JP2006085865A - ディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ヘッドの無駄な廃却を防止することや、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することを課題とする。
【解決手段】ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。そして、ディスク試験装置１０は、かかるフォーマット条件下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合には、フォーマット条件を緩和してディスク装置２０に新たなフォーマット条件を設定し、この緩和されたフォーマット条件下で試験を再び実施する。
【選択図】 図１

Description

この発明は、ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験（エラーレート試験やサイドイレーズ試験）を実施するディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク試験プログラム、並びに、これらによって試験されたディスク装置に関する。

従来より、出荷前の磁気ディスク装置に対しては各種の試験（社検ともいう。）が実施されている（例えば、特許文献１や２参照）。具体的に説明すると、一般的には、ヘッド単品に対してヘッドテストを実施することで、装置仕様（線記録密度やトラック密度といったフォーマット条件）に見合ったランク分けを行う。そして、高ランクのヘッドについては高密度のフォーマット条件が設定されるディスク装置に組み込んだ後に、また、低ランクのヘッドについては低密度のフォーマット条件が設定されるディスク装置に組み込んだ後に、それぞれ設定されるフォーマット条件下で、エラーレート試験やサイドイレーズ試験など、データ読み出しに係る試験を実施する。

ここで、「エラーレート試験」とは、ディスク装置のディスクに記録されたデータに対して複数回の読み出しを試みて、かかる読み出しに失敗する確率（エラーレート）を測定する試験のことであり、「サイドイレーズ試験」とは、ディスクに記録されたデータに対して複数回の読み出しを試みた場合のエラーレートを、隣接箇所に対して複数回のライト動作を行う前後でそれぞれ測定する試験のことである。なお、ここでいう「エラーレート」の代替として、「ＶＭＭ（Viterbi Metric Margin：ビタビ検出法によって最適と選択される値に対して、それ以外の値を選択してしまう割合を数値化したもの）」などのリードチャンネル（ＲＤＣ）が有する検出機能を使用することもある。

ところで、ヘッド単品とディスク装置との間では、例えば、ヘッドテストは常温で実施する一方、ディスク装置に対する試験は高温から低温の広範囲で実施するなど、試験環境に相違がある。また、ヘッドやディスクなどからディスク装置を組み立てる段階でヘッドにキズが生じ、ヘッドの特性（ランク）が変化することがある。このため、当初のランク分けに応じた装置仕様でディスク装置を組み立てて試験を行った場合でも、エラーレートＮＧやサイドイレーズＮＧとなってしまい、ヘッド不良と診断されることが往々にしてある。そこで、ヘッド不良と診断された場合には、不良と診断されたヘッドを同ランクのヘッドに交換してディスク装置を再び組み立て、前回の試験と同様のフォーマット条件下でエラーレート試験やサイドイレーズ試験などを再び実施することが一般的である。

特開２００４−０７１０６１号公報 特表平１１−５１４４８０号公報

しかしながら、上記した従来の技術は、以下に説明するように、ヘッドが無駄に廃却されるという問題や、出荷までの試験に余分な時間や労力が費やされるという問題がある。

具体的に説明すると、上記した従来の技術では、ヘッド不良と診断されたヘッドはディスク装置から取り外されて廃却処分されるが、このようなヘッドであっても、より低密度のフォーマット条件が設定されるディスク装置であれば、エラーレート試験やサイドイレーズ試験でＯＫとなる可能性もある。したがって、いわばヘッドが無駄に廃却されるという問題があり、ディスク装置の低コスト化を阻害する要因にもなっている。

また、上記した従来の技術では、エラーレート試験やサイドイレーズ試験でＮＧとなると、ヘッドを交換してディスク装置を再び組み立てた後に再試験を実施する。したがって、いわば出荷までの試験に余分な時間や労力が費やされるという問題があり、ディスク装置の量産化を阻害する要因にもなっている。

そこで、この発明は、上述した従来技術の課題を解決するためになされたものであり、ヘッドの無駄な廃却を防止することや、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することが可能なディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク試験プログラム並びにディスク装置を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項１に係る発明は、ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験装置であって、前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和手段と、前記条件緩和手段によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験手段と、を備えたことを特徴とする。

また、請求項２に係る発明は、上記の発明において、前記データ読み出しに係る試験は、エラーレート試験および／またはサイドイレーズ試験であって、前記条件緩和手段は、前記エラーレートの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和し、前記サイドイレーズの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の半径方向に係る記録密度条件を緩和し、前記エラーレートおよびサイドイレーズの試験結果がともに不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和することを特徴とする。

また、請求項３に係る発明は、上記の発明において、前記再試験手段は、前記試験を再び実施する場合に、前記記録密度条件の緩和に影響されない試験項目を除外することを特徴とする。

また、請求項４に係る発明は、ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験方法であって、前記ディスク装置に対して所定の記録密度条件を最初に設定する条件初期設定工程と、前記条件初期設定工程によって記録密度条件が設定されたディスク装置に対して少なくとも前記データ読み出しに係る試験を実施する試験工程と、前記試験工程によるデータ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和工程と、前記条件緩和工程によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験工程と、を含んだことを特徴とする。

また、請求項５に係る発明は、所定の記録密度条件が設定された上で少なくともデータ読み出しに係る試験が実施されたディスク装置であって、前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、現に設定されている記録密度条件が緩和されて新たな記録密度条件が設定され、当該新たに設定された記録密度条件の下で前記試験が再び実施されたことを特徴とする。

請求項１、４または５の発明によれば、最初に設定した記録密度条件（ＢＰＩやＴＰＩといったフォーマット条件）下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果が不良であった場合でも、直ぐにヘッドを交換するのではなく、フォーマット条件を緩和して新たなフォーマット条件を設定し、新たなフォーマット条件下で試験を再び実施するので、高いフォーマット条件下でエラーレート不良やサイドイレーズ不良を生じさせたヘッドであっても、低いフォーマット条件下で救済して出荷することができる。このため、ヘッドの無駄な廃却を防止することが可能であり、ディスク装置の低コスト化に寄与することも可能である。また、このようにしてヘッドが救済される結果、ヘッドの交換やディスク装置の再組み立てという工程を経ることなく再試験を実施することができる。このため、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することが可能であり、ディスク装置の量産化に寄与することも可能である。

また、請求項２の発明によれば、エラーレート不良に対しては、ＢＰＩ（円周方向に係る線記録密度）を緩和するので、エラーレートを的確に良化させることが可能である。一方、サイドイレーズ不良に対しては、ＴＰＩ（半径方向に係るトラック密度）を緩和するので、サイドイレーズを的確に減少させることが可能である。さらに、エラーレートおよびサイドイレーズがともに不良であった場合には、ＢＰＩを優先的に緩和するので、エラーレートを良化させることが可能であるだけでなく、かかるエラーレートの良化によってサイドイレーズに対する耐力を向上させ、サイドイレーズを減少させることも可能である。

また、請求項３の発明によれば、再試験に際しては、フォーマット条件の緩和に影響されない試験項目（例えば、発振セレクト試験、ロード／アンドロード試験、パワーＯＮ／ＯＦＦ試験など）を除外するので、再試験に要する時間を短縮化することができ、これによって、出荷までの試験時間を短縮化することが可能である。

以下に添付図面を参照して、この発明に係るディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク試験プログラム並びにディスク装置の実施例を実施例１と２に分けて詳細に説明する。

以下の実施例１では、実施例１で用いる主要な用語、ヘッドテストから出荷に至る処理の流れ、実施例１に係るディスク試験装置の概要および特徴、ディスク試験装置の構成および処理を順に説明し、最後に実施例１による効果を説明する。

［用語の説明（実施例１）］
最初に、以下の実施例で用いる主要な用語を説明する。「ＢＰＩ（Bit Per Inch：特許請求の範囲に記載の「円周方向に係る記録密度条件」に対応する）」とは、図３に示すように、ディスク上の円周方向における１トラック上で１インチ当たりのビット数を表す線記録密度のことである。

また、「ＴＰＩ（Track Per Inch：特許請求の範囲に記載の「半径方向に係る記録密度条件」に対応する）」とは、同図に示すように、ディスク上の半径方向（プラッタの中心から外方向）における１インチ当たりのトラック数を表すトラック密度のことである。なお、図３は、ＢＰＩおよびＴＰＩを説明するための図である。

また、「エラーレート試験（特許請求の範囲に記載の「データ読み出しに係る試験」に対応する）」とは、ディスク装置のディスクに記録されたデータに対して複数回の読み出しを試みて、かかる読み出しに失敗する確率（エラーレート）を測定する試験のことであり、測定されたエラーレートが予め設定されている閾値を超える場合には、試験結果が不良（ＮＧ）とされる。なお、この「エラーレート」の代替として、「ＶＭＭ」などのリードチャンネル（ＲＤＣ）が有する検出機能を使用してもよい。

さらに、「サイドイレーズ」とは、ディスクに記録されたデータの記録（磁化）状態が隣接箇所に対するライト動作の影響を受けて弱くなる現象のことである。そして、「サイドイレーズ試験（特許請求の範囲に記載の「データ読み出しに係る試験」に対応する）」とは、ディスクに記録されたデータに対して複数回の読み出しを試みた場合のエラーレートを、隣接箇所に対して複数回のライト動作を行う前後でそれぞれ測定する試験のことであり、ライト動作後とライト動作前とのエラーレートの差分（あるいはライト動作後のエラーレート）が予め設定されている閾値を超える場合には、試験結果が不良（ＮＧ）とされる。

ところで、以下の説明に登場するディスク装置では、上記したＢＰＩおよびＴＰＩをフォーマット条件としてシステムエリア（ＳＡ）に書き換え可能に記憶する。また、実施例１に係るディスク試験装置では、ディスク装置に対する試験に際して、システムエリアにＢＰＩおよびＴＰＩを書き込むことでディスク装置のフォーマット条件を設定する。そして、ディスク装置に対してリードやライトを行うファームウエアでは、システムエリアに書かれているＢＰＩおよびＴＰＩを読み出した後に、かかるＢＰＩおよびＴＰＩに従ってデータのリードやライトを実行する。なお、以下の説明では、このような記録密度条件（ＢＰＩやＴＰＩ）を高い方から低い方に変更することを「緩和」と表現する。

［ディスク試験装置の概要および特徴（実施例１）］
次に、図２などを用いて、実施例１に係るディスク試験装置が利用される局面として、ヘッドのテストからディスク装置の出荷に至る処理の流れを説明し、そのなかで、かかるディスク試験装置の概要および特徴を説明する。図２は、ヘッドテストから出荷に至る処理の流れを示すフローチャートである。

図２に示すように、同一の仕様（製品）である複数のヘッドのなかから取り出された各ヘッドに対して、ヘッド試験装置（ヘッドテストを実施する装置）を用いて、データの読み出し精度などのヘッドテストが実施される（ステップＳ２０１）。そして、このヘッドテストの試験結果から不良品であると判別されたヘッドは、ディスク装置に組み込まれることなく廃却される（ステップＳ２０２否定およびＳ２１２）。

その一方、ヘッドテストの試験結果から良品であると判別されたヘッドは、データ読み出し精度の高低に応じてランク分けされる（ステップＳ２０２肯定およびＳ２０３）。具体的には、ディスク装置の仕様（ＢＰＩやＴＰＩといったフォーマット条件）に見合ったランク分けを行うわけであるが、例えば、図４に例示するように、データ読み出し精度が高い順にヘッドランクＡ、Ｂ、ＣまたはＤのいずれかにランク分けされる。なお、このランク分けは、データ読み出し精度が高いヘッドは、高い記録密度（ＢＰＩやＴＰＩ）が設定されるディスク装置に組み込み、データ読み出し精度が低いヘッドは、低い記録密度が設定されるディスク装置に組み込むという趣旨から行うものである。

このようなヘッドのランク分けに続いて、ヘッドやディスクなどからディスク装置が組み立てられる（ステップＳ２０４）。そして、かかるディスク装置は、図１に示すように、実施例１に係るディスク試験装置と接続され、このディスク試験装置を用いて、ディスク装置に対する試験（社検）が実施される（ステップＳ２０５）。

ここで、ディスク試験装置の概要および特徴を説明すると、このディスク試験装置は、ディスク装置に対して所定のフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）を設定した上で少なくともエラーレート試験やサイドイレーズ試験を実施するものである。そして、このディスク試験装置では、以下に簡単に説明するように、ヘッドの無駄な廃却を防止する点と、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減する点に主たる特徴がある。

すなわち、ディスク試験装置は、先ずは、ディスク装置に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（図４参照）をディスク装置に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験（図５参照）を実施する。そして、最初に設定したフォーマット条件下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合には、フォーマット条件を緩和してディスク装置に新たなフォーマット条件を設定し、この緩和されたフォーマット条件下で試験を再び実施する。つまり、ディスク試験装置は、エラーレートやサイドイレーズの試験結果がＯＫになるまで、フォーマット条件を段階的に緩和しながら試験を繰り返し実施する。

そして、最初に設定したフォーマット条件下における試験結果、または緩和されたフォーマット条件下における試験結果にＮＧがなく、ディスク試験装置によって良品と判別されたディスク装置は、最終的に設定されているフォーマット条件の製品仕様で出荷される（ステップＳ２０６肯定およびＳ２０７）。

