KR20040012822A - 플라스틱의 식별 방법 - Google Patents

플라스틱의 식별 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20040012822A
KR20040012822A KR10-2003-7014750A KR20037014750A KR20040012822A KR 20040012822 A KR20040012822 A KR 20040012822A KR 20037014750 A KR20037014750 A KR 20037014750A KR 20040012822 A KR20040012822 A KR 20040012822A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
absorption spectrum
infrared absorption
range
identification
peak
Prior art date
Application number
KR10-2003-7014750A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100591357B1 (ko
Inventor
이리에쇼우이치
고토데루오
히사즈미다카오
이와모토히로시
도쿠마스히로유키
시마무라도시오
Original Assignee
가부시키가이샤 마츠시타 에코 테크놀로지 센터
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 마츠시타 에코 테크놀로지 센터 filed Critical 가부시키가이샤 마츠시타 에코 테크놀로지 센터
Publication of KR20040012822A publication Critical patent/KR20040012822A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100591357B1 publication Critical patent/KR100591357B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N21/552—Attenuated total reflection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/129—Using chemometrical methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

본 발명의 플라스틱의 식별 방법은, (i)플라스틱을 포함하는 식별물에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 식별물에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과, (ii)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼과 소정의 물질군에 대하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물에 포함되는 플라스틱을 식별하는 공정을 포함하고, 상기 소정의 물질군은 플라스틱을 포함하는 물질군이고, 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼은 각각, 상기 소정의 물질군에 포함되는 각 물질에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 물질에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 얻은 적외 흡수 스펙트럼이고, 상기 조합은 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크와 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 비교함으로써 행해진다. 이 식별 방법에 의하면, 착색되어 있는 경우나 난연제 등의 첨가제를 포함하고 있는 경우라도 더욱 정밀하게 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다.

Description

플라스틱의 식별 방법{PLASTIC IDENTIFYING METHOD}
플라스틱은 가볍고 튼튼하며 투명성이 좋아 물이나 가스를 통과시키지 않고, 착색이나 성형이 용이하게 이루어지는 등 많은 장점을 갖고 있어, 사용하기 편리함에 따라 생산량·사용량이 증가하는 경향이 있다. 그러나, 이것에 따라 폐기되는 플라스틱의 양도 한결같이 증가하고 있어 환경에 대한 부하의 증가가 사회 문제가 되고 있다. 이들의 문제를 해결하고 또한, 한정된 자원을 유효하게 이용하기 위해서, 최근, 플라스틱의 재활용 방법이 많이 연구되고 있다.
플라스틱의 재활용 방법으로서는 예컨대, 리펠릿(repellet)하여 새로운 성형품의 원료가 되는 머티리얼 리사이클이나, 연소시켜 열을 회수하는 서멀 리사이클, 열분해하여 용광로 환원제에 이용하거나, 유지(油脂)나 모노머로까지 분해하여 플라스틱의 원료로서 재이용하기도 하는 케미컬 리사이클 등이 있다.
이들 중에는 재활용에 필요한 에너지가 적어도 되는 것 등이라는 점에서, 머티리얼 리사이클이 가장 뛰어난 방법이라고 할 수 있다. 그러나, 재생한 플라스틱의 물성의 저하를 방지하기 위해서는 리펠릿 시에 상이한 종류의 플라스틱이 혼입하는 것을 방지할 필요가 있다. 그래서, 더욱 정밀도가 높은 플라스틱 식별 방법이 요구되고 있다.
종래, 플라스틱의 종류의 식별에는 근적외선을 이용한 적외 분광법 등의 분광법이 주로 이용되고 있다. 그러나, 이들의 분광법에서는, 식별물인 플라스틱이 흑색인 경우(예컨대, 텔레비전 수상기의 하우징체 등, 많은 가전 제품에 이용되는 플라스틱은 흑색이다), 조사(照射)한 근적외선이 흡수되어 버리는 등의 이유에서 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 것이 곤란하다.
또한, 얻어진 적외 흡수 스펙트럼으로부터 플라스틱의 종류를 식별할 때에는 일반적으로 얻어진 적외 흡수 스펙트럼과 각종 표준 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼군과의 비교 조합이 실행된다. 상기 비교 조합에서는, 얻어진 적외 흡수 스펙트럼과 가장 일치하는 표준 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼이 검색되어 플라스틱의 종류가 식별된다.
재활용의 대상이 되는 플라스틱으로는 난연제 등의 첨가제가 포함되어 있는 경우가 많다. 그러나, 지금까지 비교 조합되는 표준 플라스틱은 기본적으로 폴리머 단체이고, 첨가제가 포함되어 있는 플라스틱은 비교 조합의 대상에 포함되어 있지 않다. 또한, 표준 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼은 통상적으로 식별물에 적외선을 투과시키는 방법(투과법)에 의해서 얻어진 데이터이다.
본 발명은 플라스틱의 식별 방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 플라스틱의 식별 방법을 실시할 수 있는 검출부의 예를 도시하는 단면도이다.
도 2는 본 발명의 플라스틱의 식별 방법을 실시할 수 있는 식별 장치의 예를 도시하는 모식도이다.
도 3은 본 발명에서의 플라스틱의 식별 방법을 이용하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼의 일례이다.
도 4는 본 발명에서의 플라스틱의 식별 방법을 이용하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼의 일례이다.
이러한 상황을 감안하여, 본 발명은 식별물이 착색되어 있는 경우나, 식별물에 첨가제 등이 포함되어 있는 경우 등에도 보다 정밀하게 플라스틱의 종류를 식별할 수 있는 플라스틱의 식별 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해서 본 발명에서의 플라스틱의 식별 방법은,
(i)플라스틱을 포함하는 식별물에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 식별물에서 전반사(全反射)한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(ii)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼과 소정의 물질군에 대하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물에 포함되는 플라스틱을 식별하는 공정을 포함하고,
상기 소정의 물질군은 플라스틱을 포함하는 물질군이고,
상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼은 각각, 상기 소정의 물질군에 포함되는 각 물질에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 물질에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 얻어진 적외 흡수 스펙트럼이고,
상기 조합은 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크와 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 비교함으로써 행해진다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정이,
(i-a)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-b)상기 시험편에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 시험편에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정이,
(i-A)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-B)상기 시험편에서의 상기 식별물의 표면에 상당하는 제1 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제1 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제2 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(i-C)상기 시험편에서의 상기 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제2 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 소정의 물질군이 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체, 폴리프로필렌 및 폴리스티렌으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 물질군이어도 된다.
상기 식별 방법에서는, 소정의 물질군이 난연제를 포함하는 플라스틱을 포함하는 물질군이어도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 난연제를 포함하는 플라스틱이 테트라브로모비스페놀 A(TBA)계 난연제를 포함하는 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체이어도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 난연제를 포함하는 플라스틱이 데카브로모계 난연제, TBA계 난연제, 트리아진계 난연제 및 에틸렌비스계 난연제로부터 선택되는 적어도 1종의 난연제를 포함하는 폴리스티렌이어도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 906cm-1에서 914cm-1의 범위, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위 및 파수 2234cm-1에서 2242cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1373cm-1에서 1381cm-1의 범위, 파수 2913cm-1에서 2921cm-1의 범위 및 파수 2946cm-1에서 2954cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 식별물이 폴리프로필렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1368cm-1에서 1376cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 TBA계 난연제를 포함하지 않는 폴리스티렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1368cm-1에서 1376cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고 또한, 파수 1348cm-1에서 1356cm-1의 범위에 피크를 갖지 않고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 난연제를 포함하지 않는 폴리스티렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1349cm-1에서 1357cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수907cm-1에서 915cm-1의 범위에 피크를 갖지 않고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 데카브로모계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이상인 경우에, 상기 식별물이 TBA계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하여도된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1356cm-1에서 1364cm-1의 범위, 파수 1227cm-1에서 1235cm-1의 범위, 파수 1085cm-1에서 1093cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 트리아진계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1369cm-1에서 1377cm-1의 범위, 파수 1137cm-1에서 1145cm-1의 범위, 파수 742cm-1에서 750cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 에틸렌비스계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정 후에,
