KR100672070B1 - 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 - Google Patents

하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 Download PDF

Info

Publication number
KR100672070B1
KR100672070B1 KR1020050099992A KR20050099992A KR100672070B1 KR 100672070 B1 KR100672070 B1 KR 100672070B1 KR 1020050099992 A KR1020050099992 A KR 1020050099992A KR 20050099992 A KR20050099992 A KR 20050099992A KR 100672070 B1 KR100672070 B1 KR 100672070B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defect
reference value
test
defect reference
value
Prior art date
Application number
KR1020050099992A
Other languages
English (en)
Inventor
안상수
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020050099992A priority Critical patent/KR100672070B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100672070B1 publication Critical patent/KR100672070B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602—Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/0614—Improving the reliability of storage systems
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816—Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체가 개시된다. 본 발명의 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법은, (a) 테스트 디펙트 기준값을 미리 설정된 초기 디펙트 기준값으로 설정하는 단계; (b) 테스트 디펙트 기준값을 기초로 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 테스트 실린더에서 디펙트 스캔(defect scan)을 실시하는 단계; (c) 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면 테스트 실린더로 결정하고 테스트 디펙트 기준값을 검증 디펙트 기준값으로 결정하는 단계; (d) 검증 디펙트 기준값을 기초로 소정의 규칙에 따라, 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크 별의 개별 디펙트 기준값을 설정하는 단계; 및 (e) 개별 디펙트 기준값을 기초로 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 모든 트랙에 대하여 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 각 하드디스크 드라이브의 라이트/리드 테스트 신호의 진폭에 차이가 있음에도 불구하고 디펙트 검사 시 일률적인 디펙트 기준값을 적용함으로써 과도하게 디펙트가 검출되어 실제 디펙트가 아닌 경우에도 디펙트로 검출되는 종래의 현상을 방지할 수 있는 등 효율적으로 디펙트를 검출할 수 있다.
하드디스크 드라이브, 디펙트 스캔, 디펙트, 검출, 개별 디펙트 기준값

Description

하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체{Method for Scanning Defect of Disk of Hard Disk Drive, and Recording Media for Computer Program therefor}
도 1은 일반적인 하드디스크 드라이브의 제조공정 흐름도이다.
도 2는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법이 적용되는 하드디스크 드라이브의 구동 회로의 개략적 블록도이다.
도 3은 일반적인 정보 기록용 디스크 부분 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출 방법의 플로 차트이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스크 면의 디펙트 검출 방법의 플로 차트이다.
본 발명은, 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 각 하드디스크 드라이브 별로 적합하게 선정된 디펙트 기준값을 기초로 디펙트 스캔(defect scan)을 수행할 수 있는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체에 관한 것이다.
하드디스크 드라이브(Hard Disk Drive)는 전자장치와 기계장치로 이루어져 디지털 전자 펄스를 보다 영구적인 자기장으로 바꾸어서 데이터를 기록 및 재생해 주는 방식의 기억장치로서, 대량의 데이터를 고속으로 액세스(Access)할 수 있기 때문에 컴퓨터 시스템의 보조 기억 장치 등으로써 현재 널리 사용되고 있다.
그런데, 하드디스크 드라이브는, 그 디스크가 자체적으로 디펙트를 가지고 있거나, 또는 제품의 생산 과정에서 디스크에 결함이 생길 수도 있는데 예를 들어 하드디스크 드라이브의 조립 과정 중 헤드 스택 어셈블리(head stack assembly)를, 다층으로 구성되는 미디어(media) 즉 디스크에 로딩(loading)하는 과정에서 긁힘(scratch)에 의해서 디스크 상에 디펙트(defect, 결함)가 발생할 수 있다.
스크래치로 인한 미디어의 물리적 파손 형태는 데이터를 읽고 쓰는 기본 단위인 바이트(bytes) 단위의 손실을 초래하기 때문에 저장 용량의 축소를 유발한다. 또한, 하드디스크 드라이브의 제어 가능한 기본 단위는, 섹터 방향으로는 섹터(sector)이고, 트랙 방향으로는 트랙(track)이기 때문에 최소 한 섹터의 손실을 기본적으로 내포한다. 따라서, 스크래치로 인한 데이터의 손실은 최소로 하는 것이 바람직하다.
