホストプログラムを実行する。次いで908
〜910段階でホストコンピュータ600は、20台の
テスト用コンピュータ612〜618との各通信チャン
ネルを形成し、各テスト用コンピュータ612〜618
の初期状態をチェックする。このときのテスト用コンピ
ュータ612〜618の初期状態とは、各テスト用コン
ピュータのブーティングの可否、各テスト用コンピュー
タ内のデバイスドライバのローディングの可否、3つの
IDEアダプタの動作の可否をいう。
ピュータ612〜618は、チェックした初期状態をモ
ニタに表示し、テスト対象のハードディスクドライブの
モデル選択を要求する。次に916段階でホストコンピ
ュータ600は、ハードディスクドライブのモデル選択
キーが入力されるのに応じて該当のテストプログラムを
テスト用コンピュータ612〜618へダウンロードす
る。
600は、テスト用コンピュータ612〜618からの
メッセージを監視し、メッセージが検出されると920
段階でまず、そのメッセージがテスト終了メッセージか
どうかを確認する。テスト終了メッセージであれば92
8段階を行ってテスト用コンピュータ612〜618か
ら以後に伝送されるテスト結果をモニタに表示する。
ピュータ612〜618からのメッセージがテスト終了
メッセージでなかった場合は、922段階でホスト用コ
ンピュータ600は、そのメッセージの内容がエラーメ
ッセージかどうかを確認する。エラーメッセージであれ
ばホストコンピュータ600は924段階で、エラーメ
ッセージ数を確認し、予め設定されたエラー臨界値以上
であれば926〜928段階を行う。926段階ではテ
スト終了メッセージをテスト用コンピュータ612〜6
18へ送り、928段階でテスト結果を表示する。
或いは924段階でエラーメッセージ数がエラー臨界値
よりも少なければホストコンピュータ600は、930
段階で該当メッセージを処理した後、918段階へ戻っ
て以後の過程を再び行う。
をテストするテスト用コンピュータの制御フローチャー
トである。多数のテスト用コンピュータ612〜618
は全て同じ制御を行う。
ュータ600に従いテスト用コンピュータがブートし、
テスト用コンピュータの内部メモリにあるテストプログ
ラムが初期化される。その後、1004段階でテスト用
コンピュータは、デバイスドライバ720を構成するイ
ンタラプトサービスルーチン730、ドライバ分岐ルー
チン740、ドライバ初期化ルーチン750をローディ
ングする。そして、1006〜1008段階でテスト用
コンピュータは、ホストコンピュータ600からの状態
チェック要求に従ってデバイスドライバローディング状
況を伝える。
ィスクドライブテストモードを行って1010段階で、
各チャンネルCH1〜CH6にハードディスクドライブ
がそれぞれ接続されたかどうかを確認する。チャンネル
CH1〜CH6のハードディスクドライブ接続状態を確
認すると1012段階でテスト用コンピュータは、ホス
トコンピュータ内のハードディスクに貯蔵されたテスト
プログラムをダウンロードする。そして、テスト用コン
ピュータは1014〜1016段階で、デバイスドライ
バ720のチャンネル選択ルーチン760、チャンネル
状態チェックルーチン770、テスト遂行ルーチン78
0、チャンネルリセットルーチン790を実行するよう
にした後、それによるテスト結果データをホストコンピ
ュータ600へ伝送する。このとき、チャンネル状態チ
ェックルーチン770を通じて選択されたチャンネルの
状態をチェックした後、テスト遂行ルーチン780内の
1つの命令コードを選択して実行するようにする。実行
される命令コードは、テスト用コンピュータ内のデバイ
スドライバ720の制御に従い3つのIDEアダプタ6
22,624,626を通じてテストするハードディス
クドライブ642〜652へ伝送される。
タは、ホストコンピュータ600からのテスト終了メッ
セージをチェックし、テスト終了メッセージを受信した
場合は1022〜1024段階で、テスト終了メッセー
ジをホストコンピュータ600へ報告し、テスト結果を
ハードディスクドライブのメインテナンスシリンダに記
録する。続いて1026段階でテスト用コンピュータ
は、テストしたハードディスクドライブが取り外された
かどうかを確認し、外されれば1010段階へルーチン
を戻して他のハードディスクドライブの装着を待って以
降の段階を引き続き行うようにする。
600からのテスト終了メッセージが受信されなければ
テスト用コンピュータは、1020段階を行ってテスト
遂行ルーチン780内の後続の命令コードを選択実行す
るようにした後、1014段階へルーチンを戻して以降
の段階を再び行う。しかし、1020段階で選択実行す
る命令コードがないときには、1022段階で、ホスト
コンピュータ600へテスト終了メッセージを伝送した
後、1024〜1026段階を行うようにする。
600に20台のテスト用コンピュータ612〜618
を接続し、その各テスト用コンピュータ612〜618
に3つずつのIDEアダプタ222,224,226を
接続するようにしたうえに、その各IDEアダプタ22
2,224,226に2台ずつのハードディスクドライ
ブ642〜652を接続してテストし得るシステムが構
築される。従って、1台のホストコンピュータ600で
同時に120台のハードディスクドライブ642〜65
2をテストすることができ、単位時間当たりテストを行
えるハードディスクドライブの数量を増加させることが
できるようになっている。
ードディスクドライブのテスト効率を上げることがで
き、最適の容量及び時間で同時に多数のハードディスク
ドライブをテストするのに効果的で、低コストで高効率
の装置を提供する利点がある。また、バーンインチャン
バと制御チャンバが分けられているので、高温のチャン
バからテスト用コンピュータ(ボード)が保護され、装
置の安全性が高い。更に、一般使用者のテスト環境と同
一の環境を提供することによりテスト結果の信頼性を高
めることができる。
説明するブロック図。
図。
図。
断面図。
ィスクドライブの接続状態を示す分離斜視図。
ステムのブロック図。
イスドライブの構成ルーチンを示すブロック図。
Eバスマスタコントローラのブロック図。
ピュータの制御フローチャート。
コンピュータの制御フローチャート。
Claims (7)
- 【請求項1】 多数のハードディスクドライブを収容す
る高温のバーンインチャンバと、分離壁によって前記バ
ーンインチャンバと分離され、前記バーンインチャンバ
内のハードディスクドライブに接続するテスト用コンピ
ュータを多数収容する制御チャンバと、前記バーンイン
チャンバの内部環境制御及び前記テスト用コンピュータ
の制御を行うホストコンピュータと、を備えてなること
を特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。 - 【請求項2】 分離壁に、ハードディスクドライブとテ
スト用コンピュータを接続するコネクタを通す貫通孔が
多数形成され、1台のテスト用コンピュータにつき複数
台のハードディスクドライブが接続される請求項1記載
のハードディスクドライブのテスト装置。 - 【請求項3】 分離壁の制御チャンバ側に多数の位置ガ
イド突起を突設し、これを受ける位置ガイド溝をテスト
用コンピュータに設けて着脱時に摺動させるようにして