(x)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터, 상기 식별물에 포함되어 있다고 식별된 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써, 제3 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(y)상기 제3 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 부착물이 유지, 단백질, 도료, 셀룰로오스 및 무기 규산염으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (y)의 공정에서, 상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1736cm-1에서 1744cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 부착물이 유지 및 도료로부터 선택되는 적어도 1종이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (y)의 공정에서, 상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1646cm-1에서 1654cm-1의 범위 및 파수 1541cm-1에서 1549cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 부착물이 단백질이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (y)의 공정에서, 상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1OOOcm-1에서 11OOcm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 부착물이 셀룰로오스 및 무기 규산염으로부터 선택되는 적어도 1종이라고 식별하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정의 후에,
(X)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써 제4 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(Y)상기 제4 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정 후에,
(s)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적( D1)을 구하는 공정과,
(t)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적(D2)을 구하는 공정과,
(u)상기 D2를 상기 D1로 나눈 값(D)(D=D2/D1)을 구하는 공정을 더 포함하여도 된다.
상기 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정 후에,
(S)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 2750cm-1부근의 피크와 파수 3140cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제1 베이스라인을 설정하는 공정과,
(T)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 3663cm-1부근의 피크와 파수 3791cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제2 베이스라인을 설정하는 공정과,
(U)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 2920cm-1부근의 피크 강도를 H1로 하고, 파수 3750cm-1부근의 피크 강도를 H2로 하여, 상기 H2를 상기 H1로 나눈 값(H)을 구하는 공정을 더 포함하여도 된다. 단, 상기 H1은 상기 제1 베이스라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크 강도이고, 상기 H2는 상기 제2 베이스라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크 강도이다.
이하, 본 발명의 실시 형태에 관해서 도면을 참조하면서 설명한다. 또한, 도면을 참조한 설명에서 동일 부분에 관해서는 동일 부호를 붙이고, 중복하는 설명을 생략하는 경우가 있다.
(실시 형태1)
본 발명의 플라스틱 식별 방법은,
(i)플라스틱을 포함하는 식별물에 소정의 파수의 적외선을 입사하고 또한, 상기 식별물에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(ii)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼과 소정의 물질군에 대하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물에 포함되는 플라스틱을 식별하는 공정을 포함한다.
상기 소정의 물질군은 플라스틱을 포함하는 물질군이다. 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼은 각각, 상기 소정의 물질군에 포함되는 각 물질에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 물질에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 얻어진 적외 흡수 스펙트럼이다. 그리고, 상기 조합은 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크와 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 비교함으로써 행해진다.
이러한 식별 방법을 이용함으로써, 식별물이 착색되어 있는 경우나 식별물에 난연제가 포함되어 있는 경우 등에서 더욱 정밀하게 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다.
상기 식별 방법에서, 상기 (i)의 공정을 행하는 방법으로서는, 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 적외선의 광원, 렌즈, 프리즘, 검지기 등을 조합한 검출부를 이용하면 된다. 도 1에 상기 검출부의 일례를 나타낸다. 또한, 상기 소정의파수의 적외선(이하, 적외선이라고도 한다)이란, 파수에서의 예컨대, 400cm-1∼7000cm-1의 범위의 광이다(이 경우, 상기 광은 일반적으로 중적외선으로 분류되는 광이다).
도 1에 나타내는 검출부(1)는 광원(2)과 프리즘(3)과 검지기(4)를 구비하고 있다. 광원(2)으로부터 출사된 적외선(6)은 프리즘(3)에 의해서 식별물(5)에 입사된다. 이 때 적외선(6)이 식별물(5)의 표면에 전반사하도록, 도 1에 나타내는 입사각(θ)을 설정하면 된다.(입사각(θ)을 적외선(6)이 전반사를 발생시키는 임계각 이상으로 하면 된다). 예컨대, 입사각(θ)을 30°∼85°의 범위로 설정하면 된다. 식별물(5)의 표면에서 전반사한 적외선(6)은 프리즘(3)을 통과하여 검지기(4)에 의해서 그 강도가 측정된다. 또한, 도 1은 검출부(1)의 단면을 나타내는 단면도이지만, 도면을 알기 쉽게 하기 위해서 해칭은 생략한다.
그 외에, 적외선을 식별물의 표면에서 전반사시키는 방법으로는 예컨대, ATR(Attenuated Total Reflection)법을 이용하여도 된다. 이 측정법은, 고굴절률 매질인 ATR 프리즘을 이용함으로써, 임계각 이상의 입사각으로 식별물의 표면에 적외선을 입사시켜, 전반사한 적외선의 강도를 측정함으로써 식별물의 적외 흡수 스펙트럼(이하, 「적외 흡수 스펙트럼」을 간단하게 스펙트럼이라고도 한다)을 얻는 방법이다.
이들 적외선을 식별물의 표면에서 전반사시키는 방법을 이용하면, 식별물이 착색되어 있는 경우 등에도 더욱 정밀하게 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를식별할 수 있다.
상기 식별 방법에서, 상기 (ii)의 공정을 행하는 방법으로는 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 소정의 물질군에 대하여 측정한 스펙트럼군을 미리 데이터 베이스 등에 격납시켜 놓고, 상기 (i)의 공정에서 얻어진 제1 스펙트럼과 잇달아 조합하면 된다. 소정의 물질군은 플라스틱을 포함하는 물질군이면 된다. 또한, 소정의 물질군에 대한 스펙트럼군의 측정은 상술한 상기 (i)의 공정을 행하는 방법과 마찬가지의 방법을 이용하면 된다.
조합은 대비하는 스펙트럼의 피크를 비교함으로써 행하면 된다. 피크의 비교는 예컨대, 피크 위치나 피크 강도에 따라 행하면 된다. 그 방법으로는 예컨대, 상기 스펙트럼군에 포함되는 스펙트럼 상의 특정한 피크가 제1 스펙트럼 내에 존재하느지의 여부를 검증하거나, 대비하는 스펙트럼끼리의 차를 취함으로써 얻어진 스펙트럼(차 스펙트럼)을 검증하거나 하면 된다(차 스펙트럼에 피크가 발견되지 않으면, 대비하는 양 스펙트럼은 거의 동일하다고 할 수 있다). 그 중에서도, 재활용되는 식별물의 열화 상태 등은 여러 가지이므로, 제1 스펙트럼에 특정한 피크가 존재하는지의 여부를 검증하는 방법이 바람직하다. 상기 조합의 결과, 소정의 물질군 중에서 가장 제1 스펙트럼과 근사한 스펙트럼을 나타내는 물질을, 식별물에 포함되는 플라스틱으로 할 수 있다.
본 발명의 식별 방법으로는 상기 (i)의 공정이,
(i-a)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-b)상기 시험편에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 시험편에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하고 있어도 된다.
이러한 식별 방법에서는, 식별물에 직접 적외선을 입사하는 것이 아니라, 식별물에서 샘플링한 시험편에 대하여 적외선을 입사한다. 따라서, 식별물 본체의 사이즈가 큰 경우라도 식별 작업은 용이하다. 그리고, 식별물 본체의 형상에 관계없이, 시험편의 사이즈 및 형상 등을 검출부에 맞춰 최적화 할 수 있으므로, 더욱 정밀하고 안정적으로 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다. 또한, 연속한 식별 처리에도 알맞은 식별 방법이다.
또한, 본 발명의 식별 방법으로는 상기 (i)의 공정이,