그와 같은 결함이 있는 섹터는 불량 섹터이므로 데이터의 기록 또는 판독을 할 수가 없게 된다. 따라서, 하드디스크 드라이브의 생산 공정에서 이러한 디펙트를 검출하여(defect scan) 디펙트가 발생한 섹터의 주소를 디스크면 특정영역 즉 디스크 상의 메인터넌스(maintenance) 영역의 디펙트 리스트(defect list)에 기록하고, 이후 사용자 환경에서 디펙트 섹터의 주소를 액세스하지 않도록 함으로써, 실제 사용자에게 무 디펙트 상태의 하드디스크를 제공하게 된다.
도 1은 일반적인 하드디스크 드라이브의 제조공정 흐름도로서, 이에 도시된 바와 같이, 하드디스크 드라이브의 제조공정은 기구 조립 공정(500), 서보 라이트 공정(510), 기능 테스트 공정(520), 번-인(burn-in) 공정(530), 최종 테스트(final test) 공정(540), 그리고 출하검사공정, 포장 및 출하공정(550)으로 구분될 수 있다.
여기서 기구 조립 공정(500)은 하드디스크 드라이브의 소위 기계부분으로 칭할 수 있는 헤드 디스크 어셈블리(HDA, Head Disk Assembly)를 조립하는 공정으로서 클린 룸(Clean Room) 내에서 이루어진다. 서보 라이트 공정(510)은 액추에이터(actuator)의 서보(servo)제어를 위한 서보기록패턴(servo write pattern)을 디스크면에 기록하는 공정으로서 서보 라이터(servo writer)에 의해 수행된다. 그리고 기능 테스트 공정(520, function test)은, HDA조립공정에서 만들어진 HDA와, 인쇄회로기판조립체(PCBA, Printed Circuit Board Assembly)조립공정에서 만들어진 PCBA를 결합시켜 행해지는 테스트 공정으로서, HDA와 PCBA가 정상적으로 결합되어 동작하는지를 테스트한다. 그리고 번-인(burn-in) 공정(530)은 하드디스크 드라이브의 제조공정 중 가장 긴 시간이 소요되는 공정으로서 별도의 테스트 시스템 없이 번인 룸(room)내의 래크(rack)상에서 자체 프로그램(펌웨어)으로 수행된다. 이러한 번-인공정은 소비자가 하드디스크 드라이브를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 전술한 바와 같이 디스크 상에 존재하는 디펙트(defect, 결함) 부분을 미리 찾아내어 하드디스크 드라이브를 사용할 때 디펙트 부분을 피해갈 수 있도록 선 조치하는 공정을 말한다. 그리고 최종 테스트(final test) 공정(540)은 번-인 공정(530)에서 통과한 하드디스크 드라이브 세트(set)가 정상적으로 결함처리 되었는가를 확인하기 위한 공정이다. 최종 테스트 공정(540)을 마친 하드디스크 드라이브 세트(set)는 출하검사공정, 포장 및 출하공정(550)을 거쳐 하나의 완성된 제품으로 출하된다.
번-인 공정(530)의 디펙트 검출 테스트는 디스크면의 디펙트(defect)를 찾기 위하여 하드디스크 드라이브의 전반적인 동작을 제어하는 마이크로 프로세서가 액추에이터의 자기 헤드를 오프 트랙(off track)시키거나 리드/라이트 채널 파라미터(read/write channel parameter) 값을 변경하는 등 리드/라이트 채널(read/write channel) 등에 스트레스(stress)를 가해 가면서 디스크면의 전 영역에 대해 라이트/리드 테스트(read/write test)를 수행한다. 이러한 라이트/리드 테스트 과정에서 라이트/리드의 에러(error)가 발생한 부분(디펙트가 발생한 부분)의 섹터(sector)가 검출된다. 전술한 바와 같이 디펙트가 발생한 섹터의 주소는 디스크면 특정영역 즉 디스크 상의 메인터넌스(maintenance) 영역의 디펙트 리스트(defect list)에 기록되고, 이후 사용자 환경에서 디펙트 섹터의 주소를 액세스하지 않음으로써 실제 사용자에게 무 디펙트 상태의 하드디스크를 제공하게 된다.