ある請求項1又は請求項2記載のハードディスクドライ
ブのテスト装置。 - 【請求項4】 多数のハードディスクドライブを同時に
テストするようにテスト制御信号を発生するホストコン
ピュータと、このホストコンピュータに多数接続され、
前記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブを
テストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホス
トコンピュータへ伝える複数のテスト用コンピュータ
と、このテスト用コンピュータ1台につき複数ずつ接続
され、該テスト用コンピュータとハードディスクドライ
ブとのデータ伝送動作を制御するIDEアダプタと、を
備え、1台の前記テスト用コンピュータで複数のハード
ディスクドライブをテスト可能であることを特徴とする
ハードディスクドライブのテスト装置。 - 【請求項5】 1台のホストコンピュータに複数のテス
ト用コンピュータを接続し、そしてその各テスト用コン
ピュータにそれぞれ複数のIDEアダプタを接続し、更
にその各IDEアダプタにそれぞれ複数のハードディス
クドライブを接続して行うハードディスクドライブのテ
スト方法であって、 テスト実行命令を入力したホストコンピュータから複数
のテスト用コンピュータへテスト制御信号を発生する第
1過程と、ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプ
ログラムをダウンロードした複数のテスト用コンピュー
タそれぞれが、そのプログラムに基づいてテスト命令を
複数のIDEアダプタを通じて複数のハードディスクド
ライブへ伝送する第2過程と、そのテスト命令を受信し
たハードディスクドライブが該当テストを行った結果を
IDEアダプタを通じてテスト用コンピュータが受け取
る第3過程と、ハードディスクドライブからテスト結果
を受信したテスト用コンピュータがホストコンピュータ
へそのテスト結果を報告する第4過程と、を遂行するこ
とを特徴とするテスト方法。 - 【請求項6】 第1過程は、テスト実行命令を入力した
ホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複数
のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、そのブ
ートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを形
成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェックし
た後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行する請
求項5記載のテスト方法。 - 【請求項7】 第4過程の後、テスト用コンピュータが
ホストコンピュータからのテスト終了メッセージを確認
し、該テスト終了メッセージが受信されたときにテスト
結果をハードディスクドライブのメンテナンスシリンダ
に記録するように制御する第5過程を遂行する請求項5
又は請求項6記載のテスト方法。
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KR1996P53789 | 1997-04-22 | ||
KR1996P15692 | 1997-04-22 | ||
KR1997P14867 | 1997-04-22 |
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JPH1064173A true JPH1064173A (ja) | 1998-03-06 |
JP4027459B2 JP4027459B2 (ja) | 2007-12-26 |
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- 1997-05-11 CN CN97113226A patent/CN1114109C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-12 GB GB9709491A patent/GB2312984B/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-05-12 JP JP12125597A patent/JP4027459B2/ja not_active Expired - Lifetime
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US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
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US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2312984A (en) | 1997-11-12 |
KR970076738A (ko) | 1997-12-12 |
JP4027459B2 (ja) | 2007-12-26 |
MY119177A (en) | 2005-04-30 |
GB2312984B (en) | 1999-09-01 |
US6169413B1 (en) | 2001-01-02 |
GB9709491D0 (en) | 1997-07-02 |
CN1177187A (zh) | 1998-03-25 |
CN1114109C (zh) | 2003-07-09 |
KR100214308B1 (ko) | 1999-08-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20040825 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040827 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040830 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050208 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050330 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070227 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070528 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071002 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071010 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111019 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131019 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |