KR20070062521A - 디스크 드라이브를 위한 하우징 및 장치 - Google Patents

디스크 드라이브를 위한 하우징 및 장치 Download PDF

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KR20070062521A
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temperature sensor
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안드류 윌리엄 앳킨스
스티브 안드류 바일리
데이비드 로날드 바인 파커
데이비드 존 오리스
케빈 리차드슨
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지라텍스 테크놀로지 리미티드
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Abstract

디스크 드라이브 시험 장치(1)는 시험되어야 하는 개별의 디스크 드라이브를 각각 수용하기 위한 복수개의 구획부(4)를 가진다. 복수개의 카드 슬롯(6)들은 시험용 카드(7,8)를 각각 수용하도록 제공되며, 시험 카드를 통해서 디스크 드라이브가 시험될 수 있다. 각각의 시험 카드들은 환경 시험 카드(7)이거나 또는 인터페이스 시험 카드(8)이다. 각각의 카드 슬롯(6)이 환경 시험 카드(7) 또는 인터페이스 시험 카드(8)를 선택적으로 수용할 수 있도록, 카드 슬롯(6)과 시험 카드(7)들이 배치된다. 디스크 드라이브 시험 장치 또는 디스크 드라이브 장착 장치를 위한 다른 배치들이 개시된다.

Description

디스크 드라이브를 위한 하우징 및 장치{Housings and devices for disk drives}
본 출원은 미국 출원 제 60/610532 호의 우선권을 주장하며 그 내용은 본원에 참고로서 포함된다.
본 발명은 전체적으로 디스크 드라이브를 위한 하우징 및 장치들에 관한 것이다.
본 발명의 다양한 특징들은 디스크 드라이브들이 제조 과정 동안에 시험될 때 하우징 디스크 드라이브들에 대한 특정의 적용예들을 가진다. 그러나, 본 발명의 다양한 특징들은 그러한 시험 장치에 제한되는 것은 아니며, 예를 들면 최종 사용자가 기억 저장의 적용예로서 이용하는 동안에 디스크 드라이브를 하우징하기 위한 장치 및 소자들에 관한 것이다.
디스크 구동 유니트의 제조 동안에, 디스크 구동 유니트가 필요한 사양을 충족시키는 것을 보장하도록 디스크 드라이브 유니트를 시험할 필요가 있다. 예를 들면, 디스크들의 자기 기록 표면들은 결함에 관해서 시험되며 디스크 드라이브들의 전자부들도 시험된다. 시험 작용의 일부로서, 디스크 드라이브 유니트의 성능이 넓은 온도 범위에 걸쳐서 충족되는 것을 보장하도록 디스크 드라이브 유니트의 온도 가 넓은 범위에 걸쳐서 변화된다.
이러한 목적을 위해서, 디스크 드라이브 유니트는 특정의 요건들을 충족시키는 장치내에 장착된다. 예를 들면, 장치는 디스크 드라이브들의 온도를 제어 가능하게 변화시킬 수 있어야 한다. 디스크 드라이브들이 바람직스럽게는 진동을 감쇠시키는 방식으로 장착되는데, 장치로부터 디스크 드라이브 안으로 오는 진동을 감쇠시키고, 그리고 디스크 드라이브의 작동으로부터 발생되는 진동을 감쇠시켜서, 장치의 나머지로 보내게 된다.
본원에 참조로서 포함되는 출원인의 국제 출원 공개 WO-A-01/41148 에는 디스크 드라이브 유니트 유지부가 개시되어 있다. 개시부는 후방 부분과 전방 부분을 가진다. 디스크 드라이브는 시험을 위해서 전방 부분내에 장착된다. 후방 부분은 디스크 드라이브를 가로질러 공기를 송풍하도록 팬과 밸브 장치를 포함한다. 유지부는 커다란 프레임과 같은 장치 안에서 많은 다른 그러한 유지부들과 함께 장착된다. 팬과 밸브의 선택적인 작동을 통해서, 디스크 드라이브의 온도는 넓은 범위에 걸쳐 제어 가능하게 변화될 수 있다. 이러한 목적을 위해서, 소망되는 바에 따라서 열 교환기는 공기를 냉각시키도록 제공되고 히터는 공기를 가열하도록 제공된다.
통상적으로 시험 과정 동안에, 제 1 단계에서는 디스크 드라이브에 대한 단순한 전력과 제어 연결이 장치를 통하여 이루어지며, 소위 환경 시험이 수행되는데, 여기에서 드라이브들은 소위 자체 시험을 수행한다. 제 1 단계는 예를 들면 디스크의 표면에 결함이 있는지를 시험하도록 이용될 수 있으며 넓은 온도 범위에 걸쳐서 작동이 충족되는 것을 보장하도록 이용될 수 있다. 역사적으로, 디스크 드라 이브는 소위 인터페이스 시험이 수행되는 완전히 분리된 장치로 움직였다. 인터페이스 시험에서, 예를 들면 구동부의 인터페이스를 통해서 고속 데이터 전송이 만족스러운 성능으로 수행될 수 있는지를 완전히 점검하기 위하여, 완전한 제어 연결이 디스크 드라이브에 대하여 이루어진다. 따라서, 역사적으로, 2 개의 분리된 시험 장치가 존재하였는데, 하나는 보다 수월한 환경 시험을 수행하는 것이고, 다른 것은 보다 수고를 요하는 인터페이스 시험을 수행하는 것이다. 시험하는 동안에 2 개의 장치들 사이에서 디스크 드라이브들을 이전하여야 하는 것은 불편하며 시간이 낭비된다는 점이 이해될 것이다.
디스크 드라이브의 온도는 역사적으로 디스크 드라이브를 가로질러 유동하는 공기의 온도를 측정하고 참조표나 또는 그와 유사한 것을 이용하여 디스크 드라이브의 온도를 계산함으로써 간접적으로만 모니터되었다. 그러나, 그러한 것은 정확성을 달성하기 위하여 디스크 드라이브를 가로질러서 고속 고체적의 공기 유동을 필요로 한다. 이것은 다시 물리적으로 크고, 큰 동력의 팬이 필요하다는 것을 의미하는데, 이는 장치의 크기를 최소화시킬 필요성과 일치하지 않는 것이며 장치에서 발생하는 진동의 효과를 최소화시키는 것을 더욱 어렵게 한다.
위에서 설명된 많은 문제들, 예를 들면, 디스크 드라이브의 진동을 댐핑시키는 것과 그것의 온도를 제어하는 것은 최종 사용자의 저장 장치 적용예들에 관련되는 것으로서, 이들 저장 장치 적용예들에서는 하나 또는 그 이상의 디스크 드라이브들이 최종 사용자에 의해서 이용되도록 저장 장치내에 장착된다.
본 발명의 제 1 특징에 따르면, 디스크 드라이브 시험 장치가 제공되는데, 상기 장치는: 시험되어야 하는 개별의 디스크 드라이브를 각각 수용하기 위한 복수개의 구획부; 시험 카드를 각각 수용하기 위한 복수개의 카드 슬롯으로서, 디스크 드라이브는 카드 슬롯을 통해서 시험될 수 있는, 복수개의 카드 슬롯; 및, 복수개의 시험 카드들을 구비하고, 각각의 시험 카드는 개별의 카드 슬롯 안에 수용되고, 각각의 시험 카드들은 환경 시험 카드이거나, 또는 인터페이스 시험 카드이고; 각각의 카드 슬롯이 환경 시험 카드나 또는 인터페이스 시험 카드를 선택적으로 수용할 수 있도록 카드 슬롯과 시험 카드들이 배치된다.
이러한 측면에서, 복수개의 디스크 드라이브들의 환경 시험 및 인터페이스 시험을 허용하도록 같은 기본 장치가 이용될 수 있다. 실제에 있어서, 환경 시험은 인터페이스 시험보다 오래 걸린다. 따라서, 각각의 인터페이스 시험 카드에 대하여 몇 개의 환경 시험 카드들이 있도록 제조자가 장치를 배치할 수 있다. 환경 테스트 카드는 예를 들면 하나 또는 그 이상의 팬(fan)들, 도관, 전자부 등을 가질 수 있으며, 이들은 모두 하나의 유니트(unit)로서 포함되고, 상기 유니트가 인터페이스 시험 카드를 위해서 용이하게 교체될 수 있으며, 인터페이스 시험 카드는 디스크 드라이브의 인터페이스가 시험될 수 있도록 디스크 드라이브에 대한 적절한 연결 및 프로세서를 가질 수 있다.
그 어떤 다른 카드 슬롯과 물리적으로 간섭하지 않으면서 각각의 카드 슬롯이 선택적으로 환경 시험 카드 또는 인터페이스 시험 카드를 선택적으로 수용함으로써 각각의 카드 슬롯에 시험 카드가 채워질 수 있도록, 카드 슬롯, 환경 시험 카드 또는 각각의 환경 시험 카드, 그리고 인터페이스 시험 카드 또는 각각의 인터페이스 시험 카드가 배치되는 것이 바람직스럽다. 이러한 방식으로, 모든 카드 슬롯들이 항상 이용될 수 있으며, 예를 들면 제조자는 인터페이스 시험 카드를 수용하는데 2 개의 카드 슬롯들을 희생시킬 필요가 없다.
일 구현예에서, 장치는 적어도 하나의 환경 시험 카드와 적어도 하나의 인터페이스 시험 카드를 포함한다.
바람직한 구현예에서, 장치는 각각의 구획부에 대한 개별의 카드 슬롯을 포함한다. 따라서, 각각의 디스크 드라이브는 그 자체의 전용 시험 카드를 가지고 개별적으로 시험될 수 있다.
본 발명의 제 2 특징에 따르면, 디스크 드라이브 장착 장치가 제공되는데, 상기 장치는: 프레임; 적어도 하나의 디스크 드라이브를 수용하기 위한 디스크 드라이브 홀더(holder)로서, 고정되거나 또는 프레임과 일체로 형성된 디스크 드라이브 홀더; 및, 적어도 하나의 카드를 수용하기 위한 카드 홀더로서, 상기 디스크 드라이브는 카드를 통하여 시험될 수 있거나 또는 작동될 수 있으며, 프레임 안에 제거 가능하게 수용되는 카드 홀더;를 구비한다.
이러한 장치는 전체적으로 기계적인 구성부들(특히 디스크 드라이브 홀더)을 전자적인 구성부들(특히, 통상적으로 환경 시험 카드나, 또는 인터페이스 시험 카드를 유지하게 되는, 카드 홀더)로부터 분리시킨다. 이러한 배치는 디스크 드라이브 홀더가 프레임에 대하여 견고하게 고정될 수 있으므로 디스크 드라이브(들)의 진동 효과를 최소화시키는데 도움이 된다. 다른 한편으로, 카드 홀더가 제거될 수 있는데, 이것은 실제로 유지 관리 및 업그레이드(upgrade)의 목적을 위해서 필요하다.
일 구현예에서, 디스크 드라이브 홀더는 복수개의 디스크 드라이브를 수용하도록 구성되어 배치되며, 카드 홀더는 그에 대응하는 복수개의 카드들을 수용하도록 구성되어 배치된다.
일 구현예에서, 디스크 드라이브 홀더는 디스크 드라이브가 장착될 수 있는 디스크 드라이브 장착 장치를 구비하는데, 디스크 드라이브 장착 장치는 디스크 드라이브 홀더를 프레임으로부터 탈착시킬 필요 없이 디스크 드라이브 홀더로부터 제거될 수 있다. 디스크 드라이브 장착 장치는 슬리이브와 같은 장치의 형태일 수 있으며, 그 안으로 디스크 드라이브가 삽입되고, 디스크 드라이브는 선택적으로 디스크 드라이브 트레이(tray) 또는 유지부(carrier) 안에 지지된다. 이러한 구현예는, 여러 가지 유형의 디스크 드라이브들을 수용하기 위하여 하나의 유형 또는 형상의 디스크 드라이브 장착 장치가 다른 유형 또는 형상의 디스크 드라이브 장착 장치로 용이하게 교환될 수 있다는 점에서 특히 유용하다.
본 발명의 제 3 특징에 따르면, 디스크 드라이브 장착 장치가 제공되는데, 상기 장치는: 적어도 하나의 디스크 드라이브를 수용하기 위한 디스크 드라이브 홀더; 및, 상기 디스크 드라이브가 카드를 통하여 시험되거나 또는 작동될 수 있는 적어도 하나의 카드 및, 상기 디스크 드라이브 위로 공기를 통과하게 하는 적어도 하나의 팬;을 포함하는 카드 홀더를 구비하고, 디스크 드라이브 홀더 및 카드 홀더는 비접촉 시일 배치를 통해 서로 작동 가능하게 연결됨으로써, 공기가 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로 그리고 상기 디스크 드라이브 위로 통과하는 동안, 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더는 실질적으로 서로로부터 기계적으로 격리된다.
이러한 측면에 있어서, (i) 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더가 서로로부터 실질적으로 기계적으로 격리되어야 하는 것과 (ii) 가열/냉각 공기가 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더 사이를 통과할 수 있어야 하는 2 중의 요건들이 충족된다. 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더 사이의 연결이나 또는 간극을 완전히 시일하는 고무나 또는 유사한 시일과 같은 접촉 시일 장치는 회피된다.
실제에 있어서, 상기 디스크 드라이브 위로 통과되었던 공기의 적어도 일부가 다음에 카드 홀더로 다시 통과되도록 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더가 배치되는 것이 바람직스럽다.
바람직한 구현예에서, 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더 사이에 공기 간극이 있도록, 그리고 공기가 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로 통과될 때와 공기가 디스크 드라이브 홀더로부터 카드 홀더 안으로 통과될 때 공기가 압력 강하를 경험하도록, 시일 배치가 이루어진다. 이러한 방식으로, 공기는 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더로부터 공기 간극을 통하여 이탈하는 것이 억제된다. 반드시 모든 공기가 공기 간극을 통하여 누설되는 것이 방지되어야만 하는 것은 아니라는 점이 이해되어야 하며, "억제"라는 용어는 그렇게 해석되어야 한다.
공기가 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로 그리고 상기 디스크 드라이브 위로 통과되도록 적어도 하나의 카드는 적어도 하나의 팬을 유지할 수 있다.
본 발명의 제 4 특징에 따르면, 디스크 드라이브 장착 장치가 제공되는데, 상기 장치는: 디스크 드라이브를 수용하기 위한 구획부 및, 상기 디스크 드라이브의 시험 또는 작동 동안에 상기 디스크 드라이브의 온도를 직접적으로 감지하도록 배치되고 구성된 온도 센서;를 구비한다.
위에서 언급되었던 바와 같이, 디스크 드라이브의 온도는 전통적으로 디스크 드라이브를 가로질러 유동하는 공기의 온도를 측정하고 디스크 드라이브의 온도를 계산함으로써 오직 간접적으로만 모니터되었다. 이러한 측면에서, 디스크 드라이브의 온도가 직접적으로 감지될 수 있다. 이것은 디스크 드라이브 온도의 보다 정확한 모니터링을 허용하며 따라서 디스크 드라이브의 보다 낳은 시험 및 인증을 가능하게 한다. 중요한 것은, 고체적과 고속의 공기 유동을 얻도록 종래 기술에서 이용되는 대형 팬이 회피될 수 있어서, 공간을 절감하고 진동을 감소시키는 것을 의미한다는 점이다.
온도 센서는 온도 센서를 상기 디스크 드라이브와 접촉시키도록 편향시키는 편향 장치를 통해 장착될 수 있다. 예를 들면, 온도 센서는 스프링 아암에 장착될 수 있다. 이것은 디스크 드라이브가 센서와 접촉하게 되는 문제점을 극복하도록 돕는데, 상기와 같은 문제점들은 제조 공차에 기인한 장치 자체 및, 디스크 드라이브의 물리적인 치수 변화 때문에 발생할 수 있다.
일 구현예에서, 장치는 구획부를 형성하는 프레임을 구비하며, 온도 센서는 프레임에 장착된다. 온도 센서는 직접적으로 프레임에 장착될 수 있거나, 또는 예를 들면 프레임에 장착된 연결구상에 간접적으로 장착될 수 있다. 이용되는 동안에, 디스크 드라이브는 (전력과 제어와 데이터 신호의 통과를 위해서) 연결부에 연결된다. 따라서 이러한 연결은 구획부에 대한 디스크 드라이브의 위치가 잘 정해지는 데이터 지점(datum point)을 한정하는데, 진동의 효과를 최소화시키는 것을 돕기 위하여 디스크 드라이브의 나머지가 구획부에서 어느 정도 또는 그 이상으로 "부유(float)" 할 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 따라서 연결부상에 온도 센서를 장착하는 것은 사용되는 동안에 온도 센서가 디스크 드라이브와 적절한 접촉을 하는 것을 용이하게 보장할 수 있게 한다.
다른 구현예에서, 제거 가능한 트레이(tray)가 제공되는데, 상기 트레이 안에 디스크 드라이브가 수용될 수 있고, 트레이는 구획부에 안에 제거 가능하게 수용될 수 있어서 상기 디스크 드라이브를 구획부 안에 장착시키며, 온도 센서가 트레이에 장착된다. 이러한 구현예에서, 트레이에 대한 디스크 드라이브의 위치는 통상적으로 잘 정해지며 따라서 이러한 구현예는 사용되는 동안에 다시 온도 센서가 디스크 드라이브와 적절하게 접촉하는 것을 용이하게 보장하도록 한다.
다른 구현예에서, 장치는 상기 디스크 드라이브의 작동 또는 시험 동안에 상기 디스크 드라이브의 온도를 직접적으로 감지하도록 구성되고 배치된 적어도 2 개의 온도 센서들을 구비하는데, 상기 장치는 구획부를 형성하는 프레임을 구비하고, 적어도 하나의 온도 센서가 프레임에 장착되고, 상기 장치는 제거 가능한 트레이를 구비하여 트레이 안에 디스크 드라이브가 제공될 수 있고 트레이는 구획부 안에 제거 가능하게 수용될 수 있어서 상기 디스크 드라이브를 구획부 안에 장착하며, 적어도 하나의 온도 센서가 트레이에 장착된다. 이것은 2 개의 온도 센서들이 이용될 수 있게 하여, 디스크 드라이브상의 여러 위치들에서 디스크 드라이브의 온도에 대한 비교가 이루어질 수 있게 한다. 그 어떤 경우에라도, 디스크 드라이브상의 몇 개의 상이한 위치들에서 상이한 유형의 온도를 측정하는 것이 소망스러울 수 있다. 하나 이상의 온도 센서를 가진다는 것이 의미하는 것은, 같은 기본적인 장치가 넓은 범위의 디스크 드라이브 유형으로써 이용될 수 있으며, 온도 측정에 있어서 여전히 우수한 정확성을 달성한다는 점이다.
상기에 설명된 구현예들에서, 트레이는 트레이 안에 수용된 디스크 드라이브를 지지하는 복수개의 장착 핀들을 구비할 수 있으며, 장착 핀들중 적어도 하나는 그 안에 온도 센서를 가진다.
일 구현예에서, 디스크 드라이브는 구획부 안에 수용되고, 디스크 드라이브는 내측의 온도 센서를 가져서, 디스크 드라이브 장착 장치의 온도 센서에 의해 검출되는 온도와, 디스크 드라이브의 내부 온도 센서에 의해 검출되는 온도의 비교가 이루어질 수 있다.
본 발명의 제 5 의 특징에 따르면, 디스크 드라이브 장착 디바이스가 제공되는데, 상기 디바이스는 수용부를 형성하여, 디스크 드라이브를 유지하는 디스크 드라이브 트레이가 수용부 안에 수용될 수 있고, 디바이스는 3 개의 직교 방향으로 진동을 감쇠시키도록 배치된 감쇠 재료를 가진다.
디바이스의 바람직한 구현예는 디바이스 안에 수용된 디스크 드라이브에 영향을 미치는 디바이스 외측으로부터 발생된 진동을 감소시킬 수 있고, 디스크 드라이브의 작동을 통해서 발생되는 진동을 감쇠시킬 수 있다. 실제에 있어서, 디스크 드라이브는 디바이스에 단단하게 연결되는 반면에, 디바이스는 그러한 디바이스들을 지지하는 프레임과 같은 장치 안에 "부드럽게" 장착된다.
감쇠 재료가 감쇠 재료의 압축/신장 및 전단(shear)의 조합에 의해서 진동을 감쇠시키도록, 감쇠 재료는 이용중에 디바이스내에 수용된 디스크 드라이브의 회전축에 대한 각도로 배치되는 것이 바람직스럽다. 따라서, 감쇠 재료가 바람직스럽게는 전단 모드 또는 압축/신장 모드로 배타적이지 않게 작동되며, 이것은 재료가 보다 내구성이 있고 그것의 작동 특성들이 보다 안정적이게 하며 넓은 범위의 작동 조건들에 걸쳐서 예측 가능하게 한다.
일 구현예에서, 디바이스는 2 개의 반대편 측부 벽들을 가지며, 측부 벽들의 적어도 하나의 외부는 그 위에 감쇠 재료를 가진다.
일 구현예에서, 상기 측부 벽의 외부가 이용중에 디바이스 안의 수용된 디스크 드라이브의 회전축에 대한 각도로 있도록 측벽들중 적어도 하나가 배치된다.
일 구현예에서, 디바이스는 2 개의 반대편 측부 벽들을 가지며, 각각의 측부 벽들의 외부는 이용중에 디바이스 안에 수용된 디스크 드라이브의 회전축에 대한 각도에 있도록 상기 측부 벽들 각각이 배치되고, 각각의 측부 벽은 그 위에 감쇠 재료를 가지고, 감쇠 재료는 감쇠 재료의 전단 및 압축/신장의 조합에 의해서 진동을 감쇠시키도록 배치된다.
디바이스는 디바이스 위에 제거 가능하게 장착된 덩어리(mass)를 포함할 수 있다. 덩어리는 장치의 진동 성능을 튜닝하도록 이용될 수 있는데, 디바이스의 회전 중심을 디스크 드라이브 아암의 피봇 지점으로부터 이탈되게 움직이도록 이용될 수 있으므로 특히 유용하며, 이것은 다시 보다 효과적으로 진동을 감쇠시키도록 돕는다. 상이한 크기, 형상 및/또는 무게를 가지는 상이한 덩어리가 여러 가지 드라이브들을 위하여 이용될 수 있다.
본 발명의 구현예들은 이제 첨부된 도면을 참조하여 예를 들어 설명될 것이다.
도 1 은 디스크 구동 시험 장치의 구현예에 대한 일 예를 사시도로 도시한 것이다.
도 2 는 도 1 의 장치에 대한 개략적인 절단 사시도를 도시한다.
도 3 은 제어 카드의 예를 도시하는 사시도로서, 제어 카드에 대하여 환경 시험 카드 및 인터페이스 시험 카드가 부착된다.
도 4 는 디스크 구동 시험 장치의 전방 부분이 프레임에 연결된 것의 구현예를 예를 들어 도시한 사시도이다.
도 5 는 환경 시험 카드와, 디스크 드라이브를 가진 디스크 드라이브 장착 장치의 구현예에 대한 예의 일부를 통한 길이 방향 단면도를 도시한다.
도 6a 내지 도 6d 는 연결부의 구현예에 대한 예를 도시하는 사시도로서, 연결부는 그 안에 장착된 온도 센서와, 온도 센서와 디스크 드라이브의 접촉부를 가지는 것이다.
도 7a 내지 도 7d 는 디스크 드라이브 유지 트레이에 대한 구현예의 예를 도 시하는 사시도로서, 이것은 그 안에 장착된 온도 센서와, 연결부에 대한 디스크 드라이브 트레이의 연결을 가진다.
도 8a 내지 도 8c 는 디스크 드라이브 장착 디바이스(device)의 구현예에 대한 예의 사시도를 도시하는 것으로서, 디스크 드라이브 장착 디바이스는 덩어리 및 그에 장착된 감쇠 재료를 가진다.
도 1 및 도 2 를 참조하면, 디스크 드라이브 시험 장치(1)는 전방 부분(2) 및 후방 부분(3)을 가진다. 이러한 예에서, 전방 부분(2)은 후방 부분(3)에 제거 가능하게 고정된다. "전방" 및 "후방"이라는 용어는 통상적으로 사용되는데, 전방 부분(2)은 디스크 드라이브가 이용되는 동안에 위치되는 곳이고, 후방 부분(3)은 이후에 보다 상세하게 설명되는 바와 같이 전자부(electronics)들이 포함되는 곳이다.
도시된 예에서, 장치(1)는 최대 6 개의 디스크 드라이브들을 분리된 구획부(bay, 4)들 안에 하우징할 수 있는데, 구획부들은 수직으로 하나가 다른 것의 위에 배치된다. 사용되는 동안에, 장치(1)는 많은 다른 장치(1)들과 함께 커다란, 통상적으로 강철인 프레임(미도시)에 고정됨으로써, 수백 또는 수천의 디스크 드라이브들이 프레임 안에서 한번에 유지될 수 있다. 바람직한 구현예에서, 디스크 드라이브들을 장치(1) 안으로 삽입하고 디스크 드라이브들을 장치(1)로부터 제거하도록 로봇이 이용된다.