(i-A)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-B)상기 시험편에서, 상기 식별물의 표면에 상당하는 제1 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제1 면에 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제2 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(i-C)상기 시험편에서, 상기 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제2 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하고 있어도 된다.
이러한 식별 방법에서는, 시험편의 적어도 2개의 면에 대하여 스펙트럼의 측정이 행해진다. 또한, 측정면 중 1개의 면은 샘플링 시에 처음으로 외부에 노출한 면이다. 따라서, 식별물의 표면이 오랜 기간의 사용에 의해 열화되어 있는 경우나, 식별물의 표면에 쓰레기 등의 부착물이 존재하고 있는 경우라도 더욱 정밀하고, 안정적으로 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다. 또한, 후술하지만, 이 식별 방법을 이용함으로써 식별물의 표면에서의 더러움의 정도를 정량화 할 수도 있다.
상기 식별 방법은 예컨대, 도 2에 나타내는 식별 장치를 이용함으로써 실시할 수 있다. 도 2에 나타내는 식별 장치는, 식별물(12)에서 시험편(7)을 샘플링하는 샘플링부(8)와 시험편(7)에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별하는 검출부(1)를 구비한 식별부(9)와, 샘플링부(8)에서 검출부(1)까지 시험편을 반송하는 반송부(10)를 구비하고 있다.
샘플링부(8)는 예컨대, 펀치 프레스(punch press)를 구비하고 있으면 된다. 이 경우 시험편(1)의 샘플링을 용이하게 행할 수 있다. 식별부(9)는 예컨대, 도 1에 나타내는 검출부를 구비하고 있으면 된다. 반송부(1O)는 예컨대, 처킹부(11)를 구비하고 있어도 된다. 처킹부(11)를 구비하고 있는 경우, 시험편(1)의 적어도 2개의 면에 대한 측정이 더욱 용이하게 된다. 또한, 제1 스펙트럼과 스펙트럼군과의 조합은 예컨대, 식별부(9)를 이용하여 행해도 된다. 이 경우, 스펙트럼군의 데이터를 미리 식별부(9)에 격납시켜 놓고, 검출부(4)에 의해서 제1 스펙트럼을 측정한 후, 제1 스펙트럼의 데이터를 식별부(9)로 전송하여 조합하면 된다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 소정의 물질군이 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체(ABS), 폴리프로필렌(PP) 및 폴리스티렌(PS)으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 물질군이어도 된다. 이들 플라스틱은 가전 제품의 하우징체등에 많이 사용되고 있는 플라스틱이다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 소정의 물질군이, 난연제를 포함하는 플라스틱을 포함하는 물질군이어도 된다. 실제로 재활용의 대상이 되는 식별물에 포함되는 플라스틱은 난연제를 포함하고 있는 경우가 많다. 이와 같이 난연제를 포함하는 플라스틱이 포함되어 있는 경우, 측정한 제1 스펙트럼과, 스펙트럼군에 포함되는 표준 플라스틱의 스펙트럼과의 조합만으로는 플라스틱의 종류의 식별이 어려운 경우가 있다. 따라서, 이러한 식별 방법을 채택함으로써, 식별물에 난연제가 포함되어 있는 경우라도 더욱 정밀하게 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다.
상기 식별 방법에서, 난연제를 포함하는 플라스틱이 테트라브로모비스페놀 A(TBA)계 난연제를 포함하는 ABS라도 된다. 또한, 난연제를 포함하는 플라스틱이 데카브로모계 난연제, TBA계 난연제, 트리아진계 난연제 및 에틸렌비스계 난연제로부터 선택되는 적어도 1종의 난연제를 포함하는 PS라도 된다. 이들의 플라스틱은 가전 제품의 하우징체 등에 많이 사용되고 있는 플라스틱이다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 906cm-1에서 914cm-1의 범위, 파수 1023-1cm에서 1031cm-1의 범위 및 파수 2234cm-1에서 2242cm-1의 범위에 피크를 갖고, 또한 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 ABS라고 식별하여도 된다. 또한, 식별에 이용하는 피크의 파수에 폭이 있는 것은 측정 오차나, 첨가제에 의한 피크 시프트 등의 영향을 고려하고 있기 때문이다.
상기 ABS의 식별 방법을 정리한 것을 이하의 표 1에 나타낸다. 단, 표 1에서의 R값이란, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이다. 또한, 본 명세서에서의 R값은 모두 같은 값으로 한다.
(표 1)
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정에서, 이하의 표 2에 나타내는 식별을 행해도 된다. 표 2의 기재 방법은, 상술의 표 1과 마찬가지다. 즉, 예컨대 상기 (ii)의 공정에서 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1373cm-1에서 1381cm-1의 범위, 파수 2913cm-1에서 2921cm-1의 범위 및 파수 2946cm-1에서 2954cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 식별물이 PP라고 식별하여도 된다. 또한, 표 2에는 표 1에 나타낸 ABS의 식별 방법도 더불어 기재한다.
(표 2)
R값에 관해서 설명한다. ABS 및 PS는 스티렌을 포함하는 플라스틱이므로, 파수 1027cm-1부근에 피크를 갖고 있다. 한편, ABS 및 PS에는, 첨가제로서 TBA계 난연제가 첨가되는 경우가 있고, TBA계 난연제가 포함되는 경우에는, 파수 1004cm-1부근에 피크가 출현한다. 그러나, TBA계 난연제가 포함되지 않는 경우라도, 기타 식별물에 포함되어 있는 물질이나 측정 오차 등에 의해, 파수 1004cm-1부근에 피크가 출현하는 경우가 있어, 파수 1004cm-1부근의 피크만에 의해서 TBA계 난연제가 포함되어 있는지의 여부를 식별하는 것은 확실하다고 할 수 없다. 따라서, 본 발명의 식별 방법으로는 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도와 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도와의 비인 R값을 정하였다. 이 방법에 의하면, ABS와 PS에 관하여, TBA계 난연제가 포함되어 있는지의 여부를 더욱 확실하게 식별할 수 있다.
이하, 식별물에 대하여 측정한 제1 스펙트럼과 스펙트럼군과의 조합의 구체예에 관해서 설명한다.
도 3 및 도 4에 나타내는 스펙트럼은 각각, 상이한 종류의 식별물에 대하여, 상기 (i)의 공정을 행함으로써 얻은 제1 스펙트럼이다.
도 3에 도시하는 스펙트럼에서는, 파수1027cm-1및 파수1004cm-1에 피크가 존재하고 있다(도 3에 나타내는 피크(3-1) 및 피크(3-2)). 또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크(즉, 피크(3-2))의 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크(즉, 피크(3-1))의 강도로 나눈 값은 약 0.8이다. 따라서, 도 3에 나타내는 스펙트럼이 측정된 식별물은 TBA계 난연제를 포함하는 PS라고 식별할 수 있다. 또한, 도 3에 나타내는 스펙트럼에서, 횡축은 적외선의 파수(cm-1), 종축은 흡광도이다.
다음으로, 도 4에 나타내는 스펙트럼에서는, 파수 1372cm-1및 파수 1027cm-1에 피크가 존재하고 있다(도 4에 나타낸 피크(4-1) 및 피크(4-2)). 또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크(즉, 도 4에 나타내는 피크(4-3))의 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크(즉, 피크(4-2))의 강도로 나눈 값은 약 0.3이다. 따라서, 도 4에 나타내는 스펙트럼이 측정된 식별물은 TBA계 난연제를 포함하지 않는 PS라고 식별할 수 있다. 또한, 도 4에 나타내는 스펙트럼에서, 횡축은 적외선의 파수(cm-1), 종축은 흡광도이다.
(실시 형태 2)
본 실시 형태에서는, 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 방법의 일례에 관해서 설명한다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (ii)의 공정 후에,
(x)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터, 상기 식별물에 포함되어 있다고 식별된 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써 제3 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(y)상기 제3 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하고 있어도 된다.
재활용의 대상이 되는 식별물에는 그 표면에 여러 가지 부착물이 존재하고있는 경우가 많지만, 이러한 식별 방법을 채택함으로써, 식별물의 표면에 부착된 부착물을 식별할 수 있다.
상기 (x)의 공정에서, 제3 스펙트럼을 얻는 방법으로는 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 제1 스펙트럼으로부터, 식별물에 포함되어 있다고 식별된 플라스틱의 스펙트럼을 뺌으로써, 차 스펙트럼을 얻어도 된다. 또한, 상기 (y)의 공정에서 제3 스펙트럼과 스펙트럼군과의 조합은 실시 형태 1에 기재한 조합과 같은 방법을 이용하면 된다.
또한, 본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정이,
(i-A)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-B)상기 시험편에서의 상기 식별물의 표면에 상당하는 제1 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제1 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제2 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(i-C)상기 시험편에서의 상기 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제2 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하고,
상기 (i)의 공정 후에,
(X)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써, 제4 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(Y)상기 제4 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하고 있어도 된다.
식별물의 표면에 부착물이 존재하는 경우, 식별물로부터 샘플링한 시험편의 제1 면에는 부착물이 남으므로, 제2 스펙트럼은 부착물의 스펙트럼이 포함되는 스펙트럼이라고 생각할 수 있다. 한편, 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에는 부착물이 존재하지 않는다고 생각할 수 있다. 따라서, 이러한 식별 방법을 채택함으로써, 식별물의 표면에 존재하는 부착물을 식별할 수 있다.
상기 (X)의 공정에서, 제4 스펙트럼을 얻는 방법으로서는 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 제2 스펙트럼으로부터 제1 스펙트럼을 뺌으로써, 차 스펙트럼을 얻어도 된다. 또한, 상기 (Y)의 공정에서의 제4 스펙트럼과 스펙트럼군과의 조합은 실시 형태 1에 기재한 조합과 마찬가지의 방법을 이용하면 된다. 상기 (i)의 공정도 마찬가지로, 실시 형태 1에 기재한 방법과 마찬가지의 방법을 이용하면 된다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 부착물이 유지, 단백질, 도료, 셀룰로오스 및 무기 규산염으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하고 있어도 된다. 이들의 물질은 재활용의 대상이 되는 식별물에 부착되는 경우가 많은 물질이다. 또한, 도료로서는 예컨대, 식별물의 표면을 보호하기 위해서 이용되는 아크릴 수지계의 보호막 등을 생각할 수 있다. 또한, 단백질로서는 예컨대 수구(手垢) 등, 셀룰로오스로서는 예컨대 사설(絲屑) 등, 무기 규산염으로서는 예컨대 진개(塵芥) 등을 생각할 수 있다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (y)(또는 상기 (Y))의 공정에서, 이하의표 3에 나타내는 식별을 행해도 된다. 표 3의 기재 방법은 상술의 표 1 및 표 2와 마찬가지이다. 단, 부착물의 식별에서는, R값은 식별에 이용하지 않아도 된다. 예컨대, 상기 (y)(또는 상기 (Y))의 공정에서는 상기 제3(또는 제4) 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1736cm-1에서 1744cm-1의 범위 피크를 갖는 경우에, 상기 부착물이 유지 및 도료로부터 선택되는 적어도 1종이라고 식별하여도 된다.
(표 3)
(실시 형태 3)
본 실시 형태에서는 식별물의 표면에서의 더러움의 정도를 정량화하는 방법의 일례에 관해서 설명한다.
본 발명의 식별 방법에서는, 상기 (i)의 공정이,
(i-A)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 공정과,
(i-B)상기 시험편에서의 상기 식별물의 표면에 상당하는 제1 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제1 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제2 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정과,
(i-C)상기 시험편에서의 상기 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제2 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 공정을 포함하고,
(s)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적(D1)을 구하는 공정과,
(t)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적(D2)을 구하는 공정과,
(u)상기 D2를 상기 D1로 나눈 값(D)(D=D2/D1)을 구하는 공정을 더 포함하여도 된다.
시장에서 회수된 식별물의 표면에 더러움이 부착되어 있는 경우가 있다. 더러움이 부착되어 있는 경우, 식별물의 스펙트럼을 간단하게 측정한 것으로는 정확한 스펙트럼을 얻을 수 없어 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류의 식별이 곤란한 경우가 있다. 따라서, 식별물에서 시험편을 샘플링하여 식별물의 표면에 상당하는 제1 면(더러움이 부착되어 있다고 생각되는)과, 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면(더러움은 부착되어 있지 않다고 생각되는)에 대하여 스펙트럼 측정을 행하고, 각각의 스펙트럼에서의 피크 면적의 차를 정량화하며, 구체적으로는 피크 면적의 비를 구함으로써, 식별물의 표면에서의 더러움의 정도(표면 오염 계수)를 정량화 할 수 있다. 식별물의 표면에서의 더러움의 정도를 정량화 할 수 있다면, 더욱 정밀하게 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다. 얻어진 표면 오염 계수(D)의 값에 따라서는, (예컨대, D가 0.5이하인 경우), 식별물을 재활용 대상으로부터 제외하는 등의 처리를 해도 된다.
또, 상기 (s), (t) 및 (u)의 각 공정을 행하는 방법은 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 얻어진 각 스펙트럼에 대하여 수학적인 처리를 행하면 된다. 또한, 상기 (i)의 공정은 실시 형태 1에 기재한 방법과 마찬가지의 방법을 이용하면 된다.
(실시 형태 4)
본 실시 형태에서는, 식별물로부터 스펙트럼을 얻을 시에 정확하게 스펙트럼을 얻었는지의 여부를 검증하는 방법의 일례에 관해서 설명한다.
본 발명의 식별 방법으로는 상기 (ii)의 공정 후에,
(S)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 2750cm-1부근의 피크와 파수 3140cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제1 베이스 라인을 설정하는 공정과,
(T)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서, 파수 3663cm-1부근의 피크와 파수 3791cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제2 베이스 라인을 설정하는 공정과,
(U)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서, 파수 2920cm-1부근의 피크 강도를 H1로하고, 파수 3750cm-1부근의 피크 강도를 H2로 하고, 상기 H2를 상기 H1로 나눈 값(H)을 구하는 공정을 더 포함하여도 된다. 단, 상기 H1은 상기 제1 베이스 라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크 강도이고, 상기 H2는 상기 제2 베이스 라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크 강도이다.
여기서, 파수 2750cm-1부근의 피크란, 파수 2750cm-1을 중심으로 ± 4cm-1의 범위에 포함되는 피크를 의미한다. 또한, 상기 범위에 다수의 피크가 포함되는 경우, 가장 강도가 큰 피크를 의미하고 있다. 상기(S), (T) 및 (U)의 각 공정에서 다른 파수 부근의 피크에 관해서도 마찬가지의 판단을 하면 된다.
식별물의 적외 흡수 스펙트럼을 측정할 시에 식별물에 적외선을 입사시키고, 또한 식별물 표면에서 전반사한 적외선의 강도를 측정하는 검출부와, 식별물이 확실하게 접촉되어 있으면 더욱 정밀하게 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다. 따라서, 상기 검출부와 식별물이 확실하게 접촉하는지의 여부를 검증하는 방법이 요구되고 있다.
식별물과 검출부와의 접촉이 불완전한 상태이면, 양자간에 공기층이 존재한다. 공기층에는 수증기가 포함되어 있으므로, 식별물에 대하여 측정한 스펙트럼으로부터 수증기의 스펙트럼이 어느 정도 포함되어 있는지를 해석함으로써, 식별물과 검출부와의 접촉의 상태를 검증할 수 있다.
그래서, 수증기에 대응하고 있는 파수 3750cm-1부근의 피크 강도 H2를 수지식별의 기준으로 하는 파수 2920cm-1부근의 피크 강도 H1로 나누고, 그 값(H)을 구함으로써, 식별물과 검출부와의 접촉 상태를 검증할 수 있다. 예컨대, 상기 H의 값이 0.3 이상이면 수증기의 피크 강도가 높다고 판단하여, 식별물과 검출부와의 접촉이 불완전하다고 판단하여도 된다. 이 경우, 식별물의 배치를 수정하여 다시 측정을 행하는 등으로 하면 된다. 또한, 상기 H의 값이 0.3미만이면, 이어서 식별물에 포함되는 플라스틱의 종류의 식별 처리를 계속하면 된다.
또, 상기 (S), (T) 및 (U)의 각 공정을 행하는 방법은 특별히 한정되지 않는다. 예컨대, 얻어진 스펙트럼에 대하여 수학적인 처리를 행하면 된다.
본 발명은 그 의도 및 본질적인 특징에서 일탈하지 않는 한, 다른 실시 형태에 적용할 수 있다. 이 명세서에 개시되어 있는 실시 형태는 모든 점에서 설명적인 것으로, 이것에 한정되지 않는다. 본 발명의 범위는 상기 설명이 아니라 첨부한 클레임에 따라서 나타내어지고, 클레임과 균등한 의미 및 범위에 있는 모든 변경은 그것에 포함된다.
이상과 같이, 본 발명의 플라스틱의 식별 방법에 의하면, 식별 대상인 플라스틱이 착색되어 있는 경우나, 난연제 등의 첨가제를 포함하고 있는 경우에도 더욱 정밀하게 플라스틱의 종류를 식별할 수 있다.

Claims (23)

  1. (i)플라스틱을 포함하는 식별물에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 식별물에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    (ii)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼과, 소정의 물질군에 대하여 측정한 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물에 포함되는 플라스틱을 식별하는 단계를 포함하고,
    상기 소정의 물질군은 플라스틱을 포함하는 물질군이고,
    상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼은 각각, 상기 소정의 물질군에 포함되는 각 물질에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 물질에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 얻어진 적외 흡수 스펙트럼이고,
    상기 조합은 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크와, 상기 적외 흡수 스펙트럼군의 각 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 비교함으로써 행해지는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 (i)의 단계는,
    (i-a)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 단계; 및
    (i-b)상기 시험편에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 시험편에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 (i)의 단계는,
    (i-A)상기 식별물에서 시험편을 샘플링하는 단계;
    (i-B)상기 시험편에서 상기 식별물의 표면에 상당하는 제1 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제1 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 제2 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    (i-C)상기 시험편에서 상기 샘플링 시에 처음으로 노출한 제2 면에 소정의 파수의 적외선을 입사시키고, 또한 상기 제2 면에서 전반사한 상기 적외선의 강도를 측정함으로써 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 소정의 물질군이 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체, 폴리프로필렌 및 폴리스티렌으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 물질군인 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 소정의 물질군이 난연제를 포함하는 플라스틱을 포함하는 물질군인 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 난연제를 포함하는 플라스틱이 테트라브로모비스페놀 A(TBA)계 난연제를 포함하는 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체인 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  7. 제 5 항에 있어서, 상기 난연제를 포함하는 플라스틱이 데카브로모계 난연제, 테트라브로모비스페놀 A계 난연제, 트리아진계 난연제 및 에틸렌비스계 난연제로부터 선택되는 적어도 1종의 난연제를 포함하는 폴리스티렌인 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 906cm-1에서 914cm-1의 범위, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위 및 파수 2234cm-1에서 2242cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에,
    상기 식별물이 아크릴로니트릴부타디엔스티렌 공중합체라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1373cm-1에서 1381cm-1의 범위, 파수 2913cm-1에서 2921cm-1의 범위 및 파수 2946cm-1에서 2954cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에,
    상기 식별물이 폴리프로필렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1368cm-1에서 1376cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에,
    상기 식별물이 테트라브로모비스페놀 A계 난연제를 포함하지 않는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1368cm-1에서 1376cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1348cm-1에서 1356cm-1의 범위에 피크를 갖지 않고,
    또한，파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에,
    상기 식별물이 난연제를 포함하지 않는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1349cm-1에서 1357cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 907cm-1에서 915cm-1의 범위에 피크를 갖지 않고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에, 상기 식별물이 데카브로모계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  13. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이상인 경우에,
    상기 식별물이 테트라브로모비스페놀 A계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  14. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1356cm-1에서 1364cm-1의 범위, 파수 1227cm-1에서 1235cm-1의 범위, 파수 1085cm-1에서 1093cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에,
    상기 식별물이 트리아진계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  15. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계에서,
    상기 제1 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1369cm-1에서 1377cm-1의 범위, 파수 1137cm-1에서 1145cm-1의 범위, 파수 742cm-1에서 750cm-1의 범위 및 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 피크를 갖고,
    또한, 파수 1000cm-1에서 1008cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도를, 파수 1023cm-1에서 1031cm-1의 범위에 존재하는 최대 피크 강도로 나눈 값이 0.5 이하인 경우에,
    상기 식별물이 에틸렌비스계 난연제를 포함하는 폴리스티렌이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  16. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계 후에,
    (x)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터, 상기 식별물에 포함되어 있다고 식별된 플라스틱의 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써, 제3 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    (y)상기 제3 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 부착물이 유지, 단백질, 도료, 셀루로오스 및 무기 규산염으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  18. 제 16 항에 있어서, 상기 (y)의 단계에서,
    상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1736cm-1에서 1744cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에,
    상기 부착물이 유지 및 도료로부터 선택되는 적어도 1종이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  19. 제 16 항에 있어서, 상기 (y)의 단계에서,
    상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1646cm-1에서 1654cm-1의 범위 및 파수 1541cm-1에서 1549cm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에,
    상기 부착물이 단백질이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  20. 제 16 항에 있어서, 상기 (y)의 단계에서,
    상기 제3 적외 흡수 스펙트럼이 파수 1OOOcm-1에서 11OOcm-1의 범위에 피크를 갖는 경우에, 상기 부착물이 셀루로오스 및 무기 규산염으로부터 선택되는 적어도 1종이라고 식별하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  21. 제 3 항에 있어서, 상기 (i)의 단계 후에,
    (X)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼의 피크로부터, 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크를 제외함으로써, 제4 적외 흡수 스펙트럼을 얻는 단계; 및
    (Y)상기 제4 적외 흡수 스펙트럼과 상기 적외 흡수 스펙트럼군과의 조합을 행함으로써, 상기 식별물의 표면에 부착되어 있는 부착물을 식별하는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  22. 제 3 항에 있어서, 상기 (i)의 단계 후에,
    (s)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적(D1)을 구하는 단계; 및
    (t)상기 제2 적외 흡수 스펙트럼에서의 파수 400cm-1에서 7000cm-1의 범위의 피크 면적(D2)을 구하는 단계; 및
    (u)상기 D2를 상기 D1으로 나눈 값(D)(D=D2/D1)을 구하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
  23. 제 1 항에 있어서, 상기 (ii)의 단계 후에,
    (S)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서 파수 2750cm-1부근의 피크와 파수 3140cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제1 베이스 라인을 설정하는 단계;
    (T)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서 파수 3663cm-1부근의 피크와 파수 3791cm-1부근의 피크를 직선으로 연결하여, 제1 적외 흡수 스펙트럼 상에 제2 베이스 라인을 설정하는 단계;
    (U)상기 제1 적외 흡수 스펙트럼에서 파수 2920cm-1부근의 피크 강도를 H1로 하고, 파수 3750cm-1부근의 피크 강도를 H2로 하여, 상기 H2를 상기 H1로 나눈 값(H)을 구하는 단계를 더 포함하고,
    단, 상기 H1은 상기 제1 베이스라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의피크 강도이고, 상기 H2는 상기 제2 베이스라인에 대한 상기 제1 적외 흡수 스펙트럼의 피크 강도인 것을 특징으로 하는 플라스틱의 식별 방법.
KR20037014750A 2001-11-28 2002-11-25 플라스틱의 식별 방법 KR100591357B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2001-00362213 2001-11-28
JP2001362213 2001-11-28
PCT/JP2002/012290 WO2003046523A1 (en) 2001-11-28 2002-11-25 Plastic identifying method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040012822A true KR20040012822A (ko) 2004-02-11
KR100591357B1 KR100591357B1 (ko) 2006-06-19

