KR20040030509A - 초박형 고속 플립칩 패키지 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 74
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 18
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002991 molded plastic Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L23/64—Impedance arrangements
- H01L23/66—High-frequency adaptations
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- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
- H01L2223/64—Impedance arrangements
- H01L2223/66—High-frequency adaptations
- H01L2223/6605—High-frequency electrical connections
- H01L2223/6627—Waveguides, e.g. microstrip line, strip line, coplanar line
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05599—Material
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
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- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/45099—Material
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48095—Kinked
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
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- H01L2924/11—Device type
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- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
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- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1532—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
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- H01L2924/1532—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
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Abstract
발명에 따른 칩 패키지(40)는 칩(24)과 패키지 기판(42) 사이에 플립 칩 상호연결을 이용함으로서, 그리고 인쇄 회로 기판에 대한 제 2 레벨 상호연결을 위해 솔더볼(28)과 같은 쪽의 패키지 기판에 칩을 장착함으로서, 소형화 및 우수한 고속 동작을 이룬다.
또다른 실시예에서, 2-칩 패키지는 플립 칩 상호연결을 이용하여 제 2 레벨 상호연결 구조물과 같은 표면에 부착되는 제 1 칩과, 도선 접합이나 플립 칩 상호연결에 의해 상호연결되며 기판의 반대쪽 면에 연결되는 제 2 칩(44)을 포함한다.
Description
집적 회로 칩을 내장하기 위한 칩 패키지는 디스크 드라이브같은 소형 저장 장치와 휴대용 전자기기같은 분야에서 수요가 급증하고 있다. 여러 이러한 분야에서, 셀방식 전화, 즉, 이동전화에 사용되는 고속 메모리 및 아날로그나 RF 소자의 수요를 충족시키기 위해 이러한 패키지를 초단파 주파수, 통상적으로 1GHz 이상의 주파수에서 동작하도록 할 필요가 있다.
소위 "칩 스케일 패키지"는 이러한 분야 및 장비에서 공공연히 사용되고 있다. 칩 스케일 패키지는 집적 회로 칩과 기판간 상호연결 수단으로 도선 접합을 이용하는 것이 일반적이다. 칩 스케일 패키지의 두께를 가능한한 최소화하는 것이 바람직하다. 0.6~0.8 mm 범위의 전체 패키지 높이를 가지는 도선 접합 상호연결을 가진 칩 스케일 패키지가 생산되고 있다.
패키지 두께의 추가적인 감소는 주로 두가지 요소로 인해 제약받고 있다. 먼저, 도선 접합 상호연결은, 칩 윗면의 접합 패드로부터 칩이 부착될 기판 윗면의 접합 사이트까지 이어지는, 한정된 높이(Z 방향으로 크기의 하한을 설정) 및 폭(X 및 Y 방향으로 크기의 하한을 설정)의 도선 루프를 이용한다. 그후 루프는 보호 물질로 덮힌다. 도선 루프와 보호막은 패키지 두께에 0.2-0.4mm의 기여를 한다. 두 번째로, 이 패키지들이 점차 얇게 만들어짐에 따라, 패키지와 인쇄 회로 보드간"제 2 레벨 상호연결"의 신뢰도가 저하되고 있다. 특히, 칩의 "섀도우(shadow)" 하에 놓이는 제 2 레벨 상호연결부가 가장 악영향을 받는다.
더욱이, 전기적 성능 개선이 두가지 이유로 상당한 도전을 받는다. 먼저, 도선 접합이 1.0mm의 통상적 길이를 가지기 때문에 신호 경로 길이를 감소시키는 것이 어렵다. 두 번째로, 패키지 구조는 전도 트레이스의 "랩-어라운드(wrap-around)" 이동을 필요로한다. 즉, 트레이스들이 바이어를 향해 외부로 빠져나간 후, 다시 솔더 볼(solder ball) 위치를 향해 내부로 들어와야 한다.
본 발명은 칩 스케일 반도체 소자 패키징 분야에 관한 것이다.
도 1은 도선 접합 상호연결을 가진 기존의 칩 스케일 패키지의 단면도.
도 2는 발명에 따른 얇은 고속 칩 스케일 패키지의 한 실시예 단면도.
도 3은 발명에 따른 얇은 고속 칩 스케일 패키지의 또다른 실시예 단면도.
도 4는 발명에 따른 얇은 고속 칩 스케일 패키지의 또하나의 실시예 단면도.
발명에 따른 칩 패키지는 칩과 패키지 기판 사이에 플립 칩 상호연결을 이용함으로서, 그리고 인쇄 회로 기판에 대한 제 2 레벨 상호연결을 위해 솔더볼과 같은 쪽의 패키지 기판에 칩을 장착함으로서, 소형화 및 우수한 고속 동작을 이룬다.