その一方、フォーマット条件を最下位まで緩和してもエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧのままであるなど、ディスク試験装置によって不良品と判別されたディスク装置に対しては、個別に診断が行われる（ステップＳ２０６否定およびＳ２０８）。そして、かかる診断において、ヘッド等の部品交換によって不良が解消できると判別されると、部品交換の後に再びディスク装置として組み立てられ、ディスク試験装置による試験が改めて実施される（ステップＳ２０９肯定およびＳ２１０）。ただし、部品交換によっても不良が解消できないと判別されたディスク装置は廃却される（ステップＳ２０９否定およびＳ２１１）。

このように、上記したステップＳ２０５において、実施例１に係るディスク試験装置は、最初に設定したフォーマット条件下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合でも、直ぐにヘッドを交換するのではなく（ステップＳ２０８の診断を直ぐに行うのではなく）、フォーマット条件を緩和して新たなフォーマット条件下で試験を再び実施する。このため、高いフォーマット条件下でエラーレートＮＧやサイドイレーズＮＧを生じさせたヘッドであっても、低いフォーマット条件下で救済して出荷することができる。また、このようにしてヘッドが救済される結果、ヘッドの交換やディスク装置の再組み立てという工程を経ることなく再試験を実施することができる。したがって、上記した主たる特徴のように、ヘッドの無駄な廃却を防止することが可能であり、また、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することが可能である。

［ディスク試験装置の構成（実施例１）］
続いて、図１や図４、図５を用いて、実施例１に係るディスク試験装置の構成を説明する。図１は、実施例１に係るディスク試験装置の構成を示すブロック図であり、図４は、フォーマット条件記憶部に記憶される情報を示す図であり、図５は、試験の内容を示す図である。

図１に示すように、このディスク試験装置１０は、入力部１１と、出力部１２と、ディスク制御ＩＦ部１３と、記憶部１４と、制御部１５とを所定のバスで接続して構成される。そして、このディスク試験装置１０には、同図に示すように、試験対象であるディスク装置２０が所定のバスを介して接続される。以下に、これらの各部の処理を説明する。

入力部１１は、各種の情報を入力する入力手段であり、操作パネルやスイッチ、ボタンなどによって構成され、例えば、ディスク装置２０に最初に設定するフォーマット条件（具体的には、ディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じた装置仕様Ａ、Ｂ、ＣまたはＤのいずれか）、エラーレート試験やサイドイレーズ試験におけるＮＧ判別に用いる閾値などを操作者から受け付けて入力する。

出力部１２は、各種の情報を出力する出力手段であり、モニタ（若しくはディスプレイや操作パネル）やスピーカ、ランプなどによって構成され、例えば、ディスク試験の処理結果（具体的には、出荷ＯＫおよび装置仕様の表示、もしくは出荷ＮＧを示す診断要の表示）、後述する試験結果記憶部１４ｂに記憶された試験結果などを出力する。

ディスク制御ＩＦ部１３は、ディスク装置２０との間におけるデータ転送を制御する手段であり、例えば、後述する制御部１５の指示に応じて、ディスク装置２０の所定箇所に対してデータをリードまたはライトするなど、制御部１５による試験の実施に際して、ディスク装置２０との間で制御データや測定データなどの授受を行う。

記憶部１４は、制御部１５による各種の処理に必要なデータやプログラムを格納するメモリであり、特に本発明に密接に関連するものとしては、図１に示すように、フォーマット条件記憶部１４ａと、試験結果記憶部１４ｂとを備える。

かかる記憶部１４のなかで、フォーマット条件記憶部１４ａは、ディスク装置２０に設定されるフォーマット条件に係る情報を記憶する手段であり、具体的には、図４に例示するように、ヘッドのランク分けにも対応する装置仕様ごとに、ＢＰＩおよびＴＰＩの組合せからなるフォーマット条件を記憶する。なお、図４は、ディスク装置２０のデータ記憶容量（例えば、４０ＧＢ、３５ＧＢ、３０ＧＢ、２５ＧＢ）ごとに装置仕様Ａ〜Ｄが定められる場合の例であり、また、同図では、ＢＰＩおよびＴＰＩを「高低」によって表現しているが、実際には、ＢＰＩ値およびＴＰＩ値をそれぞれ記憶する。

また、試験結果記憶部１４ｂは、ディスク装置２０に対する試験の結果に係る情報を記憶する手段であり、具体的には、図５に示す試験項目（より具体的には、装置仕様フォーマット条件入力、チューニングを除く他の試験項目）ごとに、ＯＫまたはＮＧで示される試験結果、さらには、試験で取得された測定データ（例えば、エラーレート、装置の起動時間など）を記憶する。

制御部１５は、各種の処理手順を規定したプログラムや制御データを格納するための内部メモリを有し、これらによって種々の処理を実行するプロセッサであり、特に本発明に密接に関連するものとしては、図１に示すように、条件初期設定部１５ａと、試験処理部１５ｂと、試験結果判定部１５ｃと、条件緩和部１５ｄと、再試験処理部１５ｅとを備える。なお、条件初期設定部１５ａは特許請求の範囲に記載の「条件初期設定手段」に対応し、条件緩和部１５ｄは同じく「条件緩和手段」に対応し、再試験処理部１５ｅは同じく「再試験手段」に対応する。

かかる制御部１５のなかで、条件初期設定部１５ａは、ディスク装置２０に対する試験に際して最初にフォーマット条件を設定する処理部である。具体的には、入力部１１を介して、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランク（装置仕様Ａ、Ｂ、ＣまたはＤ）が入力されると、かかる装置仕様に対応したフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出し、ディスク制御ＩＦ部１３を介して、ディスク装置２０のシステムエリアにＢＰＩおよびＴＰＩを書き込む。

試験処理部１５ｂは、条件初期設定部１５ａによって設定されたフォーマット条件の下でディスク装置２０に対して試験を実施する処理部である。具体的には、図５に示すように、ディスク装置２０に設定されたフォーマット条件を試験条件として読み込んだ後、ディスク制御ＩＦ部１３を介してディスク装置２０にアクセスし、同図に示す各試験項目を規定の温度および電圧に従ってそれぞれ順番に実施する。そして、各試験項目の実施に応じて測定データ（例えば、エラーレート、装置の起動時間など）を取得すると、これを予め設定されている閾値と比較するなどして、ＯＫもしくはＮＧの試験結果を導出する。さらに、この試験結果や測定データを試験項目ごとに試験結果記憶部１４ｂに格納する。

ここで、試験処理部１５ｂによって実施される試験項目としては、図５に示すように、上記で説明した「エラーレート試験」や「サイドイレーズ試験」の他に、ディスク装置２０の動作が周波数の発振からメカ的に暴走することがないかを試験する「発振セレクト試験」、ライトエラーやリードエラーが生じるか否かを試験する「ライト／リード試験」、ヘッドをランプに退避させた状態から媒体上へロードする動作と、ヘッドを媒体上からランプにアンロードする動作とを繰り返して異常が生じるかを試験する「ロード／アンロード試験」、電源のＯＮ／ＯＦＦを繰り返してディスク装置２０の起動時間を測定し、所定の時間内に起動するかを試験する「パワーＯＮ／ＯＦＦ試験」がある。

試験結果判定部１５ｃは、試験処理部１５ｂによって実施された試験の結果、さらには、後述する再試験処理部１５ｅによって実施された再試験の結果を判定する処理部である。具体的には、試験結果記憶部１４ｂに記憶された試験結果（ＯＫまたはＮＧ）を参照し、試験結果の全てがＯＫであるか、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）であるか、サイドイレーズ試験のみがＮＧであるか、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがあるかを判定する。さらに、試験結果の全てがＯＫである場合には、「出荷ＯＫ」および「装置仕様」を示す情報を出力部１２から出力し、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがある場合には、「診断要」を示す情報を出力部１２から出力する。

条件緩和部１５ｄは、ディスク装置２０に設定されているフォーマット条件を緩和して新たなフォーマット条件を設定する処理部である。具体的に説明すると、先ずは、フォーマット条件記憶部１４ａに記憶されたフォーマット条件を参照し、現に設定されているフォーマット条件を緩和できるかを判定する。より詳細には、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）であると試験結果判定部１５ｃによって判定された場合には、ＢＰＩを緩和できるかを判定し、サイドイレーズ試験のみがＮＧであると試験結果判定部１５ｃによって判定された場合には、ＴＰＩを緩和できるかを判定する。つまり、図４に示す例では、現に設定されているフォーマット条件が装置仕様ＡまたはＣであれば、ＢＰＩを緩和できるとされ、また、現に設定されているフォーマット条件が装置仕様ＡまたはＢであれば、ＴＰＩを緩和できるとされる。

そして、条件緩和部１５ｄは、ＢＰＩを緩和する場合には、現に設定されているフォーマット条件のうちでＢＰＩを１ランクだけ緩和したフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出して、ディスク装置２０のシステムエリアに書き込む。また、ＴＰＩを緩和する場合には、現に設定されているフォーマット条件のうちでＴＰＩを１ランクだけ緩和したフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出して、ディスク装置２０のシステムエリアに書き込む。その一方、フォーマット条件を緩和できない場合には、「診断要」を示す情報を出力部１２から出力する。なお、エラーレート試験に加えてサイドイレーズ試験もＮＧである場合に、ＢＰＩを優先的に緩和する理由は、ＢＰＩの緩和によるエラーレートの良化によってサイドイレーズに対する耐力も向上するからである。

再試験処理部１５ｅは、条件緩和部１５ｄによって緩和されたフォーマット条件が新たに設定されたディスク装置２０に対して試験を再び実施する処理部である。具体的には、緩和されたフォーマット条件の下で、上記した試験処理部１５ｃと同様、図５に示した試験項目をディスク装置２０に対して実施するが、この再試験に際しては、フォーマット条件の緩和に影響されない試験項目を除外して実施する。

ここで、再試験に際して除外できる試験項目としては、発振セレクト試験やロード／アンロード試験がある。また、以下のようにすれば、パワーＯＮ／ＯＦＦ試験も再試験に際して除外することができる。すなわち、パワーＯＮ／ＯＦＦ試験で測定される起動時間とは、ディスク装置２０のシステムエリアに書き込まれているフォーマット条件などの装置情報をパワーＯＮ後に読み出すまでに要する時間であるが、システムエリアに適用されるフォーマット条件を固定値にしておけば（つまり、システムエリアに適用されるＢＰＩおよびＴＰＩについては条件緩和部１５ｄによっても変更不可能とし、システムエリアに対しては常に低い固定値のＢＰＩおよびＴＰＩで装置情報を書き込むようにしておけば）、条件緩和部１５ｄによるフォーマット条件の緩和によっても起動時間は影響を受けなくなるので、再試験に際してパワーＯＮ／ＯＦＦ試験を除外することもできる。

［ディスク試験の処理手順（実施例１）］
次に、図６を用いて、ディスク試験装置１０によるディスク試験の処理手順を説明する。図６は、実施例１におけるディスク試験の処理手順を示すフローチャートである。なお、以下では、ディスク試験の処理に先立って、図２に示した「ヘッドテスト、ヘッドのランク分け、ディスク装置の組み立て」が既に行われているものとして説明する。

同図に示すように、試験対象であるディスク装置２０がディスク試験装置１０にセットされ（ステップＳ６０１肯定）、さらに、かかるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランク（装置仕様Ａ、Ｂ、ＣまたはＤ）が入力部１１を介して入力されると（ステップＳ６０２肯定）、ディスク試験装置１０の条件初期設定部１５ａは、ディスク装置２０に対して最初のフォーマット条件を設定する（ステップＳ６０３）。つまり、入力された装置仕様に対応するフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出し（図４参照）、ディスク制御ＩＦ部１３を介して、このＢＰＩおよびＴＰＩをディスク装置２０のシステムエリアに書き込む。

これに続いて、ディスク試験装置１０の試験処理部１５ｂは、上記のステップＳ６０３で設定されたフォーマット条件の下で、ディスク装置２０に対して試験を実施して試験結果を格納する（ステップＳ６０４）。具体的には、ディスク装置２０に設定されたフォーマット条件を試験条件として読み込んだ後、ディスク制御ＩＦ部１３を介してディスク装置２０にアクセスし、同図に示す各試験項目を規定の温度および電圧に従ってそれぞれ順番に実施する。そして、各試験項目の実施に応じて測定データ（例えば、エラーレート、装置の起動時間など）を取得すると、これを予め設定されている閾値と比較するなどして、ＯＫもしくはＮＧの試験結果を導出する。さらに、この試験結果や測定データを試験項目ごとに試験結果記憶部１４ｂに格納する。

そして、ディスク試験装置１０の試験結果判定部１５ｃは、試験結果記憶部１４ｂに記憶された試験結果（ＯＫまたはＮＧ）を参照し、試験結果の全てがＯＫであるか否かを判定する（ステップＳ６０５）。その結果、試験結果の全てがＯＫである場合には（ステップＳ６０５肯定）、試験結果判定部１５ｃは、「出荷ＯＫ」および「装置仕様」を示す情報を出力部１２から出力して、ディスク試験の処理を終了する（ステップＳ６０６）。なお、ここで出力される「装置仕様」は、ステップＳ６０５による判定が一度目である限り、上記のステップＳ６０３でディスク装置２０に対して最初に設定されたフォーマット条件に対応する装置仕様である（図４参照）。

これとは反対に、試験結果にＮＧがある場合には（ステップＳ６０５否定）、試験結果判定部１５ｃは、試験結果記憶部１４ｂに記憶された試験結果を参照し、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）であるかを判定し（ステップＳ６０７）、そうでない場合には（ステップＳ６０７否定）、サイドイレーズ試験のみがＮＧであるかを続けて判定する（ステップＳ６１１）。その結果、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがある場合には（ステップＳ６１１否定）、試験結果判定部１５ｃは、「診断要」を示す情報を出力部１２から出力して、ディスク試験の処理を終了する（ステップＳ６１４）。

その一方、上記のステップＳ６０７による判定において、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）であると判定された場合には（ステップＳ６０７肯定）、ディスク試験装置１０の条件緩和部１５ｄは、フォーマット条件記憶部１４ａに記憶されたフォーマット条件を参照し、現に設定されているフォーマット条件のなかでＢＰＩを緩和できるかを判定する（ステップＳ６０８）。なお、図４に示す例で言えば、現に設定されているフォーマット条件が装置仕様ＡまたはＣであれば、ＢＰＩを緩和できる。

これと同様に、上記のステップＳ６１１による判定において、サイドイレーズ試験のみがＮＧであると判定された場合には（ステップＳ６１１肯定）、ディスク試験装置１０の条件緩和部１５ｄは、フォーマット条件記憶部１４ａに記憶されたフォーマット条件を参照し、現に設定されているフォーマット条件のなかでＴＰＩを緩和できるかを判定する（ステップＳ６１２）。なお、図４に示す例で言えば、現に設定されているフォーマット条件が装置仕様ＡまたはＢであれば、ＴＰＩを緩和できる。

そして、これらの判定において、フォーマット条件を緩和できない場合には（ステップＳ６０８否定またはＳ６１２否定）、条件緩和部１５ｄは、「診断要」を示す情報を出力部１２から出力して、ディスク試験の処理を終了する（ステップＳ６１４）。これとは反対に、上記のステップＳ６０８による判定において、ＢＰＩを緩和できると判定された場合には（ステップＳ６０８肯定）、条件緩和部１５ｄは、ＢＰＩを緩和したフォーマット条件をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ６０９）。つまり、現に設定されているフォーマット条件のうちでＢＰＩを１ランクだけ緩和したフォーマット条件をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出し（図４参照）、このフォーマット条件をディスク装置２０のシステムエリアに書き込む。

これと同様に、上記のステップＳ６１２による判定において、ＴＰＩを緩和できると判定された場合には（ステップＳ６１２肯定）、条件緩和部１５ｄは、ＴＰＩを緩和したフォーマット条件をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ６１３）。つまり、現に設定されているフォーマット条件のうちでＴＰＩを１ランクだけ緩和したフォーマット条件をフォーマット条件記憶部１４ａから読み出し（図４参照）、このフォーマット条件をディスク装置２０のシステムエリアに書き込む。

このようにしてフォーマット条件が緩和されると（ステップＳ６０９またはＳ６１３）、制御部１５の再試験処理部１５ｅは、緩和されたフォーマット条件が新たに設定されたディスク装置２０に対して試験を再び実施し、試験結果を試験結果記憶部１４ｂに格納する（ステップＳ６１０）。具体的には、上記したステップＳ６０４と同様、新たな緩和されたフォーマット条件の下で、図５に示した試験項目を再び実施するが、この再試験に際しては、フォーマット条件の緩和に影響されない試験項目（つまり、発振セレクト試験、ロード／アンロード試験、パワーＯＮ／ＯＦＦ試験）を除外して実施する。

かかる再試験が行われると、ディスク試験の処理は上記したステップＳ６０５に戻り、試験結果判定部１５ｃは、試験結果記憶部１４ｂに記憶された再試験の試験結果（ＯＫまたはＮＧ）を参照し、再試験における試験結果の全てがＯＫであるか否かを判定する（ステップＳ６０５）。その結果、試験結果の全てがＯＫである場合には（ステップＳ６０５肯定）、試験結果判定部１５ｃは、「出荷ＯＫ」および「装置仕様」を示す情報を出力部１２から出力して、ディスク試験の処理を終了する（ステップＳ６０６）。なお、ここで出力される「装置仕様」は、上記のステップＳ６０９またはＳ６１３でディスク装置２０に対して再設定されたフォーマット条件に対応する装置仕様である（図４参照）。

これとは反対に、再試験後の試験結果にもＮＧがある場合には（ステップＳ６０５否定）、図６に示すように、上記した最初の試験の場合と同様、ステップＳ６０７の処理に移行し、上記したステップＳ６０７〜Ｓ６１４およびＳ６０５の処理を繰り返す。つまり、ディスク試験装置１０は、各試験結果の全てがＯＫになるまで、もしくは、フォーマット条件を緩和できなくなるまで、フォーマット条件を段階的に緩和しながら試験を繰り返し実施する。

［ディスク試験の具体例（実施例１）］
続いて、実施例１によるディスク試験の具体例を説明する。図７は、実施例１によるディスク試験の具体例を示すフローチャートである。なお、ここでは、図４に示すランクＡ（装置仕様Ａ）のヘッドが組み込まれたディスク装置２０を試験対象とする場合を具体例とし、このディスク装置２０がディスク試験でどのように処理されるかを説明する。

図７に示すように、ランクＡのヘッドが組み込まれたディスク装置２０に対して、ディスク試験装置１０は、装置仕様Ａに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：高、ＴＰＩ：高）を最初に設定する（ステップＳ７０１）。そして、ディスク試験装置１０は、このフォーマット条件の下で試験を実施するが、その試験結果の全てがＯＫであった場合には（ステップＳ７０２肯定）、試験対象であるディスク装置２０は装置仕様Ａの製品として出荷可能であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７０３）。

これとは反対に、試験結果にＮＧはあるが（ステップＳ７０２否定）、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）である場合には（ステップＳ７０４肯定）、ディスク試験装置１０は、ＢＰＩを１ランクだけ緩和して、装置仕様Ｂに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：高）をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ７０５）。

また、サイドイレーズ試験のみがＮＧである場合には（ステップＳ７０４否定およびＳ７０８肯定）、ディスク試験装置１０は、ＴＰＩを１ランクだけ緩和して、装置仕様Ｃに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：高、ＴＰＩ：低）をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ７０９）。ただし、ディスク試験装置１０は、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがある場合には（ステップＳ７０４否定およびＳ７０８否定）、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７１２）。

そして、上記のステップＳ７０５によって、装置仕様Ｂに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：高）がディスク装置２０に再設定されると、ディスク試験装置１０は、このフォーマット条件の下で再試験を実施し、その試験結果の全てがＯＫであった場合には（ステップＳ７０６肯定）、試験対象であるディスク装置２０は装置仕様Ｂの製品として出荷可能であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７０７）。

これと同様に、上記のステップＳ７０９によって、装置仕様Ｃに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：高、ＴＰＩ：低）がディスク装置２０に再設定されると、ディスク試験装置１０は、このフォーマット条件の下で再試験を実施し、その試験結果の全てがＯＫであった場合には（ステップＳ７１０肯定）、試験対象であるディスク装置２０は装置仕様Ｃの製品として出荷可能であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７１１）。