여기서 라이트/리드 테스트 과정에서 라이트/리드의 에러가 발생한 부분(디펙트가 검출된 부분)의 섹터(sector)를 검출하는 과정에 대하여 보다 더 자세히 설 명하면, 디스크면의 전 영역에 라이트(write)를 한 뒤 리드(read)를 하게 되면 신호가 출력되는데 만약 리드 시 신호의 피크치가 미리 설정된 디펙트 기준값(defect criteria) 보다 작은 경우에 그 섹터는 디펙트 즉 디펙트 섹터로 간주된다. 따라서 디펙트 기준값은 디펙트 검출과정에서 디펙트를 판별하는 기준으로서 사용된다.
그런데 라이트/리드 테스트 과정에서 리드 신호의 진폭이 생산되는 모든 하드디스크 드라이브마다 동일하지 않고 각각 다름에도 불구하고 현재에는 일률적인 디펙트 기준값으로 디펙트 검출 테스트를 수행하고 있다. 따라서 라이트/리드 테스트 과정에서 신호의 진폭이 작게 출력되는 하드디스크 드라이브의 경우에는 만약 그 피크치의 대부분이 디펙트 기준값보다 작은 경우에는 실제 디펙트가 많지 않음에도 불구하고 리드 시 출력되는 신호의 진폭이 작기 때문에 대부분이 디펙트로 검출되는 문제점이 있다.
이와 같이 종래의 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출 방법에 있어서는, 라이트/리드 테스트 과정에서 하드디스크 드라이브 별로 출력되는 신호의 진폭이 조금씩 다름에도 불구하고 일률적인 하나의 디펙트 기준값에 기초하여 디펙트 검출(defect scan)을 수행하기 때문에, 라이트/리드 테스트 과정에서 하드디스크 드라이브 별로 출력되는 신호의 진폭이 작아 그 대부분의 피크치가 디펙트 기준값보다 작은 경우에는 과도하게 디펙트가 검출되어 실제 디펙트가 아닌 경우에도 디펙트로 검출되는 등 디펙트 검출에 있어서 다소 비효율적인 문제점이 있다.
또한, 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙 별로도 라 이트/리드 테스트 과정에서 하드디스크 드라이브 별로 출력되는 신호의 진폭이 달라질 수 있음에도 이에 대한 고려 또한 전혀 이루어지지 않고 있는 실정이다.
따라서, 본 발명의 목적은, 종래의 이러한 문제점을 해결하기 위하여, 각 하드디스크 드라이브의 라이트/리드 테스트 신호의 진폭에 차이가 있음에도 불구하고 디펙트 검사 시 일률적인 디펙트 기준값을 적용함으로써 과도하게 디펙트가 검출되어 실제 디펙트가 아닌 경우에도 디펙트로 검출되는 종래의 현상을 방지할 수 있는 등 효율적으로 디펙트를 검출할 수 있는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체를 제공하는 것이다.
한편, 본 발명의 다른 목적은, 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙 별로 적합하게 된 디펙트 기준값을 적용하여 보다 더 정확한 디펙트 검출을 할 수 있는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체를 제공하는 것이다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, (a) 테스트 디펙트 기준값을 미리 설정된 초기 디펙트 기준값으로 설정하는 단계; (b) 상기 테스트 디펙트 기준값을 기초로 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 테스트 실린더에서 디펙트 스캔(defect scan)을 실시하는 단계; (c) 상기 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면 테스트 실린더로 결정하고 상기 테스트 디펙트 기준값을 검증 디펙트 기준값으로 결 정하는 단계; (d) 상기 검증 디펙트 기준값을 기초로 소정의 규칙에 따라, 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크 별의 개별 디펙트 기준값을 설정하는 단계; 및 (e) 상기 개별 디펙트 기준값을 기초로 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 모든 트랙에 대하여 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 이를 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체에 의해 달성된다.
여기서, 상기 검증 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 개별 디펙트 기준값은 상기 검증 디펙트 기준값보다 한 단계 낮춘 값일 수 있다.
상기 (b) 단계에서 디펙트가 검출되는 경우에는, 상기 (c) 단계 전에, (b1) 상기 테스트 디펙트 기준값과 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값을 비교하는 단계; 및 (b2) 상기 테스트 디펙트 기준값이 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값보다 크면 상기 테스트 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 테스트 디펙트 기준값에 기초하여 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 테스트 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 (c2) 단계에서 상기 테스트 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 테스트 디펙트 기준값은 전보다 한 단계 낮춘 값일 수 있다.
또한, 상기 (b1) 단계에서 상기 테스트 디펙트 기준값과 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값의 비교 결과 상기 테스트 디펙트 기준값이 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값보다 작으면 상기 테스트 실린더를 디펙트 있는 실린더로 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
그리고, (c1) 상기 검증 디펙트 기준값을 기초로 상기 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함하며, 상기 (c1) 단계에서의 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면 상기 (d) 단계를 수행하도록 구성할 수도 있다.
상기 (c1) 단계에서 디펙트가 검출되는 경우에는, 상기 (d) 단계 전에 상기 검증 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 검증 디펙트 기준값에 기초하여 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 검증 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 검증 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 검증 디펙트 기준값은 그 전보다 한 단계 낮춘 값일 수 있다.
한편, (g) 단계 후 (f) 디펙트 스캔결과 디펙트를 마킹하는 단계를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 테스트 실린더는 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter)에서 각각 선택된 복수의 테스트 실린더이며, 상기 개별 디펙트 기준값은 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 설정되며, 상기 (e) 단계는 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙에 대하여 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 설정된 상기 개별 디펙트 기준값에 각각 기초로 디펙트 스캔될 수 있다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법이 적용되는 하드디스크 드라이브의 구동 회로의 개략적 블록도로서, 이에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법이 적용되는 하드디스크 드라이브는, 보이스코일모터(미도시, VCM)의 구동 및 자기 헤드(40)의 움직임을 제어하기 위하여 보이스코일(80)에 구동 전류를 공급하는 VCM구동부(10)와, 리드/라이트(R/W) 채널(20) 및 리드 프리앰프 & 라이트 드라이버(30)에 의하여 자기 헤드(40)에 결합된 콘트롤러(50)를 구비하고 있다. 그리고 읽기 전용 메모리(61, ROM, Read Only Memory) 또는 플레쉬 메모리와 같은 비휘발성 메모리 및 랜덤 억세스 메모리(63, RAM, Random Access Memory)가 콘트롤러(50)에 또한 결합되어 있다. 여기서 메모리(60)는 소프트웨어 루틴을 실행시키기 위하여 콘트롤러(50)에 의하여 사용되어지는 명령어 및 데이터를 포함하고 있다.
콘트롤러(50)는 디지털 신호 프로세서(DSP : Digital Signal Processor), 마이크로프로세서, 마이크로 콘트롤러 등이 될 수 있으며, 소프트웨어(software) 또는 펌 웨어(firmware)로 구현될 수도 있다. 콘트롤러(50)는 디스크(70)로부터 데이터를 리드하거나 또는 디스크(70)에 데이터를 기록하기 위하여 리드/라이트(R/W) 채널(20)로 제어신호를 공급한다.
정보는 전형적으로 리드/라이트(R/W) 채널(20)로부터 호스트 인터페이스(80)로 전송된다. 호스트 인터페이스(80)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 시스템에 인터페이스 하기 위한 제어 회로를 포함하고 있다.