따라서, 한 태양에서, 발명은 패키지 기판의 제 1 표면에 플립 칩 상호연결에 의해 장착되는 칩과, 패키지 기판의 제 1 표면에 형성되는 제 2 레벨 상호연결부를 포함하는 칩 스케일 집적 회로 칩 패키지를 특징으로 한다. 칩에는 칩 제 1 표면의 연결 사이트의 한가지 배열에 고정되는 상호연결 범프가 제공되며, 플립 칩 상호연결부는, 칩의 제 1 표면을 패키지 기판의 제 1 표면과 마주보게 함으로서, 그리고 상호연결 패드에 대한 상호연결 범프들의 접합을 촉진시키는 조건 하에서 기판의 제 1 표면 상에서 상호연결 패드들의 보완형 배열과 접촉하도록 상호연결범프를 결합시킴으로서, 만들어진다.
발명에 따르면, 상호연결 범프는 칩과 기판간에 얇은 간격을 제공하며, 이 간격은 칩 부착 물질(가령, 칩 부착용 에폭시)로 채워질 수 있다. 칩 및 이 간격의 조합된 두께는 기판과 인쇄 회로 보드간 솔더 볼 상호연결부에 의해 제공되는 간격보다 작아서, 유효 칩 두께가 제 2 레벨 상호연결 간격 내에 수용되며, 전체 패키지 두께에 전혀 기여하지 않는다(Z 방향의 소형화).
더욱이, 발명에 따르면 이 제 1 칩을 기판에 연결하는 도선 접합들이 전혀 존재하지 않기 때문에, 도선 접합 폭을 수용할 필요성이 없어지고, 따라서 X 및 Y 방향으로도 소형화를 이룰 수 있다.
일부 실시예에서, 상호연결 범프와 패드의 연결은 고상 연결로서, 이 고상 연결은 접합면을 녹이지 않으면서 패드에 대해 범프를 변형시키도록 열과 기계적 힘을 가함으로서 이루어진다. 이러한 고상 접합은 용융-접합 연결을 이용하는 경우보다 더 미세한 상호연결 구조를 제공할 수 있다.
일부 실시예에서, 칩은 기판의 중심에 부착되고, 제 2 레벨 상호연결을 위한 솔더 볼들은 기판 주변부 근처에 위치한다.
이러한 실시예에서, 칩 섀도우에는 어떤 제 2 레벨 연결 솔더 볼들도 존재하지 않아서, 칩의 섀도우 하에 솔더 볼들이 존재하는 기존의 칩 스케일 패키지에 비해 제 2 레벨 상호연결 신뢰도가 우수하다.
일부 실시예에서, 전기적 트레이스들이 패키지 기판 제 1 표면의 상호연결층 내에 형성되며, 이 트레이스들은 상호연결 패드로부터 솔더 볼 부착 사이트까지 외향으로 빠져나간다.
이러한 실시예에서, 도선 접합을 제거함으로서, 그리고 트레이스의 랩어라운드(wraparound) 이동을 제거함으로서, 총 트레이스 길이가 크게 감소하여 신호 경로가 최소화된다.
일부 이러한 실시예에서, 기판 제 2 표면 상에 접지면이 부가적으로 제공되며, 이 접지면은 기판의 한개 이상의 바이어를 통해 상호연결 트레이스나 제 2 레벨 상호연결 볼에 연결된다. 이러한 접지면에 "키입 아웃(keep out)" 영역이 반드시 제공될 필요는 없으며, 이러한 접지면은 제 2 표면 전체에 대해 방해받지 않는 접지면 구조일 수 있다. 이러한 접지면 구조는 전기적 성능이 우수하며, 마이크로스트립 전송선의 경우에 접근한다.
일부 실시예에서, 트레이스들 중 적어도 일부가 동평면 도파관으로 만들어지며, 이 경우에, 평면 유전물질 상의 신호 라인을 따라 이동하도록 접지선들이 형성된다.