その一方、装置仕様Ｂに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：高）の下で実施した試験結果にＮＧはあるが（ステップＳ７０６否定）、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）である場合には（ステップＳ７１３肯定）、ＢＰＩを緩和できないので（図４参照）、ディスク試験装置１０は、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７１４）。また、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがある場合も（ステップＳ７１５否定）、ディスク試験装置１０は、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７１６）。

これとは反対に、装置仕様Ｂに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：高）の下で実施した試験結果にＮＧはあるが（ステップＳ７０６否定）、サイドイレーズ試験のみがＮＧである場合には（ステップＳ７１３否定およびＳ７１５肯定）、ディスク試験装置１０は、ＴＰＩを１ランクだけ緩和して、装置仕様Ｄに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：低）をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ７１７）。

ここで、上記したステップＳ７１０の説明に戻ると、装置仕様Ｃに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：高、ＴＰＩ：低）の下で実施した試験結果にＮＧはあるが（ステップＳ７１０否定）、エラーレート試験のみがＮＧ（もしくは、これに加えてサイドイレーズ試験もＮＧ）である場合には（ステップＳ７２１肯定）、ディスク試験装置１０は、ＢＰＩを１ランクだけ緩和して、装置仕様Ｄに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：低）をディスク装置２０に再設定する（ステップＳ７１７）。

これとは反対に、装置仕様Ｃに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：高、ＴＰＩ：低）の下で実施した試験結果にＮＧはあるが（ステップＳ７１０否定）、サイドイレーズ試験のみがＮＧである場合には（ステップＳ７２１否定およびＳ７２２肯定）、ＴＰＩを緩和できないので（図４参照）、ディスク試験装置１０は、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７２３）。また、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者以外にＮＧがある場合も（ステップＳ７２２否定）、ディスク試験装置１０は、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７２４）。

そして、上記のステップＳ７１７によって、装置仕様Ｄに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：低）がディスク装置２０に再設定されると、ディスク試験装置１０は、このフォーマット条件の下で再試験を実施し、その試験結果の全てがＯＫであった場合には（ステップＳ７１８肯定）、試験対象であるディスク装置２０は装置仕様Ｄの製品として出荷可能であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７１９）。

その一方、装置仕様Ｄに対応するフォーマット条件（ＢＰＩ：低、ＴＰＩ：低）の下で実施した試験結果にＮＧがある場合には（ステップＳ７１８否定）、ＢＰＩおよびＴＰＩのいずれも緩和できないので（図４参照）、ディスク試験装置１０は、試験対象であるディスク装置２０は診断が必要であると判別してディスク試験を終了する（ステップＳ７２０）。

［実施例１の効果］
上述してきたように、実施例１によれば、最初に設定したフォーマット条件（ＢＰＩやＴＰＩ）下で実施したエラーレートやサイドイレーズの試験結果がＮＧであった場合でも、直ぐにヘッドを交換するのではなく、フォーマット条件を緩和して新たなフォーマット条件を設定し、新たなフォーマット条件下で試験を再び実施するので、高いフォーマット条件下でエラーレートＮＧやサイドイレーズＮＧを生じさせたヘッドであっても、低いフォーマット条件下で救済して出荷することができる。このため、ヘッドの無駄な廃却を防止することが可能であり、ディスク装置２０の低コスト化に寄与することも可能である。

また、このようにしてヘッドが救済される結果、ヘッドの交換やディスク装置の再組み立てという工程を経ることなく再試験を実施することができる。このため、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することが可能であり、ディスク装置２０の量産化に寄与することも可能である。

また、実施例１によれば、エラーレートＮＧに対しては、ＢＰＩを緩和するので、エラーレートを的確に良化させることが可能である。一方、サイドイレーズＮＧに対しては、ＴＰＩを緩和するので、サイドイレーズを的確に減少させることが可能である。さらに、エラーレートおよびサイドイレーズがともにＮＧであった場合には、ＢＰＩを優先的に緩和するので、エラーレートを良化させることが可能であるだけでなく、かかるエラーレートの良化によってサイドイレーズに対する耐力を向上させ、サイドイレーズを減少させることも可能である。

また、実施例１によれば、複数あるフォーマット条件のなかで最上位のフォーマット条件（例えば、図４に示す装置仕様Ａ）を常に最初に設定するのではなく、予め実施されたヘッド試験の結果に応じたフォーマット条件（例えば、ヘッドランクがＢであれば図４に示す装置仕様Ｂ）を最初に設定するので、ヘッドに合致する可能性が高いフォーマット条件を早急に設定することができる。このため、常に最上位のフォーマット条件から試験を開始する場合に比較して、出荷までの試験時間を短縮化することが可能である。

また、実施例１によれば、再試験に際しては、フォーマット条件の緩和に影響されない試験項目（例えば、発振セレクト試験、ロード／アンドロード試験、パワーＯＮ／ＯＦＦ試験など）を除外するので、再試験に要する時間を短縮化することができ、これによって、出荷までの試験時間を短縮化することが可能である。

さて、これまで実施例１に係るディスク試験装置１０について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、以下では実施例２に係るディスク試験装置として、種々の異なる実施例を（１）〜（５）に区分けして説明する。

（１）フォーマット条件の緩和
上記の実施例１では、ＢＰＩおよびＴＰＩがそれぞれ「高低」の２種類であるフォーマット条件を用意する場合を説明したが（図４参照）、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、図８に例示するように、３以上の複数種類のＢＰＩおよびＴＰＩからなるフォーマット条件をフォーマット条件記憶部に記憶するようにしてもよい。このように、より複数に細分化されたフォーマット条件を用意するようにすれば、フォーマット条件を小刻みに緩和することができ、ディスク装置２０のデータ記憶容量が必要以上に低下する事態を回避することが可能である。

また、上記の実施例１では、ＢＰＩまたはＴＰＩを１ランクごと緩和する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、試験結果における不良の程度に応じて、複数ランクを超えてＢＰＩまたはＴＰＩを緩和するようにしてもよい。つまり、図８に示す例で言えば、装置仕様Ａのフォーマット条件で実施したエラーレート試験の試験結果が著しく芳しくない場合には、ＢＰＩが１ランク緩和される装置仕様Ｂのフォーマット条件を再設定するのではなく、よりＢＰＩが緩和される装置仕様Ｃのフォーマット条件を再設定するようにしてもよい。

このように、複数あるフォーマット条件のなかで現フォーマット条件よりも１ランク低いフォーマット条件へ常に緩和するのではなく、不良の程度に応じて１ランクもしくは複数ランク低いフォーマット条件に緩和するようにすれば、再試験に際してヘッドに合致するフォーマット条件を早急に設定することができ、これによって、フォーマット条件を１ランクずつ順番に緩和しながら何度も再試験を実施する場合に比較して、出荷までの試験時間を短縮化することが可能である。