Family

ID=19172751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20037014750A KR100591357B1 (ko) 2001-11-28 2002-11-25 플라스틱의 식별 방법

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7161151B2 (ko)
EP (1) EP1450152A4 (ko)
JP (1) JP4084643B2 (ko)
KR (1) KR100591357B1 (ko)
CN (1) CN1524178B (ko)
MX (1) MXPA03009519A (ko)
WO (1) WO2003046523A1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101366959B1 (ko) * 2011-08-26 2014-02-25 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 수지 식별 장치 및 방법
KR20230007038A (ko) * 2021-07-05 2023-01-12 인하대학교 산학협력단 미세 플라스틱 검출 방법

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4732385B2 (ja) * 2006-11-21 2011-07-27 日本電信電話株式会社 弱い相互作用を有する物質の定性定量分析方法
JP5374893B2 (ja) * 2007-06-27 2013-12-25 株式会社リコー 保護剤塗布装置の評価方法
JP5210586B2 (ja) * 2007-10-01 2013-06-12 Ｉｄｅｃ株式会社 プラスチック判別装置およびプラスチック判別方法
JP5176562B2 (ja) * 2008-01-22 2013-04-03 株式会社リコー 固体表面付着物の存在量評価方法、および保護剤塗布装置の評価方法
CN101750279B (zh) * 2008-11-28 2012-04-04 上海宝钢工业检测公司 氟碳彩涂板涂层中pvdf树脂的含量红外峰面积比值测定法
JP5901453B2 (ja) * 2011-08-26 2016-04-13 三菱電機株式会社 樹脂識別装置および方法
JP5367145B1 (ja) * 2012-12-10 2013-12-11 ダイオーエンジニアリング株式会社 黒色廃プラスチックの材質選別装置
US9630348B2 (en) * 2013-05-13 2017-04-25 Dialogr Systems, Llc Detection in thermoplastics
US9366626B2 (en) * 2013-06-20 2016-06-14 Thermo Scientific Portable Instruments Inc. Method and apparatus for the application of force to a sample for detection using an electromechanical means
CN104849231B (zh) * 2015-05-13 2017-11-07 北京国科虹谱光电技术有限公司 一种塑料材质在线识别的方法及装置
CN105127110B (zh) * 2015-08-24 2017-09-19 南京爱丁堡环保科技有限公司 一种通用型的多光谱成像混合塑料的自动分选机
JP2017101988A (ja) * 2015-12-01 2017-06-08 株式会社島津製作所 プラスチック判別方法及びプラスチック判別装置
CN105424643A (zh) * 2015-12-31 2016-03-23 首钢总公司 一种测定混合油品中含量百分比的方法
WO2017130409A1 (ja) * 2016-01-29 2017-08-03 日本たばこ産業株式会社 紙に付着したオイルの種類を特定する方法
FR3059104B1 (fr) * 2016-11-18 2020-12-11 Electricite De France Dispositif et procede d'estimation d'un parametre d'un materiau polymere
CN109870560A (zh) * 2017-12-04 2019-06-11 金发科技股份有限公司 一种聚丙烯再生料的鉴别方法
KR102109834B1 (ko) * 2017-12-26 2020-05-12 주식회사 엘지화학 폴리아크릴로니트릴계 섬유의 적외선 분광 스펙트럼 분석방법
JP6574081B1 (ja) * 2018-03-01 2019-09-11 株式会社エコポート九州 プラスチックの純度測定方法
CN110376157B (zh) * 2019-07-19 2022-04-05 应急管理部天津消防研究所 一种判定泡沫塑料种类及其阻燃性能的检测分析方法
WO2021195563A1 (en) 2020-03-26 2021-09-30 Digimarc Corporation Arrangements for digital marking and reading of items, useful in recycling
JP7258839B2 (ja) * 2020-12-24 2023-04-17 パナソニックホールディングス株式会社 複合樹脂のセルロース複合判別方法及び装置
CN112697744A (zh) * 2021-01-14 2021-04-23 中国林业科学研究院木材工业研究所 一种基于红外光谱的东非黑黄檀工艺品的鉴别方法
US20220331841A1 (en) 2021-04-16 2022-10-20 Digimarc Corporation Methods and arrangements to aid recycling
WO2024015385A1 (en) 2022-07-14 2024-01-18 Digimarc Corporation Methods and arrangements to utilize end-of-life data generated during recycling and waste sortation for counterfeit deterrence and other actions
CN115372306B (zh) * 2022-07-26 2023-06-23 中国科学院理化技术研究所 一种基于红外吸收光谱指纹特征的油污染分析方法

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE790385A (fr) * 1971-11-01 1973-02-15 Gen Electric Perfectionnements aux compositions thermoplastiques a inflammation retardee, et aux procedes pour leur
EP0176636B1 (en) * 1984-09-28 1990-05-09 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Polymeric thin film and products containing the same
CN1009574B (zh) * 1985-11-07 1990-09-12 亚力山大-舒勒股份公司 测定类似于塑料制品与氧化有关的特性之方法，以及在大注模的产品尤其是在瓶箱上使用该方法的过程和设备
JPS646761U (ko) 1987-06-29 1989-01-13
JP2730149B2 (ja) * 1988-04-15 1998-03-25 東ソー株式会社 ポリアリーレンチオエーテル共重合体
US4890577A (en) 1988-05-17 1990-01-02 W. G. Dairy Supply, Inc. Animal feed distribution device
DE4122149A1 (de) 1990-07-06 1992-01-09 Toyoda Chuo Kenkyusho Kk Zubehoerteil und kristallelement fuer infrarotspektroskopie mit gedaempfter totalreflexion
JP3048418B2 (ja) * 1990-07-06 2000-06-05 株式会社豊田中央研究所 赤外線全反射吸収測定装置および結晶体
US5091647A (en) 1990-12-24 1992-02-25 Ford Motor Company Method and apparatus for measuring the thickness of a layer on a substrate
JPH05273122A (ja) 1992-03-26 1993-10-22 Kyushu Electron Metal Co Ltd シリコン結晶中不純物の赤外吸収測定方法
JPH07111397B2 (ja) * 1993-01-14 1995-11-29 東亜電波工業株式会社 プラスチックの種類判定方法
US5326972A (en) * 1993-03-25 1994-07-05 General Electric Company Diamond-based, self-sampling internal reflection element for on-line analysis of materials in a recycle stream
DE4340505C1 (de) * 1993-11-27 1995-02-16 Bruker Analytische Messtechnik Verfahren zur routinemäßigen Identifikation von Kunststoffen
DE4340914A1 (de) 1993-11-27 1995-06-08 Bruker Analytische Messtechnik Verfahren zur routinemäßigen Identifikation von Kunststoffen
JPH07239297A (ja) 1994-02-28 1995-09-12 Shimadzu Corp 赤外分光光度計
JP2885100B2 (ja) * 1994-11-07 1999-04-19 株式会社島津製作所 赤外線反射対物鏡
DE19502134C2 (de) * 1995-01-25 1998-03-12 Messer Griesheim Gmbh Qualitätssichernde Bewertung der Innenoberfläche von fluorbehandelten PE-Behältern mit einer physikalischen Meßmethode
JP3252682B2 (ja) 1995-11-13 2002-02-04 株式会社豊田中央研究所 赤外分光分析法による樹脂の高速同定方法およびそのシステム
JPH10154734A (ja) 1996-11-22 1998-06-09 Sumitomo Sitix Corp 半導体結晶の評価方法
US5965889A (en) 1997-11-05 1999-10-12 Pike Technologies Of Wisconsin, Inc. Imaging stage for fourier transform infrared spectrometer
JPH11211634A (ja) 1998-01-22 1999-08-06 Zeon Kasei Co Ltd プラスチック試験片打抜き装置
US6335376B1 (en) 1998-05-26 2002-01-01 Mba Polymers, Inc. Apparatus and method for enhancing partitioning of different polymeric materials from a mixture by density differential alteration
US6108077A (en) 1998-12-08 2000-08-22 Nanometrics Incorporated Sample support with a non-reflecting sample supporting surface
JP2000186987A (ja) * 1998-12-24 2000-07-04 Toshiba Mach Co Ltd スライサ装置の制御方法及びスライサ装置
JP2000199734A (ja) * 1999-01-04 2000-07-18 Toshiba Mach Co Ltd スライサ装置
JP2000214084A (ja) * 1999-01-25 2000-08-04 Asahi Chem Ind Co Ltd 検査対象物質判定方法及びその装置
US6518572B1 (en) 1999-03-25 2003-02-11 Sony Corporation Infrared microscopic spectrum analysis apparatus and method for analysis of recording media using the same
EP1052021A1 (de) 1999-05-06 2000-11-15 von Deym, Carl-Ludwig, Graf Sortier- und Trennverfahren und Anlage für ein Recycling von Kunstoffen
DE69920680T2 (de) * 1999-07-29 2005-11-03 Sony International (Europe) Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Kunststoffmaterialien mittels optischer Messungen
JP3909795B2 (ja) * 1999-10-25 2007-04-25 富士フイルム株式会社 セルローストリアセテートフィルムの製造方法
JP2001194297A (ja) 2000-01-12 2001-07-19 Advantest Corp 環境測定方法及び装置
US6610981B2 (en) 2000-04-27 2003-08-26 National Recovery Technologies, Inc. Method and apparatus for near-infrared sorting of recycled plastic waste
US6689480B2 (en) * 2000-05-10 2004-02-10 Toray Industries, Inc. Surface-treated plastic article and method of surface treatment
JP2002286637A (ja) * 2001-03-27 2002-10-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラスチックの識別装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101366959B1 (ko) * 2011-08-26 2014-02-25 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 수지 식별 장치 및 방법
KR20230007038A (ko) * 2021-07-05 2023-01-12 인하대학교 산학협력단 미세 플라스틱 검출 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US7161151B2 (en) 2007-01-09
WO2003046523A1 (en) 2003-06-05
EP1450152A4 (en) 2009-11-25
JP4084643B2 (ja) 2008-04-30
US20040149911A1 (en) 2004-08-05
MXPA03009519A (es) 2004-12-06
JP2003227793A (ja) 2003-08-15
CN1524178B (zh) 2011-11-23
EP1450152A1 (en) 2004-08-25
CN1524178A (zh) 2004-08-25
KR100591357B1 (ko) 2006-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100591357B1 (ko) 플라스틱의 식별 방법
Lenz et al. A critical assessment of visual identification of marine microplastic using Raman spectroscopy for analysis improvement
CN110376157A (zh) 一种判定泡沫塑料种类及其阻燃性能的检测分析方法
Bonifazi et al. FT-IR analysis and hyperspectral imaging applied to postconsumer plastics packaging characterization and sorting
US6563119B1 (en) Method and apparatus for identification of plastic materials by optical measurements
EP1550854A2 (en) Method for diagnosing and identifying contaminants
CN103115893A (zh) 一种检测托卡马克钨第一壁灰尘沉积层成分及厚度的装置
JP2002286637A (ja) プラスチックの識別装置
US6555822B1 (en) Method for identification of plastic materials by optical measurements
Causin Polymers on the crime scene: How can analytical chemistry help to exploit the information from these mute witnesses?
Li et al. Component spectra extraction from terahertz measurements of unknown mixtures
CN103091259B (zh) 在线检测托卡马克钨第一壁灰尘成分及厚度的太赫兹方法
Odisio et al. Portable Vis-NIR-FORS instrumentation for restoration products detection: Statistical techniques and clustering
KR200445853Y1 (ko) 연료유 검사장치
Bonifazi et al. DEVELOPMENT OF A SELECTION SYSTEM BASED ON HYPERSPECTRAL IMAGING FOR PLASTIC WASTE WITH BROMINATED FLAME RETARDANTS.
JP2001074650A (ja) プラスチック判別法
JP2005164431A (ja) プラスチック類の識別方法及び装置
CN106980147B (zh) 一种用于油品检测的太赫兹频段受抑全内反射传感器棱镜
Kachhawa et al. Methods of detection of micro-plastic in environment with effect
Miller et al. Detecting the baryons in matter power spectra
JP2002139434A (ja) 廃棄樹脂の識別装置及び方法
JP2006084350A (ja) プラスチックの種類判別方法
Kradjel et al. NIR analysis of polymers
Bartick Criminal forensic analysis
Meng et al. Identification of marine microplastics based on laser-induced fluorescence and principal component analysis

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130520

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140522

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150518

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160517

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180329

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190516

Year of fee payment: 14