CN103902415A - 硬盘测试系统及方法 - Google Patents

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luminescence unit
hard
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testing
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CN201210574281.2A
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林玉龙
张俊
董华
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种硬盘测试系统,该系统包括:获取模块,用于获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;生成模块,用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;中断模块,用于当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;控制模块,用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。本发明还提供一种硬盘测试方法。本发明方便测试人员找到问题硬盘的位置。

Description

硬盘测试系统及方法
技术领域
本发明涉及测试系统及方法,特别是关于一种硬盘测试系统及方法。
背景技术
现在的计算机设备,例如服务器,一般需要非常多的存储设备。一个服务器往往会带有几十甚至几百个硬盘。为保证服务器出厂时该硬盘的容量、转速等性能参数满足客户的要求,需要对硬盘进行测试。然而,在现有的测试方法中,测试软体在测试时发现其中一个硬盘不符合要求时,测试软件知道该硬盘有问题,但测试人员却没有办法找到问题硬盘具体是哪个,只能分区域去测试找该区域的硬盘有没有问题,找到有问题的硬盘区域再具体到每个硬盘进行测试,这样的方法非常浪费时间,效率低下,而且也经常造成大量的硬盘要进行插拔动作,增加了人为损坏的可能。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种硬盘测试系统,方便测试人员找到问题硬盘的位置。
此外,还有必要提供一种硬盘测试方法,方便测试人员找到问题硬盘的位置。
一种硬盘测试系统,运行于计算机中,该系统包括,获取模块,用于获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;生成模块,用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;中断模块,用于当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;控制模块,用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。
一种硬盘测试方法,应用于计算机,该方法包括,获取步骤,获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;生成步骤,生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;中断步骤,当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;控制步骤,控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。
相较于现有技术,所述硬盘测试系统及方法,当硬盘被测出有问题时,通过控制问题硬盘的发光单元和其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光,使得用户可以通过发光单元的交替来找到问题硬盘的位置,提高了测试效率。
附图说明
图1是本发明硬盘测试系统较佳实施例的应用环境图。
图2是本发明硬盘测试系统的功能模块图。
图3是本发明硬盘测试方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
计算机 100
硬盘测试系统 1
处理器 2
硬盘 3
发光单元 30
获取模块 10
生成模块 11
判断模块 12
中断模块 13
控制模块 14
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
参阅图1所示,是本发明硬盘测试系统1较佳实施例的应用环境图。在本实施例中,硬盘测试系统1运行于计算机100中,该硬盘测试系统1用于测试与所述计算机100连接的多个硬盘3。本实施例中,所述计算机100可以通过IDE(Integrated Drive Electronics)、SATA(Serial ATA)、SCSI(Small Computer System Interface)、USB(Universal Serial BUS)等一般通用性的接口与所述多个硬盘3连接。所述硬盘3包括发光单元30,该发光单元30可以是用于指示该硬盘3与计算机100进行数据交互的指示灯,也可以是硬盘3的电源指示灯或用于指示该硬盘3与硬盘背板连接的指示灯。
在本实施例中,所述硬盘测试系统1可以包括一个或多个模块,所述一个或多个模块可以存储于上述任意一个待测硬盘3中,或存储于该计算机100的其他存储设备中。在本实施例中,所述硬盘测试系统1包括获取模块10、生成模块11、判断模块12、中断模块13及控制模块14(参阅图2所示)。所述模块是指能完成一特定功能的程序段,关于各模块的功能将在图3的流程图中具体描述。
参阅图3所示,是本发明硬盘测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S1,获取模块10获取待测硬盘3的数量。
具体地,由于计算机1中的硬盘驱动识别到一个硬盘3后就会为该硬盘3生成一个设备文件,则所述获取模块10可以通过读取待测硬盘3的设备文件个数来确定待测硬盘3的数量。假设读取到五个设备文件,则可确定该批待测硬盘3的数量为5。
步骤S2,生成模块11生成与所述硬盘3数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘3进行测试。
具体而言,例如需对五个硬盘3进行测试,硬盘3的测试项目为容量、转速等性能参数,则生成模块11生成五个相同的测试程序,每个测试程序都包括对硬盘3的容量、转速等性能参数的测试,并且每个测试程序对应一个硬盘3进行测试。
步骤S3,判断模块12判断是否有硬盘3被测出有问题。本实施例中,当某个测试程序测试到该测试程序对应的硬盘3有问题时,该测试程序会通知所述判断模块12。若任何一个硬盘3被测出有问题,则执行步骤S4,否则回到步骤S2,对未完成测试的硬盘3继续测试。
假设当其中一个硬盘3被测出容量、及/或者、转速等性能参数不符合要求时,则执行步骤S4。
需要说明的是,本实施例可以是当硬盘3的某一测试项目被测出不符合要求时即直接执行步骤S4,也可以是待该问题硬盘3完成所有其他测试项目后再执行步骤S4。
具体而言,假设测试程序先对硬盘3的容量进行测试,再对硬盘3的转速以及其他性能参数进行测试,则当检测到某一硬盘3的容量不符合要求时,可以直接执行步骤S4,或待完成该问题硬盘3的其他测试项目如转速等性能参数的测试后再执行步骤S4。
步骤S4,中断模块13控制所有测试程序中断对所有硬盘3的测试。
步骤S5,控制模块14控制问题硬盘3的发光单元30与其他硬盘3的发光单元30交替发出闪烁灯光,使得测试人员可以通过发光单元30的交替来确定问题硬盘3的位置。
本实施例中,所述控制模块14可以通过I2C总线或GPIO线来控制发光单元30发出闪烁灯光。
具体地,假设上述五个硬盘3分别为A、B、C、D、E,该五个硬盘3的发光单元30分别为I、II、III、IV、V,当A被测出有问题时,则所述控制模块14可通过I2C总线或GPIO线控制A对应的I发出闪烁灯光,并同时关闭B对应的II,C对应的III,D对应的IV及E对应的V,即使得II、III、IV及V不发光。在预设时间(例如5秒,也可以设置为大于1秒的其他时间)后,所述控制模块14再通过I2C总线或GPIO线关闭A对应的I,并控制B对应的II,C对应的III,D对应的IV及E对应的V同时发出闪烁灯光,也即控制问题硬盘3的发光单元30与其他硬盘3的发光单元30反复交替的发出闪烁灯光,用户即可很容易的辨识出单独发光的发光单元30对应的硬盘3即是问题硬盘。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照以上较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种硬盘测试系统,运行于计算机中,其特征在于,该系统包括,
获取模块,用于获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;
生成模块,用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;
中断模块,用于当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;
控制模块,用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。
2.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于,所述获取模块通过读取待测硬盘的设备文件来识别待测硬盘的数量。
3.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于,所述控制模块通过I2C总线或GPIO线来控制发光单元发出闪烁灯光。
4.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于,所述发光单元为指示硬盘与计算机进行数据交互的指示灯。
5.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于,所述发光单元为硬盘的电源指示灯或指示该硬盘与硬盘背板连接的指示灯。
6.一种硬盘测试方法,应用于计算机,其特征在于,该方法包括,
获取步骤,获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;
生成步骤,生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;
中断步骤,当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;
控制步骤,控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。
7.如权利要求6所述的硬盘测试方法,其特征在于,所述获取步骤通过读取待测硬盘的设备文件来识别待测硬盘的数量。
8.如权利要求6所述的硬盘测试方法,其特征在于,所述控制步骤通过I2C总线或GPIO线来控制发光单元发出闪烁灯光。
9.如权利要求6所述的硬盘测试方法,其特征在于,所述发光单元为指示硬盘与计算机进行数据交互的指示灯。
10.如权利要求6所述的硬盘测试方法,其特征在于,所述发光单元为硬盘的电源指示灯或指示该硬盘与硬盘背板连接的指示灯。
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