특히 도 2 및 도 3을 참조하면, 후방 부분(3)은 수직으로 배치된 제어 카 드(5)를 가지는데, 이것은 개별의 시험 카드를 각각 수용하기 위한 슬롯(6)을 형성하는, 6 개의 수직으로 분리된 연결부의 세트들을 가진다. 이러한 예에서 시험 카드들은 2 가지 유형들로 나뉜다. 제 1 유형은 소위 환경 시험 카드(7)이고, 다른 것은 소위 인터페이스 시험 카드(8)이다. (도 2에서, 환경 시험 카드(7)만이 도시되어 있다).
각각의 환경 시험 카드(7)는 2 개의 원심 송풍 팬(9,10)을 구비한다. 이들 팬들중 하나(9)는 냉각 팬(9)으로서, 이것은 환경 시험 카드(7)에 근접한 구획부(4)에서 이용되도록 장착된 디스크 드라이브 위로 공기를 송풍하도록 작동된다. 제 2 팬(10)은 재순환 팬(10)으로서, 이것은 디스크 드라이브로부터 냉각 팬(9)으로 복귀되는 공기의 흐름을 변경시키도록 선택적으로 작동될 수 있다. 특히, 재순환 팬(10)의 작동은 디스크 드라이브로부터 복귀되는 공기의 일부를 카드(7)의 제 1 공기 도관(10)을 통해 외부로 강제한다. 그곳으로부터, 공기의 그 부분을 냉각시키기 위하여 공기는 프레임과 결합된 열 교환기(미도시)를 통과한다. 공기는 다음에 환경 시험 카드(7)의 제 2 도관(12)을 통하여 냉각 팬(9)으로 복귀된다. 재순환 팬(10)의 작동 속도는 디스크 드라이브에 걸쳐 통과되는 공기의 전체적인 온도를 변화시키기 위하여 변화된다. 예를 들면, 어떤 장치에서는 재순환 팬(10)의 빠른 회전 속도가 상대적으로 많은 공기를 제 1 도관(11)을 통하여, 열교환기를 통하여, 그리고 다시 제 2 도관(12)을 통하여 강제한다. 다른 한편으로, 재순환 팬(10)을 위한 느린 속도 또는 제로의 회전 속도는 열 교환기를 통하여 공기가 거의 통과하지 않거나 전혀 통과하지 않으며, 따라서 상대적으로 따뜻한 공기가 디스크 드라이 브에 걸쳐 통과된다는 것을 의미한다. 예를 들면 전기 가열 요소의 형태인 히터(미도시)가 환경 시험 카드(7)내 공기 유동 경로에 제공될 수 있어서 소망되는 경우에 공기가 가열될 수 있다. 이러한 배치는 디스크 드라이브에 걸쳐 유동하는 공기의 온도가 넓은 범위로 변화될 수 있으며, 따라서 디스크 드라이브 자체의 온도가 넓은 범위에 걸쳐 변화될 수 있게 한다. 2 개의 팬(9,10)들을 제공하는 것은, 예를 들면 본 출원인의 국제 출원 공개 WO-A-01/41148 에 개시된 바와 같이 밸브의 위에 팬이 있어야 하는 필요성을 회피하게 한다. 이것은 다시, 장치(1)내에서 단위 높이당 보다 많은 환경 시험 카드(7)들 및 따라서 보다 많은 디스크 드라이브들이 수용될 수 있다는 점을 의미한다.
환경 시험 카드들은 자체적으로 공지되어 있다. 환경 시험 카드(7)는 개별의 디스크 드라이브에 전력과 데이터 연결을 제공한다. 디스크 드라이브는 환경 시험 카드(7)를 통해 소위 자체 시험을 수행하여, 자체 시험에 의해서 결함들이 허용된 오차내에 있는 것을 보장하도록 흠결들에 대한 자기 기록 표면을 시험할 수 있고, 또한 그러한 것을 이미 언급된 바와 같은 넓은 범위의 온도에 걸쳐서 행한다. 디스크 드라이브의 전자부들에 대한 특정한 분량의 시험은 환경 시험 카드(7)를 통해 수행될 수도 있다.
그러나, 디스크 드라이브의 완전한 인터페이스 시험을 수행하도록, 인터페이스 시험 카드(8)를 이용할 필요가 있다. 이것은 장치(1)에서 슬롯(slot,6)들중 하나를 인터페이스 시험 카드(8)로 채움으로써 달성될 수 있다.
인터페이스 시험 카드들은 자체적으로 공지되어 있다. 이러한 예에서, 인터 페이스 시험 카드(8)와 제어 카드(5)의 슬롯들은, 하나 또는 그 이상의 슬롯(6)들이 그 어떤 다른 슬롯(6)들과 물리적으로 인터페이스되지 않으면서 개별의 인터페이스 시험 카드(8)가 삽입될 수 있도록 배치된다. 즉, 모든 슬롯(6)이 사용자/제조자의 선택에 따라서 환경 시험 카드(7) 또는 인터페이스 시험 카드(8)로 채워질 수 있으며, 따라서 장치(1)의 후방 부분(3)에서 모든 체적이 최대로 이용되는 것을 보장한다. 실제에 있어서, 디스크 드라이브들의 제조자가 위에서 설명된 바와 같이 프레임 안에 많은 장치(1)를 이용하는 경우에, 대부분의 장치(1)는 아마도 환경 시험 카드(7)들만으로 채워질 것이며, 오직 일부의 장치(1)가 단일의 인터페이스 시험 카드(8)를 가진다. 이와는 달리, 대부분의 장치가 오직 환경 시험 카드(7)만으로 채워지고 일부의 장치(1)는 오직 인터페이스 시험 카드(8)만으로 채워지게끔 제조자가 배치할 수 있다. 인터페이스 시험 카드(8)들에 대한 환경 시험 카드(7)들의 전체적인 비율은 50:1 내지 90:1 등의 정도일 수 있다.
요약하면, 각각의 슬롯(6)이 제조자의 선택으로써 환경 시험 카드(7)나 또는 인터페이스 시험 카드(8)로 채워질 수 있도록, 환경 시험 카드(7)와 인터페이스 시험 카드(8)들이 동등한 크기가 되게끔, 환경 시험 카드(7)와 인터페이스 시험 카드(8)들이 구성되어 배치된다.
제조하는 중에 디스크 드라이브를 시험하는 동안이든 또는 기억 저장 적용예에서 최종 이용자에 의해서 이용되든 간에, 디스크 드라이브를 장착할 때는 진동의 효과를 최소화시키는 것을 중요하게 고려해야 한다. 이전에 언급된 바와 같이, 이웃하는 디스크 드라이브들에서 디스크 드라이브들의 작동으로부터 발생되는 진동의 효과를 최소화시키고 (즉, 디스크 드라이브를 "떠나는" 진동을 방지하고), 개별 디스크 드라이브가 다른 구성 요소들로부터 진동에 의해 영향을 받는 것을 방지하는 것이 (즉, 외부로부터 디스크 드라이브에 "진입하는" 진동을 방지하는 것이) 소망스럽다. 도 4 에 도시된 바와 같은 본 장치(1)의 일 예에서, 전방 부분(2)은 장치(1)가 장착되어 있는 프레임의 부분(20)에 단단하게 연결된다. 통상적으로, 예를 들면 본 출원인의 국제 출원 공개 WO-A-01/41148 에 개시된 바람직한 구현예에서와 같이, 장치(1)의 전방 및 후방 부분(2,3)은 서로 연결되며 이후에 프레임 안에 전체로서 장착된다. 그러나, 전방 부분(2)을 프레임의 부분(20)에 단단하게 연결하는 것은 전방 부분(2) 안에 장착된 디스크 구동부들을 진동으로부터 격리시키는 것을 보조할 수 있다는 점이 밝혀졌다.