また、上記の実施例１では、エラーレート試験のみでなくサイドイレーズ試験もＮＧである場合に、ＢＰＩを優先的に緩和するようにしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、ＢＰＩおよびＴＰＩの両者を緩和するようにしてもよい。ただし、上記したように、ＢＰＩの緩和によるエラーレートの良化によってサイドイレーズに対する耐力も向上するので、ＢＰＩを優先的に緩和する方が、ディスク装置２０のデータ記憶容量を必要以上に低下させない観点からも好ましい。

また、上記の実施例１では、サイドイレーズ試験のみがＮＧである場合に、ＴＰＩを緩和するようにしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、ＴＰＩおよびＢＰＩの両者を緩和するようにしてもよく、また、ＢＰＩのみを緩和するようにしてもよい。すなわち、上記したように、ＴＰＩの緩和は、サイドイレーズを減少させることができるだけであるが、ＢＰＩの緩和は、エラーレートを良化させるとともにサイドイレーズを減少させることもできるからである。

また、上記の実施例１では、サイドイレーズ試験のみがＮＧである場合に、ＴＰＩを緩和できるかを判定するようにしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、ＢＰＩを緩和できるかを積極的に判定することで、ＴＰＩを緩和できなくてもＢＰＩを緩和できるのであれば、ＢＰＩを緩和するようにしてもよい。つまり、図４に示す例で説明すると、装置仕様Ｃのフォーマット条件下で実施した試験の結果において、サイドイレーズ試験のみがＮＧであった場合に、フォーマット条件の緩和を諦めるのではなく、ＢＰＩを緩和する装置仕様Ｄのフォーマット条件を再設定するようにしてもよい。

なお、上記の実施例１では、エラーレート試験およびサイドイレーズ試験の両者を実施する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、エラーレート試験またはサイドイレーズ試験のいずれか一方のみを実施する場合はもちろん、他のデータ読み出しに係る一または複数の試験（ＢＰＩやＴＰＩといった記録密度条件の緩和によって試験結果が良好になる試験）を実施する場合にも本発明を同様に適用することができる。

（２）ヘッドのランク分け
上記の実施例１では、ヘッドのランク分けを事前に行った上で、ヘッドのランクに対応したフォーマット条件を最初にディスク装置２０に設定する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、このようなランク分けを行うことなく、最上位のフォーマット条件（図４に示す例では装置仕様Ａのフォーマット条件）を最初に設定し、この最上位のフォーマット条件から常に試験を開始するようにしてもよい。これによって、ヘッドのランク分け作業を事前に行う必要がなくなるが、ヘッドのランク分けを事前に行う方が、ディスク試験装置１０の処理負担を軽減する観点からは好ましい。

（３）複数のディスク装置
上記の実施例１では、１台のディスク装置２０に対して試験を実施する場合を説明したが（図１参照）、本発明はこれに限定されるものではなく、複数台のディスク装置１０をディスク試験装置１０にセットし、一度に複数台のディスク装置２０に対して試験を実施するようにしてもよい。なお、この場合には、複数のディスク装置２０ごとにヘッドのランクに見合った装置仕様が入力部１１を介して入力され、また、複数のディスク装置２０ごとに「出荷ＯＫ」や「診断要」の情報が出力部１２から出力される。

（４）装置構成
図１に示したディスク試験装置１０の各構成要素は機能的な区分けであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、ディスク試験装置１０の分散や統合の具体的形態は図示のものに限られず、例えば、条件初期設定部１５ａと条件緩和部１５ｄとを統合し、または、試験処理部１５ｂと再試験処理部１５ｅとを統合し、もしくは、試験結果判定部１５ｃを判定項目ごとに分散するなど、各構成要素の全部または一部を各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。

（５）ディスク試験プログラム
ところで、上記の実施例１で説明した各種の処理は、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、図９を用いて、上記の実施例１と同様の機能を有するディスク試験プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図９は、ディスク試験プログラムを実行するコンピュータを示す図である。

同図に示すように、ディスク試験装置としてのコンピュータ３０は、操作パネル３１、ディスプレイ３２、スピーカ３３、ディスク制御ＩＦ３４、ＨＤＤ３５、ＲＡＭ３６、ＲＯＭ３７およびＣＰＵ３８をバス３９で接続して構成される。ここで、操作パネル３１は、図１に示した入力部１１に対応し、ディスプレイ３２およびスピーカ３３は同じく出力部１２に対応し、ディスク制御ＩＦ３４は同じくディスク制御ＩＦ部１３に対応する。

そして、ＲＯＭ３７には、上記の実施例１と同様の機能を発揮するディスク試験プログラム、つまり、図９に示すように、条件初期設定プログラム３７ａ、試験処理プログラム３７ｂ、試験結果判定プログラム３７ｃ、条件緩和プログラム３７ｄ、再試験処理プログラム３７ｅが予め記憶されている。なお、プログラム３７ａ〜３７ｅについては、図１に示したディスク試験装置１０の各構成要素と同様、適宜統合または分散してもよい。

そして、ＣＰＵ３８が、これらのプログラム３７ａ〜３７ｅをＲＯＭ３７から読み出して実行することで、図９に示すように、各プログラム３７ａ〜３７ｅは、条件初期設定プロセス３８ａ、試験処理プロセス３８ｂ、試験結果判定プロセス３８ｃ、条件緩和プロセス３８ｄおよび再試験処理プロセス３８ｅとして機能するようになる。各プロセス３８ａ〜３８ｅは、図１に示した条件初期設定部１５ａ、試験処理部１５ｂ、試験結果判定部１５ｃ、条件緩和部１５ｄおよび再試験処理部１５ｅにそれぞれ対応する。

また、ＨＤＤ３５には、図９に示すように、フォーマット条件テーブル３５ａと、試験結果テーブル３５ｂとが設けられる。なお、フォーマット条件テーブル３５ａおよび試験結果テーブル３５ｂは、図１に示したフォーマット条件記憶部１４ａおよび試験結果記憶部１４ｂにそれぞれ対応する。そして、ＣＰＵ３８は、試験結果テーブル３５ｂに対して試験結果を登録するとともに、フォーマット条件テーブル３５ａおよび試験結果テーブル３５ｂからフォーマット条件データ３６ａや試験結果データ３６ｂを読み出してＲＡＭ３６に格納し、ＲＡＭ３６に格納されたフォーマット条件データ３６ａや試験結果データ３６ｂに基づいて試験や試験結果の判定等を実行する。

