CN110543396A - 一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法，解决现有硬盘接线繁琐、存在安全隐患以及接口受限，测试多个硬盘时存在成本高，效率低，耗时间等问题，包括LSI HBA卡内部的主板，与主板连接的RAID芯片和散热器，所述主板上设置有两个接口，光纤线通过所述接口外接设置有由24个闪存阵列的组成的板卡，板卡上设置桥接芯片，通过桥接芯片实现对24个SATA接口并联，每个SATA接口一侧设置两个指示灯，分别用于实时监控SSD固态硬盘的工作状态；LSI HBA卡的主板通过PCIE协议接口与上位机的PICE接口连接。本发明在同时插上24个SSD固态硬盘进行恒温恒湿情况下测试的时候，可以保证每个SSD固态硬盘在可监控下进行测试，在测试SSD固态硬盘数量上有了质的突破。

Description

一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法

技术领域

本发明涉及一种硬盘测试方法，具体涉及一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置及方法。

背景技术

在SSD固态硬盘存储行业中，硬盘测试的速度和品质以及数量是所有公司的迫切想解决的方法，现有是为提升电脑主机数量来达到数量上对于SSD测试出货的速度，研发出来板卡都是一对一单接出来的，所以不管在测试数量上、安全性上、品质上，一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法的出现就显得非常有必要。

结合图1，现有SSD测试板卡大部分采用一对一单接板卡原理，其技术实现的依据是：

利用电脑主机会拥有6个SATA口，然后就用六条延伸的SATA线分别插到六个SATA接口的板卡底下的六个SATA口，实现其一对一串联，然后在电脑主机上方便其搜寻SSD固态硬盘。具体实现方法为：

1、在主板接口上找到六个SATA接口；

2、通过六条SATA延伸线先接到主机主板上，然后拉出来六个另外SATA接口插到由六个7+15pin接口的板卡底下的SATA口，实现一对一的SATA接口串联。

3、通过系统找寻SSD固态硬盘，比如在Windows 7上在我的电脑-右键管理-设备管理器-磁盘驱动器，就可以找到。

上述方法主要是电脑主机上六个SATA接口，实现一对一串联接出到板卡上的SATA接口来实现找盘数量目的，主机只有六个SATA接口，限制发展的同时，存在以下缺点：

1、现有市场测试SSD固态硬盘，在恒温恒湿状态下，采用一对一单接出线出来，从电脑主机主板上SATA接口接出6条SATA线出来，导致线多繁琐，很容易因为一条线烧坏导致整台机器和SSD固态硬盘烧毁，导致其安全性和稳定性差。

2、另一种是做成一个只能接出六个SATA接口的板卡，虽然做成了板卡类型，但是本质还是从SATA口一条条线接出来，不管是在测试数量上还是安全性上并没有本质上的提升，存在无法突破数量上的限制。

3、现有技术都是通过SATA协议接SATA线出来测试。如果测试SSD固态硬盘数量一多，就得提高电脑主机数量和板卡数量，因为最多只能测试六个SSD固态硬盘，这样就导致了现有技术上的出现成本高，效率低，耗时间等问题。

4、当在测试过程中，如果出现有SSD固态硬盘出现异常状态，传统判断方法只能在电脑屏幕查看，在同时多盘测试中，无法判断哪个盘出现异常。必须停止之前所有的测试，重新测试，通过SSD板子上的指示灯判断哪个盘是处于不亮异常状态，这样导致测试速度上或者产品保障上有很大的缺陷。

发明内容

本发明为解决现有硬盘接线繁琐、存在安全隐患以及接口受限，测试多个硬盘时存在成本高，效率低，耗时间等问题，提供一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法。

一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，包括LSI HBA卡内部的主板，与所述主板连接的RAID芯片和散热器，所述主板上设置有光纤接口，光纤线通过所述光纤接口外接设置有由24个闪存阵列的组成的板卡，所述板卡上设置桥接芯片，通过桥接芯片实现对24个闪存阵列表面的SATA接口并联，每个SATA接口一侧设置两个指示灯，分别用于实时监控SSD固态硬盘的工作状态；所述LSI HBA卡的主板通过PCIe协议接口与上位机的PICe接口连接。

一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法，该方法由以下步骤实现：

步骤一、将被测试盘对应插入对24个SATA接口，测试硬盘的装置上电，检查上位机及板卡的是否存在连接异常，如存在异常则断电后重新检查连接，如正常，执行步骤二；

步骤二、检测被测试盘工作是否正常，如果是，则对应被测试盘SATA接口一侧的绿灯闪烁；如果否，则红灯常亮；

步骤三、查看被测试盘的状态，即，绿灯闪烁或红灯常亮的信号返回至上位机，实现对应被测试盘的状态的检查。

本发明的有益效果：

1、本发明所述的测试硬盘的装置，在一块电路板上设计了24个SATA接口，相比传统的不管是从主机电源接出来的5条SATA线还是从主机主板6个SATA口接出来6条线相比，在测试SSD固态硬盘数量上有了质的突破。相对传统单一解法，在统一管理性上有了进步。

2、本发明所述的测试硬盘的装置，在同时插上24个SSD固态硬盘进行恒温恒湿情况下测试的时候，可以保证每个SSD固态硬盘在可监控下进行测试，加快了SSD固态硬盘测试速度和数量。在出现异常状态下，在SATA接口旁边有两个分别为红色和绿色的指示灯实时监控SSD固态硬盘的工作情况，可以通过指示灯的情况判断哪个SSD固态硬盘出现问题，大大提高了生产效率和SSD固态硬盘的可靠性、保障性、测试性、安全性、环境适应性等。

3、本发明所述的测试硬盘的装置中，LSI HBA卡通过PICe2.0×8的协议，大大增加了对24个SATA接口的SSD固态硬盘识别上的速度以及对SSD固态硬盘的测试速度上的强化。SATA接口材质塑料，板卡框架为金属，加强了板卡的加固性和质量上的保障。

4、本发明所述的测试硬盘的装置中，闪存阵列板卡电路设计为串联，通过桥接芯片连出一条总线控制24个SSD固态硬盘，相比较传统板卡大大增加了测试SSD固态硬盘的数量。特别在电路上减少了外接电线的数量，在安全性上也有显著提高。本装置大大增加效率和降低人工成本，操作简单方便。

附图说明

图1为现有SSD固态硬盘的测试原理图；

图2为本发明所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法中LSI HBA板卡结构框图；

图3为本发明所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法中24个闪存阵列组成的板子示意图；

图4为本发明所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的测试装置原理图。

图5为本发明所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法流程图；

具体实施方式

具体实施方式一、结合图1至图4说明本实施方式一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，包括在LSI HBA卡设有主控芯片作为核心的主板，主板上设置有RAID芯片和散热器，LSIHBA卡通过PICe2.0×8协议接口插到主机的PICe接口上，所述主板上有两个光纤的接口，其中一个光纤接口可作为备用接口，光纤线通过接口外接其它设备。

LSI HBA卡通过主板上另外的接口接出一条长1.5m光纤线外接下面由24个闪存阵列组成的板卡。所述板卡上设置有一个桥接芯片，所述桥接芯片直接可以控制24个SATA接口，所述24个SATA接口在电路设计上呈现单一串联状态，然后通过桥接芯片实现全部并联。减少了外接电线复杂程序，增强了安全性。

所述板卡由7+15pin塑料接口、电路板以及金属框架组成，其中有24个SATA接口，分别以纵向4列6行结构排列在24个闪存阵列板卡表面上，每个SATA接口旁边有两个分别为红色和绿色的指示灯实时监控SSD固态硬盘的工作情况，工作正常绿色闪烁，工作不正常显示红灯。

本实施方式所述的测试硬盘的装置，在数量上，采用桥接芯片做成一个闪存阵列的板卡附带24个SATA接口，相对于现有的只能接6个上限的SATA接口，在数量上有了质的提升，加快在生产测试中的速度。

统一管理性上，使用LSI HBA卡，从LSI HBA卡上接口用一条光纤线外接到由24个闪存阵列组成板卡上，实现集群测试硬盘的功能，相对于现有的一对一单接线出来，本实施方式中采用一条光纤线连接由24个闪存阵列组成板卡减少了很多复杂外接线，突出在统一管理性。

在接口协议上，利用LSI HBA卡通过PCIe2.0×8协议接口作为核心主板插在电脑主机的PICe接口上，然后通过光纤线接到24个闪存阵列板卡上，实现电脑主机系统和闪存阵列板卡的关联。相对于现有的SATA协议测试方法，本实施方式利用了LSI HBA卡的PCIe2.0×8的协议大大提升了系统对每个SSD处理速度和识别速度，毕竟PCIe协议接口速度上是SATA接口协议速度无法比拟的。

在直观判断性上，在24个闪存阵列板卡上的SATA的每个接口下面设置了两个分别为红色和绿色的灯，绿色灯在工作状态上常闪，代表该盘处于测试工作状态下，是良好的。如果显示红灯，则该盘处于异常状态，可以在24个闪存阵列板卡上直观判断哪个盘出现问题，相对于现有传统的检验方法在品质上和测试速度上有了质的提升。

具体实施方式二、结合图5说明本实施方式，一种PCIe扩展集群测试硬盘的方法，该方法的实现过程为：

步骤一、将被测试盘(24个SSD固态硬盘)对应插入对24个SATA接口，测试硬盘的装置上电，检查上位机及板卡的是否存在连接异常，如存在异常则断电后重新检查连接，如正常，执行步骤二；

步骤二、检测被测试盘是否正常，如果是，则对应被测试盘SATA接口一侧的绿灯闪烁；如果否，则红灯常亮；

步骤三、查看被测试盘的状态，即，绿灯闪烁或红灯常亮的信号返回至上位机，实现对应被测试盘的状态的检查。

以上所述只是本发明较佳的实施例，并不用于限制本发明，凡在本发明的技术范围内所做的修改、等同替换或者改进等，均应包含在本发明所保护的范围内。

Claims (5)

1.一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，包括LSI HBA卡内部的主板，与所述主板连接的RAID芯片和散热器，其特征是：所述主板上设置有光纤接口，光纤线通过所述光纤接口外接设置有由24个闪存阵列的组成的板卡，所述板卡上设置桥接芯片，通过桥接芯片实现对24个闪存阵列表面的SATA接口并联，每个SATA接口一侧设置两个指示灯，分别用于实时监控SSD固态硬盘的工作状态；所述LSIHBA卡的主板通过PCIe协议接口与上位机的PICe接口连接。

2.根据权利要求1所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，其特征在于：所述每个SATA接口为7+15pin塑料接口，24个7+15pin塑料接口以4列6行的结构排列在对应的24个闪存阵列的板卡表面，所述板卡框架为金属框架。

3.根据权利要求1所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，其特征在于：所述LSIHBA卡的主板通过PICe2.0×8的协议接口与上位机的PICe接口连接。

4.根据权利要求1所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置，其特征在于：所述主板上还设置有备用光纤接口，用于光纤线连接外接设备。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种PCIe扩展集群测试硬盘的装置的方法，其特征是：该方法由以下步骤实现：

步骤一、将被测试盘对应插入对24个SATA接口，测试硬盘的装置上电，检查上位机及板卡的是否存在连接异常，如存在异常则断电后重新检查连接，如正常，执行步骤二；

步骤二、检测被测试盘工作是否正常，如果是，则对应被测试盘SATA接口一侧的绿灯闪烁；如果否，则红灯常亮；

步骤三、查看被测试盘的状态，即，绿灯闪烁或红灯常亮的信号返回至上位机，实现对应被测试盘的状态的检查。