정상적으로는 전방 부분(2)이 장치(1)의 유용 수명 동안 프레임(20)에 고정될 것이라는 점에서 프레임(20)에 대한 전방 부분(2)의 고정은 반 영구적이도록 의도된다. 참으로, 전방 부분(2)을 프레임의 부분(20)과 일체로 형성하는 것이 소망스러울 수 있다. 다른 한편으로, 후방 부분(3)이 전자부등을 포함한다는 점을 염두에 두고, 테스트 카드(7,8)들과 제어 카드(5)를 포함하는 후방 부분(3)의 다양한 구성 요소들이 수리나, 또는 업그레이드(upgrade)나 또는 그와 유사한 것을 위하여 교체될 수 있도록 프레임으로부터 상대적으로 용이하게 제거될 수 있는 것이 소망스럽다. 따라서, 이러한 관점에서, 본 구현예에서는 전방 부분(2)이 프레임과 일체로 형성되거나 또는 그에 고정되는 반면에, 후방 부분(3)은 프레임 안에 제거 가능하게 수용된다.
진동의 효과를 더욱 최소화시키기 위하여, 장치(1)의 전방 부분(2)과 후방 부분(2,3) 사이의 물리적인 접촉을 최소화시키는 것이 소망스럽다. 실제로, 이상적으로는, 전방 부분(2)과 후방 부분(3) 사이의 물리적인 접촉만이 시험 카드(7,8)와 디스크 드라이브 사이의 전력과 데이터 연결이 될 것이다. 다른 한편으로, 공기는 냉각 및 가열의 목적을 위해서 후방 부분(3)으로부터 전방 부분(2) 안으로 송풍되기 때문에, 전방 부분(2)과 후방 부분(3) 사이에 공기 시일이 있을 필요성이 있다. 전방 부분(2)과 후방 부분(3) 사이의 물리적인 접촉을 최소화시키는 것이 소망스럽다는 것은 전방 부분(2)과 후방 부분(3) 사이의 접합부 둘레에 고무 도관이나 또는 시일과 같은, 기계적인 시일을 이용하지 않는 것이 소망스럽다는 것을 의미한다.
이제 특히 도 5를 참조하면, 데이터 및 전력 연결부(30)를 통하여 디스크 드라이브(31)에 연결된 환경 시험 카드(7)의 일부가 도시되어 있다. 이러한 예에서 디스크 드라이브(31)는 디스크 드라이브 트레이 또는 유지부(31) 안에 지지되며, 이것은 다시 디스크 드라이브 장착 디바이스(33) 안에 수용되고 (그 예는 이후에 보다 상세하게 설명될 것이다), 다시 장치(1)의 전방 부분(2) 안에 장착된다. 이용하는 동안에, 공기는 냉각 팬(9)에 의해서 환경 시험 카드(7)로부터 디스크 드라이브 장착 디바이스(33) 안으로 디스크 드라이브(31)에 걸쳐서 강제되며, 디스크 드라이브로부터 공기가 환경 시험 카드(7)로 복귀하고 (선택적으로는 도관(11,12)과 열교환기를 통해서 복귀하고), 다시 환경 시험 카드로부터 공기가 디스크 드라이브(31)에 걸쳐 재순환될 수 있는데, 이는 도 5에서 실선 화살표로 표시된 바와 같다. 전방 부분(2)과 후방 부분(3) 사이의 물리적인 접촉을 최소화시키도록, 비접촉 시일(35)이 공기의 유동을 시일하도록 이용된다.
이러한 예에서, 공기 간극(38)을 사이에 남겨 두기 위하여 환경 시험 카드(7)의 전방 부분(36)을 디스크 드라이브 장착 디바이스(33)의 후방 부분(37)과 겹침으로써 비접촉 시일(35)이 달성된다. 더욱이, 이러한 겹침은 공기가 환경 시험 카드(7)의 전방 부분(36)으로부터 배출되면서 확대된 단면적 부위(도 5 의 지점 A)를 만남으로써 압력 강하를 겪도록 배치된다. 마찬가지로, 공기가 디스크 드라이브 장착 디바이스(33)로부터 배출되어 환경 시험 카드(7)로 복귀될 때, 다시 커다란 단면적 부위의 영역(B 로 표시됨)을 만나서 다시 압력 강하를 겪게 된다. 각각의 경우에, 압력 강하는 공기의 배출을 억제하는 경향이 있으며 따라서 시일이 접촉 시일이 될 필요 없이 효과적인 시일 작용을 제공한다.
사실 디스크 드라이브들은 점증적으로 여러 가지 범위의 조건들에서 이용되고 있다. 예를 들면, 디스크 드라이브들은 넓은 범위의 온도들에서 이용될 필요가 있다. 예를 들면, 디스크 드라이브들은 지도 또는 내비게이션의 저장, 디지털 음악 파일들의 저장등을 제공하기 위하여, 도로용 차량에서 이용되는 다양한 시스템들에 설치되고 있다. 도로 차량들이 일반적으로 매우 낮은 온도와 매우 높은 온도를 받고 있다는 점은 공지되어 있다. 따라서, 제조 업자들이 디스크 드라이브들을 넓은 범위의 온도들에 걸쳐서 시험할 수 있는 것은 점증적으로 중요하며, 보다 상세하게는, 시험 과정 동안에 디스크 드라이브 자체의 온도를 보다 정확하게 아는 것이 점증적으로 중요하다. 위에서 언급된 바와 같이, 역사적으로 디스크 드라이브의 온도는 디스크 드라이브를 가로질러 흐르는 공기의 온도를 측정하여 그러한 측정으로부 터 디스크 드라이브의 온도를 추정함으로써 시험 과정 동안에 간접적으로만 모니터되었다. 본 발명 장치의 바람직한 구현예에서, 디스크 드라이브(31)의 온도는 직접적으로 측정된다.
이제 도 6a 내지 도 6d 를 참조하면, 가능한 하나의 배치에서 온도 센서(40)는 물리적인 연결구(41)상에 장착되고, 물리적인 연결구에 대하여 디스크 드라이브 유지부(32)가 장치(1)의 전방 부분(2)내에서 연결된다. 바람직한 예에서, 온도 센서(40)는 캔티레버되어 있는 탄성 스프링 아암(42)의 자유 단부상에 장착된다. 이러한 스프링 장착은 온도 센서(40)를 디스크 드라이브(31)를 향하여 내측으로 편향시키며, 따라서 제조 공차 및 그와 유사한 것에 기인하는 디스크 드라이브(31)의 크기와 위치 변화에 무관하게, 디스크 드라이브(31)와 양호한 물리적인 접촉이 있게 되는 것을 보장하도록 돕는다. 더욱이, 스프링-장착은 진동의 효과를 최소화시키도록 돕는다. 도시된 예에서, 온도 센서(40)는 매끄러운, 돔(dome) 형상의 플라스틱 캡(43)에 의해 덮히는데, 이것은 유지부(32)내의 디스크 드라이브(31)가 디스크 드라이브 장착 디바이스(33)의 안과 밖으로 움직일 때 디스크 드라이브(31)의 표면에 긁힘을 일으키거나 또는 다른 손상을 일으키는 것을 방지하는데 도움이 된다. 특히 도 6b 및 도 6c 에 도시된 바와 같이, 디스크 드라이브 유지부(32)는 도 6d 에 도시된 디스크 드라이브(31)의 측벽과 접촉할 수 있도록 하기 위하여 온도 센서(40)가 디스크 드라이브 유지부(32)의 동체 안으로 돌출될 수 있게 하는 측벽(45)내의 통공(44)을 가진다. 디스크 드라이브(31)의 위로 통과하는 공기 유동으로부터 보호되도록 하는 위치에 온도 센서(40)를 장착하는 것이 바람직하다는 점이 이해될 것이다.
이제 도 7a 내지 도 7d를 참조하면, 대안으로서 또는 부가적으로, 온도 센서(50)가 디스크 드라이브 유지부(32) 안에 통상적으로 제공된, 하나 또는 그 이상의 디스크 드라이브 위치 핀(51)들에 장착될 수 있다. 통상적으로, 4 개의 그러한 핀(51)들이 있어서, 사용하는 동안에 디스크 드라이브(31)의 하부 표면에서 표준으로서 제공된 개별 장착 구멍(53)들에 수용된다. 위치 핀(51)내에 온도 센서(50)를 장착하는 것이 의미하는 것은 온도 센서(50)가 디스크 드라이브(31)에 걸쳐 통과하는 공기의 흐름으로부터 보호된다는 것이다. 유지부(32)는 그것의 후방 표면에 데이터 연결부(54)를 가지는데, 데이터 연결부는 사용되는 동안에 물리적인 연결부(41)상의 대응 데이터 연결부(55)와 맞물리고, 물리적인 연결부(41)에 대하여 유지부(31)가 사용되는 동안에 연결됨으로써 온도 센서(50)로부터의 신호들이 환경 시험 카드(7)로 통과될 수 있다.
