KR20080006361A - 디펙 검사 인자의 변경을 이용한 디펙 관리 방법 및 그방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브 - Google Patents

디펙 검사 인자의 변경을 이용한 디펙 관리 방법 및 그방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브 Download PDF

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Abstract

디펙 검사 인자의 변경을 이용하여 설계 허용 범위까지 디펙(defect)을 찾아서 디펙 처리를 하는 디펙 관리 방법(defect management) 및 그 방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브에 대하여 개시된다. 본 발명에 따른 디펙 관리 방법은 a) 디펙 검사(defect scan)를 실행하여 설계 허용 범위를 초과하는지 판단하는 단계; b) 상기 a)단계에서 발견된 디펙(defect) 개수가 설계 허용 범위이내인 경우, 디펙 검사 인자의 수치를 변경하는 단계; c) 상기 수치가 변경된 디펙 검사 인자를 기준으로 디펙 검사를 실행하는 단계; 및 d) 상기 c)단계에서 발견된 디펙 개수가 설계 허용 범위에 도달할때까지 상기 디펙 검사 인자의 수치를 변경하여 c)단계를 수행하는 단계를 구비한다. 따라서, 본 발명에 따른 디펙 관리 방법은 종래의 디펙 관리 방법과 달리 설계 허용 범위만큼의 디펙을 발견하여 디펙 처리를 함으로써, 추후 환경변화에 의하여 디스크상에서 디펙으로 성장할 수 있는 잠재적인 디펙까지도 사전에 검출할 수 있는 장점이 있다.

Description

디펙 검사 인자의 변경을 이용한 디펙 관리 방법 및 그 방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브 {Method for defect management using change of defect scan factor and a hard disk drive using the method}
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 종래의 디펙 관리 방법(defect management)에 관한 흐름도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 하드 디스크 드라이브(HDD)의 평면도이다.
도 2b는 도 2a의 하드 디스크 드라이브(HDD)에 관한 전기 회로의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 디펙 관리 방법의 흐름도이다.
도 4는 도 3에 도시된 디펙 검사 인자가 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 경우 디펙 검사(defect scan)를 나타내는 그래프이다.
본 발명은 디펙 관리 방법(defect management)에 관한 것으로, 특히 디펙 검 사 인자의 변경을 이용하여 최대 설계 허용 범위까지 디펙(defect)을 찾아서 디펙 처리를 하는 디펙 관리 방법 및 그 방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브에 관한 것이다.
하드 디스크 드라이브는 호스트 컴퓨터로부터 데이터를 전송받아 헤드에 전류의 변화를 주어 디스크면에 데이터를 기록하고, 필요한 시기에 다시 디스크면의 자속변화를 헤드로 감지하여 기록된 데이터를 복원하는 데이터 기록 재생 장치이다. 하드 디스크 드라이브에서 데이터를 디스크면에 기록하는 과정을 데이터 라이트(write)라하며, 디스크면에 기록된 데이터를 재생하는 과정을 데이터 리드(read)라 한다. 데이터 리드시에는 디스크면에 존재하는 디펙(defect), 미립자(particle), 외부 노이즈 등의 여러 가지 요인에 의해 정상적으로 기록된 데이터를 리드할 수 없는 경우가 발생한다.
특히, 데이터의 고용량화에 따른 데이터의 기록 밀도가 증가하여 디스크의 물리적 디펙수가 증가하게 되었다. 일반적인 하드 디스크 드라이브의 디펙 관리 방법은 공정상의 일련의 알고리즘에 의해 디펙을 검사(scan)하고, 발견된 디펙을 디펙이 아닌 영역으로 할당(assign)하는데 이를 디펙 관리(defect management)라고 한다.
도 1은 종래의 디펙 관리 방법(defect management)에 관한 흐름도이다.
도 1을 참조하면, 먼저 디펙을 검사하는 단계를 수행한다(S110). 디펙을 검사하는 방법은 재생된 신호 레벨이 임계 범위이내에 해당하면 디펙(defect)이라고 판단하는 방법과 디펙의 길이가 에러 정정 코드(Error Correction Code : ECC)의 임계 길이 이내에 해당하면 디펙이라고 판단하는 방법 등이 있다.
상기 디펙 검사 단계에 의하여 발견된 디펙 개수와 설계자가 임의로 지정한 설계 허용 범위를 비교하여(S120), 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 불량(fail)이라고 판단하고(S130), 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위 이하인 경우 합격(pass)이라고 판단하며(S140), 이후 검사하고자 하는 하드 디스크 드라이브에 대하여 다시 동일한 디펙 검사를 하게 된다.
예를 들어, 10000개의 섹터(sector)를 요구하는 디스크 드라이브가 있다면, 실제로 제조업체는 30개의 예비 섹터를 더 가지도록 만든다. 여기서 상기 설계 허용 범위는 예비 섹터의 수인 30개가 된다. 즉, 발견된 디펙이 30개 이하이면 합격으로 판단되고, 발견된 디펙이 30개를 초과하면 불량이라고 판단하게 된다.
설계자는 보통 일정량의 디스크 드라이브의 실험에 의한 통계적 툴(tool)에 의한 디펙 검사와 신뢰성 결과와의 관계를 고려하여 디펙 판단의 임계치를 결정하게 된다.
예를 들어 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 3byte로 결정 하였다고 하자. 그러나, 온도, 전압, 부품 등 여러 환경의 변화에 따라 디스크상에서 읽혀지는 신호의 디펙 길이가 조금씩 변하고 디스크 드라이브의 동작 모드에 따라 디펙 검사 환경과 달리 디펙 길이가 길어지기도 한다. 따라서 디펙 검사시에는 2byte이어서 문제되지 않았던 디펙이 실제로 디스크 사용시 디펙 길이가 길어져 3byte를 넘어가게 되어 디펙으로 되는 문제가 발생할 수 있다.
본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 하드 디스크 드라이브의 설계 허용 범위까지 디펙을 모두 찾아내어 디펙 처리를 하는 디펙 관리 방법을 제공하는데 있다.
본 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는 상기 디펙 관리 방법을 사용하여 상기 설계 허용 범위까지 디펙을 모두 찾아내어 디펙 처리를 하는 하드 디스크 드라이브를 제공하는데 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 디펙 관리(defect management) 방법은 a) 디펙 검사(defect scan)를 실행하여 설계 허용 범위를 초과하는지 판단하는 단계; b) 상기 a)단계에서 발견된 디펙(defect) 개수가 상기 설계 허용 범위이내인 경우, 디펙 검사 인자의 수치를 변경하는 단계; c) 상기 수치가 변경된 디펙 검사 인자를 기준으로 디펙 검사를 실행하는 단계; 및 d) 상기 c)단계에서 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 도달할때까지 상기 디펙 검사 인자의 수치를 변경하여 c)단계를 수행하는 단계를 구비한다.
상기 d)단계는, 상기 c)단계에서 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 상기 설계 허용 범위의 디펙 개수만큼만 디펙 처리하고 합격(pass)이라고 판단하는 단계를 구비한다.
상기 d)단계는, 상기 디펙 검사 인자의 수치가 상기 디펙 검사 인자가 가질 수 있는 한계치에 도달한 경우 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 도달하지 못하였어도 합격(pass)이라도 판단하는 단계를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 a)단계는 상기 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위와 동일한 경우 합격(pass)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것이 바람직하고, 상기 a)단계는 상기 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 불량(fail)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것이 바람직하다.
상기 디펙 검사는 재생된 신호 레벨이 임계 범위 이내에 있으면 디펙이라고 판단하는 것이 바람직하고, 상기 디펙 검사 인자는 상기 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 것이 바람직하다.
상기 디펙 검사는 디펙의 길이가 에러 정정 코드(Error Correct Code, ECC)의 임계 길이보다 크면 디펙이라고 판단하는 것이 바람직하고, 상기 디펙 검사 인자는 상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이인 것이 바람직하다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브는, 디스크; 상기 디스크로부터 데이터를 리드(read) 및 라이트(write)하는 헤드; 및 디펙 검사(defect scan)를 실행하여 발견된 디펙(defect) 개수가 설계 허용 범위에 도달할때까지 디펙 검사 인자를 변경하여 디펙 검사를 수행하는 제어부를 구비한다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 도면에 기재된 내용을 참조하여야 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 하드 디스크 드라이브(HDD)(200)의 평면도이다. 도 2a를 참조하면, 하드 디스크 드라이브(200)는 스핀들 모터(spindle motor)(204)에 의해 회전되는 하나 또는 그 이상의 자기 디스크들(202)을 포함할 수 있다.
스핀들 모터(204)는 하드 디스크 드라이브(200)의 베이스 플레이트(base plate)(206)에 장착될 수 있다. 하드 디스크 드라이브(200)는 디스크들(202)을 싸는 커버(208)를 더 포함할 수 있다.
하드 디스크 드라이브(200)는 복수의 헤드들(210)을 포함할 수 있다. 각 헤드(210)는 회전 디스크(202)에 인접하여 위치한다. 각 헤드(210)는 디스크들(202)의 자기장들을 자화하고 감지하는 분리된 기록 및 판독 소자들(둘 다 미도시)을 구비할 수 있다.
각 헤드(210)는 플렉슈어(flexure)(212)에 장착되어 헤드 짐벌 어셈블리(Head Gimbal Assembly: HGA)를 형성하여 수평이 유지될 수 있다. 플렉슈어(212)는 액튜에이터 암(actuator arm)(214)에 부착되고, 액튜에이터 암(214)은 베어링 어셈블리(216)에 의해 베이스 플레이트(206)에 회전 가능하게 장착된다.
복수의 헤드들(210)에 있어서 헤드별 특성은 각각 개별적이다. 즉, 헤드별 인치당 비트수(Bit Per Inch), 헤드별 인치당 트랙수(Track Per Inch), 헤드별 트랙수 및 헤드별 트랙당 섹터수 등은 각 헤드에 대하여 개별적이다. 그러므로, 헤드 별 데이터 전송속도가 상이할 수 있다. 이러한 헤드별 특성은 디스크(202)의 시스템 실린더에 기록될 수 있다.
보이스 코일(218)은 자석 어셈블리(220)에 연결되어 보이스 코일 모터(VCM)를 생성한다. 보이스 코일(218)에 전류를 제공하는 것은 액튜에이터 암(214)을 회전시키는 토크(torque)를 생성하고 헤드들(210)이 디스크들(202)의 표면들을 가로질러 이동하게 한다.
하드 디스크 드라이브(200)는 인쇄 회로 기판(printed circuit board) 어셈블리(224)를 더 포함할 수 있다. 인쇄 회로 기판 어셈블리(224)는 인쇄 회로 기판(228)에 연결된 복수의 집적회로들(226)을 포함할 수 있다. 인쇄 회로 기판(228)은 전선들(미도시)에 의하여 보이스 코일(218), 헤드들(210), 및 스핀들 모터(204)에 연결된다.
도 2b는 도 2a의 하드 디스크 드라이브(200)에 관한 전기 회로의 개략도이다. 도 2b를 참조하면, 회로(250)는 헤드(210)에 연결되는 전치-증폭 회로(252)를 포함할 수 있다. 전치-증폭 회로(252)는 판독/기록 채널 회로(262)에 연결된 판독 데이터 채널(254) 및 기록 데이터 채널(256)을 갖는다.
전치-증폭 회로(252)는 또한 제어부(264)에 연결된 판독/기록 인에이블 게이트(260)를 갖는다. 데이터는 판독/기록 인에이블 게이트(260)를 인에이블함으로써 디스크(202)상에 기록되거나 디스크(202)로부터 판독될 수 있다.
판독/기록 채널 회로(262)는 각각 판독 및 기록 채널(266, 268)을 통하여, 그리고 각각 판독 및 기록 게이트(270, 272)를 통하여 제어부(264)에 연결된다. 판 독 게이트(270)는 데이터가 디스크(202)로부터 판독되어야 할 때 인에이블된다. 기록 게이트(272)는 디스크(202)에 데이터를 기록할 때 인에이블되어야 한다.
제어부(264)는 소프트웨어 루틴에 따라서 동작하는 디지털 신호 프로세서가 될 수 있다. 여기서, 소프트웨어 루틴은 디스크(202)로부터 데이터를 기록하고 판독하는 루틴을 포함한다.
판독/기록 채널 회로(262)와 제어부(264)는 또한 하드 디스크 드라이브(200)의 보이스 코일 모터와 스핀들 모터(204)를 제어하는 모터 제어 회로(274)에 연결될 수 있다.
제어부(264)는 비-휘발성 메모리 디바이스(276)에 연결될 수 있다. 예를 들면, 비-휘발성 메모리 디바이스(276)는 읽기용 기억 장치("ROM")일 수 있다. 비-휘발성 메모리 디바이스(276)는 제어부(264) 및 하드 디스크 드라이브(200)를 동작시키는 명령어들을 저장할 수 있다. 양자택일로, 제어부(264)는 하드 디스크 드라이브(200)를 동작시키는 펌웨어를 가질 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 디펙 관리 방법(defect management)의 흐름도이다.
도 4는 도 3에 도시된 디펙 검사 인자가 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 경우 디펙 검사(defect scan)를 나타내는 그래프이다.
도 2b 및 도 3을 참조하여 본 발명의 디펙 관리 방법을 설명한다. 도 3의 디펙 관리 방법은 도 2b의 제어부(264)에서 수행한다.
먼저 디펙 검사 인자가 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 경우를 예를 들어 설명한다. 디펙 검사를 위하여 헤드(210)에서 데이터를 리드하게 된다. 헤드(210)에서 리드한 신호, 즉 재생된 신호 레벨이 설계자가 임의로 정한 임계 범위이내인지를 기준으로 디펙 검사(defect scan)를 하게 된다(S310). 도 4에 도시된 바와 같이, 최초 디펙 검사시에는 Δy1을 임계 범위로 잡는다. 재생된 신호 레벨이 Δy1 이내에 있는 Δt2의 시간동안 재생된 섹터는 디펙(defect)으로 판정하고, 재생된 신호 레벨이 Δy1보다 큰 Δt1, Δt3, Δt4의 시간동안 재생된 섹터는 디펙이 아닌 정상적인 섹터로 판정하게 된다.
상기와 같이 최초의 디펙 검사에서 발견된 디펙의 개수와 설계자가 임의로 지정한 설계 허용 범위를 비교하게 된다(S320). 상기 비교 결과, 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 불량(fail)이라고 판단하고(S330), 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위와 동일한 경우 합격(pass)이라고 판단하게 된다(S340). 만약 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위 이내인 경우 상기 임계 범위를 변경시켜서(S350), 변경된 임계 범위를 기준으로 다시 디펙 검사를 하게 된다(S360). 도 4를 참조하면, 최초 임계 범위였던 Δy1에서 Δy2로 임계 범위를 변경하여 다시 디펙 검사를 하게 된다. 따라서, 최초 디펙 검사시에는 Δt4의 시간동안 재생된 섹터를 정상적인 섹터로 판단하였으나, 변경된 임계 범위를 적용하는 경우 Δt4 시간동안 재생된 섹터는 디펙으로 판단한다.
상기와 같이 새로운 임계 범위를 기준으로 디펙 검사를 하여 발견한 디펙 개수와 상기 설계 허용 범위를 비교한다(S370). 비교 결과, 상기 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 미치지 못하면 다시 상기 임계 범위를 변경하여 디펙 검사를 한 다(S350 이하). 즉, 변경된 임계 범위를 기준으로 디펙 검사를 하여 발견한 디펙 개수와 상기 설계 허용 범위가 일치할때까지 계속하여 반복하게 된다. 이 경우, 만약 임계 범위가 최대치까지 변경하여 디펙 검사를 하였으나 상기 설계 허용 범위 이내의 디펙이 발견되는 경우는, 더 이상 변경할 임계 범위가 없으므로 합격(pass)이라고 판단하게 된다. 만약, 비교 결과 상기 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 넘어가는 경우, 최초 디펙 검사와 달리 불량(fail)이라고 판단하는 것이 아니라, 상기 설계 허용 범위의 디펙 개수만큼만 디펙 처리를 하고 합격(pass)이라고 판단한다(S380). 최초 디펙 검사의 기준은 통과하였으므로 그 이후에 상기 설계 허용 범위를 넘었다고 하더라도 불량(fail)이라고 판단할 필요는 없기 때문이다. 마지막으로 상기 비교 결과 상기 디펙 개수와 상기 설계 허용 범위가 동일한 경우는 합격(pass)이라고 판단하게 된다(S390).