리드/라이트(R/W) 채널(20)은, 재생 모드에서는 자기 헤드(40)로부터 읽혀져 리드 프리앰프 & 라이트 드라이버(30)에서 증폭된 아날로그 신호를 호스트 컴퓨터(미도시)가 판독할 수 있는 디지털 신호로 변조시켜 호스트 인터페이스(80)로 출력하고, 호스트 컴퓨터로부터 사용자 데이터를 호스트 인터페이스(80)를 통하여 수신하여 디스크(70)에 기록할 수 있도록 기록 전류로 변환시켜 리드 프리앰프 & 라이트 드라이버(20)로 출력시키도록 신호처리를 실행한다.
한편, 도 3은 일반적인 정보 기록용 디스크 부분 평면도로서, 이에 도시된 바와 같이, 디스크(70)는 크게 시스템영역(A)과, 사용자데이터영역(B), 파킹(parking)영역(C)으로 나누어질 수 있다.
여기서, 시스템영역(A)은 메인터넌스 영역이라고도 불리며, 각종 시스템 정보들과 하드디스크 드라이브의 유지 보수를 위한 정보들이 저장되며, 일반 사용자에게는 접근이 허용되지 않는 영역이다. 그리고 사용자데이터영역(B)은 사용자 데이터를 저장하는 영역이며, 파킹영역(C)은 디스크(70)에 헤드를 파킹시킬 때 사용되는 영역이다.
시스템영역(A, 이하, '메인터넌스 영역'이라 함)을 보다 상세히 설명하면, 하드디스크 드라이브의 제조공정에서 그 드라이브의 고유번호, 제조공정 중의 관련 정보, 디펙트 검출 테스트로 얻어진 디펙트 섹터에 대한 주소가 기록되는 디펙트 리스트, 혹은 SMART(Self Monitoring Analysis Reporting Technology) 정보 등 다양한 시스템에 관련된 정보가 이 메인터넌스 영역에 기록된다. 이러한 메인터넌스 영역을 위해 통상적으로 4개 정도의 트랙이 제공된다.
사용자데이터영역(B)은 디스크(70) 면의 대부분을 차지하며, 데이터는 디스크(70)의 트랙에 섹터 단위로 기록된다. 각 트랙은 디스크(70) 상에서의 위치 정보 즉 어드레스(address)를 갖는다. 도 3에는 어느 한 트랙 m을 일 예로 들어 섹터 포맷을 나타내었는데, 표시된 섹터 1, 섹터 2 등에서의 숫자 1, 2 등은 섹터의 논리상의 어드레스 순서를 나타낸 것이 아니라 물리적인 순서를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출 방법의 플로 차트로서, 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시 예에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출 방법을 보다 상세히 설명한다. 이러한 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출은 번-인(burn-in) 공정에서 수행된다.
우선 테스트 디펙트 기준값(Ct)을 초기 디펙트 기준값(Ci)으로 설정한다(S10). 그런 다음에 테스트 디펙트 기준값(Ct)을 기초로 테스트 실린더(test cylinder)에서 디펙트 스캔(defect scan) 즉 디펙트 검사를 수행한다(S20). 이때 디펙트 스캔 결과 디펙트(defect)가 검출되지 않으면 테스트 실린더를 결정하고 테스트 디펙트 기준값(Ct)을 검증 디펙트 기준값(Cv)으로 결정한다(S40).