디스크 드라이브(31)와 몇 개의 상이한 지점들에서 접촉하는 몇 개의 온도 센서(40)를 가지는 것이 유리할 수 있다. 실제에 있어서, 디스크 드라이브(31)의 온도는 디스크 드라이브(31) 안의 국부적인 가열 효과에 기인하여 디스크 드라이브(31)상에서 상이한 위치들에서 상이하다. 직접적인 온도 측정을 이용하여야만 달성될 수 있는, 몇 개 지점들에서의 온도 측정은 디스크 드라이브(31)의 온도가 그것의 표면에 걸쳐서 온도의 지도를 만들 수 있도록 하여, 디스크 드라이브(31)에 걸쳐서 온도 및 온도의 변화를 보다 정확하게 읽을 수 있는 장점을 제공한다. 따라서, 온도의 센서(40,50)들은 전방 부분(2)내의 몇 개 위치들 및 유지부(32) 그리고 /또는 다른 곳의 하나 또는 그 이상의 위치 핀(51)들에 장착될 수 있다.
더욱이, 많은 디스크 드라이브들이 이제 그들 자체의 내부 온도 센서들을 가지며, 디스크 드라이브가 기억 저장 적용예에서 최종의 사용자에 의해서 이용될 때 내부 온도 센서들이 이용된다. 따라서, 일 예에서, 디스크 드라이브(31)의 부가적인 온도 측정은 구동부 자체의 내부 온도 센서를 이용하여 얻어진다. 이것은 외부 온도 센서(40,50)들의 하나 또는 그 이상에 의해 측정된 온도와 비교될 수 있다.
몇 개의 직접 접촉 온도 센서(40,50)를 제공하는 다른 장점은 온도 센서(40,50)들의 상이한 것들이 상이한 구동부들과 함께 이용될 수 있다는 점인데, 상이한 구동부들은 상이한 온도 특성들을 가짐으로써 하나의 구동부가 하나의 특정한 지점에서 가장 뜨거울 수 있는 반면에 상이한 유형의 구동부는 상이한 위치에서 가장 뜨거울 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
위에서 언급된 바와 같이, 바람직한 장치(1)에서, 디스크 드라이브(31)는 디스크 드라이브 유지부(32)내에서 지지된다. 유지부(32)의 이용은 디스크 드라이브(31)의 자동적인 로봇 취급을 용이하게 한다. 디스크 드라이브 유지부의 다양한 실례들이, 예를 들면 본 출원인의 국제 출원 공개 WO-A-03/021597, WO-A-03/021598, 국제 출원 PCT/GB2004/002505 (미국 출원 10/866074 에 대응) 및, 국제 출원 PCT/GB2004/003812 에 개시되어 있으며, 이들에 개시된 내용은 본원에 참고로서 포함된다.
위에서 언급된 바와 같이, 디스크 드라이브 유지부(32)는 장치(1)의 전방 부분(2) 안에 장착된 디스크 드라이브 장착 디바이스(33) 안으로 삽입된다. 바람직한 디스크 드라이브 장착 디바이스(33)는 도 8a 및 도 8b 에 가장 명확하게 도시되어 있다. 장착 디바이스(33)는 전체적으로 슬리이브와 같은 형태이고 사각형 단면의 구획부(60)를 형성하여, 그 안으로 유지부(32)내에 있는 디스크 드라이브(31)가 삽입된다. 장착 디바이스(33)는 길이 방향의 외부 측벽(61)을 가지는데, 상기 측벽들은 장착 디바이스(33) 안에 수용되었을 때 디스크 드라이브(31)의 회전축(R)에 대하여 전체적으로 각도가 형성된다. 바람직한 측벽(61)은 전체적으로 삼각형인 단면 형상을 가진다. 이러한 각도 형성은 단단한 측벽(61)을 제공하는데, 이것은 진동에 보다 잘 저항할 수 있다. 축(R)에 대한 각도가 예를 들면 30°내지 60°사이 범위의 그 어떤 값일 수도 있지만, 가장 바람직스럽게는 45°이다.
진동을 더욱 감소시키도록, 감쇠 재료(62)가 측벽(61)에 부가될 수 있다. 도시된 예에서, 감쇠 재료(62)에 대하여 가능한 4 개의 위치들이 제공되는데, 각각의 측벽(61)의 각각의 단부에 하나씩 있다. 감쇠 재료(62)의 외부 형상은 측벽(61)의 외부 형상에 대응하며, 그와 같이 되어서 (비록 도시된 바와 같이 정점이 절단될 수 있을지라도) 전체적으로 삼각형의 단면 형상이 되도록 각도가 형성된다. 감쇠 재료(62)의 이러한 각도 형성이 의미하는 것은 재료가 3 개의 직각 방향에서 진동을 보다 잘 감소시킬 수 있다는 점이다. 더욱이, 감쇠 재료(62)는 전적으로 전단 모드나 또는 압축/연장에서 작동하지는 않는데, 이는 재료의 진동 감쇠 특성을 향상시킨다.
바람직한 장착 디바이스(33)의 다른 특징은 하나 또는 그 이상의 금속 중량부와 같은 덩어리(63)를 부가할 수 있다는 점이다. 하나 또는 그 이상의 덩어 리(63)는 한쪽 또는 양쪽의 긴 측부 벽(61)들에 고정될 수 있다. 덩어리(63)의 무게 및 크기는 디스크 드라이브(31)에 대한 진동의 효과를 최소화시키기 위하여 장착 디바이스(33)의 진동 역학적 성능을 "튜닝(tuning)"시키도록 설정될 수 있다. 예를 들면, 장착 디바이스(33)의 회전 유효 중심을 디스크 드라이브(31)의 읽기/쓰기 헤드들을 위한 피봇 장착부로부터 이탈되게 움직이도록, 장착 디바이스(33) 안에 장착되었을 때, 하나 또는 그 이상의 덩어리(63)들이 고정될 수 있다. 상이한 유형들의 디스크 드라이브들이 상이한 위치들에서 피봇된 읽기/쓰기 헤드들을 가진다면, 특정의 디스크 드라이브(31)에 대하여 장착 디바이스(33)의 성능을 최적화시키기 위하여, 가능하게는 장착 디바이스(33)상의 상이한 위치들에서 상이한 덩어리(63)들이 고정될 수 있다.
본 발명의 구현예들은 특히 도시된 예들을 참조하여 설명되었다. 그러나, 변형 및 수정예들이 본 발명의 범위내에서 설명된 예들에 대하여 이루어질 수 있다는 점이 이해될 것이다. 더욱이, 다음의 청구항들은 전체적으로 또는 주로 장치 또는 디바이스들에 관한 것이다. 그에 대응한 방법들도 본원 발명의 범위내에 있다는 점이 이해될 것이다.
발명은 디스크 드라이브의 제조 과정 또는 이용중에 디스크 드라이브들을 하우징하는데 이용될 수 있다.

Claims (24)

  1. 시험되어야 하는 개별의 디스크 드라이브를 각각 수용하기 위한 복수개의 구획부;
    시험 카드를 각각 수용하기 위한 복수개의 카드 슬롯으로서, 디스크 드라이브는 시험 카드를 통해서 시험될 수 있는, 복수개의 카드 슬롯; 및
    개별의 카드 슬롯 안에 수용되는 복수개의 시험 카드로서, 각각의 시험 카드들은 환경 시험 카드이거나 또는 인터페이스 시험 카드인, 복수개의 시험 카드;를 구비하고,
    각각의 카드 슬롯이 환경 시험 카드나 또는 인터페이스 시험 카드를 선택적으로 수용할 수 있도록 카드 슬롯들과 시험 카드들이 배치되는, 디스크 드라이브 시험 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    그 어떤 다른 카드 슬롯과 물리적으로 간섭하지 않으면서 각각의 카드 슬롯이 환경 시험 카드 또는 인터페이스 시험 카드를 선택적으로 수용할 수 있어서 각각의 카드 슬롯에 시험 카드가 채워질 수 있도록, 카드 슬롯, 환경 시험 카드 또는 각각의 환경 시험 카드 및, 인터페이스 시험 카드 또는 각각의 인터페이스 시험 카드가 배치되는, 디스크 드라이브 시험 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    디스크 드라이브 시험 장치는 적어도 하나의 환경 시험 카드 및 적어도 하나의 인터페이스 시험 카드를 구비하는, 디스크 드라이브 시험 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항의 어느 한 항에 있어서,
    디스크 드라이브 시험 장치는 각각의 구획부에 대한 개별의 카드 슬롯을 구비하는, 디스크 드라이브 시험 장치.