ところで、上記した各プログラム３７ａ〜３７ｅについては、必ずしも最初からＲＯＭ３７に記憶させておく必要はなく、例えば、コンピュータ３０に挿入されるフレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、ＤＶＤディスク、光磁気ディスク、ＩＣカードなどの「可搬用の物理媒体」、または、コンピュータ３０の内外に備えられるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）などの「固定用の物理媒体」、さらには、公衆回線、インターネット、ＬＡＮ、ＷＡＮなどを介してコンピュータ３０に接続される「他のコンピュータ（またはサーバ）」などに各プログラムを記憶させておき、コンピュータ３０がこれらから各プログラムを読み出して実行するようにしてもよい。

（付記１）ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験装置であって、
前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和手段と、
前記条件緩和手段によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験手段と、
を備えたことを特徴とするディスク試験装置。

（付記２）前記データ読み出しに係る試験は、エラーレート試験および／またはサイドイレーズ試験であって、
前記条件緩和手段は、前記エラーレートの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和し、前記サイドイレーズの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の半径方向に係る記録密度条件を緩和し、前記エラーレートおよびサイドイレーズの試験結果がともに不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和することを特徴とする付記１に記載のディスク試験装置。

（付記３）前記条件緩和手段は、前記試験結果における不良の程度に応じて、前記記録密度条件を所定の記録密度条件に緩和することを特徴とする付記１または２に記載のディスク試験装置。

（付記４）前記試験の開始に際して、前記ディスク装置に対して所定の記録密度条件を最初に設定する条件初期設定手段を備え、
当該条件初期設定手段は、前記ディスク装置のヘッドに対して予め実施されたヘッド試験の結果に応じて、所定の記録密度条件を設定することを特徴とする付記１、２または３に記載のディスク試験装置。

（付記５）前記再試験手段は、前記試験を再び実施する場合に、前記記録密度条件の緩和に影響されない試験項目を除外することを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載のディスク試験装置。

（付記６）ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験方法であって、
前記ディスク装置に対して所定の記録密度条件を最初に設定する条件初期設定工程と、
前記条件初期設定工程によって記録密度条件が設定されたディスク装置に対して少なくとも前記データ読み出しに係る試験を実施する試験工程と、
前記試験工程によるデータ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和工程と、
前記条件緩和工程によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験工程と、
を含んだことを特徴とするディスク試験方法。

（付記７）前記データ読み出しに係る試験は、エラーレート試験および／またはサイドイレーズ試験であって、
前記条件緩和工程は、前記エラーレートの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和し、前記サイドイレーズの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の半径方向に係る記録密度条件を緩和し、前記エラーレートおよびサイドイレーズの試験結果がともに不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和することを特徴とする付記６に記載のディスク試験方法。

（付記８）ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施する方法をコンピュータに実行させるディスク試験プログラムであって、
前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和手順と、
前記条件緩和手順によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするディスク試験プログラム。

（付記９）前記データ読み出しに係る試験は、エラーレート試験および／またはサイドイレーズ試験であって、
前記条件緩和手順は、前記エラーレートの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和し、前記サイドイレーズの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の半径方向に係る記録密度条件を緩和し、前記エラーレートおよびサイドイレーズの試験結果がともに不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和することを特徴とする付記８に記載のディスク試験プログラム。

（付記１０）所定の記録密度条件が設定された上で少なくともデータ読み出しに係る試験が実施されたディスク装置であって、
前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、現に設定されている記録密度条件が緩和されて新たな記録密度条件が設定され、当該新たに設定された記録密度条件の下で前記試験が再び実施されたことを特徴とするディスク装置。

以上のように、本発明に係るディスク試験装置、ディスク試験方法およびディスク試験プログラムは、ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施する場合に有用であり、特に、ヘッドの無駄な廃却を防止することや、出荷までの試験に費やされる余分な時間や労力を軽減することに適する。

実施例１に係るディスク試験装置の構成を示すブロック図である。 ヘッドテストから出荷に至る処理の流れを示すフローチャートである。 ＢＰＩおよびＴＰＩを説明するための図である。 フォーマット条件記憶部に記憶される情報を示す図である。 試験の内容を示す図である。 実施例１におけるディスク試験の処理手順を示すフローチャートである。 実施例１におけるディスク試験の具体例を示すフローチャートである。 フォーマット条件記憶部に記憶される情報を示す図である。 ディスク試験プログラムを実行するコンピュータを示す図である。

符号の説明

１０ ディスク試験装置
１１ 入力部
１２ 出力部
１３ ディスク制御ＩＦ部
１４ 記憶部
１４ａ フォーマット条件記憶部
１４ｂ 試験結果記憶部
１５ 制御部
１５ａ 条件初期設定部
１５ｂ 試験処理部
１５ｃ 試験結果判定部
１５ｄ 条件緩和部
１５ｅ 再試験処理部
２０ ディスク装置
３０ コンピュータ
３１ 操作パネル
３２ ディスプレイ
３３ スピーカ
３４ ディスク制御ＩＦ
３５ ＨＤＤ（Hard Disk Drive）
３６ ＲＡＭ（Random Access Memory）
３７ ＲＯＭ（Read Only Memory）
３８ ＣＰＵ（Central Processing Unit）

Claims (5)

1. ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験装置であって、
   前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和手段と、
   前記条件緩和手段によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験手段と、
   を備えたことを特徴とするディスク試験装置。
2. 前記データ読み出しに係る試験は、エラーレート試験および／またはサイドイレーズ試験であって、
   前記条件緩和手段は、前記エラーレートの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和し、前記サイドイレーズの試験結果のみが不良であった場合には、ディスク上の半径方向に係る記録密度条件を緩和し、前記エラーレートおよびサイドイレーズの試験結果がともに不良であった場合には、ディスク上の円周方向に係る記録密度条件を緩和することを特徴とする請求項１に記載のディスク試験装置。
3. 前記再試験手段は、前記試験を再び実施する場合に、前記記録密度条件の緩和に影響されない試験項目を除外することを特徴とする請求項１または２に記載のディスク試験装置。
4. ディスク装置に対して所定の記録密度条件を設定した上で少なくともデータ読み出しに係る試験を実施するディスク試験方法であって、
   前記ディスク装置に対して所定の記録密度条件を最初に設定する条件初期設定工程と、
   前記条件初期設定工程によって記録密度条件が設定されたディスク装置に対して少なくとも前記データ読み出しに係る試験を実施する試験工程と、
   前記試験工程によるデータ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、当該不良のディスク装置に設定されている記録密度条件を緩和して新たな記録密度条件を設定する条件緩和工程と、
   前記条件緩和工程によって緩和された記録密度条件が新たに設定されたディスク装置に対して前記試験を再び実施する再試験工程と、
   を含んだことを特徴とするディスク試験方法。
5. 所定の記録密度条件が設定された上で少なくともデータ読み出しに係る試験が実施されたディスク装置であって、
   前記データ読み出しに係る試験結果が不良であった場合に、現に設定されている記録密度条件が緩和されて新たな記録密度条件が設定され、当該新たに設定された記録密度条件の下で前記試験が再び実施されたことを特徴とするディスク装置。

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