그런데 만약 디펙트가 검출되는 경우에는(S30), 테스트 디펙트 기준값(Ct)과 초기 디펙트 기준값(Ci)의 70%에 해당하는 값을 비교하여(S31), 만약 테스트 디펙트 기준값(Ct)이 초기 디펙트 기준값(Ci)의 70%에 해당하는 값보다 크면 테스트 디펙트 기준값(Ct)을 그 전보다 한 단계 낮춘 값만큼 낮춘 테스트 디펙트 기준값(Ct)에 기초하여(S33) 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시한다. 이러한 과정은 여러 번 반복될 수 있다. 이는 리드 시 출력되는 신호의 진폭은 작은데 비하여 디펙트 기준값은 큰 경우에 디펙트가 아닌 신호가 디펙트로 잡히는 경우를 방지하기 위하여 각 하드디스크 드라이브 별로 적합한 디펙트 기준값을 선정하기 위하여 수행되는 것이다. 한편 본 실시 예에서 테스트 디펙트 기준값(Ct)은 14단계로 구분되어 설정되어 있으며, 따라서 한 단계를 낮춘다는 의미는 설정된 14단계의 어느 하나의 단계에서 바로 아래 값을 갖는 하나의 단계에 설정된 디펙트 기준값으로 테스트 디펙트 기준값(Ct)을 설정한다는 의미이다. 그러나, 만약 테스트 디펙트 기준값(Ct)과 초기 디펙트 기준값(Ci)의 70%에 해당하는 값의 비교 결과(S31) 테스트 디펙트 기준값(Ct)이 초기 디펙트 기준값(Ci)의 70%에 해당하는 값보다 작으면 테스트 실린더가 디펙트 있을 확률이 높으므로 당해 테스트 실린더를 디펙트 있는 실린더로 판정하고 다른 테스트 실린더로 교체하여야 한다(S35).
위 과정에서 결정된 테스트 실린더에 대하여 위 과정에서 결정된 검증 디펙트 기준값(Cv)을 기초로 디펙트 스캔을 다시 실시한다(S50). 이는 라이트/리드 테스트 과정에서 리드(read) 시 신호의 변동이 있을 수 있으므로 한번 더 확인을 위한 과정이다. 이러한 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면(S60) 검증 디펙트 기준값(Cv)을 기초로 소정의 규칙에 따라 개별 디펙트 기준값(Cf)을 설정하게 된다. 본 실시 예에서 검증 디펙트 기준값(Cv)은 14단계로 구분되며, 개별 디펙트 기준값(Cf)은 검증 디펙트 기준값(Cv)보다 한 단계 낮춘 값으로 선정한다(S70). 이는 경험적으로 개별 디펙트 기준값(Cf)을 검증 디펙트 기준값(Cv)보다 한 단계 낮춘 값으로 함으로써 하드디스크 드라이브 별로 보다 더 적합한 개별 디펙트 기준값 (Cf)이 설정될 수 있기 때문이나, 경우에 따라서는 이와 다른 규칙으로 개별 디펙트 기준값(Cf)을 선정할 수도 있을 것이다.
그런데 만약 디펙트가 검출되는 경우에는(S60), 검증 디펙트 기준값(Cv)을 한 단계 낮춘 값으로 선정한 후(S63), 이 검증 디펙트 기준값(Cv)에 기초하여 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하고(S50), 이러한 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면(S60), 검증 디펙트 기준값(Cv) 보다 한 단계 낮춘 값을 개별 디펙트 기준값(Cf)으로 결정하게 된다. 이러한 과정은 당연히 여러 번 반복될 수도 있을 것이다.
그런 다음에 개별 디펙트 기준값(Cf)을 기초로 모든 트랙에 대하여 디펙트 스캔을 실시하고(S80) 디펙트 스캔 결과 디펙트를 마킹하여(S90) 이 후 디펙트 처리를 할 수 있도록 한다.
이에 의하여 각 하드디스크 드라이브 별로 적합하게 선정된 디펙트 기준값을 기초로 디펙트 스캔을 함으로써 효율적으로 디펙트 검출을 할 수 있게 된다.
이상과 같은 일련의 과정에서 또한 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter)에서 각각 선택된 복수의 테스트 실린더를 선정하고, 개별 디펙트 기준값(Cf)은 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 각각 독립적으로 설정하여, 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙에 대하여 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 각각의 개별 디펙트 기준값(Cf)에 기초하여 디펙트 스캔을 수행할 수도 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스크 면의 디펙트 검출 방법의 플로 차트로서, 본 발명의 일 실시 예와 다른 부분만을 설명하고자 한다.
이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예와 달리 본 실시 예에서는 검증 디펙트 기준값(Cv)이 설정된 뒤(S140) 다시 한 번 더 디펙트 스캔하는 과정이 없고 바로 이 검증 디펙트 기준값(Cv)을 기초로 이보다 한 단계 낮은 값을 개별 디펙트 기준값(Cf)으로 선정한 뒤(S170), 모든 트랙에 대하여 디펙트 스캔을 실시하는(S180) 점이 본 발명의 일 실시 예와 다르다.