  5. 프레임;
    적어도 하나의 디스크 드라이브를 수용하기 위한 디스크 드라이브 홀더로서, 프레임에 고정되거나 또는 프레임과 일체로 형성된 디스크 드라이브 홀더; 및
    적어도 하나의 카드를 수용하기 위한 카드 홀더로서, 카드를 통하여 상기 디스크 드라이브가 시험될 수 있거나 작동될 수 있으며, 프레임 안에 제거 가능하게 수용되는 카드 홀더;를 구비하는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    디스크 드라이브 홀더는 복수개의 디스크 드라이브를 수용하도록 구성되고 배치되며, 카드 홀더는 대응하는 복수개의 카드들을 수용하도록 구성되고 배치되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  7. 제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,
    디스크 드라이브 홀더는 디스크 드라이브가 장착될 수 있는 디스크 드라이브 장착 디바이스를 구비하고, 디스크 드라이브 장착 디바이스는 디스크 드라이브 홀더를 프레임으로부터 탈착시킬 필요 없이 디스크 드라이브 홀더로부터 제거 가능한, 디스크 드라이브 장착 장치.
  8. 적어도 하나의 디스크 드라이브를 수용하는 디스크 드라이브 홀더; 및
    상기 디스크 드라이브가 시험될 수 있거나 작동될 수 있는 적어도 하나의 카드 및 상기 디스크 드라이브 위로 공기를 통과하게 하기 위한 적어도 하나의 팬을 구비하는 카드 홀더;를 구비하고,
    공기가 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로 그리고 상기 디스크 드라이브의 위로 통과할 수 있는 동안 디스크 드라이브 홀더 및 카드 홀더가 서로로부터 실질적으로 기계적으로 격리되도록, 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더는 비접촉 시일 장치를 통해서 서로 작동 가능하게 연결되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 디스크 드라이브 위로 통과되었던 공기의 적어도 일부가 다시 카드 홀더로 통과되도록, 디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더가 배치되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  10. 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
    디스크 드라이브 홀더와 카드 홀더 사이에 공기의 간극이 있도록, 그리고 공기가 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로 통과할 때, 그리고 공기가 디스크 드라이브 홀더로부터 카드 홀더 안으로 통과할 때 공기가 압력 강하를 겪도록, 시일 배치가 이루어지는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  11. 제 8 항 내지 제 10 항의 어느 한 항에 있어서,
    적어도 하나의 카드는, 공기를 카드 홀더로부터 디스크 드라이브 홀더 안으로, 그리고 상기 디스크 드라이브 위로 통과시키기 위한 적어도 하나의 팬을 유지하는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  12. 디스크 드라이브를 수용하기 위한 구획부; 및
    상기 디스크 드라이브의 시험 또는 작동 동안에 상기 디스크 드라이브의 온도를 직접적으로 감지하도록 구성되고 배치된 온도 센서;를 구비하는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    온도 센서는 온도 센서를 상기 디스크 드라이브와 접촉되게 편향시키기 위한 편향 장치를 통해 장착되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  14. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,
    디스크 드라이브 장착 장치는 구획부를 형성하는 프레임을 구비하며, 온도 센서는 프레임에 장착되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  15. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,
    제거 가능한 트레이를 구비하고, 트레이 안에 디스크 드라이브가 수용될 수 있고 트레이는 구획부 안에 제거 가능하게 수용될 수 있어서 상기 디스크 드라이브를 구획부 안에 장착하고, 온도 센서는 트레이에 장착되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  16. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,
    디스크 드라이브 장착 장치는 상기 디스크 드라이브의 시험 또는 작동 동안에 상기 디스크 드라이브의 온도를 직접적으로 감지하도록 구성되고 배치된 적어도 2 개의 온도 센서들을 구비하고, 상기 디스크 드라이브 장착 장치는 구획부를 형성하는 프레임을 구비하고, 적어도 하나의 온도 센서는 프레임에 장착되고, 디스크 드라이브 장착 장치는 제거 가능한 트레이를 구비하여 트레이 안에 디스크 드라이브가 수용될 수 있고 트레이는 구획부 안에 제거 가능하게 수용될 수 있어서 상기 디스크 드라이브를 구획부 안에 장착시키고, 적어도 하나의 온도 센서가 구획부에 장착되는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  17. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    트레이는 트레이 안에 수용된 디스크 드라이브를 지지하는 복수개의 장착 핀들을 구비하고, 적어도 하나의 장착 핀들은 그 안에 온도 센서를 가지는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  18. 제 12 항 내지 제 17 항의 어느 한 항에 있어서,
    구획부 안에 수용된 디스크 드라이브를 구비하고, 디스크 드라이브는 내측의 온도 센서를 가짐으로써, 디스크 드라이브 장착 장치의 온도 센서에 의해 검출되는 온도와 디스크 드라이브의 내측 온도 센서에 의해서 검출되는 온도의 비교가 이루어질 수 있는, 디스크 드라이브 장착 장치.
  19. 디스크 드라이브 장착 디바이스는 수용부를 형성하고, 디스크 드라이브를 유지하는 디스크 드라이브 트레이는 수용부 안에 수용될 수 있으며, 디스크 드라이브 장착 디바이스는 3 개의 직교하는 방향에서 진동을 감쇠시키도록 배치된 감쇠 재료를 가지는, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
  20. 제 19 항에 있어서,
    감쇠 재료의 압축/신장 및 전단(shear)의 조합에 의해 감쇠 재료가 진동을 감쇠시키도록, 감쇠 재료는 이용중에 디바이스내에 수용되는 디스크 드라이브의 회 전축에 대하여 각도가 형성되도록 배치된, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
  21. 제 19 항 또는 제 20 항에 있어서,
    디바이스는 2 개의 반대편 측벽들을 가지며, 측벽들중 적어도 하나의 외부는 감쇠 재료를 그 위에 가지는, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
  22. 제 19 항 내지 제 21 항에 있어서,
    상기 측벽의 외부가 이용중에 디바이스 안에 수용되는 디스크 드라이브의 회전축에 대하여 각도를 형성하도록 측벽들중 적어도 하나가 배치되는, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
  23. 제 19 항에 있어서,
    디바이스는 2 개의 반대편 측벽들을 가지고, 상기 측벽들 각각의 외부는 이용중에 디바이스 안에 수용되는 디스크 드라이브의 회전축에 각도를 형성하도록 상기 측벽들 각각이 배치되고, 각각의 측벽은 감쇠 재료를 그 위에 가지고, 감쇠 재료의 압축/신장 및 전단의 조합에 의해 감쇠 재료가 진동을 감쇠시키도록 감쇠 재료가 배치되는, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
  24. 제 19 항 내지 제 23 항의 어느 한 항에 있어서,
    장치상에 제거 가능하게 장착된 덩어리(mass)를 구비하는, 디스크 드라이브 장착 디바이스.