예를 들어, 10000개 섹터를 요구하는 하드 디스크 드라이브가 있고, 예비 섹터로 30개의 섹터가 있다고 가정한다. 이 경우 설계 허용 범위는 30개가 된다.
도 3에 의하여 최초 디펙 검사시(S310) 최초 임계 범위를 재생된 신호 최대치의 60%로 하였을때, 재생된 신호 레벨이 상기 임계 범위 이내인 섹터가 40개 발견되었다면 불량(fail)이라고 판단하게 되고(S330), 재생된 신호 레벨이 상기 임계 범위 이내인 섹터가 30개 발견되었다면 합격(pass)이라 판단하게 된다. 만약, 재생된 신호 레벨이 상기 임계 범위 이내인 섹터가 10개가 발견되었다고 하면, 설계 허용 범위인 30개보다 적은 디펙이 발견되었으므로 상기 임계 범위를 65%로 변경시킨다(S320, S350). 상기 변경된 65%의 임계범위로 다시 디펙 검사를 한 경우(S360), 디펙이 30개가 발견된 경우 합격(pass)이라고 판단하고(S390), 디펙이 40개가 발견된 경우 30개의 디펙까지만 디펙 처리를 하고 합격(pass)이라고 판단하게 된다(S380). 만약 디펙이 20개가 발견되었다면, 상기 임계범위를 70%로 변경하여 다시 디펙 검사를 하게 된다(S350 이하). 상기 최초 임계 범위를 얼마로 잡을 것인지는 설계자가 임의로 선택할 수 있고, 상기 임계 범위를 어느 정도의 폭으로 변경할 것인지도 역시 설계자가 임의로 선택할 수 있다.
다음으로 디펙 검사 인자가 에러 정정 코드(Error Correct Code : ECC)의 임계 길이인 경우를 예를 들어 설명한다.
상기 임계 범위를 기준으로 디펙 검사를 하는 방법에서 상기 임계 범위 대신에 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 기준으로 디펙 검사를 하는 것을 제외하고는 동일한 방법으로 수행한다.
예를 들어, 10000개의 섹터를 요구하는 하드 디스크 드라이브가 있고, 예비 섹터로 30개의 섹터가 있다고 가정한다. 이 경우 설계 허용 범위는 마찬가지로 30개가 된다.
도 3에 의하여 최초 디펙 검사시 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 3byte라고 하였을때, 디펙의 길이가 3byte를 넘는 섹터가 40개 발견되었다면 불량(fail)이라고 판단하게 되고(S330), 디펙의 길이가 3byte가 넘는 섹터가 30개 발견되었다면 합격(pass)이라 판단하게 된다. 만약, 디펙의 길이가 3byte를 넘는 섹터가 10개가 발견되었다고 하면, 상기 설계 허용 범위인 30개보다 적은 디펙이 발견되었으므로 상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 2byte로 변경시킨다(S320, S350). 상 기 변경된 2byte의 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이로 다시 디펙 검사를 한 경우(S360), 디펙이 30개가 발견된 경우 합격(pass)이라고 판단하고(S390), 디펙이 40개가 발견된 경우 30개의 디펙까지만 디펙 처리를 하고 합격(pass)이라고 판단하게 된다(S380). 만약 디펙이 20개가 발견되었다면, 상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 1byte로 변경하여 다시 디펙 검사를 하게 된다(S350 이하). 상기 최초 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 얼마로 잡을 것인지는 설계자가 임의로 선택할 수 있고, 상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이를 어느 정도로 변경할 것인지도 역시 설계자가 임의로 선택할 수 있다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 최적 실시예가 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 디펙 관리 방법(defect management) 및 그 방법을 사용한 하드 디스크 드라이브는 보다 정밀하게 디펙 관리를 할 수 있는 장점이 있다. 즉, 종래의 디펙 관리 방법과 달리 설계 허용 범위만큼의 디펙을 발견하여 디펙 처리를 함으로써, 추후 환경변화에 의하여 디스크상에서 디펙으로 성장 할 수 있는 잠재적인 디펙까지도 사전에 검출할 수 있는 장점이 있다.