전술한 실시 예들에서는, 디펙트 기준값(defect criteria)이 14단계로 구분되어 있으나 경우에 따라서는 16단계 등 다양한 단계 별로 설정되어 있을 수 있을 것이다.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서, 그러한 수정 예 또는 변형 예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 각 하드디스크 드라이브의 라이트/리드 테스트 신호의 진폭에 차이가 있음에도 불구하고 디펙트 검사 시 일률적인 디펙트 기준값을 적용함으로써 과도하게 디펙트가 검출되어 실제 디펙트가 아닌 경우에도 디펙트로 검출되는 종래의 현상을 방지할 수 있는 등 효율적으로 디펙트를 검출할 수 있다. 이에 의하여 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출을 효율적으로 수행할 수 있게 된다.
또한, 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙 별로 적합하게 된 디펙트 기준값을 적용함으로써 보다 더 정확한 디펙트 검출을 할 수 있다.

Claims (11)

  1. (a) 테스트 디펙트 기준값을 미리 설정된 초기 디펙트 기준값으로 설정하는 단계;
    (b) 상기 테스트 디펙트 기준값을 기초로 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 테스트 실린더에서 디펙트 스캔(defect scan)을 실시하는 단계;
    (c) 상기 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면 테스트 실린더로 결정하고 상기 테스트 디펙트 기준값을 검증 디펙트 기준값으로 결정하는 단계;
    (d) 상기 검증 디펙트 기준값을 기초로 소정의 규칙에 따라, 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크 별의 개별 디펙트 기준값을 설정하는 단계; 및
    (e) 상기 개별 디펙트 기준값을 기초로 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 모든 트랙에 대하여 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검증 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 개별 디펙트 기준값은 상기 검증 디펙트 기준값보다 한 단계 낮춘 값인 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 (b) 단계에서 디펙트가 검출되는 경우에는, 상기 (c) 단계 전에,
    (b1) 상기 테스트 디펙트 기준값과 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값을 비교하는 단계; 및
    (b2) 상기 테스트 디펙트 기준값이 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값보다 크면 상기 테스트 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 테스트 디펙트 기준값에 기초하여 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 테스트 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 (c2) 단계에서 상기 테스트 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 테스트 디펙트 기준값은 전보다 한 단계 낮춘 값인 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 (b1) 단계에서 상기 테스트 디펙트 기준값과 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값의 비교 결과 상기 테스트 디펙트 기준값이 상기 초기 디펙트 기준값의 70%에 해당하는 값보다 작으면 상기 테스트 실린더를 디펙트 있는 실린더로 판정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  6. 제1항에 있어서,
    (c1) 상기 검증 디펙트 기준값을 기초로 상기 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함하며,
    상기 (c1) 단계에서의 디펙트 스캔 결과 디펙트가 검출되지 않으면 상기 (d) 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 (c1) 단계에서 디펙트가 검출되는 경우에는, 상기 (d) 단계 전에
    상기 검증 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 검증 디펙트 기준값에 기초하여 다시 테스트 실린더에서 디펙트 스캔을 실시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 검증 디펙트 기준값은 14단계로 구분되며, 상기 검증 디펙트 기준값을 소정의 값만큼 낮춘 검증 디펙트 기준값은 그 전보다 한 단계 낮춘 값인 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  9. 제1항에 있어서,
    (f) 디펙트 스캔결과 디펙트를 마킹하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 실린더는 상기 검사 대상의 하드디스크 드라이브의 디스크의 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter)에서 각각 선택된 복수의 테스트 실린더이며,
    상기 개별 디펙트 기준값은 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 설정되며,
    상기 (e) 단계는 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 부위에 해당하는 트랙에 대하여 상기 내주(Internal Diameter), 외주(Outer Diameter) 및 중간 직경(Middle Diameter) 별로 설정된 상기 개별 디펙트 기준값에 각각 기초로 디펙트 스캔되는 것을 특징으로 하는 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법.