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Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7612996B2 (en) * 2003-09-08 2009-11-03 Xyratex Technology Limited Temperature control device, disk drive unit test apparatus, and a method of testing or operating a plurality of disk drive units
US8755177B2 (en) * 2005-09-16 2014-06-17 Xyratex Technology Limited Method and apparatus for controlling the temperature of a disk drive during manufacture
TWM331692U (en) * 2007-05-10 2008-05-01 Lite On Technology Corp Fastening structure
US20090139972A1 (en) * 2007-10-23 2009-06-04 Psion Teklogix Inc. Docking connector
US9084375B2 (en) * 2007-11-26 2015-07-14 Seagate Technology Llc Airflow module and data storage device enclosure
US8549912B2 (en) 2007-12-18 2013-10-08 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US7996174B2 (en) * 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US20090153993A1 (en) * 2007-12-18 2009-06-18 Teradyne, Inc. Disk Drive Testing
US20090262455A1 (en) * 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems
US8041449B2 (en) * 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
US8305751B2 (en) * 2008-04-17 2012-11-06 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US8117480B2 (en) 2008-04-17 2012-02-14 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
US8238099B2 (en) 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8095234B2 (en) 2008-04-17 2012-01-10 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US7945424B2 (en) * 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
US7848106B2 (en) 2008-04-17 2010-12-07 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8102173B2 (en) 2008-04-17 2012-01-24 Teradyne, Inc. Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit
US8160739B2 (en) 2008-04-17 2012-04-17 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
WO2009148942A2 (en) * 2008-06-03 2009-12-10 Teradyne, Inc. Processing storage devices
US8499611B2 (en) * 2008-10-06 2013-08-06 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
GB2482640B (en) * 2009-06-05 2014-02-12 Xyratex Tech Ltd Apparatus for supporting a disk drive and disk drive test apparatus
US8466699B2 (en) * 2009-07-15 2013-06-18 Teradyne, Inc. Heating storage devices in a testing system
US7995349B2 (en) 2009-07-15 2011-08-09 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8687356B2 (en) * 2010-02-02 2014-04-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8628239B2 (en) * 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8547123B2 (en) * 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US7920380B2 (en) 2009-07-15 2011-04-05 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US8116079B2 (en) 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
CN201628920U (zh) * 2010-02-05 2010-11-10 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子装置壳体
CN102244995A (zh) * 2010-05-11 2011-11-16 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子装置壳体
US8331084B2 (en) * 2010-05-13 2012-12-11 General Electric Company Apparatus for securing electronic equipment
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US20110318146A1 (en) * 2010-06-29 2011-12-29 Christopher James Bruno Removing bays of a test system
US8687349B2 (en) 2010-07-21 2014-04-01 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
US8717694B1 (en) 2011-12-19 2014-05-06 Western Digital Technologies, Inc. Identifying defective slots in a disk drive tester
CN104395768A (zh) * 2012-03-28 2015-03-04 泰拉丁公司 管理能量传输
US9564178B2 (en) 2013-03-26 2017-02-07 Seagate Technology Llc Apparatus and method for supporting storage devices during manufacture
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
US9513677B2 (en) * 2014-03-18 2016-12-06 Western Digital Technologies, Inc. Shaped backplane for receiving electrical components
JP6172029B2 (ja) 2014-03-31 2017-08-02 株式会社デンソー 接着剤で互いに固定された複数の部品を有する製品
US9995767B2 (en) 2014-06-06 2018-06-12 Advantest Corporation Universal container for device under test
US9854695B1 (en) * 2015-09-29 2017-12-26 Cisco Technology, Inc. Single rack unit storage blade with redundant controllers
US10198047B2 (en) * 2015-11-19 2019-02-05 Dell Products, Lp Data storage device connector with integrated temperature sensor
US9921625B1 (en) * 2016-09-21 2018-03-20 Aic Inc. Chassis structure capable of sensing temperature of media storage device
RU2673235C2 (ru) * 2016-10-05 2018-11-23 ЭйАйСи ИНК. Конструкция монтажной панели, выполненная с возможностью измерения температуры устройства хранения данных
US10178798B1 (en) * 2016-11-23 2019-01-08 Pure Storage, Inc. Electronics enclosure with airflow management
US9875773B1 (en) * 2017-05-05 2018-01-23 Dell Products, L.P. Acoustic hard drive surrogate
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
TWI793759B (zh) * 2021-09-13 2023-02-21 英業達股份有限公司 硬碟升級讀寫測試系統及其方法

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2542185B2 (de) * 1975-09-22 1979-01-18 Geraetewerk Lahr Gmbh, 7630 Lahr Vorrichtung zur Aufhängung bzw. Abstützung eines Chassis eines Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerätes
JPS5850601A (ja) * 1981-09-21 1983-03-25 Clarion Co Ltd 車載用テ−ププレ−ヤの防振構造
JPS6183193U (ko) * 1984-11-07 1986-06-02
JPS62175482U (ko) * 1986-04-24 1987-11-07
JPH0679434B2 (ja) * 1988-02-10 1994-10-05 日本電気株式会社 カートリッジ式ハードディスクドライブ
US4967155A (en) * 1988-04-08 1990-10-30 Micropolis Corporation Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives
GB2241042B (en) * 1990-02-16 1994-01-05 Pioneer Electronic Corp Damper filled with oil
JP2956146B2 (ja) 1990-07-10 1999-10-04 ソニー株式会社 ディスクカートリッジ並びに記録及び／又は再生装置
US5169272A (en) * 1990-11-01 1992-12-08 Asyst Technologies, Inc. Method and apparatus for transferring articles between two controlled environments
EP0776009B1 (en) * 1990-11-30 1999-04-14 Fujitsu Limited Storage disk device having a plurality of storage disk modules
US5414591A (en) * 1991-04-15 1995-05-09 Hitachi, Ltd. Magnetic disk storage system
JPH0757449A (ja) * 1993-08-11 1995-03-03 Ricoh Co Ltd 外部記憶装置
JPH08106774A (ja) * 1994-08-11 1996-04-23 Sony Corp ディスクドライブ装置
KR100224820B1 (ko) * 1995-12-15 1999-10-15 윤종용 진동을 흡수하는 댐퍼와 이 댐퍼를 사용하는 광디스크드라이브
US5851143A (en) * 1996-05-10 1998-12-22 Thermal Industries Disk drive test chamber
KR100214308B1 (ko) * 1996-05-11 1999-08-02 윤종용 하드디스크 드라이브의 테스트장치
JPH10112176A (ja) * 1996-10-04 1998-04-28 Sony Corp 記録再生装置
US5903163A (en) * 1996-12-24 1999-05-11 Micron Technology, Inc. Apparatus and method of controlling the environmental temperature near semiconductor devices under test
US6467153B2 (en) * 1997-06-11 2002-10-22 Western Digital Technologies, Inc. Method for manufacturing a disk drive
JP2002513499A (ja) * 1997-06-13 2002-05-08 シーゲイト テクノロジー エルエルシー 温度依存ディスクドライブパラメトリック構成
US6434498B1 (en) * 1998-06-26 2002-08-13 Seagate Technology Llc Hard disc drive verification tester
JP2000114759A (ja) * 1998-10-02 2000-04-21 Toshiba Corp 磁気ディスク装置もしくは同装置内蔵の電子機器筐体
JP2000187975A (ja) * 1998-12-22 2000-07-04 Nec Corp ディスクアレイ装置
US6526841B1 (en) * 1999-08-02 2003-03-04 Pemstar, Inc. Environmental test chamber and a carrier for use therein
GB9928211D0 (en) * 1999-11-29 2000-01-26 Havant International Ltd Disk drive kit
JP2001168568A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Nec Corp 非接触式放熱構造および非接触放熱方法
US6683745B1 (en) * 1999-12-27 2004-01-27 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Rotationally free mount system for disk drive having a rotary actuator
US6388878B1 (en) * 2000-08-14 2002-05-14 Cheng-Chun Chang Measuring device in a mobile rack for hard disk
WO2002087211A2 (en) 2001-04-25 2002-10-31 Pemstar, Inc. Hard drive test fixture
US6567266B2 (en) * 2001-05-16 2003-05-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Foam systems for protecting disk drives from mechanical disturbances
ATE343840T1 (de) 2001-08-29 2006-11-15 Xyratex Tech Ltd Haltevorrichtung für platteneinheit und verfahren zur handhabung
JP2003316473A (ja) * 2002-04-25 2003-11-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 携帯型情報処理装置
WO2004006260A1 (en) * 2002-07-05 2004-01-15 Xyratex Technology Limited Mounting device for a disk drive unit, releasable fastener and method of testing a disk drive unit
JP4814088B2 (ja) 2003-06-16 2011-11-09 ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド ディスクドライブ支持機構、クランプ機構、およびディスクドライブキャリア
US7612996B2 (en) * 2003-09-08 2009-11-03 Xyratex Technology Limited Temperature control device, disk drive unit test apparatus, and a method of testing or operating a plurality of disk drive units
US7729112B2 (en) 2003-09-08 2010-06-01 Xyratex Technology Limited Mounting for disk drive unit, retaining device and method of loading a disk drive unit
DE102004013876A1 (de) 2004-03-20 2005-10-06 Intergraph (Deutschland) Gmbh Vorrichtung zur Halterung eines Speichermediums
JP2006085865A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Fujitsu Ltd ディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク装置
US7165462B2 (en) * 2004-11-29 2007-01-23 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Individual slider testing

Also Published As

Publication number Publication date
JP4949252B2 (ja) 2012-06-06
JP2008513916A (ja) 2008-05-01
JP2012113815A (ja) 2012-06-14
GB2430540B (en) 2009-07-15
US7729107B2 (en) 2010-06-01
JP2012113814A (ja) 2012-06-14
GB0700541D0 (en) 2007-02-21
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