Claims (18)

  1. a) 디펙 검사(defect scan)를 실행하여 설계 허용 범위를 초과하는지 판단하는 단계;
    b) 상기 a)단계에서 발견된 디펙(defect) 개수가 상기 설계 허용 범위이내인 경우, 디펙 검사 인자의 수치를 변경하는 단계;
    c) 상기 수치가 변경된 디펙 검사 인자를 기준으로 디펙 검사를 실행하는 단계; 및
    d) 상기 c)단계에서 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 도달할때까지 상기 디펙 검사 인자의 수치를 변경하여 c)단계를 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법(defect management).
  2. 제1항에 있어서, 상기 d)단계는,
    상기 c)단계에서 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 상기 설계 허용 범위의 디펙 개수만큼만 디펙 처리하고 합격(pass)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 d)단계는,
    상기 디펙 검사 인자의 수치가 상기 디펙 검사 인자가 가질 수 있는 한계치에 도달한 경우 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 도달하지 못하였 어도 합격(pass)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 a)단계는,
    상기 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위와 동일한 경우 합격(pass)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 a)단계는,
    상기 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 불량(fail)이라고 판단하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 디펙 검사는,
    재생된 신호 레벨이 임계 범위 이내에 있으면 디펙이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 디펙 검사 인자는,
    상기 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 디펙 검사는,
    디펙의 길이가 에러 정정 코드(Error Correct Code, ECC)의 임계 길이보다 크면 디펙이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 디펙 검사 인자는,
    상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이인 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  10. 디스크;
    상기 디스크로부터 데이터를 리드(read) 및 라이트(write)하는 헤드; 및
    디펙 검사(defect scan)를 실행하여 발견된 디펙(defect) 개수가 설계 허용 범위에 도달할때까지 디펙 검사 인자를 변경하여 디펙 검사를 수행하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브.
  11. 제10항에 있어서, 상기 제어부는,
    최초 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 불량(fail)이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브.
  12. 제10항에 있어서, 상기 제어부는,
    최초 디펙 검사를 실행하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위와 동일 한 경우 합격(pass)이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브.
  13. 제10항에 있어서, 상기 제어부는,
    첫 번째 이후의 디펙 검사에 의하여 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위를 초과하는 경우 상기 설계 허용 범위의 디펙 개수만큼만 디펙 처리하고 합격(pass)이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브.
  14. 제10항에 있어서, 상기 제어부는,
    상기 디펙 검사 인자의 수치가 상기 디펙 검사 인자가 가질 수 있는 한계치에 도달한 경우 상기 발견된 디펙 개수가 상기 설계 허용 범위에 도달하지 못하였어도 합격(pass)이라도 판단하는 것을 특징으로 하는 하드 디스크 드라이브.
  15. 제10항에 있어서, 상기 디펙 검사는,
    재생된 신호 레벨이 임계 범위 이내에 있으면 디펙이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 디펙 검사 인자는,
    상기 재생된 신호 레벨의 임계 범위인 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  17. 제10항에 있어서, 상기 디펙 검사는,
    디펙의 길이가 에러 정정 코드(Error Correct Code, ECC)의 임계 길이보다 크면 디펙이라고 판단하는 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
  18. 제17항에 있어서, 상기 디펙 검사 인자는,
    상기 에러 정정 코드(ECC)의 임계 길이인 것을 특징으로 하는 디펙 관리 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8335048B2 (en) 2009-11-03 2012-12-18 Seagate Technology Method of managing defect and apparatuses using the same

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