또다른 실시예에서, 제 2 칩이 기판의 제 2 표면(제 1 표면 반대쪽)에 부착되며, 제 1 칩 트레이스나 제 2 레벨 상호연결부에 바이어(vias)를 통해 연결된다.제 2 칩은 종래 도선 접합에 의해 부착될 수 있다. 이는 종래의 도선 접합 칩 스케일 패키지와 같은 두께를 가지는 패키지를 만들지만, 발명에 따르면, 이 패키지는 도선 접합 칩에 부가하여 제 2 레벨 솔더 볼들과 같은 기판 표면에 놓이는 제 1 칩을 포함한다. 즉, 발명의 본 태양에 따라 두개의 칩을 가지는 패키지가 단일 칩만을 가진 기존의 도선 접합 칩 패키지의 경우와 같은 전체 패키지 높이 내에 수용될수 있다. 또는, 제 2 칩이 플립 칩 상호연결에 의해 부착될 수 있다. 플립 칩 상호연결이 도선 접합 구조에 비해 높이가 작도록 만들어질 수 있기 때문에, 본 실시예는 더 얇은 2-칩 패키지를 제공한다.
도 1을 참고해보자. 패키지 기판(12)의 표면(11)에 부착된 칩(14)을 포함하는 종래의 칩 스케일 패키지(10)가 단면도로 도시된다. 칩(14)은 기판(12) 표면(11)의 상호연결 사이트에, 그리고 칩(14) 상의 도선 접합 패드(15)에 연결되는 도선 접합(16)을 이용하여 패키지 기판(12)에 전기적으로 연결된다. 칩, 도선 접합, 그리고 기판(12)의 윗면(11)은 몰딩된 플라스틱 보호물질(17)로 덮힌다. 제 2 레벨 상호연결 볼(18) 세트는 칩이 부착되는 표면(11)의 반대편 기판(12) 표면(19) 상의 사이트에 부착된다. 기판(12)은 도면에 도시되지 않은 다수의 특징부들을 포함한다. 가령, 전기연결 구조물(전기적 트레이스)가 칩으로부터 도선 접합과, 솔더 볼 과의 연결을 위해 표면(11, 19)에, 또는 표면(11, 19) 근처에 통상적으로 제공된다. 그리고 기판 두께를 따라 들어가는 바이어(via)들이 기판 위와 아래에서 특징부들을 전기적으로 상호연결시키는 기능을 한다.
도 2를 참고해보자. 발명에 따른 칩 스케일 패키지(20)의 한 실시예가 도시된다. 여기서, 제 2 레벨 상호연결 솔더 볼(28) 세트가 제 1 표면("아랫면")(21) 상에 위치하는 패키지 기판(22)이 제공된다. 본 실시예에서, 이 제 2 레벨 솔더 볼들은 기판 주변부에 배열된다. 발명에 따르면, 칩(24)이 통상적으로 칩 부착용 에폭시인 칩 부착 물질(27)을 이용하여 패키지 기판의 제 1 표면(아랫면)(21) 상의 칩 부착 영역(29)에 고정된다. 칩과 기판간의 상호연결은 상호연결 범프(25)를 이용하여 실현된다. 플립 칩 상호연결이 공지되어 있다. 일반적으로, 상호연결 범프(25)가 칩의 표면(23)이나 그 근처에서 전도 트레이스 상의 한 배열로 상호연결 사이트에 부착된다. 그후 이 상호연결 범프들은 기판 내부나 기판 상의 전도 트레이스 상에 상기 배열의 보완형 배열로 연결 사이트에 접합된다. 상호연결 범프(25)들이 고상 방식으로 패드에 각각 접합되는 것이 바람직하다. 즉, 범프들이 패드에 열-기계적으로 연결되는 것이 바람직하다. 예를 들어, 패드 물질이나 접합 물질을 녹이지 않으면서 패드에 대해 접합을 변형시킬만큼 충분히 가열하고 이와 동시에 패드에 대해 접합에 힘을 가한다. 이러한 고상 상호연결은 0.1mm 피치 미만의 범위에서 상호연결 구조를 제공할 수 있다.
여러 특징부들의 크기는 패키지 전체 두께를 최소화시키도록 선택될 수 있다. 예를 들어, 범프 구조와 상호연결 수단은 기판(29)의 칩 부착 표면과 칩 표면(23)간 간격이 0.025mm 미만이도록 설계될 수 있다. 본 실시예에서, 칩이 기판의 아랫면에 부착되기 때문에, 그리고, 그 두께가 기판 아랫면과 아래의 집적 회로 간의 간격(제 2 레벨 상호연결 볼(28)의 크기에 의해 제한됨) 내에 수용되기 때문에, 전체 패키지는 도선 접합 칩과 그 보호재의 두께에 해당하는 크기(도 1 참고)만큼 본 실시예에서 얇다. 더욱이, 제 2 레벨 상호연결 구조물이 기판 주변부에 위치하기 때문에, 칩의 섀도우에 솔더 볼들이 위치하는 경우에 비해 제 2 레벨의 신뢰도가 우수하다.
부가적으로, 기판(22)의 윗면을 실질적으로 덮는 전기 전도 시트(가령, 구리같은 금속)로 접지면(26)이 제공될 수 있다. 기판 표면(21)에 적절한 제 2 레벨 솔더 볼(접지 볼)을 연결하기 위해 기판을 관통하는 한개 이상의 바이어가 형성될 수 있다.
발명에 따르면, 기판 표면(21)의 전도 사이트로부터 이어지는 전도 트레이스들이 할당된 솔더 볼 연결 사이트에 직접 이어질 수 있다. 일부 실시예에서, 이 전도 트레이스들은 동평면 도파관으로 형성되며, 그 구조는 공지되어 있다.
전형적인 실시예에서, 패키지 기판의 두께는 0.1mm이고, 기판 표면으로부터 측정된 솔더 볼 높이는 대략 0.3mm이며, 칩의 높이는 대략 0.18mm이다. 이는 0.4mm의 전체 패키지 높이를 부여한다. 추가적인 치수 감소가 가능하여, 0.4 mm 미만의 전체 패키지 높이를 발명에 따라 얻을 수 있다.
더욱이, 가장 긴 전도 트레이스의 길이가 0.5 mm 피치에서 주기적으로 배열된 솔더 볼 행들을 가지는 실시예에서 1.0mm 미만일 수 있다. 이는 예외적으로 높은 전기적 성능을 제공할 수 있다.
도 3과 4는 발명의 대안의 실시예들(30, 40)을 도시하며, 본 실시예에서는, 패키지가 도 2를 참고할 때, 제 2 레벨 상호연결 구조물과 같은 기판 표면(아랫면)에 플립 칩 상호연결에 의해 부착되는 제 1 칩과, 패키지 기판의 제 2 표면(윗면)에 고정되는 제 2 칩을 포함한다. 도 3에서, 제 2 칩은 종래의 도선 접합을 이용하여 기판에 상호연결되며, 도 4에서는 제 2 칩이 기판에 플립 칩 상호연결에 의해 상호연결된다.
도 3에서, 제 1 칩(24)은 기판(32)의 제 1 표면(아랫면)(21)의 중앙 칩 부착 영역에 칩 부착 물질(27)을 이용하여 고정되며, 상호연결은 상호연결 범프(25)를 이용하여 실현된다. 제 2 레벨 상호연결 볼(28)들은 도 2를 참고할 때 기판 주변부의 제 1 표면(21)에 부착된다. 제 2 칩(34)은 기판(32)의 반대쪽 표면(윗면)(31)에 부착되고, 기판(32) 표면(31)의 상호연결 사이트에, 그리고 칩(34) 상의 도선 접합 패드(35)에 연결되는 도선 접합(36)을 이용하여 패키지 기판에 전기적으로 연결된다. 칩과 관련 도선 접합은 보호 물질(37)로 덮힌다. 윗면 내, 또는 윗면 상의 특징부들은 기판을 관통하는 바이어를 따라 아랫면 내나 아랫면 상의 특징부들에 전기적으로 연결된다.
도 3의 실시예에서 제 2 칩 및 그 관련 구조물의 크기는 도 1에 도시되는 기존 패키지의 칩(14) 및 그 관련 구조물의 크기와 유사하게 실현될 수 있다. 따라서, 도 3에 도시되는 바와 같은 발명에 따른 패키지의 전체 패키지 높이는 종래 패키지의 높이와 유사하게 만들어질 수 있다. 그러나, 도 3의 실시예에서 패키지는 2-칩 패키지이고, 도 2를 참고하여 설명한 바와 같이 제 1 칩(24)이 우수한 전기적 성질을 지니는 것이 2-칩 패키지이다.
제 2 칩 역시 우수한 전기적 성능을 지니는 더 얇은 전체 2-칩 패키지가 도4에서처럼 만들어질 수 있다. 여기서는 도 3의 실시예에서처럼, 제 1 칩(24)이 기판(32) 제 1 표면(아랫면)(21)의 중앙 칩 부착 영역에 칩 부착 물질(27)을 이용하여 고정되며, 상호연결 범프(25)를 이용하여 상호연결이 이루어진다. 제 2 레벨 상호연결 볼(28)들은 도 2를 참고하여 상술한 바와 같이 기판 주변부에서 제 1 표면(21)에 부착된다. 그러나 본 실시예에서는 제 2 칩이 플립 칩 상호연결을 이용하여 기판에 전기적으로 연결된다. 즉, 칩(44)은 기판(42) 제 2 표면(윗면)(41)의 제 2 칩 부착 영역에 칩 부착 물질(47)을 이용하여 고정되며, 상호연결 범프(45)를 이용하여 기판에 상호연결된다. 도 3의 실시예에서처럼, 윗면의 특징부들이 기판을 관통하는 바이어를 통해 아랫면의 특징부들에게 전기적으로 연결된다. 이 패키지는 도 3의 경우보다 더 얇을 수 있다. 왜냐하면, 칩 및 플립 칩 상호연결 그 자체가 칩 및 도선 접합 상호연결보다 얇기 때문이다.
Claims (11)
- 패키지 기판의 제 1 표면에 플립 칩 상호연결에 의해 장착되는 칩과, 패키지 기판의 제 1 표면에 형성되는 제 2 레벨 상호연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 칩 스케일 집적 회로 칩 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 상기 칩에는 칩의 제 1 표면에 연결 사이트들의 한가지 배열에 고정되는 상호연결 범프가 제공되고, 상기 플립 칩 상호연결부는, 칩의 제 1 표면을 패키지 기판의 제 1 표면과 마주보게 함으로서, 그리고 상호연결 패드에 대한 상호연결 범프들의 접합을 촉진시키는 조건 하에서 기판의 제 1 표면 상에서 상호연결 패드들의 보완형 배열과 접촉하도록 상호연결 범프를 결합시킴으로서, 만들어지는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 칩의 제 1 표면과 기판의 제 1 표면간 간격이 칩 부착 물질로 채워지는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 제 2 레벨 상호연결부의 높이가 스탠드오프(standoff)를 규정하고, 제 1 칩의 두께와, 칩의 제 1 표면과 기판의 제 1 표면간 간격의 합이 스탠드오프보다 작은 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 상호연결 범프와 패드의 연결은, 접합면을 녹이지 않으면서 패드에 대해 범프를 변형시키도록 열 및 기계적 힘을 가함으로서 이루어지는, 고상 연결인 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 칩은 기판의 제 1 표면의 중심에 부착되고, 제 2 레벨 상호연결을 위한 상기 솔더 볼들은 기판 주변부 근처에 위치하는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 접지면이 기판 제 1 표면 상에 부가적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 적어도 일부의 전기 트레이스들이 동평면 도파관으로 만들어지는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 1 항에 있어서, 기판 제 2 표면에 부착되는 제 2 칩을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 9 항에 있어서, 제 2 칩이 도선 접합에 의해 기판에 상호연결되는 것을 특징으로 하는 패키지.
- 제 9 항에 있어서, 제 2 칩이 플립-칩 상호연결에 의해 기판에 상호연결되는 것을 특징으로 하는 패키지.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US27223601P | 2001-02-27 | 2001-02-27 | |
US60/272,236 | 2001-02-27 | ||
US10/084,787 | 2002-02-25 | ||
US10/084,787 US20020121707A1 (en) | 2001-02-27 | 2002-02-25 | Super-thin high speed flip chip package |
PCT/US2002/005593 WO2002069399A1 (en) | 2001-02-27 | 2002-02-26 | Super-thin high speed flip chip package |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040030509A true KR20040030509A (ko) | 2004-04-09 |
Family
ID=26771428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2003-7011122A KR20040030509A (ko) | 2001-02-27 | 2002-02-26 | 초박형 고속 플립칩 패키지 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20020121707A1 (ko) |
EP (1) | EP1371094A4 (ko) |
JP (2) | JP2004523121A (ko) |
KR (1) | KR20040030509A (ko) |
TW (1) | TWI246170B (ko) |
WO (1) | WO2002069399A1 (ko) |
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- 2002-02-26 KR KR10-2003-7011122A patent/KR20040030509A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-02-26 WO PCT/US2002/005593 patent/WO2002069399A1/en active Application Filing
- 2002-02-26 EP EP02721143A patent/EP1371094A4/en not_active Ceased
- 2002-02-26 JP JP2002568423A patent/JP2004523121A/ja active Pending
- 2002-02-27 TW TW091103588A patent/TWI246170B/zh not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-10-07 US US10/960,893 patent/US20050056944A1/en not_active Abandoned
-
2008
- 2008-10-01 JP JP2008256363A patent/JP2009038391A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2002069399A1 (en) | 2002-09-06 |
TWI246170B (en) | 2005-12-21 |
JP2004523121A (ja) | 2004-07-29 |
US20020121707A1 (en) | 2002-09-05 |
EP1371094A4 (en) | 2009-07-15 |
US20050056944A1 (en) | 2005-03-17 |
JP2009038391A (ja) | 2009-02-19 |
EP1371094A1 (en) | 2003-12-17 |
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---|---|---|---|
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