  11. 제1항 내지 제10항 중의 어느 한 항에 따른 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체.
KR1020050099992A 2005-10-24 2005-10-24 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 KR100672070B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050099992A KR100672070B1 (ko) 2005-10-24 2005-10-24 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050099992A KR100672070B1 (ko) 2005-10-24 2005-10-24 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100672070B1 true KR100672070B1 (ko) 2007-01-19

Family

ID=38014367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050099992A KR100672070B1 (ko) 2005-10-24 2005-10-24 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100672070B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0581664A (ja) * 1991-09-19 1993-04-02 Seiko Seiki Co Ltd ハードデイスク検査装置
KR980011015A (ko) * 1996-07-24 1998-04-30 김광호 생산수율향상과 제조시간단축을 위한 하드디스크 드라이브의 생산 공정방법
KR19990075477A (ko) * 1998-03-20 1999-10-15 윤종용 하드 디스크 드라이브의 검사 방법
KR20010090967A (ko) * 2000-04-08 2001-10-22 윤종용 디스크의 결함관리영역 정보 검증방법 및 이를 수행하기위한 테스트 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0581664A (ja) * 1991-09-19 1993-04-02 Seiko Seiki Co Ltd ハードデイスク検査装置
KR980011015A (ko) * 1996-07-24 1998-04-30 김광호 생산수율향상과 제조시간단축을 위한 하드디스크 드라이브의 생산 공정방법
KR19990075477A (ko) * 1998-03-20 1999-10-15 윤종용 하드 디스크 드라이브의 검사 방법
KR20010090967A (ko) * 2000-04-08 2001-10-22 윤종용 디스크의 결함관리영역 정보 검증방법 및 이를 수행하기위한 테스트 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100544988B1 (ko) 디스크 메모리 장치, 디스크 메모리 장치 불량 판정 방법,및 프로그램 기록 매체
US7839588B1 (en) Method of alternating track write for defect identification
KR100208383B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 용량변환 생산방법
KR100714876B1 (ko) 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 스크래치처리방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한기록매체
US6292913B1 (en) Method of detecting defects in a magnetic disk memory device
JP2006085789A (ja) 磁気ディスクの欠陥登録の方法及び磁気ディスク装置
US20060171057A1 (en) Method, medium, and apparatus for processing defects of an HDD
CN1248225C (zh) 校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备
US8516341B2 (en) Method, apparatus, and storage medium for processing write defect in data storage apparatus
US6263462B1 (en) Testing method and tester
KR100672070B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체
JP2007164823A (ja) 記憶装置
KR20110092782A (ko) 기록매체의 디펙트 관리 방법과 이를 적용한 데이터 저장 장치 및 저장매체
KR100699880B1 (ko) 데이터 저장 시스템에서의 메인터넌스 실린더의 트랙 디펙관리 방법 및 이를 이용한 디스크 드라이브
KR20080006361A (ko) 디펙 검사 인자의 변경을 이용한 디펙 관리 방법 및 그방법을 사용하는 하드 디스크 드라이브
KR100699884B1 (ko) 적응적 디펙 처리 방법 및 그 장치
KR19990065700A (ko) 하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법
JP2007012149A (ja) 磁気ディスク記憶装置、残留磁化消去現象の発生予測方法及びホストシステム
KR100714879B1 (ko) 하드 디스크 드라이브, 하드 디스크 드라이브의 디펙트검출 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을기록한 기록 매체
KR100714878B1 (ko) 하드 디스크 드라이브, 하드 디스크 드라이브의 디펙트검출 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을기록한 기록 매체
JP2006309810A (ja) 磁気ディスク装置の製造方法及び磁気ディスク装置
JPH0955035A (ja) ディスク記録再生装置及びディスク記録再生装置に適用するディフェクト処理方法
KR100496180B1 (ko) 하드 디스크 드라이브에서의 디펙 처리방법
KR100510444B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 테스트 이력 관리 방법
KR100498420B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 성능 테스트 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091214

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee